JPH03272404A - ヘテロダイン干渉計用位相測定装置 - Google Patents

ヘテロダイン干渉計用位相測定装置

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JPH03272404A
JPH03272404A JP2069646A JP6964690A JPH03272404A JP H03272404 A JPH03272404 A JP H03272404A JP 2069646 A JP2069646 A JP 2069646A JP 6964690 A JP6964690 A JP 6964690A JP H03272404 A JPH03272404 A JP H03272404A
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JP
Japan
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signal
light
phase difference
phase
clock signal
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Pending
Application number
JP2069646A
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English (en)
Inventor
Toru Fujii
透 藤井
Ryoichi Kawaguchi
川口 良一
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、位相差の読み取りを行うヘロダイン干渉計用
の位相測定装置に関するものである。
[従来の技術] 従来のヘテロダイン干渉計用の位相測定装置は、基準干
渉光の周波数の位相から測定干渉光の位相を測定するこ
とにより光の位相差を測定するようになっている。
そして、この基準干渉光と測定干渉光とをそれぞれ電気
信号に変換し、これらの各電気信号の位相差の検出は、
第3図に示すように、各電気信号に変換された基準信号
a1と測定信号d1との七ロクロス位置の時間差を検出
して行われる。すなわち、この時間差を検出するために
は、第3図の(a)図の基準信号alをもとに(b)図
のような三角波信号す、を作成し3また、(d)図で示
される測定信号d、をもとに(c)図のような矩形波信
号C】を作成する。そして、これらの信号を比較するこ
とにより基準信号a1と測定信号dlとの間の位相差を
検出する。
すなわち、基準信号a1から三角波信号す、を作成すれ
ば、この信号b1の電圧は、基準信号a1のゼロクロス
地点からの時間に比例する。そして、測定信号d1のゼ
ロクロス地点、すなわち矩形波信号c1の立ち上がりで
この三角波信号す、の電圧値を読み取るようにすれば、
基準信号a1と測定信号d1どの時間差、すなわち位相
差が検出できることになる。
また、基準信号a1は、測定信号d1を1周期分追い越
したり、また測定信号d1に1周期分追い越されたりす
ることがあるので、アップダウンカウンタを設けてこれ
らの追越し回数を計数する。そして、これらの計数値は
例えば上位桁で図示しない表示部に表示され、また、下
位桁の位相差の表示、すなわち1周期以内の位相差の表
示は、三角波信号b1と矩形波信号c1との間の1周期
以内の時間差を検出して表示される。
[発明が解決しようとする課題1 このような従来のヘテロダイン干渉計用の位相測定装置
は、基準信号a1を三角波信号り、に変換して位相差を
検出しているので、線形計算が高速で行え、下位桁に対
応する位相差検出処理、すなわち1周期以内の位相差検
出処理は高速で行える。
しかしながら、この種の干渉計は、一般に1M82以上
の信号を必要としているため、このLM)12以上の基
準信号a1から精度の良い三角波信号h1を作成するこ
とが困難となり、従って、位相検出を精度良く行うこと
かできないという問題があった。
「課題を解決するための手段コ このような課距を解決するために本発明に係るヘテロダ
イン干渉計用位相検出装置は、参照干渉光を電気信号に
変換して正弦波信号を出力する第1の光電変換手段と、
参照干渉光の一方を1/′4波長移相した干渉光を電気
信号に変換して余弦波信号を出力する第2の光電変換手
段と、測定光ビートを電気信号に変換してクロック信号
として出力する第3の光電変換手段と、クロック信号に
基づいて正弦波信号および余弦波信号を取り込み、この
振幅値からクロック信号に対する正弦波信号および余弦
波信号の位相差を算出して出力する演算手段と、正弦波
信号に基づくクロック信号と第3の光電変換手段から出
力されるクロック信号とをア・ツブ端子、ダウン端子に
それぞれ入力してカウントするアップダウンカウンタと
、演算手段から出力される位相差信号とアップダウンカ
ウンタから出力される計数値とを入力して加算処理する
加算処理手段とを備えたものである。
「作用〕 測定干渉光に基づくクロック信号に対して参照干渉光に
基づく正弦波信号および余弦波信号の位相差が算出され
、また、正弦波信号および余弦波信号に基づくクロック
信号と測定干渉光に基っくクロック信号とが入力されて
カウントされる。そして、このカウント値と上記で算出
された位相差の値とが加算処理され、この結果参照干渉
光と測定干渉光と間の位相差の検出がされる。
[実施例] 次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は1本発明に係るヘテロダイン干渉計用位相測定
装置の一実施例を示すブロック図である。同図において
、1−3は光信号を二乗検波し電気信号に変換するフォ
トダイオード、4は入力した光信号を1−・74波長位
相を遅らせて出力する1774波長板、5〜7は電流を
電圧に変換する電流電圧変換回路、8.9はバンドパス
フィルタ10、]1はコンパレータ、12はアナログ電
気信号をディジタルに変換するA/D変換器である。ま
た、13はデインタル信号化された測定信号および基準
信号を入力してこれらの信号の1周期内の位相差の高速
演算を行うDSP (ディジタル・シグナル・プロセッ
サ)等で構成される高速演算器、14は基準信号と測定
信号との間の位相差の1周期分の追越しまたは追い越さ
れ回数を計数するアップダウンカウンタ、15は1周期
内の位相差信号およびアップダウンカウンタ14からの
計数値を入力して基準信号と測定信号との位相差の加算
処理を行う加算処理部、16はこの加算処理された値を
表示する表示部である。なお、a、a’は基準光(参照
干渉光)、bは測定光、c、c“は基準信号、dは測定
信号、e、fはクロック信号である。
以上のように構成された干渉用位相検出装置の動作を説
明する。
基準光aは、フォトダイオード1により二乗検波されて
電流信号に変換され、さらに電流電圧変換回路5により
電圧信号に変換され、バンドパスフィルタ8により雑音
成分が除去されて第2図の(a)図に示すように、正弦
波の基準信号CとしてA/D変換器12およびコンパレ
ータ10に送出される。
また、この基準光aは、1/4波長板により基準光aの
干渉光と比較して1/4位相の遅れた余弦波の干渉光を
生じる基準光a′に変換されてフォトダイオード2によ
り上記したと同様に二乗検波後電流信号に変換され、さ
らに電流電圧変換回路6により電圧信号に変換されてバ
ンドパスフィルタ9により雑音成分が除去され、第2図
の(b)図に示すように、基準信号Cが1/4波長移相
された余弦波の基準信号C“とじてA 7’ D変換器
12に送出される。
一方、測定光すは、フォトダイオード3により電流信号
に変換され、さらに電流電圧変換回路7により電圧信号
に変換されて第2図の(d)図で示されるような測定信
号dが生成される。この測定信号dは、コンパレータ1
1により、第2図の(C)図で示されるようにクロック
信号eとして生成され、A/D変換器12およびアップ
ダウンカウンタ14のアップ端子に送出される。
そして、A/D変換器12では、このクロック信号eを
入力して高速演算器13に送出するとともに、このクロ
ック信号eに基づいて基準信号c、c′をディジタル信
号に変換して高速演算器13に送出し、高速演算器13
ではこれらの各信号を入力して高速演算処理を行う。
すなわち、基準信号CをAs1nΦ、基準信号C′をA
cosΦとすると、位相差ΦはA cos  Φ となる。また、振幅値Aは となる。
そして、A/D変換器12においては、クロック信号e
の立ち上がりで基準信号c、c“のAs1nΦ A c
osΦの値をディジタル信号に変換して高速演算器13
に送出し、高速演算器13ではこれを入力するとともに
、上記の式!11.!21を求めてこのディジタル化さ
れたAs1nΦ、AcosΦの値から位相差Φおよび振
幅値Aを高速演算処理する。
こうして、測定信号dから生成されるクロック信号eの
立ち上がり、すなわち位相差「0」の地点で基準信号c
、c’の位相差Φが読み取られることになり、従って基
準信号c、c’ と測定信号dとの1周期内の位相差が
検出でき、この検出結果は加算処理部15に送出される
また、コンパレータ10は、基準信号Cを入力してクロ
ック信号fを生成し、アップダウンカウンタ14のダウ
ン端子に送出する。そして、アップダウンカウンタ14
は、この基準信号Cに基づくクロック信号fと測定信号
dに基づくクロック信号eとを入力して、これらの各信
号間の1周期以上の位相差の追越しまたは追い越されの
回数を計数し、この計数値を加算処理部15に送出する
こうして、加算処理部15では、基準信号Cと測定信号
dとの1周期以上の位相差の値と1周期以内の位相差の
値とを入力して、これらの加算を行って全体の位相差を
算出し、この算出結果を表示部16に送出して表示させ
る。
以上説明したように、本発明のヘテロダイン干渉計用位
相検出装置は、読み取られる信号として、正弦波である
干渉光を生じる測定光aから光学的に1/4波長移相さ
せた余弦波の干渉光を生じる測定光すを精度良く簡単に
生成させるようにしたので、従来の三角波信号と異なり
、精度の良い位相検出が行える。
[発明の効果コ 以E説明したように本発明に係る干渉計用位相検出装置
は、測定光に基づくクロック信号に対して参照先に基づ
く正弦波信号および余弦波信号の位相差を算出し、また
、正弦波信号および余弦波信号に基づくクロック信号と
測定光に基づくタロツク信号とを入力してカウントし、
このカウント値と上記で算出された位相差の値とを加算
処理して測定光と参照光との位相差を検出するように構
成したので、読み取られて参照される信号が従来の装置
で生成される三角波信号と異なって、精度の良い余弦波
信号が生成できることになり、従って位相検出が正確に
行えるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のヘテロダイン干渉計用位相検出装置の
一実施例を示すブロック図、第2図はこの装置の各部の
タイミングチャート、第3図は従来の干渉計用の位相検
出装置のタイミングチャートである。 1〜3・・・・フォトダイオード、4・・・・1/4波
長板、5〜7・−・・電流電圧変換回路、8,9・・・
・バンドパスフィルタ、10゜11・・・・コンパレー
タ、12・・・・A、/D変換器、13・・・・高速演
算器、14・アップダウンカウンタ、15・・・・加算
処理部、16・・・・表示部、a、a’  ・・・・基
準光、b−・・・測定光、c、c’  ・・・・基準信
号、d・・・・測定信号、e、f・−・・クロック信号

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 参照信号に対する測定信号の位相差に応じた値を測定す
    るヘテロダイン干渉計用位相測定装置において、 参照干渉光を電気信号に変換して正弦波信号を出力する
    第1の光電変換手段と、 前記参照干渉光を1/4波長移相した光を電気信号に変
    換して余弦波信号を出力する第2の光電変換手段と、 測定干渉光を電気信号に変換してクロック信号として出
    力する第3の光電変換手段と、 前記クロック信号に基づいて前記正弦波信号および余弦
    波信号を取り込み、この振幅値からクロック信号に対す
    る正弦波信号および余弦波信号の位相差を算出して出力
    する演算手段と、 前記正弦波信号に基づくクロック信号と前記第3の光電
    変換手段から出力されるクロック信号とをアップ端子、
    ダウン端子にそれぞれ入力してカウントするアップダウ
    ンカウンタと、 前記演算手段から出力される位相差信号と前記アップダ
    ウンカウンタから出力される計数値とを入力して加算処
    理する加算処理手段と を有することを特徴とするヘテロダイン干渉計用位相測
    定装置。
JP2069646A 1990-03-22 1990-03-22 ヘテロダイン干渉計用位相測定装置 Pending JPH03272404A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995014236A1 (de) * 1993-11-18 1995-05-26 Robert Bosch Gmbh Phasenmessvorrichtung
US6351312B1 (en) * 1997-07-23 2002-02-26 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Interference-type distance measuring device

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