JPH03290872A - 磁気ディスク検査装置のフォーマットデータ書き込み方式 - Google Patents
磁気ディスク検査装置のフォーマットデータ書き込み方式Info
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- JPH03290872A JPH03290872A JP9156690A JP9156690A JPH03290872A JP H03290872 A JPH03290872 A JP H03290872A JP 9156690 A JP9156690 A JP 9156690A JP 9156690 A JP9156690 A JP 9156690A JP H03290872 A JPH03290872 A JP H03290872A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000008685 targeting Effects 0.000 description 2
- 229910016495 ErF3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- QGJSAGBHFTXOTM-UHFFFAOYSA-K trifluoroerbium Chemical compound F[Er](F)F QGJSAGBHFTXOTM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、磁気ディスク検査装置に対するフォーマッ
トデータの書き込み方式に関し、詳しくは[CKD]イ
タフェース・フォーマット(以下I/Fと略記する)に
対応する磁気ディスク検査装置により、異なる形式の[
IPI] I/Fを使用する磁気ディスク装置に対して
フォーマットデ−タを書き込む方式に関するものである
。
トデータの書き込み方式に関し、詳しくは[CKD]イ
タフェース・フォーマット(以下I/Fと略記する)に
対応する磁気ディスク検査装置により、異なる形式の[
IPI] I/Fを使用する磁気ディスク装置に対して
フォーマットデ−タを書き込む方式に関するものである
。
[従来の技術]
コンピュータシステムの外部記憶装置として使用されて
いるハード磁気ディスク(以下単に磁気ディスクまたは
ディスクという)は、情報データを高密度に記録するも
ので、記録媒体に不均一なとの欠陥があるときは品質が
低下するので、検査装置により生産段階で厳密な検査が
行われる。検査においては、複数の磁気ディスクを実装
した磁気ディスク装置を対象とし、各ディスクに対して
テスト符号が書込み/読出しされ、符号が欠落するミッ
シングエラー、振幅が変動するモジュレーションエラー
、信号が湧き出すエキストラエラーや、符号の位相ズレ
などが検査される。さらに、検査により検出された欠陥
の位置情報を基にエラー情報を伴ったフォーマットデー
タを書き込む。
いるハード磁気ディスク(以下単に磁気ディスクまたは
ディスクという)は、情報データを高密度に記録するも
ので、記録媒体に不均一なとの欠陥があるときは品質が
低下するので、検査装置により生産段階で厳密な検査が
行われる。検査においては、複数の磁気ディスクを実装
した磁気ディスク装置を対象とし、各ディスクに対して
テスト符号が書込み/読出しされ、符号が欠落するミッ
シングエラー、振幅が変動するモジュレーションエラー
、信号が湧き出すエキストラエラーや、符号の位相ズレ
などが検査される。さらに、検査により検出された欠陥
の位置情報を基にエラー情報を伴ったフォーマットデー
タを書き込む。
さて、コンピュータシステムに使用されるI/Fにはメ
ーカーの系列などにより異なるものがある。これらの中
には従来から汎用されている、カウント・キー・データ
[CKDコと称されるものと、いわゆるインテリジェン
ト周辺橋本に対応するインテリジェント・ペリフェラル
・インタフェース[IPI]と称されるものがあり、こ
れらには互換性がない。第2図(a)、(b)は[CK
D] I/Fの構成と、これを使用するコンピュータシ
ステム1の構成を示す。図(a)において、インデック
ス信号(INDEX)に続いて、ギャップG1ホームア
ドレスHA1ギャップGがあり、これに続<Roは第0
記録部で、その内容はデータ長を記録するエリアRoC
sギャップGおよびデータ部Ro Dである。以下はぼ
同様に第1・・・・・・第n番まで記録部が続く。図(
b)において、CPU1aに対してディスク制御装置(
CONT)lbが接続され、これに複数の磁気ディスク
装置(DKU)1cが並列に接続されている。ここで便
宜上、C0NT1bの機種を(AO)とし、DKUlc
の機種を(Aりとする。CPU1aよりの命令により、
C0NT1bがDKUlcを選択し、これに装着された
複数の磁気ディスクより被検査ディスクが指定されて磁
気ヘッドがトラックをシークする。これに対して[CK
DコI/Fによるデータがアクセスされ、必要により上
記と逆の順序によりデータが読み出されてCPU1aに
より処理されるものである。
ーカーの系列などにより異なるものがある。これらの中
には従来から汎用されている、カウント・キー・データ
[CKDコと称されるものと、いわゆるインテリジェン
ト周辺橋本に対応するインテリジェント・ペリフェラル
・インタフェース[IPI]と称されるものがあり、こ
れらには互換性がない。第2図(a)、(b)は[CK
D] I/Fの構成と、これを使用するコンピュータシ
ステム1の構成を示す。図(a)において、インデック
ス信号(INDEX)に続いて、ギャップG1ホームア
ドレスHA1ギャップGがあり、これに続<Roは第0
記録部で、その内容はデータ長を記録するエリアRoC
sギャップGおよびデータ部Ro Dである。以下はぼ
同様に第1・・・・・・第n番まで記録部が続く。図(
b)において、CPU1aに対してディスク制御装置(
CONT)lbが接続され、これに複数の磁気ディスク
装置(DKU)1cが並列に接続されている。ここで便
宜上、C0NT1bの機種を(AO)とし、DKUlc
の機種を(Aりとする。CPU1aよりの命令により、
C0NT1bがDKUlcを選択し、これに装着された
複数の磁気ディスクより被検査ディスクが指定されて磁
気ヘッドがトラックをシークする。これに対して[CK
DコI/Fによるデータがアクセスされ、必要により上
記と逆の順序によりデータが読み出されてCPU1aに
より処理されるものである。
1−記のDKUlcに対する検査装置として、第2図(
C)に示すマイクロプロセッサ(MPC)2aと、[C
KDコI/Fに対応するC0NT2bとにより構成され
た磁気ディスク検査装置2が使用されている。検査にお
いては、メモリに記憶されているテストプログラム[E
rF3の実行により、エラー検査が行われ、そのエラー
結果を基にC0NT2bにより[CKDコI/Fのフォ
ーマットデータが被検査ディスクの所定のトラックに書
き込まれる。
C)に示すマイクロプロセッサ(MPC)2aと、[C
KDコI/Fに対応するC0NT2bとにより構成され
た磁気ディスク検査装置2が使用されている。検査にお
いては、メモリに記憶されているテストプログラム[E
rF3の実行により、エラー検査が行われ、そのエラー
結果を基にC0NT2bにより[CKDコI/Fのフォ
ーマットデータが被検査ディスクの所定のトラックに書
き込まれる。
[解決しようとする課題]
以上の磁気ディスク検査装置2は、1形式の[CKDコ
I/Fを使用するコンピュータシステム1のC0NT
(Ao )lbに対応して構成されたものである。これ
に対して、第3図に示す[IPIコI/Fを使用するコ
ンピュータシステム3のC0NT3bとD K U 3
cの機種はそれぞれ異なル(Bo )、 (Bt
)である。このシステム3のDKU (B1)3cを検
査するために、第3図の点線で示すように上記の検査装
置2を接続してもI/Fが異なるためにフォーマットデ
ータの書き込みができず、従って検査を行うことができ
ない。
I/Fを使用するコンピュータシステム1のC0NT
(Ao )lbに対応して構成されたものである。これ
に対して、第3図に示す[IPIコI/Fを使用するコ
ンピュータシステム3のC0NT3bとD K U 3
cの機種はそれぞれ異なル(Bo )、 (Bt
)である。このシステム3のDKU (B1)3cを検
査するために、第3図の点線で示すように上記の検査装
置2を接続してもI/Fが異なるためにフォーマットデ
ータの書き込みができず、従って検査を行うことができ
ない。
このためには検査装置2に対してシステム3のC0NT
(Bo )3bに相当するものを設け、これに対する
制御プログラムを作成することが必要である。しかしな
がら、磁気ディスクの実稼働においてデータをアクセス
する場合と異なり、媒体検査においては必すしもそのシ
ステムのI/Fによりフォーマン)データを書き込む必
要がなく、トラックの1周に対してフォーマットデータ
が書き込みできればそれでよい。なおこの場合、DKU
の機種がA1 またはB1 と異なっても、テストプロ
グラム[ErF3はこれらのいずれに対しても使用でき
、テスト符号を読み出してエラー検査を行うことが可能
である。従って、C0NT (Ao )の[CKDコI
/Fによりフォーマットデータを書き込むことが問題で
あり、これが解決されれば、機種(Bo)のC0NTと
、これに対する制御プログラムが不要となる。
(Bo )3bに相当するものを設け、これに対する
制御プログラムを作成することが必要である。しかしな
がら、磁気ディスクの実稼働においてデータをアクセス
する場合と異なり、媒体検査においては必すしもそのシ
ステムのI/Fによりフォーマン)データを書き込む必
要がなく、トラックの1周に対してフォーマットデータ
が書き込みできればそれでよい。なおこの場合、DKU
の機種がA1 またはB1 と異なっても、テストプロ
グラム[ErF3はこれらのいずれに対しても使用でき
、テスト符号を読み出してエラー検査を行うことが可能
である。従って、C0NT (Ao )の[CKDコI
/Fによりフォーマットデータを書き込むことが問題で
あり、これが解決されれば、機種(Bo)のC0NTと
、これに対する制御プログラムが不要となる。
この発明は以上に鑑みてなされたもので、[CKD]
I/Fを使用する磁気ディスク検査装置のC0NT (
Ao )2bにより、[CKD]と異なる形式の[IP
I] I/Fを使用する磁気ディスク装置の被検査ディ
スクに対して、フォーマ、ットデータを書き込む方式を
提供することを目的とするものである。
I/Fを使用する磁気ディスク検査装置のC0NT (
Ao )2bにより、[CKD]と異なる形式の[IP
I] I/Fを使用する磁気ディスク装置の被検査ディ
スクに対して、フォーマ、ットデータを書き込む方式を
提供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段]
この発明は、[:CKDコI/Fを使用するコンピュー
タシステムの磁気ディスク装置に対して、マイクロプロ
セッサと磁気ディスク装置に対応するディスク制御装置
を有し、磁気ディスク装置に装着された複数の磁気ディ
スクより被検査ディスクを選択し、被検査ディスクのト
ラックにテスト符号を書込み/読出しして媒体検査を行
い、その検査結果に基づきフォーマットデータを書き込
む磁気ディスク検査装置により、[CKD] I/Fと
異なる形式の[IPIコI/Fを使用するコンピュータ
システムの磁気ディスク装置を対象として、これにフォ
ーマットデータを書き込む方式である。検査装置のテス
トプログラムに、対象とする磁気ディスク装置の被検査
ディスクのINDEXより、[CKDコI/Fの先頭に
設けられたヘッド部のバイト数だけ先行する擬似IND
EXを設定する。また、ヘッド部に続く最初のデータ部
に対して、被検査ディスクのトラックの1周に相当する
長さのフォーマットデータを設定する。テストプログラ
ムを実行して、被検査ディスクのトラックに対して、擬
似INDEXを起点としてヘッド部を書き込み、つづく
正規のINDEX(擬似INDEXと区別するために便
宜上正規という)を起点とするトラックの1周に対して
、フォーマットデータが書き込まれる。
タシステムの磁気ディスク装置に対して、マイクロプロ
セッサと磁気ディスク装置に対応するディスク制御装置
を有し、磁気ディスク装置に装着された複数の磁気ディ
スクより被検査ディスクを選択し、被検査ディスクのト
ラックにテスト符号を書込み/読出しして媒体検査を行
い、その検査結果に基づきフォーマットデータを書き込
む磁気ディスク検査装置により、[CKD] I/Fと
異なる形式の[IPIコI/Fを使用するコンピュータ
システムの磁気ディスク装置を対象として、これにフォ
ーマットデータを書き込む方式である。検査装置のテス
トプログラムに、対象とする磁気ディスク装置の被検査
ディスクのINDEXより、[CKDコI/Fの先頭に
設けられたヘッド部のバイト数だけ先行する擬似IND
EXを設定する。また、ヘッド部に続く最初のデータ部
に対して、被検査ディスクのトラックの1周に相当する
長さのフォーマットデータを設定する。テストプログラ
ムを実行して、被検査ディスクのトラックに対して、擬
似INDEXを起点としてヘッド部を書き込み、つづく
正規のINDEX(擬似INDEXと区別するために便
宜上正規という)を起点とするトラックの1周に対して
、フォーマットデータが書き込まれる。
[作用]
以りによるフォーマットデータの書き込み方式において
は、[IPI] I/Fを使用する磁気ディスク装置を
対象とし、[CKD] I/Fのテストプログラムに対
して擬似INDEXとフォーマットデータが設定され、
テストプログラムの実行により、擬似INDEXを起点
として、[CKD]I/Fの先頭に設けられているヘッ
ド部が、対象とされた磁気ディスク装置の被検査ディス
クのトラックに対して井き込まれ、ついで正規のIND
EXを起点として、フォーマットデータがトラックの1
周に書き込まれる。ここで、先に書き込まれたヘッド部
は、IPIフォーマットデータの書き込みにより消去さ
れる。すなわち、ヘッド部はIPIフォーマットデータ
の書き込みのための、いわば導入の役をなす。
は、[IPI] I/Fを使用する磁気ディスク装置を
対象とし、[CKD] I/Fのテストプログラムに対
して擬似INDEXとフォーマットデータが設定され、
テストプログラムの実行により、擬似INDEXを起点
として、[CKD]I/Fの先頭に設けられているヘッ
ド部が、対象とされた磁気ディスク装置の被検査ディス
クのトラックに対して井き込まれ、ついで正規のIND
EXを起点として、フォーマットデータがトラックの1
周に書き込まれる。ここで、先に書き込まれたヘッド部
は、IPIフォーマットデータの書き込みにより消去さ
れる。すなわち、ヘッド部はIPIフォーマットデータ
の書き込みのための、いわば導入の役をなす。
以上により、[IPI] I/F対応のC0NTと、こ
れに対する制御プログラムを使用することなく、[CK
D] I/F対応のC0NTとテストプログラムにより
、[IPI] I/F対応の磁気ディスク装置の被検査
ディスクに対してフォーマットデータが書き込まれるも
のである。
れに対する制御プログラムを使用することなく、[CK
D] I/F対応のC0NTとテストプログラムにより
、[IPI] I/F対応の磁気ディスク装置の被検査
ディスクに対してフォーマットデータが書き込まれるも
のである。
[実施例]
第1図は、この発明による磁気ディスク検査装置のフォ
ーマ、トデータ書き込み方式の実施例における、プロl
り構成と、3き込み手順を示す。
ーマ、トデータ書き込み方式の実施例における、プロl
り構成と、3き込み手順を示す。
図(a)において、磁気ディスク検査装置2は、前記し
た第2゛図(c)と全く同様のハード構成で、テストプ
ログラム[ETFコをメモリに記憶したMPC2aと、
[CKD] I/Fを使用するC0NT (Ao )2
bよりなる。検査においては、C0NT2bに[IPI
コI/F対応の磁気ディスク装置3cを接続し、[ET
F]に対して擬似INDEXとフォーマットデータを設
定する。擬似INDEXの位置は、[CKDコI/Fの
先頭に設けられているギャップG1ホームアドレスHA
。
た第2゛図(c)と全く同様のハード構成で、テストプ
ログラム[ETFコをメモリに記憶したMPC2aと、
[CKD] I/Fを使用するC0NT (Ao )2
bよりなる。検査においては、C0NT2bに[IPI
コI/F対応の磁気ディスク装置3cを接続し、[ET
F]に対して擬似INDEXとフォーマットデータを設
定する。擬似INDEXの位置は、[CKDコI/Fの
先頭に設けられているギャップG1ホームアドレスHA
。
ギャップG1データ長の記憶部ROCおよびギャップG
が連続したヘッド部のバイト数たけ、正規のINDEX
より先行した位置とする。フォーマットデータはヘッド
部に続く第0番のデータ部RoDに対してトランク1周
に相当する長さを設定する。書き込みにおいては、MP
C2aにより[ETF]を実行し、図(b)に示す手順
により行う。
が連続したヘッド部のバイト数たけ、正規のINDEX
より先行した位置とする。フォーマットデータはヘッド
部に続く第0番のデータ部RoDに対してトランク1周
に相当する長さを設定する。書き込みにおいては、MP
C2aにより[ETF]を実行し、図(b)に示す手順
により行う。
すなわち、擬似INDEXを起点としてヘッド部かまず
書き込まれ、ついでIPIフォーマットデータがトラッ
クの1周に書き込まれる。この書き込みにより、先に書
き込まれているへ、ソド部は消去される。
書き込まれ、ついでIPIフォーマットデータがトラッ
クの1周に書き込まれる。この書き込みにより、先に書
き込まれているへ、ソド部は消去される。
[発明の効果]
以上の説明により明らかなように、この発明によるフォ
ーマットデータの書き込み方式においては、[IPI]
I/F対応の磁気ディスク装置を対象とし、[CKD
] I/F対応の磁気ディスク検査装置のテストプログ
ラムに対して、擬似INDEXとフォーマットデータが
設定され、テストプログラムの実行により、擬似IND
EXを起点として、[CKD] I/Fの先頭のへ、ン
ド部が被検査ディスクのトラックに対して導入役として
書き込まれ、つづいて正規のINDEXを起点としてI
PIフォーマットデータがトラックの1周に書き込まれ
るもので、[IPI] I/F対応のC0NTと、これ
に対する制御プログラムが不要であり、[CKDコI/
F対応の磁気ディスク検査装置の対象範囲を拡大して、
[IPI] I/F対応の磁気ディスク装置の検査に適
用できる効果には大きいものがある。
ーマットデータの書き込み方式においては、[IPI]
I/F対応の磁気ディスク装置を対象とし、[CKD
] I/F対応の磁気ディスク検査装置のテストプログ
ラムに対して、擬似INDEXとフォーマットデータが
設定され、テストプログラムの実行により、擬似IND
EXを起点として、[CKD] I/Fの先頭のへ、ン
ド部が被検査ディスクのトラックに対して導入役として
書き込まれ、つづいて正規のINDEXを起点としてI
PIフォーマットデータがトラックの1周に書き込まれ
るもので、[IPI] I/F対応のC0NTと、これ
に対する制御プログラムが不要であり、[CKDコI/
F対応の磁気ディスク検査装置の対象範囲を拡大して、
[IPI] I/F対応の磁気ディスク装置の検査に適
用できる効果には大きいものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)および(b)は、この発明による磁気ディ
スク検査装置のフォーマットデータ書き込み方式の実施
例における、ブロック構成図および書き込み手順図、第
2図(a)、(b)および(c)は、[CKD] I/
Fの構成図と、これを使用するコンピュータシステムの
構成図、および磁気ディスク検査装置による検査方法の
説明図、第3図は[IPI]I/Fを使用するコンピュ
ータシステムの構成図と、テスト符号の書き込み上の問
題点の説明図である。 1・・・[CKD] I/Fのコンピュータシステム、
1a−CPU1 1b、2b・・・ディスク制御装置(CONT (Ao
))lc・・・磁気ディスク装置(DKU (At
) )、2・・・磁気ディスク検査装置、 2a−MPC。 3・・・[IPI] I/Fのコンピュータシステム、
3a ・・・CPU。 3b・・・ディスク制御装置(CONT (Bo ))
、3c・・・磁気ディスク装置(DKU (Bl))。 第20
スク検査装置のフォーマットデータ書き込み方式の実施
例における、ブロック構成図および書き込み手順図、第
2図(a)、(b)および(c)は、[CKD] I/
Fの構成図と、これを使用するコンピュータシステムの
構成図、および磁気ディスク検査装置による検査方法の
説明図、第3図は[IPI]I/Fを使用するコンピュ
ータシステムの構成図と、テスト符号の書き込み上の問
題点の説明図である。 1・・・[CKD] I/Fのコンピュータシステム、
1a−CPU1 1b、2b・・・ディスク制御装置(CONT (Ao
))lc・・・磁気ディスク装置(DKU (At
) )、2・・・磁気ディスク検査装置、 2a−MPC。 3・・・[IPI] I/Fのコンピュータシステム、
3a ・・・CPU。 3b・・・ディスク制御装置(CONT (Bo ))
、3c・・・磁気ディスク装置(DKU (Bl))。 第20
Claims (1)
- (1)[CKD]インタフェース・フォーマットを使用
するコンピュータシステムの磁気ディスク装置に対して
、マイクロプロセッサと該磁気ディスク装置に対応する
ディスク制御装置を有し、該磁気ディスク装置に装着さ
れた複数の磁気ディスクより被検査ディスクを選択し、
該被検査ディスクのトラックにテスト符号を書込み/読
出しして媒体検査を行い、その検査結果に基づきフォー
マツトデータを書き込む磁気ディスク検査装置において
、上記[CKD]インタフェース・フォーマットと異な
る形式の[IPI]インタフェース・フォーマットを使
用するコンピュータシステムの磁気ディスク装置を対象
とし、上記検査装置のテストプログラムに対して、該対
象とする磁気ディスク装置の被検査ディスクのインデッ
クス信号より、上記[CKD]インタフェース・フォー
マットの先頭に設けられたヘッド部のバイト数だけ先行
する擬似インデックス信号を、かつ、該ヘッド部に続く
最初のデータ部に対して上記被検査ディスクのトラック
の1周に相当する長さの上記フォーマットデータをそれ
ぞれ設定し、上記テストプログラムの実行により、該ト
ラックに対して、該擬似インデックス信号を起点として
上記ヘッド部を書き込み、つづく上記インデックス信号
を起点として該トラックの1周に対して、上記フォーマ
ットデータを書き込むことを特徴とする、磁気ディスク
検査装置のフォーマットデータ書き込み方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9156690A JPH03290872A (ja) | 1990-04-06 | 1990-04-06 | 磁気ディスク検査装置のフォーマットデータ書き込み方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9156690A JPH03290872A (ja) | 1990-04-06 | 1990-04-06 | 磁気ディスク検査装置のフォーマットデータ書き込み方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03290872A true JPH03290872A (ja) | 1991-12-20 |
Family
ID=14030069
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9156690A Pending JPH03290872A (ja) | 1990-04-06 | 1990-04-06 | 磁気ディスク検査装置のフォーマットデータ書き込み方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03290872A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003105141A1 (en) * | 2002-06-08 | 2003-12-18 | Lg Electronics Inc. | High-density multi-layer optical disc and method for managing layer formatting thereof |
US7978581B2 (en) | 2002-06-07 | 2011-07-12 | Lg Electronics Inc. | Multi-layered high-density recording medium and optical power adjusting method therefor |
-
1990
- 1990-04-06 JP JP9156690A patent/JPH03290872A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7978581B2 (en) | 2002-06-07 | 2011-07-12 | Lg Electronics Inc. | Multi-layered high-density recording medium and optical power adjusting method therefor |
US8072865B2 (en) | 2002-06-07 | 2011-12-06 | Lg Electronics Inc. | Multi-layered high-density recording medium and optical power adjusting method therefor |
WO2003105141A1 (en) * | 2002-06-08 | 2003-12-18 | Lg Electronics Inc. | High-density multi-layer optical disc and method for managing layer formatting thereof |
US7623430B2 (en) | 2002-06-08 | 2009-11-24 | Lg Electronics Inc. | High-density multi-layer optical disc and method for managing layer formatting thereof |
US7623428B2 (en) | 2002-06-08 | 2009-11-24 | Lg Electronics Inc. | Multi-layer optical disc and method for managing layer formatting thereof |
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