JPH03282262A - 自動検体測定装置、自動検体測定装置における試験管有無検知方法、及び、自動検体測定装置におけるサンプル有無検知方法 - Google Patents

自動検体測定装置、自動検体測定装置における試験管有無検知方法、及び、自動検体測定装置におけるサンプル有無検知方法

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JPH03282262A
JPH03282262A JP2080833A JP8083390A JPH03282262A JP H03282262 A JPH03282262 A JP H03282262A JP 2080833 A JP2080833 A JP 2080833A JP 8083390 A JP8083390 A JP 8083390A JP H03282262 A JPH03282262 A JP H03282262A
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柳生 修
Yutaka Kimura
豊 木村
Tsutomu Kadoi
門井 勉
Toshiaki Suganiwa
菅庭 俊明
Shunzo Kasai
俊三 笠井
Kenji Kamegata
亀形 健次
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は化学分析に用いる自動検体測定装置、特に、半
自動の分析システムにおいて全反応処理を終了したサン
プルの濃度を測定する自動検体測定装置、及び、この自
動検体測定装置における試験管有無検知方法、自動サン
プル有無検知方法に関するものである。
〔従来の技術〕
近年医学の研究や臨床検査における分析の自動化が著し
く発達し、特に生化学検査の分野では分析法が比較的簡
単で統一しやすい所から、オートサンプラーからデータ
ー処理に至る全分析工程を完全自動化し、かつ多数検体
につき多数項目の同時分析が8来る自動分析装置が広く
普及している。
しかし、抗原抗体反応の測定を行なう免疫学の分野など
では、分析の複雑さと多様性のため完全自動の装置はま
だ少なく、分析工程ごとに自動処理装置を使用し各工程
間のサンプルの移送は人手で行なういわゆる半自動の分
析システムが多数使用されている。例えば、サンプルの
希釈分注、抗原抗体反応、標識体の分注と同相化反応、
B/F分離洗浄、酵素基質分注による酵素反応、酵素反
応の結果の測定、などの各工程の処理を行なう単位自動
処理装置を設け、数十本の試験管をマトリックス状に配
列した試験管ラックを順次前記処理装置にかけて分析処
理を行なう方式の装置などが使用されている。
このような半自動の分析システムで全反応処理の終了し
たサンプルは、比色計または分光光度計による測定が行
われる。
しかし、一般に化学分析における反応液の測定は従来汎
用の比色計または分光光度計を使用しジッパ−によりサ
ンプルをフローセルに吸引して測定を行なっていた。こ
のような方法では−検体毎に人手で試験管にジッパ−ノ
ズルを授精させる手数がかかるだけでなく、フローセル
に次々に異なる検体を吸引することによる、フローセル
のコンタミネーションをなくすため、前のサンプルを次
のサンプルで共洗いしなければならないので、サンプル
量を微量化し難しなどの欠点がある。このため、最近で
は試験管を5本ないし10本を単位とした測光用ラック
に配列し、測光用ラックを光度計の光軸に対して直角方
向に走行させ、試験管に直接光を照射して測定を行なう
方法がとられている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の半自動分析システムにおいては、数十本の試験管
を単位として縦横のマトリックス状に配列した試験管ラ
ックにより反応処理が行なわれ。
全反応処理の終了したサンプルを1例えば比色計で測定
する場合には、上述の如く、試験管ラックに配列してい
る試験管を測定用ラックに差し替える必要があり、試験
管ラックのままでサンプルの濃度を測定することができ
ない。そのため、試験管を試験管ラックから測定用ラッ
クに差し替る手数がかかり、また差し替え時の試験管の
取り違の心配があった。
本発明は、半自動システムにおいて反応処理を終了した
サンプルを、その試験管ラックのままで装置にかけ、試
験管ラックに配列した順序で、サンプルの濃度を測定す
ることができ、また、サンプル測定時間を短くし、試験
管ラックを装置にかけてから取り出すまでの待ち時間を
短かくし、さらに、測定にあたり試験管ラック上の試験
管の有無、試験管内のサンプルの有無の情報も併せて判
定できる自動検体測定装置を提供可能とすることを目的
とするものである。
〔問題を解決するための手段〕
上述の問題点を解決するためにとられた本発明の自動検
体測定装置の構成は、 (1)試験管を縦横のマトリックス状に配列した試験管
ラックを移送し、該試験管ラック上の試験管を一列毎に
順次測定待機位置に位置付けるラック移送手段と、前記
測定待機位置にある一列の試験管を同時に上昇せしめ、
前記試験管ラックの上部に設けられた測定位置に位置付
ける試験管昇降手段と、前記測定位置に位置付けられた
前記一列の試験管の各試験管の位置に順次移動して、該
試験管に収容したサンプルの濃度を測定する光度計、及
び該光度計を移送する光度計移送手段とからなることを
特徴とし、 (2)(1)の自動検体測定装置で、前記測定待機位置
において前記各試験管の位置に対応して、下方には上端
面が該試験管の底部を保持するよう凹面に形成された押
し上げ棒を配置し、上方には下端部がテーパー面を有し
バネ圧により前記試験管の上部開口部を保持するよう形
成された押え部材を配置し、前記押し上げ棒により前記
試験管を上昇せしめ、前記押え部材との間に上下から前
記試験管を測定位置に固定せしめる手段を有することを
特徴とし、 (3)(2)の自動検体装置で、前記試験管の開口部を
保持する前記押え部材の上方にホトインタラプタ−を配
置し、前記押え部材に検出端子を設け、該押え部材が前
記試験管を前記測定位置に保持したときバネ圧に抗して
前記押え部材が上方に変移することにより、前記ホトイ
ンタラプタ−を動作せしめ試験管が存在するか否かを検
知する手段を有することを特徴とし、 (4)試験管を縦横のマトリックス状に配列した試験管
ラックを装脱自在に装着可能なラック装着台を一方向に
順次移送することができるラック移送手段と、該ラック
移送手段の移送方向と直角をなすフレーム、該フレーム
の下部に前記試験管の配列間隔と同一間隔に植設され前
記試験管ラック中の前記試験管を上部に設けられた測定
位置に押し上げる押し上げ棒、前記フレームに下方向に
付勢され上下方向に移動可能に取り付けられている移動
フレーム、及び、該移動フレームの上部に前記押し上げ
棒と相対向する位置に上下方向に移動可能に取りつけら
れ、それぞれ下方向に付勢される押え部材を有し、前記
フレームを前記ラック移送手段に対し移動させる試験管
昇降手段と、該試験管昇降手段の上昇により測定位置に
位置付けられた一列に配列している前記各試験管の位置
に該試験管に収容したサンプルの濃度を測定する光度計
を順次移送する光度計移送手段とを有していることを特
徴とし、 (5)(1)又は(2)又は(3)又は(4)の自動検
体装置で、前記試験管ラックが半自動の分析システムに
おいて反応処理を終了した試験管の配列している試験管
ラックであることを特徴とし、 また、本発明の自動検体装置における試験管有無検査方
法の構成は、 (6)直列に配列した一連の試験管に順次光度計の光を
透過せしめ試験管内のサンプルの濃度を測定するにあた
り、前記一連の試験管の測定の前または後で試験管のな
い場合の光度計の光の強度を測定し、各試験管の測定の
際にその透過光強度と、試験管がない場合の前記光度計
の光強度の比または差が予め設定した数値の範囲以内で
あるか否かにより、試験管の有り無しの判別を行なうこ
とを特徴とし、さらに1本発明の自動検体装置の自動サ
ンプル有無検知方法の構成は、 (7)直列に配列した一連の円筒形の試験管に順次光度
計の光を透過せしめ、該試験管内のサンプルの濃度を測
定するに当たり、該試験管の中心が前記光度計の光軸上
に位置しサンプルを透過した光の強度が最大となる位置
でサンプルの濃度の測定を行なうとともに、前記測定位
置より前記試験管の中心が前記光度計の光軸に対し直角
方向に少なくとも前記試験管の内径の、5/100以上
ずれた位置における透過光強度を測定し、この値と前記
測定位置における透過光強度との比または差が予め設定
した値以内であるか否かにより、測定する試験管内にサ
ンプルが存在するか否かを判別することを特徴とする、 ものである。
〔作用〕
上述の如き構成を有する本発明の自動検体測定装置は測
定すべき反応用の試験管ラックを装置のラック装着位置
に装着し操作パネルのスタートキーを押すことにより動
作を開始し、例えば、以下の如く動作する。
(i)試験管ラックはラック移送手段の水平(前後)移
動により装置内に送り込まれ、試験管ラックの1列目の
試験管の列を測定待機位置に停止させる。
(…)次に試験管昇降手段を動作させて、1列目の各試
験管の下方に配置された試験管押し上げ棒を上昇せしめ
、各試験管の底部を押し上げ棒の上端の凹面で支持しな
がら押し上げ。
試験管の上部に配列した押え部材により各試験管の上部
開口部をバネ圧により挟持せしめる。
(fit)試験管を挟持した状態で、押し上げ棒と押え
部材が一体となって上昇し試験管をラック上部の測定位
置まで持ち上げ停止させる。この状態で押え部材の試験
管検出用端子が上部に配列されたホトインタラプタ−に
挿入され試験管の有り無しを確認する。試験管がない場
合は押え部材のバネ圧縮分上昇が少ないためホトインタ
ラプタ−は動作しない。
(iv)光度計移送手段により光度計を水平(左右)方
向に移送し各試験管の測定を行なう。測定はまづ試験管
の無い位置で光度計の透過光強度を測定しこの値を基準
として個々の試験管のサンプルの吸光度を測定しサンプ
ルの濃度を演算する。
(V)測定は試験管の中心が光度計の光軸上に位置し検
知器の出力が最大となる位置の吸光度を測定すると共に
、この測定位置より光度計の移動方向にだいし所定距雛
ずれた位置においても測定を行ない、この測定値を情報
としてサンプルの有り無しの判定も併せて行なう。
(vi )一列の測定が終了すると光度計を原点にもど
し、試験管昇降手段を降下せしめることにより、まづ試
験管を押し上げ棒と押え部材で挟持したままで降下し、
途中で押え部材の降下が停止して試験管が押え部材から
離脱しもとの試験管ラックに収容される。ひきつづきラ
ック移送手段を動作せしめ次の列の試験管の測定を行な
う。
本発明による自動検体測定装置は上述したような手段及
び手順により測定を行なうようになっているため、試験
管を差し替えることなく配列した順序で測定出来ること
、また一列づつを単位として試験管を上昇せしめ光度計
を走査させて測定を行なう方式であるため短時間で測定
が出来ること、さらに試験管の有り無しやサンプルの有
り無しも併せて判定することができる。
〔実施例〕
以下、実施例について説明する。
第1図は本発明の自動検体測定装置の一実施例の正面図
、第2図は同じく側断面図、第3図は同じく外観を示す
斜視図である。
1はラック装着台で、2はラック装着台に装脱される試
験管ラック、3は試験管ラック2に縦横のマトリックス
状に配列されている試験管で、半自動の分析システムで
既に全反応処理を終了したサンプル(サンプル液)を収
容した反応用の試験管3の配列している試験管ラック2
が装着できるようになっている。この実施例の試験管ラ
ック2に配列される試験管3の数は横10本、縦5列で
計50本である。
4は試験管ラック2の装着されたラック装着台1を一方
向に順次移送させるラック移送手段で、モーター5によ
りプーリー6.7.8、タイミングベルト9を介して送
りねじ10を回転させることによりラック装着台1を移
送し、試験管ラック2に配列された試験管3を一列ごと
に順次測定待機位置11に位置付けるようになっている
モーター5には停止位置の検出用のホトインタラプタ−
12が設けられており、モーター5の1回転が試験管ラ
ック2の試験管列の1ピツチに対応するようになってい
るので、ホトインタラプタ−12によりモーター5を停
止させることにより試験管3の列を測定待機位置11に
正確に停止させることができる。
なお、13はラック装着台1に設けられている端子で、
装着が不稼動時でラック装着台1が第2図の点線で示す
位置に引き出された時に、ホトインタラプタ−14と係
合してラック装着台1が停止位置にくるようになってい
る。
15は試験管昇降手段で、ラック移送手段4の移送方向
と直角をなすフレーム16と、フレーム16の下部に試
験管3の配列間隔と同一間隔に植設され、測定待機位置
11にある試験管ラック2中の試験管3を上部に設けら
れている測定位置に押し上げる10本の押し上げ捧17
が設けられており、フレーム16はモーター18により
プーリー19.20、タイミングベルト21を介して一
対の送りねじ22を回転させて昇降させるようになって
いる。
なお、押し上げ棒17の上端面は試験管3を押し上げる
際試験管1の底部球面に適合するよう凹面に形成されて
いる。
23はフレーム16の上方にフレーム16の上下辺に平
行に設けられている移動フレームで、1対各2個のボー
ルベアリング24により上下方向に活動自在に設けられ
ており、移動フレーム24には測定待機位置にある試験
管3の位置に対応させて押え部材25が配列されている
。押え部材25はその下端部が試験管3の上部開口部を
保持するのに適するようテーパー面に形成され、バネ2
6により下方に押し下げられた状態になっている。
押え部材25に設けられている端子27に対向する位置
にホトインタラプタ−28が設けられている。
移動フレーム23はフレーム16が降下している時は、
ストッパー29、軸受け30に接触しばね31により押
しつけられた状態で降下が制限され、押え部材25が試
験管3がら離れた状態で停止している。この状態でフレ
ーム16が上昇すると押し上げ捧17が上昇して試験管
3の底部を保持して持ち上げ試験管3の開口部を押え部
材25のテーパー面に接触させ、さらにばね26を圧縮
して押し上げ棒17と押え部材25との間に試験管3を
挟持する。この状態でストッパー32が移動フレーム2
3の下端面23′に接触し、さらにフレーム16が上昇
することによりフレーム16と移動フレーム23が一体
となって上昇して、第2図に示すように、試験管3を試
験管ラック2の上部の測定位置33に停止させる。この
とき、押え部材25の上部に設けられた端子27がホト
インタラプタ−28に挿入され試験管3が存在すること
を検知することができる。試験管3が欠落している場合
には押え部材25のばね26がのびたままになるため、
ホトインタラプタ−28は動作しない。フレーム16を
降下させると前述の手順と逆の手順で、まづ試験管3は
押し上げ棒17と押え部材25に挟持されたまま試験管
ラック2内に降下し、途中で移動フレーム23の降下が
停止して試験管3は押え部材25から離れて試験管ラッ
ク2のもとの位置に収容される。ホトインタラプタ−5
4a、34bは試験管昇降手段15の上下停止位置を決
定するために設けられており、フレーム16に設けられ
た検知端子35に係合することにより動作するようにな
っている。
36は光度計走査手段で、モーター37により歯車38
.39を介して送りねじ40を回転させることにより光
度計41を水平方向に移送する。
ホトインタラプタ−42は光度計41の原点位置をきめ
るために設けられている。光度計41は測光にあたり試
験管3の傷や汚れの影響を軽減するため、2波長方式の
光度計を使用している。すなはち、光源43からの光は
集光レンズ44.45により試験管3のサンプルに照射
され、これを透過した光は集光レンズ46を経てハーフ
ミラ−47により分割され、一方の光は干渉フルター4
8を経て測定用検知器49に、一方の光は干渉フィルタ
ー50を経て参照用検知器51に至る。測定位置32に
配列された試験管3には外部光を遮蔽するようカバー5
4が設けられ、カバー54には各試験管3の位置に対応
して入り0窓52及び出口窓53が設けられている。
第1図において左端の窓55は測定する試験管のない空
気のみの窓である6測定に当たり光度計41を走査する
と光度計41は先ず窓55の位置で停止し、ここで試験
管のない場合の光度計41の光強度を測定し、これを基
準として各試験管3の測定を行なう、各試験管3の測定
は試験管3の中心と見なされる位置の前後幅2■の間を
0.1−間隔でデーターを取り込み測定用検知器49の
出力が最大となる位置を試験管3の実際の中心位置と判
定し、この値によりサンプルの測定を行なうようになっ
ている。
次に、この自動検体測定装置の測定方法について説明す
る。
例えば、半自動の分析システムにおいて、試験管ラック
2にマトリックス状に配列して試験管3中の全反応処理
を終了したサンプルを、試験管3の配列した状態のまま
試験管ラック2ごと装置のラック装着台1に装着し、操
作パネル56のスタートキーを押すと動作を開始する。
すなわち。
(i)試験管ラック2はラック移送手段4の水平C前後
)移動により装置内に送り込まれ、試験管ラック2の一
列目の試験管3の列を測定待機位置11に停止させる。
(ii)次に、試験管昇降手段15を動作させて、第1
列目の各試験管3の下方に配置された試験管押し上げ棒
17を上昇せしめ、各試験管3の底部を押し上げ棒17
の上端の凹面で支持しながら押し上げ、試験管3の上部
に配列した押え部材25により各試験管3の上部開口部
をバネ圧により挟持せしめる。
(iii)試験管3を挟持した状態で、押し上げ棒17
と押え部材25が一体となって上昇し試験管3を試験管
ラック2上部の測定位置まで持ち上げ停止させる。この
状態で押え部材25の試験管検出用の端子27が上部に
配列されたホトインタラプタ−28に挿入され試験管3
の有り無しを確認する。試験管3がない場合は押え部材
25のバネ圧縮分上昇が少ないためホトインタラプタ−
28は動作しない。
(1−)光度計走査手段36により光度計41を水平(
左右)方向に移送し各試験管3の測定を行なう。測定は
まづ試験管3のない位置で光度計41の透過光強度を測
定しこの値を基準として個個の試験管3のサンプル液の
吸光度を測定しサンプルの濃度を演算する。
(v)測定は試験管3の中心が光度計41の光軸上に位
置し測定用検知器49の出力が最大となる位置の吸光度
を測定すると共に、この測定位置より光度計41の移動
方向にだいし所定距離ずれた位置においても測定を行な
い、この測定値を情報としてサンプルの有り無しの判定
も併せて行なう。
(vi )一列の測定が終了すると光度計41を原点に
もどし、試験管昇降手段15を降下せしめることにより
、まづ試験管3を押し上げ捧17と押え部材25で挟持
したままで降下し、途中で押え部材25の降下が停止し
て試験管3が押え部材25から離脱しもとの試験管ラッ
ク2に収容される。ひきつづきラック移送手段4を動作
せしめ次の列の試験管の測定を行なう。
本装置の制御及び演算は制御演算部57によりおこなは
れ測定データーは走査パネル56の表示装W58に表示
されると共にプリンター59に打ち出される。測定に要
する時間は1ラック50本の試験管を測定する場合、ラ
ックの装着、取り出しの時間も含め約1分である。
以上の如く、本実施例の自動検体測定装置は、試験管内
のサンプルの有り無しも併断するようになっているが、
その原理を第4図を用いて説明する。60は試験管3中
のサンプル、61は試験管3中の空気を示している。す
なはち、光がサンプル60の満たされた試験管3を通過
する際に、試験管3の中心が正確に光軸上にあるときは
、第4図(a)に示す如く、光はずれる事なく試験管3
の中心を通り測定用検知器の真中に入射する。試験管3
が光軸より水平方向にずれた位置においては、第4図(
b)に示すの如く、試験管3とサンプル60による屈折
効果により光は水平方向に曲げられる。しかし、試験管
3内にサンプル60がない場合は、第4図(c)に示す
如く、曲げられるがその程度は微小である。本実施例に
よるサンプルの有無判定はこの原理を利用し、試験管に
より光が曲げられたとき、光の一部が検知器から外れる
ように光学系を設計することにより検知を可能にしたも
ので、この実施例の場合は、特定の波長における試験管
の中心より1■ずれた位置における信号強度と正規の測
定位置における信号強度の比が一定の値以内であるかど
うかを判定の基準としている。
本実施例では、試験管の有無をホトインタラプタ−を使
用した機械的方法により行なっているが。
別の方法として光学的に行なう方法も可能である。
すなはち、測定に当たり特定波長における。窓55にお
ける試験管3のない時の透過光強度と、サンプルの有無
にかかわらず試験I¥!3のある時の透過光強度とを比
較すると、試験管3のある時の透過光強度が少なくとも
試験管3の入出射面における表面反射の分だけ減衰して
いる。その量は数%である。従って、この比に見合う適
当な値を定めこれを基準として試験管の有無の判定を行
なうことが出来る。本実施例ではこの方法も併せて実施
できるようになっている。
以上説明したように1本実施例の自動検体測定装置は多
数の試験管をマトリックス状に配列した試験管ラックを
そのまま装置にかけ、試験管内のサンプルの濃度を迅速
に測定することが出来る。
〔発明の効果〕
本発明は、半自動システムにおいて反応処理を終了した
サンプルを、その試験管ラックのままで装置にかけ、ラ
ックに配列した順序で、サンプルの濃度を測定すること
ができ、また、サンプル測定時間を短くし、試験管ラッ
クを装置にかけてから取り出すまでの待ち時間を短がく
し、さらに。
測定にあたりラック上の試験管の有無、試験管内のサン
プルの有無の情報も併せて判定できる自動検体測定装置
を提供可能とするもので産業上の効果の大なるものであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の自動検体測定装置の一実施例の正面図
、第2図は同じく側断面図、第3図は同じく外観を示す
斜視図、第4図はサンプル有無の検知原理の説明図であ
る。 1・・・ラック装着台、2・・・試験管ラック、3・・
・試験管、4・・・ラック移送手段、15・・・試験管
昇降手段、16・・・フレーム、17・・・押上げ棒、
23・・・移動フレーム、25・・・押え部材、36・
・・光度計走査手段、41・・・光度計、49・・・測
定用検知器。 (ほか1名) 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、試験管を縦横のマトリックス状に配列した試験管ラ
    ックを移送し、該試験管ラック上の試験管を一列毎に順
    次測定待機位置に位置付けるラック移送手段と、前記測
    定待機位置にある一列の試験管を同時に上昇せしめ、前
    記試験管ラックの上部に設けられた測定位置に位置付け
    る試験管昇降手段と、前記測定位置に位置付けられた前
    記一列の試験管の各試験管の位置に順次移動して、該試
    験管に収容したサンプルの濃度を測定する光度計、及び
    該光度計を移送する光度計移送手段とからなることを特
    徴とする自動検体測定装置。 2、前記測定待機位置において前記各試験管の位置に対
    応して、下方には上端面が該試験管の底部を保持するよ
    う凹面に形成された押し上げ棒を配置し、上方には下端
    部がテーパー面を有しバネ圧により前記試験管の上部開
    口部を保持するよう形成された押え部材を配置し、前記
    押し上げ棒により前記試験管を上昇せしめ、前記押え部
    材との間に上下から前記試験管を測定位置に固定せしめ
    る手段を有する特許請求範囲第1項記載の自動検体測定
    装置。 3、前記試験管の開口部を保持する前記押え部材の上方
    にホトインタラプターを配置し、前記押え部材に検出端
    子を設け、該押え部材が前記試験管を前記測定位置に保
    持したときバネ圧に抗して前記押え部材が上方に変移す
    ることにより、前記ホトインタラプターを動作せしめ試
    験管が存在するか否かを検知する手段を有する特許請求
    範囲第2項記載の自動検体測定装置。 4、試験管を縦横のマトリックス状に配列した試験管ラ
    ックを装脱自在に装着可能なラック装着台を一方向に順
    次移送することができるラック移送手段と、該ラック移
    送手段の移送方向と直角をなすフレーム、該フレームの
    下部に前記試験管の配列間隔と同一間隔に植設され前記
    試験管ラック中の前記試験管を上部に設けられた測定位
    置に押し上げる押し上げ棒、前記フレームに下方向に付
    勢され、上下方向に移動可能に取り付けられている移動
    フレーム、及び、該移動フレームの前記押し上げ棒と相
    対向する位置に上下方向に移動可能に取りつけられ、そ
    れぞれ下方向に付勢される押え部材を有し、前記フレー
    ムを前記ラック移送手段に対し移動させる試験管昇降手
    段と、該試験管昇降手段の上昇により測定位置に位置付
    けられた一列に配列している前記各試験管の位置に該試
    験管に収容したサンプルの濃度を測定する光度計を順次
    移送する光度計移送手段とを有していることを特徴とす
    る自動検体測定装置。 5、前記試験管ラックが、半自動の分析システムにおい
    て反応処理を終了した試験管の配列している試験管ラッ
    クである特許請求の範囲第1項、又は第2項、又は第3
    項、又は第4項記載の自動検体測定装置。 6、直列に配列した一連の試験管に順次光度計の光を透
    過せしめ試験管内のサンプルの濃度を測定するにあたり
    、前記一連の試験管の測定の前または後で試験管のない
    場合の光度計の光の強度を測定し、各試験管の測定の際
    にその透過光強度と、試験管がない場合の前記光度計の
    光強度の比または差が予め設定した数値の範囲以内であ
    るか否かにより、試験管の有り無しの判別を行なうこと
    を特徴とする自動検体測定装置における試験管有無検知
    方法。 7、直列に配列した一連の円筒形の試験管に順次光度計
    の光を透過せしめ、該試験管内のサンプルの濃度を測定
    するに当たり、該試験管の中心が前記光度計の光軸上に
    位置しサンプルを透過した光の強度が最大となる位置で
    サンプルの濃度の測定を行なうとともに、前記測定位置
    より前記試験管の中心が前記光度計の光軸に対し直角方
    向に少なくとも前記試験管の内径の、5/100以上ず
    れた位置における透過光強度を測定し、この値と前記測
    定位置における透過光強度との比または差が予め設定し
    た値以内であるか否かにより、測定する試験管内にサン
    プルが存在するか否かを判別することを特徴とする自動
    検体測定装置の自動サンプル有無検知方法。
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