JPH0390881A - 非破壊ヒステリシス試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は磁気層製品の磁気特性を試験するための装置に
関し、特に均−磁界内に製品を配置することにより製品
の両面のこれらの特性を同時に非破壊的に試験するため
の装置に関する。

（従来の技術〉 磁気層のヒステリシスループを試験する装置は既知であ
り、そのような商業的に実用化されている従来形の装置
は誘導的技術を採用し、振動サンプル磁力計又は誘導ヒ
ステリシストレーサーとして商業的に知られている。そ
のような装置は当業者には既知であり、サンプルを試験
するために大規模な電磁界を必要とする。サンプルは大
規模な電磁石のギャップ内に配置されるので、通常製品
は破壊され、それからサンプルが取られた。

磁気光学カー効果の装置が現在用られるヒステリシスル
ープ試験装置のもう一つの形態である。

この装置の一タイプは又サンプルを大規模の電磁石のギ
ャップ内に配置するために製品を破壊して、サンプルを
得る必要がある。このタイプの試験装置はＤｒ、　Ｒｉ
ｃｈａｒｄ　Ｍ、　Ｊｏｓｅｐｈｓ、　Ｄｒ、　Ｃｈａ
ｒｌｅｓ　Ｓ。

ＫｒａｆｆｔとＤｏｕｇｌａｓ　Ｓ、　Ｃｒｏｍｐｔｏ
ｎ等により“Ｍａｇｎｅｔｏ−ｏｐｔｉｃ　Ｋｅｒｒ　
Ｅｆｆｅｅｔ　Ｈｙｓｔｅｒｅｓｉｓ　Ｌｏｏｐ　Ｍｅ
ａｓｕｒｅｓｅｎｔｓ　ｏｎ　Ｐａｒｔｉｃｕｌａｔｅ
　Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ　Ｍｅｄｉａ　　　（微粒子記録
媒体における磁気光学カー効果ヒステリシスループ測定
）のタイトル名で１９８６年９月号の■ＥＥＥ　ＴＲＡ
ＮＳＡＣＴＯＮ　ＯＮ　Ｍ＾ＧＮＥＴＩＣＳ、ＶＯＬ、
　Ｍ＾Ｇ２２、Ｎｏ、５の６８２−６８４頁に報告され
ている。この関連において、そのギャップ長さは７．６
センチメードルで説明されており、それは製品から採取
されるサンプルの大きさを限定する。このように、この
装置はギャップ空間あるいは深ギャップの外部で磁気記
録ディスクなどの大きな製品を非破壊的に試験すること
が通常出来ない。

ヒステリシス曲線を測定するもう一つの磁気光学カー効
果の方法が米国特許番号Ｎｏ、４，８１８，７６１で説
明されている。この装置は小ギャップを有する電磁リン
グマグネットを使用する。試験される製品のために磁界
を生成する方法を提供するのだが、その磁束線は、それ
がギャップから離れて進むと均一性が無くなるので、リ
ングマグネットにより形成される磁界は非常に非線形と
なる。その結果、測定は通常リングマグネット内のギャ
ップに非常に近接して、正確に配置された位置で行なわ
れる。

周辺磁束の極度の非線形性のために、測定点における磁
界が高精度で校正できない、磁気記録技術の進歩は重度
な磁化フィールドを使用するための測定装置を必要とす
るより高い保磁力を生む、均一で高強度の磁界で採用さ
れる主平面に関わらずに校正可能かつ反復可能で非破壊
なヒステリシスループ試験装置を提供することが非常に
望ましい。

測定点が配置される大きな範囲を提供し、そして試験さ
れる製品の両面を最適に同時測定することを可能にする
装置で製品を試験することが出来ることが望ましい。

（発明の概要〉 本発明によれば、同一磁極極性の極片ペアーが提供され
、それぞれが均一磁束密度の領域を有する高磁界強度を
発生するために対向して配置された面を有する。サンプ
ルは極片面のギャップに配置されるので、磁束線は試験
される磁気層を十分に、且つ均一に飽和させる（　５ａ
ｔｕｒａｔｅさせる〉。

大抵の製品は基板の両面上に磁気媒体を有しているので
、この装置はサンプルの両面を飽和させる均一な磁界を
提供することが出来る。

好適な形態において、偏光ビームは試験されるどちらか
の飽和表面上に照射され、入射及び反射ビームがギャッ
プ内で磁界線の方向と平行となる面を形成する。この偏
光ビームが均−磁界内で飽和される製品の表面と接触す
る時、偏光ビームの偏光面は、カー効果によりサンプル
の磁気特性に比例する角度で回転される０分析手段がレ
ーザービームの反射通路内に配置され、試験される製品
の磁気特性により引き起こされるビームのカー回転の機
能として、受信機へ反射ビームを伝送させる。受信機手
段は偏光面の回転角を製品のスポットの磁気特性を提供
するために使用される電気信号に変換する。

交替的電磁システムがこの均一磁界を発生ずるために採
用され、その中で、サンプルが試験される。この構成に
おいて、それぞれがＮｆｆ！、Ｓ極を、そしてその間に
ギャップを有する二つのリングマグネットが整列されて
いるので、−リングマグネットのＮ極は第二のリングマ
グネットのＮ極に対向し、そして第一リングマグネット
のＳ極は第二リングマグネットのＳ極に対向している。

第一リングマグネットのギャップは第二リングマグネッ
トのギャップに近接しており、そしてリングマグネット
の極片は同一平面上にある。各リングマグネットにより
発生された磁束線は二つのマグネット間に均一の磁界を
形成するように組み合わされている。この磁界はサンプ
ルの両面を飽和するのに適しているので、いずれの面の
磁気特性も同時に十分に試験される。

第１図は引用される前記ＩＥＥＥ紙で説明された穿孔技
術の破壊サンプル試験装置１０の略図を示す、大きな電
磁石の大極片１１．１２が約３インチ離れて配置されて
いるので、その間の深ギャップフィールド内に試験され
るサンプル１３を配置するための十分な空間が提供され
る。ホール効果磁界プローブ１４も又深ギャップフィー
ルド内に配置される０巻き線１５は磁極片１１．１２上
に提供され、ギャップ内に磁界を発生する。ｆＨ光レー
ザービームはレーザー１６により提供され、入射ビーム
１９を提供するために、反射表面１７．１８に方向付け
られ、深いギャップ内の磁界方向と共通となる方向に方
向付けられる。そのレーザービーム２１は表面２２．２
３からファラデーロテータ２４上に反射される。そのフ
ァラデーロテータは、変調装置２６の入力に送られる時
、回転される偏光面を有するビーム２５を発生する。レ
ーザービーム２５はファラデー変調装置２６により変調
される偏光のその面を有するので、同期的に検出可能な
偏光方向を変動する時間でレーザー信号を生成する。変
調装置２６からの信号２７はさらにアナライザー２８、
スパイクフィルター２つにより処理され、そして検出装
置３１で検出され、ライン３２上でＡＣ信号を生成し、
そしてそれは同期復調装置３３によりＤＣ信号に変換さ
れ、ライン３５を介してオシロ、スコープまたは記録手
段の垂直軸に送られる。ライン３６上のホール効果プロ
ーブ１４からの出力はガウスメーター３７に送られ、ラ
イン３８上にフィールド信号を生成し、記録装置又はオ
シロスコープ３４の水平軸に送られる。信号発生装置３
９は同期復調装置３３とＡＣ増幅器４１に入力基準信号
を提供する。

ライン４２上の増幅されたＡＣ信号はファラデー変調装
置２６を駆動する。

第１図に示された先行技術の装置は２０００エルステツ
ド迄の磁界強度を使用して説明されているが、約１００
アンペアの電流が複数の巻き線１５に流されると、約１
００００エルステツドにまで駆動されることが可能であ
る。

第２図は引用される米国特許番号４，８１６，７６１に
記載の薄膜を磁気光学的に測定するもう一つの先行技術
の方法を示す。第２図は多くの巻き数４４（通常的２０
００＞を有する電磁リングマグネット４３の側面図を示
す。リングマグネット４３は長さ１／８インチ、深さ約
１／１６インチ程度の非常に小さいギャップ４５で提供
されているので、深ギャップとして知られるギャップ深
さ４５内に１５０００エルステツド迄の磁界強度で磁界
５０ａを形成することが出来る。しかしながら、近接外
部ギャップ内の磁界５０ｂはより小さく（１／１０イン
チから１／３インチ）なり、非常に高い非線形磁界強度
を有する。レーザー及び検出装置支持チューブ４６はリ
ングマグネット４３の壁を通じて挿入されているのが示
されており、マグネットの中心線と角度θをなして形成
する入射ビーム４７と反射ビーム４８を生成する装置の
支持を提供する。

第２図において、試験される製品４９は複数の層を含み
、その中でコバルトニッケルの磁気層がリングマグネッ
トの表面上に下向きに配置されるので、ギャップ４５の
中心線、及゛び深ギャップフィールドに近接する外部ギ
ャップフィールド内に試験されるスポットを配置するこ
とが出来る。外部ギャップフィールドは非均−であるの
で、それは測定される製品上に非均−な磁気的且つ電気
的力を発生させる。レーザーや検出装置に関するフィル
ムの位置は重要であるので、これらの力は測定をより困
難にする。さらに、磁界の非均一性（磁界はリングマグ
ネット表面からの距離の二乗で低下する）及び小さいギ
ャップのため、測定位置において、即ち、レーザーが製
品表面に衝突するところ、の磁界を正確に校正するのは
非常に困難である。大抵の通常製品では、磁気フィルム
はアルミニラム合金基板の両面上に配置されており、製
品を移動させずに両面を測定することが望ましい。

先行技術の設計でこれを実行するのは容易ではない、つ
まり、非均−磁界は異なった強度の磁界を深ギャップと
反対の基板面の磁界よりも約３から１０倍強い深ギャッ
プの隣の基板面の磁界でもって基板のそれぞれの面に適
用するからである。

第３図において、この図は本発明の好適形態のギャップ
部分の拡大図である。磁束＆１５２（コイル６３．６５
で発生されｆ、ｚ　）は磁極片５１ａ。

５１ｂのそれぞれの面から発する。磁束線は同一磁極極
性を有する極から発するので、磁束線は互いに反発し合
い、磁極片５ｉａ、５１ｂの面に平行な通路に沿って偏
向される。その磁界は高強度となり、そして磁極周囲の
近辺で非常に均一となる。サンプル５７の薄膜磁気層５
６は均一磁界の領域内の磁極片間に配置される。磁気薄
膜の各表面で発生される磁界は均等で均一となる。

偏光されたレーザービーム５４はレーザー６１により薄
膜磁気層５６の下あるいは上（あるいは両方）のいずれ
かに照射される。そのビームは何か適切な手段、例えば
外部偏光フィルターを使用することによるなど、で偏光
可能であり、あるいはレーザーが内部的に偏光を完了し
てもよい、製品５７の薄膜磁気層５６から反射されたビ
ーム５９は検出装置５３に送られる。検出装置５３は周
辺光からの干渉を低減するために帯域干渉フィルターを
備えていても良い。磁気Ｎｉ５６は磁極片５１ａ、５１
ｂから発する磁界を受ける。偏光ビームは表面５７の試
験されるスポット５８における磁気強度の変化に比例し
て角度的に回転せられる偏光面を有し、それにより磁気
光学カー効果を示す、支持表面９９により支持される製
品５７の表面との接触後、反射ビーム５９は開口部６２
を通過し、ビームがカー回転の機能として検出装置５３
に伝送されるアナライザー５５に向かって送られる。追
加的レーザー検出装置の配置が他の表面を試験するため
に示されている。

コンピューター用の、ハードディスクの製造において、
そのようなディスクはアルミニューム基板のそれぞれの
面のコバルトニッケル、ニッケルりん光層を使用するこ
とで知られている。そのようなハードディスクは、試験
される製品を破壊、あるいは製造ラインを妨害しないで
製造製品の品質をモニターするために製造ラインから取
り出され、正確に校正された均一磁界でディスクの両面
を同時に試験され、所定時間内に製造ラインに戻される
。磁界は薄膜磁気層により経験され、且つアルミニュー
ム基板はサンプルの両面において対称的で、均一である
ので、先行技術により生成される非均−磁気的、電気的
力は本発明で経験されない。

第４図は電磁石６６周りを包むコイル６３．６５、及び
磁極片５１ａ、５１ｂの対向して配置された二つの面か
ら生成する磁束線５２を示す装置の側面図である。

第５Ａ図は巻き線７１と磁束線７５で示された長方形磁
極片７４ａの平面図である。試験されるスポット５８が
示されている。第５Ｂ図と第５Ｃ図は、磁束線７５を生
成する巻き＆！７１と７３をそれぞれ有する対向、して
配置された磁極片７４ａと７４ｂの面の側面図と端面図
である。試験されるスポット５８が示されている。この
図から明らかなように、試験されるスポット５８はギャ
ップ内の均一磁界で完全に包含される。

第６図は円形磁極片面７７の平面図と磁界磁束線７２の
方向を示す。この図から、入射ビーム５４と反射ビーム
５９が縦方向のカー効果を決定するための磁界の方向と
平行となる面を形成するように、レーザー６１がサンプ
ル上のスポット５８への入射ビーム５４の方向付けを可
能にするということが容易に理解される。この配置はレ
ーザー６１、アナライザー５５、そして検出装置５３に
より示されている。交換的レーザー６１′アナライザー
５５′、そして検出装置５３′の配置が形成可能で、横
方向のカー効果を測定する。

これはスポット５８上に入射ビーム５４′を収束するこ
とにより完遂され、入射ビーム５４′と反射ビーム５９
′が磁界の方向と垂直となる面を形成する。

第７Ａ図は全システムの略ブロック図を示す。

入射レーザービーム５４と反射レーザービーム５９は磁
極片５１ａと５１ｂ内の開口部６２を通過する。レーザ
ー６１と検出装置５３の両方はビームの動きを防ぐため
に適切に支持されている。

入射ビームの偏光面は試験（磁気光学カー効果）される
サンプルの磁気特性に比例して角度的に回転せられる０
反射ビームはカー回転の機能としてビームを伝送するア
ナライザー５５を通過するので、それは検出装置により
受信される。検出装置は角度回転を偏光ビームから電気
信号に変換する。

検出装置はこの電気信号を通路９０に沿ってＸ−Ｙデー
タ補足手段９２に供給する。Ｘ−Ｙ補足手段への他の入
力は通路９３に沿ってホールプローブ９４により供給さ
れる。この装置からの出力は通路８６に沿ってコンピュ
ーターデイスプレー９１に送られ、そこでサンプルの磁
気特性が表示される１巻き線５８は通路８１に沿ってＤ
Ｃ電源８０により印加される。

第７Ｂ図はサンプル５６の平面図及びレーザー６１、ア
ナライザー５５、そして検出装置５３の可能な構成を伴
う円形磁極片８８を示す、試験されるサンプル上のスポ
ット５８と共に、磁界８７の方向が示されている。ディ
スクの一面上での試験は、非線形磁界が採用されるので
先行技術で生成された磁力及び電気的力の低減のために
改良される。この構成において、入射ビーム５４はスポ
ット５８に衝突し、反射ビーム５９は縦方向カー効果を
示すアナライザー５５に入る。第８図は試験されるサン
プルが包含される均一磁界を発生するための交替的構成
を示す、それぞれがＮ及びＳ極磁極片（９１ａ、９２ａ
、９１ｂ、９２ｂ）を有する第一及び第二リングマグネ
ット９０ａ、９゜ｂは、磁極片が同一平面上にあるよう
に配置されている。第一及び第二巻き線９３．９５はそ
れらを通じて流れる電流を有し、二つのマグネットによ
り形成される面と直角をなす面に横たわるマグネット間
に均一磁界９４を発生させる。測定されるサンプル６７
は均−磁界内に包含され、そして支持体９６により支持
される。同レーザー６１、アナライザー５５、及び検出
装置５３手段が開口部９９を通過する入射５４及び反射
５９偏光ビームを発生させるために使用され、且つサン
プルの磁気特性を決定するために使用される。

本発明の一つの長所は、サンプルの両表面がサンプルを
包含する均一磁界を発生することにより同時に且つ十分
に試験することが可能であることである。当業者には明
白であるように、スポットはギャップ（即ち、磁極片に
より定義される面間〉及び磁束線が磁極片と平行となる
領域内に配置されるべきである。この領域において磁界
は均一であるので、そこは表面のスポットを磁界の範囲
内に垂直に配置することが出来るほど大きい広さを有す
る。これは製品の両面の同時試験を速やかに且つ非破壊
的に行なうことが可能となる。さらに、磁界は、それが
比較的大きな領域にわたって均一であるので容易に校正
される。

【図面の簡単な説明】

第１図はサンプルを破壊的に試験するための先行Ｎｉ術
の磁気を堂り一軸思詰看の鯰閉第２図は試験されるサン
プルからの入射及び反射レーザービームの通路を示すも
う一つの先行技術の磁気光学カー効実装置の略図、 第３図は非破壊手段により試験するために対向的に配置
された面を有し、本発明に従って作成された同磁極の極
片ペアーを有する磁気光学カー効実装置の簡略図であり
、試験されるサンプルがらの入射及び反射レーザービー
ムの通路配置を示す、第４図は電磁石及びその巻き線を
示す全電磁構造の側面図、 第５（Ａ）図は電磁石の長方形の極片の横断面図、 第５（Ｂ）図は発生磁界の磁束線を示す電磁磁極片の側
面図、 第５（Ｃ〉図は電磁磁極片の端面図、 第６図は、横方向カー効果を測定できる破線で示された
もう一つの考えられるレーザー検出装置の配置と共に、
磁界方向、レーザー手段配置及び製品上の試験されるス
ポットを示す交替的、円形謝ｔ＆碌／７′１飲卑而団 第７（Ａ）図は本発明でヒステリシスループ測定を実行
するための受信機手段の略ブロック図を含む側面図、 第７（Ｂ）図はレーザー及び検出装置の可能配置とサン
プル製品を含む平面図、 第８図は均一磁界を発生するための異なった方法を示す
本発明の交替的形態である。 １０先行技術破壊サンプル試験装置、１１．１２大磁極
片、１３サンプル、１４ホール効果磁界プローブ、１５
巻き線、１６レーザー　１７．１８反射表面、１９入射
ビーム、２ル−ザービーム、２２．２３表面、２４フア
ラデーロテータ、２５レーザービーム、２６フアラデー
変調装置、２７信号、２８アナライザー、２９スパイク
フイルター、３１検出装置、３２ライン、３３同期復調
装置、３４オシロスコープまたは記録手段、３５．３６
ライン、３７ガウスメータ、３８ライン、３９信号発生
装置、４１ＡＣ増幅器、４２ライン、４３リングマグネ
ツト、４４巻き線、４５小ギヤツプ、４６レーザー及び
検出装置支持チューブ、４７入射ビーム、４８反射ビー
ム、４９被試験製品、５０ａ、５０ｂ磁界、５１ａ、５
１ｂ磁極片、５２磁束線、５３検出装置、５４偏光レー
ザービーム、５５アナライザー、５６薄膜磁気層、５７
サンプル、５８被試験スポツト、５９反射ビーム、６ル
−ザー　６２ｒｔＭロ部、６３．６５コイル、７１．７
３巻き線、７２磁界磁束線、７４ａ長方形磁極片、７５
磁束線、７７円形磁極片面、８０ＤＣ電源、８１通路、
８７磁界、８８円形磁極片、９０通路、９０ａ、９０ｂ
第一、第二リングマグネット、９１コンピユータデイス
プレー、９２Ｘ−Ｙデータ補足手段、９１ａ、９２ａ、
９１ｂ、９２ｂＮ極、Ｓ極磁極片、９３通路、９４ホー
ルプローブ、９６支持体、９つ支持表面（外４名） 図面の浄書（内容に変更なし） 手 続 補 正 書 平成 ２年 ７月／２日 １、事件の表示 平成　２年特許願第１１５７０５号 ２゜ 発明の名称 磁気フィルムのヒステリシスループを測定する装置イン
コーホレーテッド ４゜ 代 理 人 住 所 東京都千代田区大手町二丁目２番１号 新大手町ビル２０６区 ５゜ 補正の対象

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １　製品表面上の磁気層を非破壊ヒステリシス試験する
   ための装置において、 それぞれが対向的に配置され、その間にギャップを有す
   る同一磁極極性の磁極片ペアーを有し、磁極片の面と十
   分に平行となって走るギャップ内の磁束線を有する均一
   な磁束密度の領域を生成し、その磁束通路は前記製品の
   表面上の薄膜磁気層スポットを飽和させるのに十分な高
   磁界強度を有する電磁手段、 ギャップに近接して製品上の前記スポットを位置決めす
   るための支持手段、 製品上の前記スポット上に高偏光レーザービームを方向
   付けるためのレーザー手段、 スポットから反射されたビームを受信し、その機能とし
   て製品の磁気特性を決定するための受信手段を有するこ
   とを特徴とする製品表面上の磁気層を非破壊ヒステリシ
   ス試験するための装置。 ２　前記製品の反対面における第二スポットを同時に、
   且つ十分に試験するための第二レーザー及び検出装置手
   段を有することを特徴とする請求項１に記載の装置。 ３　前記電磁手段が、前記磁極片面で終結する第一と第
   二アーム部から成る本体を有する電磁石、そして 電磁石の第一と第二アーム周りを包み込む第一及び第二
   コイルとを有することを特徴とする請求項１に記載の装
   置。 ４　電流が一磁極片の面に対して直角に延長する磁界を
   生成する方向に第一コイルの巻き線を通じて通電され、
   且つ電流が他の磁極片の面に対して直角に延長する磁界
   を生成する方向に第二コイルの巻き線を通じて通電され
   、これにより、両磁極片は同一磁極極性を有し、それに
   よりギャップ全体に均一な磁界を十分に生成することを
   特徴とする請求項３に記載の装置。 ５　各磁極片から発する前記磁界が同一強度のものであ
   り、且つ磁極片の面に対して平行となる面の磁束線を発
   生することを特徴とする請求項３に記載の装置。 ６　さらに電磁石の本体を通じて延長するアクセス開口
   部を有し、これにより製品への、又は製品からの前記レ
   ーザービームの通路を提供することを特徴とする請求項
   １に記載の装置。 ７　前記アクセス開口部が少なくとも入射ビーム用の一
   つと反射ビーム用の一つとの複数の独立開口部を含むこ
   とを特徴とする請求項６に記載の装置。 ８　前記支持手段はギャップ間の磁極片の面に平行に延
   びて、試験される製品がその上に置かれる支持表面を含
   むことを特徴とする請求項１に記載の装置。 ９　前記レーザー手段は偏光面を有する入射及び反射レ
   ーザービームを作成し、前記ビームは製品表面により定
   義される面と十分直角をなす入射面を形成することを特
   徴とする請求項１に記載の装置。 １０　試験される製品上のスポットが磁極片の二面間に
   配置されることを特徴とする請求項１に記載の装置。 １１　前記均一磁界が製品の磁気特性に比例して偏光の
   偏光面を回転させることを特徴とする請求項９に記載の
   装置。 １２　前記受信手段が、反射ビームを受信する検出手段
   、 カー回転の機能として反射ビームを伝送するアナライザ
   ー手段、 入射及び反射レーザービームを正確に方向付ける安定手
   段、 ギャップに近接して配置されたホールプローブ、ギャッ
   プ内の磁界強度の機能として製品の磁気特性を決定する
   Ｘ−Ｙデータ補足手段、そして前記磁気特性を表示する
   コンピュータデイスプレーを有することを特徴とする請
   求項１に記載の装置。 １３　前記アナライザー手段がカー回転の機能として反
   射ビームを伝送し、これにより検出手段によりそれが検
   出可能であることを特徴とする請求項１２に記載の装置
   。 １４　前記検出手段は偏光ビームを受信し、それを電気
   的信号に変換することを特徴とする請求項１２に記載の
   装置。 １５　前記ホールプローブはギャップ内の磁界の測定量
   を生成し、その測定値をＸ−Ｙデータ補足手段に供給す
   ることを特徴とする請求項１２に記載の装置。 １６　前記Ｘ−Ｙデータ補足手段はギャップ内の磁界の
   測定値と検出手段から受信された電気的信号を比較し、
   製品のヒステリシスループ特性を決定することを特徴と
   する請求項１２に記載の装置。 １７　前記コンピュータデイスプレー手段はＸ−Ｙデー
   タ補足手段からヒステリシスループ特性を得て、それを
   読み取り可能な出力形式で表示することを特徴とする請
   求項１２に記載の装置。 １８　前記電磁手段は、それぞれがＮ極、Ｓ極、及びそ
   の間のギャップを有する二つのリングマグネットから構
   成され、そのリングマグネットは、一リングマグネット
   のＮ極が第二リングマグネットのＮ極に対向し、且つ第
   一リングマグネットのＳ極が第二リングマグネットのＳ
   極に対向するように配置されていることを特徴とする請
   求項１に記載の装置。 １９　前記の二つのリングマグネットは、第一リングマ
   グネットのギャップが第二リングマグネットのギャップ
   に近接して位置し、且つリングマグネットの極面が同一
   平面上にあるように配置されていることを特徴とする請
   求項１８に記載の装置。