JPH0346080A - 特徴抽出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は特徴抽出装置、特に文字認識におｆする特徴
抽出に用いる装置に関する。

（従来の技術） 従来の文字認識装置では、文字パタンよりストロークを
抽出し、これら抽出されたストロークの位置、長さ、ス
トローク間の相互位置関係等を用いて認識処理を行なう
方式が多く採用されている。この種の装置においては、
（１）文字図形の輪郭を追跡することにより検出された
輪郭点系列について曲率を計算し、その曲率の大きな値
の点を分割点として輪郭系列を分割し、分割された系列
を組合せることによりストロークを抽出するか、又は（
２）文字図形パタンに細線化処理を行なって骨格化しそ
の骨格パタンの連結性や骨格パタンを追跡することによ
って得られる急激な角度の変化点等を検出してストロー
クを抽出し、抽出したストロークについて幾何学的な特
徴等を抽出し文字図形の識別を行なっていた。しかしな
がら（１）の方法は文字図形パタンか大きくなったり文
字図形パタンか複雑化したりすると、処理量が増大しそ
のため処理速度の低下を招くという欠点を有し、（２）
の方法は文字図形パタンを細線化するという複雑な処理
を行なう必要があり、またこの細線化によってパタンの
びずみ、ヒゲ等が発生しこれらひずみ、ヒゲ等を除去す
る処理が処理全体を複雑化するという欠点があった。

そこでこれらの欠点を除去するために文字図形パタン内
の各点にの点を着目点と称す）から各走査方向へ走査線
を出し、走査線と文字線との交差数を当該走査線の着目
点に関する特徴として抽出する方法が提案されている。

しかしながら特徴として抽出される交差数は文字線の傾
斜の変化に伴ない変化してばらつき、従って特徴が不安
定となる。また単に交差数のみでは文字の構造を反映す
るのに不十分である。

これらの問題を回避する方法として、特開昭６０−５７
４７４号公報に開示されている特徴抽出方法がある。こ
の方法では文字図形パタンの所定方向のスト口−り成分
を表すサブパタンを抽出し、サブパタンの各点、若しく
は任意の点を着目点とし着目点から所定の他の方向をみ
たときの文字線分布状態を表す特徴を抽出する。このた
め着目点と、当該着目点を通る他の方向の走査線上で当
該着目点より一方の側に位置するすべての文字線との距
Ｍ％求め、これら一方の側の文字線との距離のに乗和を
当該着目点に関する第一の特徴とし、ざらに着目点と、
当該着目点を通る他の方向の走査線上で当該着目点より
他方の側に位置する文字線との距離を求め、これら他方
の側の文字線との距離のに乗和を当該着目点に関する第
二の特徴として抽出する。　これら第一及び第二の特徴
を用いて抽出した文字図形パタンの特徴に基づき文字図
形パタンを認識できる。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら上述した特開昭６０−５７４７４号公報に
開示の従来技術では第一及び第二の特徴を印刷文字や手
書き文字から抽出した場合に、第一及び第二の特徴が文
字の大きさの変動や文字線位置の変動によって変化する
という問題点があった。

印刷文字の場合、活字の大きさや印字の傾斜が変動しこ
の結果着目点と文字線との位置が変動して第一及び第二
の特徴が変化する。また手書き文字の場合には、文字の
書き手によって文字の大きさや文字の傾斜文字線位置が
変動しこの結果着目点と文字線と距離が変動して第一及
び第二の特徴が変化する。

文字認識において、このような特徴の変動に対応する辞
Ｉ！用意しないと認識率が低下し、また特徴の変動に対
応する辞Ｎを用意すると辞書量が増大しその結果辞書照
合に要する時間が長くなり認識速度が低下する。

この発明の目的は上述した従来の問題点を解決するため
、変動の少ない特徴を抽出できる特徴抽出部Ｗを提供す
ることにある。

（課題を解決するための手段） この目的の達成を図るため、この発明の特徴抽出装置は
、 文字図形パタンを所定の複数の方向に走査してそれぞれ
の走査方向における文字線の断面を検出し、断面長が文
字図形パタンに関する文字線幅より十分長い断面の文字
線を抽出することによってそれぞれの走査方向のストロ
ーク成分を表すサブパタンを抽出するサブパタン抽出部
と、互いに交差する第一及び第二の投影軸上にそれぞれ
文字図形パタンを投影して文字線の第一及び第二投影分
布を求める文字投影部と、 文字図形パタンの文字外接枠内の第一及び第二投影分布
の投影軸上における重心座標を求め、文字外接枠内の第
一投影分布の重心座標を最初の分割点座標とし、文字外
接枠の領域を第一の投影軸の方向に分割点座標で分割し
て第一の分割領域を設定し、第一の分割領域内の投影分
布の投影軸上における重心座標を求め、求めた第一投影
分布の重心座標を新な９害１）点座標として第一の分割
領域内の第一投影分布の重心座標を求める処理を所定回
数繰り返して第一の投影軸上の重心座標系列を求め、 文字外接枠内の第二投影分布の重心座標を最初の他の分
割点座標とし、文字外接枠の領域を第二の投影軸の方向
に他の分割点座標で分割して第二の分割領域を設定し、
第二の分割領域内の第二投影分布の投影軸上における重
心座標を求め、求めた第二投影分布の重心座標を新な他
の分割点座標として第二の分割領域内の第二投影分布の
重心座標を求める処理を所定回数繰り返して第二の投影
軸上の重心座標系列を求める重心座標系列抽出部と、 抽出したサブパタンのそれぞれについて文字外接枠内の
各点又は任意の点を着目点とし、サブパタンを、当該サ
ブパタン抽出時の走査方向に直交し着目点を通る他の方
向に走査して当該走査線上の文字線位置を検出し、 これら着目点及び文字線位置と重心座標系列どの位１１
関係に基づいて、これら着目点及び文字線位＠を重心座
標系列に座標値の大きさの順に付した重心座標番号を尺
度とする変換値に変換し、着目点と、当該着目点の一方
の側の走査線上のすべての文字線位置のそれぞれとの変
換語ｍを変換値に基づいて求め、これら一方の側の各変
換距離のに乗の和（Ｋは定数）を当該着目点に関する第
一の特徴として抽出し、 着目点と、当該着目点の他方の側の走査線上のすべての
文字線位置のそれぞれとの変換距離を変換値に基づいて
求め、これら他方の側の各変換距離のに乗の和（Ｋは定
数）を当該着目点に関する第一の特徴として抽出する特
徴抽出部とを備えて成ることを特徴とする。

（作用） このような構成の特徴抽出装置によれば、文字図形パタ
ンの文字線の投影分布（周辺分布）を求める。そして、
文字外接枠内の周辺分布の重心座標を最初の分割点座標
とし、文字外接枠の領域を分割点座標で分割して分割領
域を設定し、分割領域内の周辺分布の重心座標を求める
。そして求めた重心座標を新な分割点座標とし新な分割
領域を設定して重心座標を求める処理を所定回数繰り返
し、よって所定個数の重心座標から成る重心座標系列を
得る。

そして着目点と文字線位置との間の距離を、重心座標系
列に座標値の大きさの順に付した重心座標番号を尺度と
する変換値で表し、この変換値で表した距離のに乗和か
ら第一及び第二の特徴を抽出する。変換値の尺度は文字
線の局所的な位置変動に追従するので、文字線位置の変
動かあっても同一文字と認識されるべき文字の特徴の変
動を小ざくでき、特徴が安定する。

重心座標系列の重心座標の個数が増えるに従って、同一
文字と認識されるべき文字の特徴の変動をより少なくし
、特徴をより安定にすることができる。

（実施例） 以下、図面を譬照し、この発明の実施例につき説明する
。尚、′図面はこの発明が理解できる程度に概略的に示
しであるにすぎず、従って各構成成分の接続間係、入出
力信号の流れ、配設位置、形状及び寸法を図示例に限定
するものではない。

第１図はこの発明の詳細な説明に供する機能７０９９図
であり、この発明の特徴抽出部Ｎを用いて構成した文字
認識装置の一例を示す。

同図において１０はこの発明の実施例の特徴抽出装置を
示し、この特徴抽出部１０は、サブパタン抽出部１２、
文字投影部１４、重心座標系列抽出部１６及び特徴抽出
部１８から成る。

サブパタン抽出部１２は、文字図形パタンを所定の複数
の方向に走査してそれぞれの走査方向における文字線の
断面を検出し、断面長が文字図形パタンに関する文字線
幅より十分長い断面の文字線を抽出することによってそ
れぞれの走査方向のストローク成分を表すサブパタンを
抽出する。

文字投影部１４は、互いに交差する例えば直交する第一
及び第二の投影軸上にそれぞれ文字図形パタンを投影し
て文字線の第一及び第二投影分布を求める。

重心座標系列抽出部１６は、文字図形パタンの文字外接
枠内の第一及び第二投影分布の投影軸上における重心座
標を求める。そして文字外接枠内の第一投影分布の重心
座標を最初の分割点座標とし、文字外接枠の領Ｋｔを第
一の投影軸の方向に分割点座標で分割して第一の分割領
域を設定し、第一の分割領域内の投影分布の投影軸上に
おける重心座標を求め、この第一投影分布の重心座標を
新な分割点座標として第一の分割領域内の第一投影分布
の重心座標を求める処理を所定回数繰り返して第一の投
影軸上の重心座標系列を求める。また文字外接枠内の第
二投影分布の重心座標を最初の他の分割点座標とし、文
字外接枠の領域を第二の投影軸の方向に他の分割点座標
で分割して第二の分割類ｔｉを設定し、第二の分割領域
内の第二投影分布の投影軸上における重心座標を求め、
第二投影分布の重心座標を新な他の分割点座標として第
二の分割領域内の第二投影分布の重心座標を求める処理
を所定回数繰り返して第二・の投影軸上の重心座標系列
を求める。

特徴抽出部１８は、抽出したサブパタンのそれぞれにつ
いて文字外接枠内の各点又は任意の点を着目点とし、サ
ブパタンを、当該サブパタン抽出時の走査方向に直交し
着目点を通る他の方向に走査して当該走査線上の文字線
位Ｍ％検出する。そしてこれら着目点及び文字線位置と
重心座標系列との位１！１１１１係に基づいて、これら
着目点及び文字線位″Ｍを重心座標系列に座標値の大き
さの順に付した重心座標番号を尺度とする変換値に変換
する。

そして着目点と、当該着目点の一方の側の走査線上のす
べての文字線位置のそれぞれとの変換距離を変換値に基
づいて求め、これら一方の側の各変換距離のに乗の和（
Ｋは定数）を当該着目点に関する第一の特徴として抽出
する。また着目点と、当該着目点の他方の側の走査線上
のすべての文字線位置のそれぞれとの変換路ＭＩＦｒ変
換値に基づいて求め、これら他方の側の各変換距離のに
乗の和（Ｋは定数）を当該着目点に関する第二の特徴と
して抽出する。

また第１図において２０は特徴抽出装置１０ヲ用いて構
成した文字認識装置の一例を示し、この文字認識装Ｎ２
０は、認識対象の文字図形パタンを得る前処理部２２と
、文字図形パタンの文字外接枠を検出する文字枠検出部
２４と、文字図形パタンを走査して文字図形パタンに関
する線幅を検出する線幅計算部２６と、特徴抽出部！１
０と、認識対象の特徴ベクトルを抽出する特徴ベクトル
抽出部２８と、特徴ベクトルに基づいて認識対象の識別
を行なう識別部３０と、標準文字パタンの特徴ベクトル
を格納する辞′Ｎ３２とから成る。

以下、この実施例の特徴抽出装置１０と、第１図に示す
例の文字認識装置１２とにつきより詳細に説明する。

（前処理部） この例では、前処理部２２を、白黒２値に量子化したデ
ィジタル信号の文字図形パタンを出力する光電変換部３
４と、文字図形パタンを格納するパタンレジスタ３６と
から構成する。

光電変換部３４は帳票等の情報媒体の所定の読取領域を
例えば１２８Ｘ１２８の画素に分解し、情報媒体からの
反射光りを各画素毎に白黒２Ｊａのディジタル信号（文
字図形パタン）に変換し、ディジタル信号をパタンレジ
スタ３６及び線幅計算部２６に対し出力する。文字図形
パタンの白ビ・ント及び黒ビットはそれぞれ文字線及び
文字背景部を表すものとする。尚、この例の光電変換部
３４は、−文字単位に光学的に読取りを行なって一文字
分の文字図形パタンを出力するものである。

パタンレジスタ３６は光電変換部３４からの文字図形パ
タンを格納する。パタンレジスタ３６上にはＸ−Ｙ座標
系を仮想的に設定しており、このＸ−Ｙ座標系で表現さ
れる画素位置の画素データをパタンレジスタ３６に書込
みまたパタンレジスタ３６から読出すことが自由自在に
行なえるように威している。パタンレジスタ３６は読取
領域の画素数に対応して例えば１２８Ｘ１２８ビツトの
メモリ容量を有する。尚、平均的な文字−文字性の大き
さは６０ｘ６０ビツトである。

第２図は文字図形パタンの一例を示す図である。同図に
おいで０８Ｇはパタンレジスタ３６に格納した文字図形
パタンであり、この例では文字図形パタンを一単位の文
字図形のみを含むパタンとする。また同図のＸ及びＹ軸
はパタンレジスタ３６上に設定した座標軸であり、パタ
ンレジスタ３６における２次元平面の左下を原点とする
。

（文字枠検出部） 文字枠検出部２４はパタンレジスタ３６の文字図形パタ
ンを走査して文字図形パタンの一単位の文字図形に外接
する方形枠（文字外接枠）の左端座標ＸＬ、右端座標Ｘ
Ｒ１上端座標Ｙ□及び下端座標Ｙ、を検出する。第２図
において文字外接枠を符号Ｇを付した一点鎖線で示した
。文字外接枠は（ＸＬ　、ＹＴ　）、（ＸＬ　、　Ｙｌ
ｌ　）、（×６、ＹＴ）及び（Ｘｓ　、Ｙｅ　）の４点
を結ぶ矩形枠となる。

文字枠検出部２４はこれら座標ＸＬ　、Ｘｓ　、　Ｙｔ
及びＹ８を重心座標系列抽出部１６及び特徴ベクトル抽
出部２８に出力する。

（線幅計算部） 線幅計算部２６は光電変換部３４からの文字図形パタン
を入力し、例えば２×２の窓の全ての点が黒ビットとな
る状態の個数Ｑと、文字図形パタン中の全黒ビットの個
数とを計数し、従来周知の式（１）に従って線幅Ｗを算
出する。

ｗ＝Ａ／　（Ａ−Ｑ）　　−・−（１）尚、線幅があら
かじめわかっている場合には線幅計算部を省略してもよ
い。

（サブパタン抽出部） サブパタン抽出部１２文字図形パタンを複数の方向に走
査して各走査列毎の黒ビットの連続個数を検出し当該黒
ビツト連続個数と線幅とに基づいて複数の走査方向毎に
対応した複数のサブパタンを抽出するサブパタン抽出部
３０と、 サブパタン抽出部１２は、パタンレジスタ３６上に設定
したＸ軸方向に垂直な方向（垂直方向）及び平行な方向
（水平方向）と、Ｘ軸から反時計方向４５°の方向（右
斜め４５°方向）及び時計方向４５°の方向（左斜め４
５°方向）とを、主走査方向としてパタンレジスタ３６
の文字図形パタンを走査し各主走査方向に対応する垂直
、水平、有斜め及び左斜めサブパタンを抽出する。

従ってサブパタン抽出部１２は、図示せずも、垂直サブ
パタン抽出部、水平サブパタン抽出部、右斜めサブパタ
ン抽出部及び左斜めサブパタン抽出部から成る。

垂直サブパタン抽出部は垂直方向を主走査方向としてパ
タンレジスタ３６の文字図形パタンを全面走査し、垂直
方向の走査線上で連続する黒ビット（黒ラン）を検出す
る。この黒ランが文字線の断面を表す、そして、検出し
た黒ラフのなかがら次式（２）を満足する長ざｌの黒ラ
ンを抽出する。

ｌ≧Ｎ−ｗ　　　　　・・・・・・（２）但し、ｌは主
走査方向における黒ランの長さ（文字線の断面層）、Ｎ
は各サブパタンについでそれぞれ任意好適に設定される
定数である。この実施例では全てのサブパタンについて
例えばＮ＝２とする。

垂直サブパタン抽出部は式（２）を満足する黒ランをサ
ブパタンを構成する黒ランとみなして図示しない垂直サ
ブパタンメモリに格納する。

式（２）を満足しない黒ランは白ヒツトとみなす。

同様に水平、右斜め及び左斜めサブバタシ抽出部は、水
平、右斜め及び左斜め方向を主走査方向としてパタンレ
ジスタ３６の文字図形パタンを走査し、それぞれの主走
査方向の走査線上の黒ランのなかから（２）式を満足す
る黒ランを抽出し、抽出した黒ランをサブパタンを構成
する黒ランとみなして図示しない水平、右斜め及び左斜
めサブパタンメモリに格納する。

各サブパタンメモリ上にもパタンレジスタ３６と同様に
Ｘ−Ｙ座標系を設定しており、パタンレジスタ３６上の
画素位置と対応する画素位置に、各サブパタンを構成す
る黒ランを格納する。尚、各サブパタンメモリは、パタ
ンレジスタ３６と同様例えば１２８Ｘ１２８ビツトのメ
モリ容量を有する。

第３図は第２図に示す文字図形パタンから抽出したサブ
パタンを示す図であり、第３図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）
及び（０）はそれぞれ垂直サブパタンｖＳＰ、水平サブ
パタン日ＳＰ、右斜めサブパタンＲ８Ｐ及び左斜めサブ
パタンＬＳＰｔ示す、これら図のＸ及びＹ軸はパタンレ
ジスタ３６のＸ及びＹ軸に対応させてサブパタンメモリ
上に設定した座標軸である。

（パタン投影部） この実施例では第一及び第二の投影軸をパタンレジスタ
３６上に設定したＸ軸及びＹ軸とする。

この実施例の文字投影部１４は文字外接枠内の文字図形
パタンを互いに直交するＸ軸及びＹ軸上に投影して第一
投影分布として黒ビツト分布５Ｘ（ｘ）及び第二投影分
布として黒ビツト分布５Ｙ（ｙ）　ｌｊ＆求める。

黒ビツト分布５Ｘ（ｘ）及びＳＹ（ｙ）は次式（３）に
従って得られる。

ｙ＝Ｙｔ 但しｘ、ｙはパタンレジスタ３６上のＸ−Ｙ座標系にお
ける座標を表し例えばＯ〜１２７の整数値を取り、Ｐ（
ｘ、ｙ）はＰ（ｘ、ｙ）　＝　１のとき黒ビット（有意
色）及びＰ（ｘ、ｙ）＝Ｏのとき白ビット（背景色）を
表し、ＸＬ　、ＸＲ、ＹＴ及びＹ８は一単位の文字図形
の外接枠に間する左端、右端、上端及び下端座標を表す
。

（重心座標系列抽出部） この実施例の重心座標系列抽出部１６は、第一の投影軸
上の重心座標系列として黒ビツト分布５Ｘ（ｘ）の重心
座標系列Ｘ　（Ｍ、）を、また第二の投影軸上の重心座
標系列として黒ビツト分布ＳＹ（ｙ）の重心座標系列Ｙ
　（Ｍ、）１Ｆｒ求める０重心座標系列Ｘ（Ｍ、）、Ｙ
　（Ｍ、）は、文字外接枠内の領域又は分割領域におけ
る一次モーメントの和をその領域内の黒ビットの個数（
黒ビツト分布５Ｘ（ｘ）　、５Ｙ（ｙ）　）で除すこと
によって求められるものである。但し、Ｍ、及びＭ、は
座標値の大きさの順に重心座標に付す重心座標番号であ
り、この例では座標値の小ざい順に付す０Ｍ、は１≦Ｍ
、≦ＭＸｔ満足する自然数でありＭＸは奇数であり重心
座標系列Ｘ（Ｍ、）として検出される重心座標の総個数
を表し、またＭ、は１≦Ｍ、≦ＭＹヲ満足する自然数で
ありＭＹは奇数であり重心座標系列Ｙ　（Ｍ、）として
検出される重心座標の総個数を表す、　ＭＸ及びＭＹは
任意好適な値に設定されるが、好ましくは文字図形パタ
ンの大きさに近い値とするのがよく例えば文字図形パタ
ンの大きざを６０ｘ６０ビツトとした場合には１５又は
３１個程度を採用すればよい。

以下、黒ビツト分布５Ｘ（ｘ）　、５Ｙ（ｙ）の投影軸
上における重心座標の検出につき説明するが、以下の説
明では説明の簡略化のためにＭＸ＝ＭＹ＝７とし７個の
重心座標Ｘ（Ｍ、）及び７個の重心座標Ｙ（Ｍ、）を検
出するものとする。

重心座標系列抽出部１６は、重心座標系列Ｘ（Ｍ、）を
求めるため、まず、外接文字枠のＸ軸方向の全範囲ＸＬ
−Ｘ、における黒ビツト分布５Ｘ（ｘ）の−次モーメン
ト和を、当該範囲内の黒ビツト全個数で除すことによっ
て、中央の重心座標番号４の重心座標×（４）を求める
。

次いで重心座標Ｘ（４）１Ｆｒ最初の分割点座標として
文字外接枠の領域×、〜×１．ｌを座標×（４）で分割
し、第一の分割領域として領域ＸＬ−Ｘ（４）と×（４
）〜Ｘ＋ｔとを設定する。

そして分割類＠ｘ、〜Ｘ（４）内の黒ピット分布の重心
座標×（２）と、分割領域×（４）〜Ｘ５の重心座標×
（６）とを求める。

次いで重心座標×（２）及び×（６）を新な分割点座標
として加え、分割点座標Ｘ（２）　、Ｘ（４）及び×（
６）で文字外接枠の領域ＸＬ〜×、を分割し、第一の分
割領域として領域ＸＬ−Ｘ（２）と、Ｘ（２）　〜Ｘ（
４）と、Ｘ　（４）　〜Ｘ　（６）と、×（６）〜ｘ、
Ｉとを設定する。

そして分割領域ＸＬ〜Ｘ（２）、内の重心座標×（１）
と、Ｘ　（２）　〜Ｘ　（４）内の重心座標×（３）と
、×（４）〜Ｘ（６）内の重心座標×（５）と、×（６
）〜ｘ、ｌ内の重心座標×（７）とを求める。

同様にして重心座標系列抽出部１６は、重心座標系列Ｙ
　（Ｍ、）を求めるため、まず、外接文字枠のＸ軸方向
の全範囲Ｙ＠〜ＹＴにおける黒ビツト分布５Ｙ（ｙ）の
−次モーメント和を、当該範囲内の黒ビツト全個数で除
すことによって、中央の重心座標番号４の重心座標Ｙ（
４）を求める。

次いで重心座標Ｙ（４）を最初の分割点座標として文字
外接枠の領域Ｙ８〜ＹＴを座標Ｙ（４）で分割し、第二
の分割領域として領域Ｙ、〜Ｙ（４）とＹ（４）〜ＹＴ
とを設定し、分割領域Ｙ、〜Ｙ（４）の重心座標Ｙ（２
）と、Ｙ（４）〜Ｙ、の重心座標Ｙ（６）とを求める。

次いで重心座標Ｙ（２）及びＹ（６）！新な分割点座標
としで加え、文字外接枠の領域Ｙ１１＝Ｙｙｔ分割し、
第二の分割領域として領域Ｙ、〜Ｙ（２）と、Ｙ（２）
〜Ｙ（４）と、Ｙ（４）〜Ｙ（６）と、Ｙ（６）〜ＹＴ
とを設定し、分割領域Ｙ、〜Ｙ（２）内の重心座標Ｙ（
１）と、Ｙ（２）〜Ｙ（４）内の重心座標Ｙ（３）と、
Ｙ（４）〜Ｙ（６）内の重心座標Ｙ（５）と、Ｙ（６）
〜ＹＴ内の重心座標Ｙ（７）とを求める。

第４図及び第５図は文字図形パタン０日Ｇと黒ビツト分
布５Ｙ（ｙ）　、重心座標系列Ｙ　（Ｍ、）との間係を
示す図である。これら図の（Ａ）、（８）及び（Ｃ）は
それぞれ文字図形パタン、図（Ａ）の文字図形パタンに
関する黒ビツト分布５Ｙ（ｙ）及び図（Ａ）の文字図形
パタンに間する重心座標系列Ｙ（Ｍ、）を示す。

第４図（Ａ）及び第５図（Ａ）の文字図形パタン０８Ｇ
は同一文字「上」として認識されるべき文字であって文
字線位置が部分的に異なる文字のパタンを示し、これら
図からも明かなように文字線位置の変動に追従して重心
座標Ｙ　（Ｍ、）が移動することが理解できる。

（特徴抽出部） 特徴抽出部１８は、サブパタンを、当該サブパタン抽出
時の走査方向と直交する他の方向に走査し、着目点から
当該他の方向をみたときの文字線の分布状態を表す第一
及び第二の特徴を抽出する。これら第一及び第二の特徴
を各サブパタンにつき抽出する。

従ってこの実施例では第一及び第二の特徴を抽出するた
めの他の方向は、垂直サブパタンｖＳＰに間して水平方
向（Ｘ軸方向）、水平サブパタンＨ８Ｐに関し垂直方向
（Ｙ軸方向）、右斜めサブパタンＲ３Ｐに関し左斜め方
向（Ｘ軸から時計方向に４５゛ずれる方向）及び左斜め
サブパタンＬＳＰに間して右斜め方向（Ｘ軸から半時針
方向に４５°ずれる方向）となる、そしてこの実施例の
特徴抽出部１８は図示せずも、ＶＳＰ水平特徴抽出回路
、Ｈ３Ｐ垂直特徴抽出回路、日ＳＰ左斜め特徴抽出回路
及びＬＳＰ右斜め特徴抽出回路から成る。ｖｓｐ水平特
徴抽出回路はｖＳＰにつき水平方向の第一及び第二の特
＠（水平特徴）を、口ＳＰ垂直特徴抽出回路はＨ４Ｆに
つき垂直方向の第一及び第二の特徴（垂直特徴）を、Ｒ
３Ｐ左斜め特徴抽出回路は日ＳＰにつき左斜め方向の第
一及び第二の特徴（左斜め特ｒ！１）％、及びＬＳＰ右
斜め特徴抽出回路はＬＳＰにつき右斜め方向の第一及び
第二の特徴（右斜め特徴）を抽出する。

第６図はｖＳＰ水平特徴抽出回路の説明に供する機能ブ
ロック図であり、ＶＳＰ水平特徴抽出回路とこの回路に
間違するサブパタン抽出部の垂直サブパタンメモリ及び
重心系列抽出部の重心座標系列メモリとを示す。

同図において３８はｖＳＰ水平特徴抽出回路、４０は垂
直サブパタンを格納するサブパタン抽出部の垂直サブパ
タンメモリ、及び４２は重心座標系列Ｘ（Ｍ、）及びＹ
　（Ｍ、）を格納する重心座標系列抽出部の重心座標系
列メモリを示す。

ＶＳＰ水平特徴抽出回路３日は、特徴抽出部１８の全体
を制御する制御回路４４と、サブパタンメモリを走査中
にサブパタンメモリの内容を参照して白ビットから黒ビ
ットへ変化する変化点を検出する変化点検出回路４６と
、白ビットから黒ビットへ変化した時の黒ビットの座標
を変化点座標として格納するための変化点メモリ４８と
、変化点メモリに格納されでいる変化点の個数分変化点
メモリの番地を指定する変化点カウンタ５０とを備える
。

ざらにｖＳＰ水平特徴抽出回路３８は、Ｘ、　Ｙ座標を
発生するパタンメモリアドレスカウンタ５２と、変化点
が着目点の一方及び他方の側のいずれの側に位置するか
判定するため変化点の座標と着目点の座標とを比較する
比較器５４と、着目点及び変化点の間の変換距離のに乗
を算出する演算回路５６と、着目点の一方の側の特徴（
第一の特徴）を抽出するためのレジスタ４５８と、着目
点の他方の側の特＠（Ｍ二の特徴）を抽出するためのレ
ジスタＢ６０と、各注目点毎に第一及び第二の特徴を格
納するｖＳＰ水平特徴パタンメモリ６２とを備えて成る
。レジスタＡ５８及びレジスタＢ６０の容量は例えば１
６ビツト宅ある。

第７図はＶＳＰ水平特徴パタンメモリの説明に供する図
、及び第８図は１個の着目点に関する特徴を表す図であ
る。

第７図にも示すようにｖＳＰ水平特徴パタンメモリ６２
は、垂直サブパタンメモリ４０上の点に対応する位置の
着目点の特徴を格納できるように例えばＸ軸方向に１２
８ビツト及びＹ軸方向に１２８ビツトのメモリを例えば
３２個有する。この場合、第８図にも示すように１個の
着目点の特徴を３２ビツトで表すことができ、例えば上
位１６ビツトで着目点の第一の特徴を及び下位１６ビツ
トで着目点の第二の特徴を表せる。ｖＳＰ水平特徴パタ
ンメモリ６２！構成する３２個の各メモリ上には垂直サ
ブパタン４０上のＸ、Ｙ軸に対応するＸ、Ｙ軸を設定し
ており、従ってサブパタンメモリ４０上の着目点に対応
する位置の格納場所に第一及び第二の特徴を格納できる
。

次にｖＳＰ水平特徴抽出回路３８の全体的な動作につき
概略的に説明する。

ＶＳＰ水平特徴抽出回路３８は、まず変化点を検出する
ため垂直サブパタンを走査する０文字外接枠の左辺上の
点（ＸＬ、Ｙ）（但しＹ、≦ｙ≦ＹＴ）から垂直サブパ
タンの水平走査を開始し、検出した変化点座標を変化点
メモリ４８に登録しながら、文字外接枠の右辺上の点（
ｘ＊　、Ｙ）まで走査する。走査線上で白ビットから黒
ビットに変化した時の黒ビットの座標を変化点座標とし
で検出し、変化点座標を各走査線毎に検出する。

次に、ｖＳＰ水平特徴抽出回路３８は第一及び第二の特
徴を抽出するため着目点を走査する。

水平特徴の抽出では、着目点及び変化点の位置関係を判
定するため、着目点のＸ座標ＴＸと変化点のＸ座標Ｃｘ
との大小間係を比較する。座標ＴＸが座標Ｃｘよりも大
きい場合変化点が着目点の一方の側に位置することを表
し、また座標ＴＸが座標Ｃｘよりも小さい場合変化点が
着目点の他方の側に位置することを表す。

また着目点のＸ座標ＴＸと重心座標系列Ｘ（Ｍ、）とを
比較し、座標下Ｘをこの比較結果に応じて重心座標番号
凪ヲ尺度とする値（変換＠ＴＸ、４）に変換する。

・Ｘ（Ｍ、）≦ＴＸ＜　Ｘ　（Ｍ、−１）（７）　ト！
・ＴＸ＝ＸＬのとき ＴＸ、＝０ ・ｒｘ＝ｘ＊のとき ＴＸ、＝ＭＸ＋　１ 但し、ここではＭ、を０≦Ｍ２≦ＭＸの範囲の整数とし
、Ｘ（０）＝ＸＬ及びＸ　（Ｍｘ◆Ｉ）＝　Ｘ　＊とす
る。

着目点の場合と同様にして、変化点のＸ座標Ｃｘと重心
座標系列とを比較し、座標Ｃｘをこの比較結果に応じて
重心番号Ｍ、を尺度とする＠（変換値ＣＸＨ）に変換す
る。

そして着目点及び変化点の変換距離りのに乗を求めるに
の実施例ではに＝２とする）。水平特徴の抽出ではＤ＝
　ｌ　ＣＸＨ−ＴＸ、　　ｌ　テある。

そして着目点及び変化点の位置関係の判定結果に基づい
て、着目点の一方の側に位置する変化点及び着目点の変
換距離りのに乗を順次に加算してゆき第一の特徴を求め
、及び着目点の他方の側に位置する変化点及び着目点の
変換路ＨＤのに乗を順次に加算してゆき第二の特徴を求
める。

次にｖＳＰ水平特徴抽出回路３８のより具体的な動作に
つき一例を挙げて説明する。

垂直サブパタンの走査が始ると、パタンメモリアドレス
カウンタ５２は垂直サブパタンの水平走査を行なうべく
Ｘ、Ｙ座標を発生し、これら座標を垂直サブパタンメモ
リ４０及び変化点メモリ４８に対して出力する。垂直サ
ブパタンメモリ４０は入力するＸ、Ｙ座標で指定される
走査点の画素データを変化点検出回路４６に出力する。

変化点検出回路４６は入力した画素データが白ヒツト及
び黒ビットのいずれであるかを判定し白ビットの次に黒
ビットを検出したときの当該黒ビットを変化点として検
出する。

変化点検出回路４６が変化点を検出すると、変化点カウ
ンタ５０は一本の走査線上で検出された変化点の個数を
計数すべく計数値ｉを１カウントアツプしく計数値ｉは
１本の走査線の走査開始時点で初期値零となっている）
、次いで計数［ｌｉを変化点座標の格納場所を指定する
番地として変化点メモリ４８に対し出力する。変化メモ
リ４８は指定番地ｉを入力すると、パタンメモリアドレ
スカウンタ５２から入力した座標を１本の走査線上で第
１番目に検出された変化点の座標として指定番地ｉに格
納する。

１本の走査線上の文字外接枠内の変化点の検出が終ると
、当該走査線上の着目点を走査する。

この例では文字外接枠内の全点を着目点とし、従って走
査線上の各点を着目点として順次に着目点を水平走査す
る。

第９図は変化点を検出したのちの、１個の着目点に関す
る水平特徴の抽出過程の説明図である。

以下第９図を参照し、１個の着目点に関する水平特徴の
抽出過程につき一例を挙げて説明する。

１本の走査線上の変化点の検出が終ると、当該走査線上
の１個の着目点に関する水平特徴を抽出する処理が始ま
る（　５ＴＡＲＴ）、尚、５ＴＡＲＴ時点で変化点カウ
ンタ５０の計数ｉＩｉは変化点検出を終えた走査線上の
変化点総個数を表す値工となっている。

処理が始まると、制御回路４４はレジスタＡ５８及びレ
ジスタＢ６１初期化する（Ｓｌ、Ｓ２）、これと共に比
較器５４、演算回路５６及びｖＳＰ水平特徴パタンメモ
リ６２はパタンメモリアドレスカラシタ５２から当該着
目点の座標を入力する。

次いで制御回路４４は１個の着目点に間する水平特徴の
抽出１Ｆｒ終了したか否か判定する（Ｓ３）。

Ｓ３の判定で変化点カウンタ５０の計数値ｉがｉ＝Ｏで
あれば１個の着目点に関する水平特徴抽出ヲ終了しこの
ときのレジスタＡ５８及びレジスタ８６０の格納値がそ
れぞれ当該着目点に間する第一及び第二の特徴であるこ
とを表すので、制御回路４４はレジスタＡ５８及びレジ
スタＢ６０の格納値をそれぞれｖＳＰ水平特徴パタンメ
モリ６２の着目点座標で指定される格納場所に保存する
。その後１個の着目点に関する水平特徴抽出処理を終了
する（ＥＮＤ　）。

Ｓ３の判定で変化点カウンタ５０の計数値ｉが１≠Ｏで
あれば１個の着目点に間する水平特徴抽出を未だ終了し
でいないことを表すので、変化点メモリ４８はこのとき
の変化点カウンタ５０の計数値ｌで指定される番地の変
化点座標を比較器５４及び演算回路５６に入力する。

次いで演算回路５６は入力した着目点及び変化点の座標
と、重心座標系列メモリ４２からの重心座標系列とに基
づいて着目点及び変化点の座標の変換Ｊａミラめ（Ｓ４
）、ざらに求めた変換値に基づいて着目点及び変化点の
変換語ＭＤを求める。

また比較器５４は入力した着目点及び変化点の座標を比
較し、比較結果を制御回路４４に入力する。

次いで制御回路４４は比較器５４からの比較結果に基づ
いて変化点が着目点の一方及び他方の側のいずれにある
かを判定する（Ｓ５）。

Ｓ５の判定でＣＸ＜ＴＸであれば変化点は着目点の一方
の側に位置するとみなし、制御回路４４は演算回路５６
が算出した変換距離りのに乗（ＤＫ）をレジスタ４５８
の格納値に加算しく８６）、次いでＳ８の処理を行なう
。

Ｓ５の判定でＣｘ≧ＴＸであれば変化点は着目点の他方
の側に位置するとみなし、制御回路４４は演算回路５６
が算出した変換距離りのに乗（Ｄに）をレジスタＢ６０
の格納値に加算しくＳ７）、次いてＳ８の処理を行なう
。

Ｓ８で、制御回路４４は次の他の変化点と着目点との変
換距離りを求めて特徴を抽出すべく変化点カウンタ５０
の計数［１ｉを１だけ減じ、次いでＳ３の処理に戻る。

変化点カウンタ５０の計数値１を走査線上で検出した変
化点の総個数Ｉからｉ＝０となるまで順次歩進して各変
化点と着目点との変換語ｊｌｆｆｆＤのに乗を順次レジ
スタＡ５８或はレジスタＢ６０の格納値に加算してゆく
ことによって第一或は第二の特ｍを抽出できる。

走査線上の各着目点につき上述の処理を行なって第一及
び第二の特徴を抽出し、走査線上の全着目点につき第一
及び第二の特徴を抽出し終えると、当該走査線の次の走
査線に関して変化点を検出し着目点の第一及び第二の特
徴を抽出する。

Ｈ３Ｐ垂直、Ｒ８Ｐ左斜め及びしＳＰ右斜め特徴抽出回
路は、第６図に示すｖＳＰ水平特徴抽出回路と同様の構
成を有し、上述したＶＳＰ水平特徴抽出回路と同様にし
て水平サブパタン、右斜めサブパタン及び左斜めサブパ
タンの着目点に間する第一及び第二の特徴を抽出する。

以下、水平サブパタン、右斜めサブパタン及び左斜めサ
ブパタンの着目点に閉する第一及び第一の特徴抽出につ
き、概略的に説明する。

Ｈ９Ｐ垂直特徴抽出回路は、まず変化点を検出するため
水平サブパタンを走査する。文字外接枠の下辺上の点（
Ｘ、ＶＢ　）（但しＸＬ≦Ｘ≦Ｘｌ＋）から水平サブパ
タンの垂直走査を開始し、検出した変化点座標を登録し
ながら、文字外接枠の上辺上の点（Ｘ、Ｙア）まで走査
する。

次に、口ＳＰ垂垂直特徴油抽出回路着目点を走査する。

垂直特徴の抽出では、着目点のＹ座標ＴＹと変化点のＹ
座標ＣＹとの大小関係を比較し、変化点が着目点の一方
及び他方の側のいずれの側に位置するか判定する。

また着目点のＹ座標ＴＹと重心座標系列Ｙ　（Ｍ、）と
を比較し、座標ＴＶをこの比較結果に応じて重心座標番
号Ｍ、壱尺度とする［（変換！ＴＶ、　）に変換する。

・Ｘ　（Ｍ、）≦ＴＹ＜　Ｘ　（Ｍ、◆１）のとき・Ｔ
Ｖ＝Ｙ８のとき ＴＹＨ”０ ・ＴＶ＝ＹＴのとき ＴＶ、＝ＭＹ＋　１ 但し、ここではＭ、を０５Ｍ、≦ＭＹの範囲の整数とし
、Ｙ（０）”Ｙａ及びＸ（ＭＹ◆Ｉ）＝ＹＴとする。

同様にしで、変化点のＹ座標ＣＹと重心座標系列Ｙ（Ｍ
、）とを比較し、座標ＣＹをこの比較結果に応じて重心
番号Ｍ、を尺度とする値（変換値ＣＶ＋　）に変換する
。

そして着目点及び変化点の変換距離りのに乗を求める。

垂直特徴の抽出ではＤ＝　ｌ　ＣＹ、　−Ｔｖ。

である。

そして着目点及び変化点の位置間係の判定結果に基づい
て、変換語ＭＤのに乗を順次ｆこ加算してゆき第一及び
第二の特徴を求める。

またＲ３Ｐ左斜め特徴抽出回路は、まず変化点ヲ検出す
るため右斜めサブパタンを走査する。文字外接枠の左辺
上及び下辺上の点から右斜めサブパタンの左斜め走査を
開始し、検出した変化点座標を登録しながら、文字外接
枠の上辺上及び右辺上の点まで走査する。

次に、日ＳＰ左斜め特徴徴抽出回路は着目点を走査する
。

左斜め特徴の抽出では、着目点の座標ＴＸ又はＴＶと変
化点の座標Ｃｘ又はＣＹとの大小関係を比較し、変化点
が着目点の一方及び他方の側のいずれの側に位置するか
判定する。

また着目点の座標ＴＸ及び丁Ｙと重心座標系列Ｘ（Ｍ、
）及びＹ　（Ｍ、）とを比較し、座標ＴＸ及びＴＹ’８
コの比較結果に応じて重心座標番号Ｍ、及びＭ９を尺度
とする変換値ＴＸ、及びＴＹ、に変換する。

同様にして、変化点の座標Ｃｘ及びＣＹと重心座標系列
Ｘ（Ｍ、）及びＹ　（Ｍ、）とを比較し、この比較結果
に応して座標Ｃｘ及びＣＹを変換値Ｃｘ８及びＣＹＨに
変換する。

そして着目点及び変化点の変換語ＨＤのに乗を求める。

左斜め特徴の抽出では変換語ＭＤは次式のように表され
る。

そして着目点及び変化点の位Ｍ関係の判定結果に基づい
て、変換語ＭＤのに乗を順次に加算してゆき第一及び第
二の特＠を求める。

またＬＳＰ右斜め特徴抽出回路は、まず変化点を検出す
るため左斜めサブパタンを走査する０文字外接枠の下辺
上及び右辺上の点から左斜めサブパタンの右斜め走査を
開始し、検出した変化点座標をＷ録しながら、文字外接
枠の左辺上及び上辺上の点まで走査する。

次に、ＬＳＰ右斜め特徴徴抽出回路は着目点を走査する
。

右斜め特徴の抽出ては、左斜め特徴抽出の場合と同様に
して、変化点が着目点の一方及び他方の側のいずれの側
に位置するか判定し、また着目点の座標ＴＸ及びＴＹと
変化点の座標Ｃｘ及びＣＹとを、変換値ＴＸ、及び丁Ｙ
ｓと変換値ＣＸＨ及びＣＹ、とに変換する。

そして左斜め特徴抽出の場合と同様にして、着目点及び
変化点の変換語ＭＤのに乗を求め、第一及び第二の特徴
を求める。

尚、変換距離りは一般に次式のように表せる。

しかしながら、水平特徴抽出においては着目点及び変化
点のＹ座標が及び垂直特徴抽出においては着目点及び変
化点のＸ座標が等しいので変換距離りを表す式を上述の
ように簡略化できる。

（特徴マトリクス抽出部） 特徴マトリ２ス抽出部２８は、特徴マトリクスを作成す
るための分割点座標に基づいて文字外接枠内をＭＸＮ個
の部分領域に分割する。そして垂直、水平、右斜め及び
左斜めサブパタンについてそれぞれ、各部分領域内に存
在する着目点の着目点の第一の特徴の相加平均及び第二
の特徴の相加平均を要素とするＭｘＮｘ２次元の特徴ベ
クトルである水平、垂直、左斜め及び右斜め特徴ベクト
ルを抽出し、よってひとつの認識対象につきこれら特徴
ベクトルから成るＭｘＮｘ２Ｘ４次元の特徴ベクトルを
抽出する。

特徴マドｌノウスを作成するための分割点座標としては
従来公知の手法によって求められるものを用いてもよい
が、この実施例では重心座標系列Ｘ（ＭＰ）及び’／　
ＣＭ、）ｌＦｒ特徴マトリクスを作成するための分割点
座標に用い従ってＭ＝ＭＸ＋１及びＮ＝ＭＹ＋１として
文字外接枠内を分割するものとする。

以下、水平特徴から得られる水平特徴ベクトルの抽出を
例として特徴ベクトルの求め方につき説明する。

文字外接枠内を重心座標系列を用いてＭＸＸＭＹ個の部
分領域に分割する。そして垂直サブパタンの各部分領域
の、第一の特徴の相加平均及び第二の特徴の相加平均を
求める。第ｍ行ｎ列の部分９Ｎ域の第一の特徴の相加平
均及び第二の特徴の相加平均を）ＩＬｌ、１．　、及び
ＨＲ−、、（ｍ＝１．２、・・・ＭＸ及びｎ＝１．２、
・・・、ＭＹ）　、第ｍ行ｎ列の部分領域内の位置（ｘ
、ｙ）にある着目点の第一の特徴及び第二の特徴を（ｌ
　Ｘ　＊　Ｖ及びｒＸ＋Ｖ、及び第ｍ行第ｎ列の部分領
域内の着目点の個数をＴ　Ｉｌｌ　＋　ｎとすれば、 ）ＩＬ□ 及びＨＲ，、、、。

壱次式のように定義で きる。

各部分領域において求めたＨＬ、、、　、及びＨＲ，、
、。が（ＭＸ＋　１）　Ｘ　（ＭＹ＋　１　）　Ｘ　２
次元の水平特徴ベクトルを表す。

特徴ベクトル抽出部２８は水平特徴ベクトルの場合と同
様にして口ＳＰ垂直特徴パタンメモリ、８ＳＰ左斜め特
徴パタンメモリ、ＬＳＰ右斜め特徴パタンメモリを参照
して、（ＭＸ＋１　）　Ｘ　（ＭＹ＋１）×２次元の垂
直、左斜め及び右斜め特徴ベクトルを求める。

これら（ＭＸ＋１）ｘ　（ＭＹ＋１）ｘ２次元の水平、
垂直、左斜め及び右斜め特徴ベクトルが認識対象（７）
（ＭＸ＋１）ｘ　（ＭＹ＋１）ｘ２ｘ４次元の特徴ベク
トルを表す。

（識別部） 識別部３０は特徴ベラトル抽出部２８が抽出した認識対
象（７）　（ＭＸ＋　１）　ｘ　（閘Ｙ＋１）Ｘ２Ｘ４
次元の特徴ベクトルと、辞書３２に格納されている標準
文字の特徴ベクトルとを照合し認識対象の識別を行なう
。

辞書３２は、特徴ベクトル抽出部２８が抽出する（ＭＸ
＋１）ｘ　（ＭＹ＋　１）ｘ２ｘ４次元の特徴ベクトル
と同一形式で記述された複数の標準文字の特徴ベクトル
と、標準文字の文字名例えば例えばｊＩＳ規格に定めら
れた文字コードとを格納する。

識別部３２は認識対象の特徴ベクトルと標準文字の特徴
ベクトルとの間のユークリッド距Ｍを計算し、その距離
が最小となる標準文字の文字名を認識結果Ｃとして出力
する。

この発明は上述した実施例にのみ限定されるものではな
く、従って各構成成分の構成、動作、動作の流れ、入出
力信号、入出力信号の流れ、数値的条件、形状、寸法及
び配設位Ｉｌを任意好適に変更できる。

（発明の効果） 上述した説明からも明らかなように、この発明の特徴抽
出装置によれば、文字図形パタンの文字線の投影分布（
周辺分布）を用いて、サブパタンの着目点と文字線との
距Ｍを、文字線の局所的な位置変動に追従した尺度に変
換し、この変換した距離のに乗和を文字の特徴として抽
出するので、文字線位置の変動があっても同一文字と認
識されるべき文字の特徴の変動を小さくでき、特徴が安
定する。

また特徴抽出の処理も簡単な処理で行なえ、処理時間を
短くできる。

従ってこの発明の特徴抽出袋Ｈを用いて文字認識袋Ｍを
構成することにより、文字線位置の変動に対応する大量
の辞書データを用意しなくとも、認識率の低下を招かず
、従って文字認識を高精度に行ないかつ辞書照合時間を
従来より短縮できる文字認識装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の詳細な説明に供する機能ブロック図
、 第２図は認識対象となる文字図形バクンの一例を示す図
、 第３図（Ａ）〜（Ｄ）は第２図に示す文字図形パタンか
ら抽出されるサブパタンを示す図、第４図（Ａ）〜（Ｃ
）及び第５図（Ａ）〜（Ｇ）は文字図形パタンと投影分
布５Ｙ（Ｖ）　、重心座標系列Ｙ（Ｍ、）との間係を示
す図、第６図はｖＳＰ水平特徴抽出回路の説明に供する
機能ブロック図、 第７図は特徴パタンメモリの説明に供する図、第８図は
１個の着目点に関する特徴の説明の説明に供する図、 第９図は１個の着目点ｆこ関する第一及び第二の特徴の
抽出過程の説明に供する図である。 ＩＯ・・・特徴抽出装置、　１２・・・サブパタン抽出
部１４・・・文字投影部、　　１６・−重心座標系列抽
出部＋　８−・・特徴抽出部。 １個の着目点に間する第一及び第二の特徴の抽出過程第
９ 図 Ｘ 〉 〉 〉

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）文字図形パタンを所定の複数の方向に走査してそ
   れぞれの走査方向における文字線の断面を検出し、断面
   長が前記文字図形パタンに関する文字線幅より十分長い
   断面の文字線を抽出することによってそれぞれの走査方
   向のストローク成分を表すサブパタンを抽出するサブパ
   タン抽出部と、互いに交差する第一及び第二の投影軸上
   にそれぞれ前記文字図形パタンを投影して文字線の第一
   及び第二投影分布を求める文字投影部と、 前記文字図形パタンの文字外接枠内の第一及び第二投影
   分布の投影軸上における重心座標を求め、 前記文字外接枠内の第一投影分布の重心座標を最初の分
   割点座標とし、前記文字外接枠の領域を第一の投影軸の
   方向に分割点座標で分割して第一の分割領域を設定し、
   該第一の分割領域内の投影分布の投影軸上における重心
   座標を求め、該第一投影分布の重心座標を新な分割点座
   標として第一の分割領域内の第一投影分布の重心座標を
   求める処理を所定回数繰り返して第一の投影軸上の重心
   座標系列を求め、 前記文字外接枠内の第二投影分布の重心座標を最初の他
   の分割点座標とし、前記文字外接枠の領域を第二の投影
   軸の方向に他の分割点座標で分割して第二の分割領域を
   設定し、該第二の分割領域内の第二投影分布の投影軸上
   における重心座標を求め、該第二投影分布の重心座標を
   新な他の分割点座標として第二の分割領域内の第二投影
   分布の重心座標を求める処理を所定回数繰り返して第二
   の投影軸上の重心座標系列を求める重心座標系列抽出部
   と、 抽出したサブパタンのそれぞれについて文字外接枠内の
   各点又は任意の点を着目点とし、前記サブパタンを、当
   該サブパタン抽出時の走査方向に直交し前記着目点を通
   る他の方向に走査して当該走査線上の文字線位置を検出
   し、 これら着目点及び文字線位置と前記重心座標系列との位
   置関係に基づいて、これら着目点及び文字線位置を前記
   重心座標系列に座標値の大きさの順に付した重心座標番
   号を尺度とする変換値に変換し、 着目点と、当該着目点の一方の側の走査線上のすべての
   文字線位置のそれぞれとの変換距離を前記変換値に基づ
   いて求め、これら一方の側の各変換距離のＫ乗の和（Ｋ
   は定数）を当該着目点に関する第一の特徴として抽出し
   、 着目点と、当該着目点の他方の側の走査線上のすべての
   文字線位置のそれぞれとの変換距離を前記変換値に基づ
   いて求め、これら他方の側の各変換距離のＫ乗の和（Ｋ
   は定数）を当該着目点に関する第二の特徴として抽出す
   る特徴抽出部とを備えて成ること を特徴とする特徴抽出装置。