JPH0333714A - スキャナ - Google Patents

スキャナ

Info

Publication number
JPH0333714A
JPH0333714A JP1169286A JP16928689A JPH0333714A JP H0333714 A JPH0333714 A JP H0333714A JP 1169286 A JP1169286 A JP 1169286A JP 16928689 A JP16928689 A JP 16928689A JP H0333714 A JPH0333714 A JP H0333714A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
laser light
polygon mirror
laser
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1169286A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeo Sato
佐藤 健夫
Nobuhiro Araki
信博 荒木
Hirokado Shimahane
島羽 広門
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP1169286A priority Critical patent/JPH0333714A/ja
Publication of JPH0333714A publication Critical patent/JPH0333714A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、レーザ光により被検体、例えば原稿紙面、あ
るいはプリント基板上の回路パターンを読み取るための
スキャナに関する。
従来の技術 従来のレーザスキャナは、レーザ照射系とファイバー等
を用いた受光系を別個に有していた。
以下、上記従来のスキャナについて第4図を参照しなが
ら説明する。第4図に示すようにレーザ光源101から
出射したレーザ光は回転多面鏡102で反射させ、f・
θレンズ103により集光し、折返しミラー104を介
して被検体105に照射させる。
そして、上記回転多面鏡102の回転により直線走査を
行う。レーザ光の照射に伴う被検体105の被検面から
の反射、散乱光は、光走査方向と平行に配置された光フ
アイバ束106 a 、  106 bにより受光素子
107 a、  107 bへ導き、被検体105ノ黒
白に応じた強度信号を時系列的に検出していた。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記のような従来例の構成では、レーザ
光の走査長と等しい長さに配列した光フアイバ束106
a、106bを必要とするので大型化し、また、光フア
イバ束106 a、  106 bを受光系に用いると
、被検体である原稿が粘り合わせのように高さを持つ場
合には、影が出やすいなどの課題があった。
本発明は、上記のような従来技術の課題を解決するもの
であり、被検体からの反射、散乱光をレーザの照射経路
とほぼ同一のバスを採ることにより、受光用の光学系の
大幅な小型化を図ることができ、また、帖り合わせ原稿
のようね高さを持つ被検体の読み取り時にも影の発生を
少なくすることができるようにしたスキャナを提供する
ことを目的とするものである。
課題を解決するための手段 上記目的を達成するための本発明の技術的手段は、レー
ザ光源と、このレーザ光源がら出射したレーザ光を通過
させる開口を有し、この開口に隣接した両側に反射面を
有するミラーと、このミラーの開口を通過したレーザ光
を走査するための回転多面鏡と、この回転多面鏡で反射
されたレーザ光を被検体に対して集光させるf・θレン
ズと、上記被検体で反射、散乱され、上記f・θレンズ
を通過し、上記回転多面鏡お゛よび上記ミラーの反射面
で反射された反射、散乱光を集光する集光レンズと、こ
の集光レンズの結像位置に配された少なくとも一つ以上
の受光部を備えたものである。
そして、上記ミラーを全体として台形状に形成し、開口
を円形に形成し、この開口に対して対称的な両側の傾斜
した反射酊を互いに90度の角度をなすように形成し、
上記f・θレンズにはテレセントリック特性を有するも
のを用いる。
作用 上記技術的手段による作用は次のようになる。
レーザ光源から出射したレーザ光は、ミラーの開口を通
過して回転多面鏡により反射し、f・θレンズを通過し
、被検体の被検面に集光する。被検面からの反射、散乱
光は、f・θレンズに入射し、はぼ平行光束となって回
転多面鏡で反射され、入射レーザ光とはわずかに光軸の
ずれた位置に配されたミラーの反射面により方向を変え
られ、集光レンズを経て受光素子上に集光される。上記
のように開口と反射面を有するレーザ光源と回転多面鏡
との間に配置することにより被検面上に集光されたレー
ザ光は、回転多面鏡により走査されるが、受光素子上の
集光スボノトは、レーザ光とほぼ共役位置となるため、
走査とは独立であり、はとんどその集光位置は変化しな
い。したがって、走査幅にかかわらず、小型のミラーお
よび集光レンズを光路中に挿入することにより受光系を
構成することができる。また、上記受光系によれば、被
検面へのレーザ照射角とほぼ同じ角度からの観察が可能
となる。
実施例 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明
する。
まず、本発明の第1の実施例について説明する。
第1図および第2図は本発明の第1の実施例におけるス
キャナを示し、第1図は全体の概略斜視図、第2図は読
み取り系の説明図である。
第1図において、1はレーザ光源(レーザー管)、2は
ミラーであり、全体としてほぼ台形状に形成され、対向
する平行面の中央部にレーザ光源1から出射したレーザ
光を通過さ老る円形の開口3が形成され、この開口3に
対して対称的で、隣接した両側の傾斜した反射面4.5
が互いに90度の角度をむすように形成されている。6
はミラー2の開口3を通過したレーザ光を走査するため
の回転多面鏡、7は回転多面鏡6で反射したレーザ光を
被検体である原稿8面上に集光させるf・θレンズであ
り、テレセントリック特性を有する。9はf・θレンズ
7と原稿8との間に配され、レーザ光の光路を変更する
ための折返しミラー、10a。
10bはミラー2の各反射面4.5の外方へ配された集
光レンズであり、原稿8面で反射、散乱され、折返しミ
ラー9.f・θレンズ7を通過し、回転多面鏡6および
ミラー2の各反射面4.5で反射された反射、散乱光を
集光する。lla、llbはそれぞれ集光レンズ7Oa
、10bの結像位置に配されたフォトダイオードからな
る受光素子である。12は原稿8を載せるステージであ
り、後述する走査方向(矢印A)と直交方向(矢印B)
に原稿8を移動させることができる。13は回転多面鏡
6と同軸上に設けられたエンコーダ、14は受光素子1
1a、11bとエンコーダ13が接続された画像取込部
である。
以上の構成において、以下、その動作について説明する
まず、原稿8面上への照射系について説明すると、第1
図に示すようにレーザ光源1から出射したレーザ光は、
ミラー2の開口3を通過し、回転多面鏡6で反射し、f
・θレンズ7を通過し、折返しミラー9により光路を折
り曲げられてステージ12上に置かれた原稿8面上へ集
光される。そして、上記回転多面鏡6の回転により、レ
ーザ光の集光スポットは原稿8面上を矢印Aの方向へ直
線走査される。この走査とステージ12による原稿8の
矢印B方向の副走査を同期させて行うことにより原稿8
面全域のレーザ走査を行う。
一方、読み取り系においては、第2図に示すように原稿
8面からの反射、散乱光は、折返しミラー9、f・θレ
ンズ7を通過した後、平行光束となり、回転多面鏡6で
反射され、ミラー2において、入射光軸Cとは距離dだ
け離れた位置に配された両反射面4.5により反射され
、集光レンズ10a、10bにより受光素子11a、l
lb上に集光され、その信号がエンコーダ13の信号と
共に画像取込部14に取込まれる。
そして、ミラー2は回転多面鏡6よりレーザ光源1側へ
設置されているため、受光素子11a、11b上の集光
スポットはレーザ光とほぼ共役位置となり、走査とは独
立であり、レーザ光が原稿8面上を走査しても、受光素
子11a、llb上の集光点は移動せず、したがって、
受光素子11a、llbはポイントセンサー型のもので
あれば、フォトマルチプライヤ−も使用可能である。
また、ミラー2の反射面4.5は光軸がレーザ光の入射
光軸Cに対し距離dのずれを有して配置しているが、レ
ーザ照射光軸に対する観察光軸のズレθを10°以下と
し、はぼ同じ角度からの観察を可能としているので、帖
り合わせ原稿の場合でも影の影響を少なくすることがで
きる。そして、2つの受光素子11a、llbの出力信
号を用いることにより原稿8面上での影と黒パターンの
判別も可能となる。
上記実施例では、読み取り対象に原稿を用いた場合につ
いて述べたが、プリント基板の配線パターンのようなほ
ぼ平面上に形成された薄膜パターンであれば、パターン
の読み取りが可能である。
また、上記本実施例では、レーザ光源1からのレーザ光
をそのままの径でf・θレンズ7へ入射させるようにし
ているが、ビームエキスパンダにより拡大したレーザ光
をf・θレンズ7に入射させるようにしても同様の効果
がある。
次に本発明の第2の実施例について説明する。
第3図は本発明の第2の実施例におけるスキャナを示す
読み取り系の説明図である(集光レンズと受光素子につ
いては一方のみ図示した)。
本実施例においては、光学系の構成は上記第1の実施例
と同様であり、受光素子11a、11bとして、ライン
センサ、若しくはPSD (位置検出素子)を用い、被
検体の高さ検出に適用させるようにした点において構成
を異にする。
第3図から明らかなように被検体8の位置が実線と点線
で示すようにΔfだけずれると、集光レンズ10a、1
0bに入射する反射、散乱光の主光線角度がΔθだけず
れ、集光レンズ10a、10bの焦点距離をf′とする
と、受光素子11a、llb上ではf′・−Δθだけず
れることとなる。すなわち、被検体8の高さ変化は、受
光素子11a、llb上でのずれを測定することにより
測定が可能となる。
本実施例の試験において、受光素子112.11bとし
て、1024ピクセルのラインセンサを用い、集光スポ
ットの重心検出を行うことにより位置ずれ量の算出を行
うことができた。
発明の効果 以上述べたように、本発明によれば、レーザ光を通過さ
せる開口を有し、この開口に隣接した両側に反射面を有
するミラーをレーザ光源と回転多面鏡との間に配置して
受光用の光学系を構成することにより、被検面上に集光
されたレーザ光は、回転多面鏡により走査されるが、受
光素子上の集光スボクトは、レーザ光とほぼ共役位置と
なるため、走査とは独立であり、はとんどその集光位置
は変化しない。したがって、レーザの走査幅にかかわら
ず、受光系の小型化を図ることができる。
また、上記受光系を用いることにより、被検面へのレー
ザ照射角とほぼ同じ角度からの観察が可能となるので、
影の影響を少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の第1の実施例におけるス
キャナを示し、第1図は全体の概略斜視図、第2図は読
み取り系の説明図、第3図は本発明の第2の実施例にお
けるスキャナを示し、読み取り系の説明図、第4図は従
来のスキャナを示す概略斜視図である。 1・・・レーザ光源、2・・・ミラー 3・・・開口、
4゜5・・・反射面、6・・・回転多面鏡、7・・・f
・θレンズ、8・・・原稿(被検体) 9・・・折返しミラー、 10a。 10b・・・集光レンズ、 11a。 11b・・・受光素子、 12・・・ ステージ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レーザ光源と、このレーザ光源から出射したレー
    ザ光を通過させる開口を有し、この開口に隣接した両側
    に反射面を有するミラーと、このミラーの開口を通過し
    たレーザ光を走査するための回転多面鏡と、この回転多
    面鏡で反射されたレーザ光を被検体に対して集光させる
    f・θレンズと、上記被検体で反射、散乱され、上記f
    ・θレンズを通過し、上記回転多面鏡および上記ミラー
    の反射面で反射された反射、散乱光を集光する集光レン
    ズと、この集光レンズの結像位置に配された少なくとも
    一つ以上の受光部を備えたスキャナ。
  2. (2)ミラーが全体として台形状に形成され、開口が円
    形に形成され、この開口に対して対称的な両側の傾斜し
    た反射面が互いに90度の角度をなすように形成された
    請求項1記載のスキャナ。
  3. (3)f・θレンズがテレセントリック特性を有する請
    求項1または2記載のスキャナ。
JP1169286A 1989-06-29 1989-06-29 スキャナ Pending JPH0333714A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1169286A JPH0333714A (ja) 1989-06-29 1989-06-29 スキャナ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1169286A JPH0333714A (ja) 1989-06-29 1989-06-29 スキャナ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0333714A true JPH0333714A (ja) 1991-02-14

Family

ID=15883703

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1169286A Pending JPH0333714A (ja) 1989-06-29 1989-06-29 スキャナ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0333714A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190011497A (ko) * 2017-07-25 2019-02-07 주식회사 에스오에스랩 하이브리드 라이다 스캐너

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190011497A (ko) * 2017-07-25 2019-02-07 주식회사 에스오에스랩 하이브리드 라이다 스캐너

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6236454B1 (en) Multiple beam scanner for an inspection system
JP3440465B2 (ja) マルチスリット走査撮像装置
US4251129A (en) Photoelectric detecting device
US4886975A (en) Surface examining apparatus for detecting the presence of foreign particles on two or more surfaces
US4775238A (en) Optical web monitoring apparatus
EP0377973A2 (en) Sensor array and illumination system for a large depth-of-field bar code scanner
JPH0618785A (ja) 共焦点型レーザ走査透過顕微鏡
JP2920194B2 (ja) 光学式走査装置
JP2510786B2 (ja) 物体の形状検出方法及びその装置
US4406546A (en) Photoelectric detecting device
US5978095A (en) Confocal microscopic equipment
US5033845A (en) Multi-direction distance measuring method and apparatus
US20030058455A1 (en) Three-dimensional shape measuring apparatus
JPS6180215A (ja) 走査型顕微鏡撮像装置
JP2003004654A (ja) 光学式走査装置及び欠陥検出装置
JPH0333714A (ja) スキャナ
JPS63184045A (ja) 欠陥検出センサ
US6750436B2 (en) Focus error detection apparatus and method having dual focus error detection path
JPH095045A (ja) 光検出器
JPS61118710A (ja) 走査型顕微鏡撮像装置
BE1003328A3 (nl) Optische aftastinrichting en spiegelkorrektiestelsel voor toepassing in een dergelijke inrichting.
JP4411382B2 (ja) ビーム偏向装置及び欠陥検出装置
JPH1183755A (ja) 傷検査装置
JPH02247509A (ja) 高さ検出光学系
EP0769753A1 (en) Optical scanner with array of photosensors parallel to optical axis