JPH03262964A - スプリッタを備えたガスクロマトグラフ - Google Patents
スプリッタを備えたガスクロマトグラフInfo
- Publication number
- JPH03262964A JPH03262964A JP6375890A JP6375890A JPH03262964A JP H03262964 A JPH03262964 A JP H03262964A JP 6375890 A JP6375890 A JP 6375890A JP 6375890 A JP6375890 A JP 6375890A JP H03262964 A JPH03262964 A JP H03262964A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flow rate
- pressure
- split ratio
- regulator
- pressure regulator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 10
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/04—Preparation or injection of sample to be analysed
- G01N30/06—Preparation
- G01N30/10—Preparation using a splitter
Landscapes
- Flow Control (AREA)
- Treatment Of Liquids With Adsorbents In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はガスクロマトグラフに関し、特にキャピラリー
カラムを用いたガスクロマトグラフに関するものである
。
カラムを用いたガスクロマトグラフに関するものである
。
(従来の技術)
キャピラリーカラムを用いたガスクロマトグラフでは、
キャピラリーカラムにはごく微量の試料しか流すことが
できないので、注入された試料を完全に気化させた後、
スプリッタによってその内の一部分のみをカラムに通し
、残りを大気中に排出するスプリット注入法が用いられ
ている。
キャピラリーカラムにはごく微量の試料しか流すことが
できないので、注入された試料を完全に気化させた後、
スプリッタによってその内の一部分のみをカラムに通し
、残りを大気中に排出するスプリット注入法が用いられ
ている。
カラムに流れる流量をUl、スプリット出口から排出さ
れる流量をU3とした場合、スプリット比SはUl/
(U1+U3)である。
れる流量をU3とした場合、スプリット比SはUl/
(U1+U3)である。
従来は、スプリット比を設定するために、ますカラム出
口のキャリアガス流量U1を流量計で測定するか、又は
分析を1回行なってメタンの保持時間から流量U1を求
める。次に、スプリット出口側の流量U3を測定しなが
ら、スプリット出口側のニードルバルブを調節して Ul/ (U1+U3)が目的とするスプリット比Sに
なるように流量U3を設定する。
口のキャリアガス流量U1を流量計で測定するか、又は
分析を1回行なってメタンの保持時間から流量U1を求
める。次に、スプリット出口側の流量U3を測定しなが
ら、スプリット出口側のニードルバルブを調節して Ul/ (U1+U3)が目的とするスプリット比Sに
なるように流量U3を設定する。
(発明が解決しようとする課題)
従来の方法によりスプリット比を設定する手順は煩わし
いものである。
いものである。
また、スプリット比の設定を自動化することもできない
。
。
本発明は、スプリッタを備えたガスクロマトグラフにお
いて、簡単な操作により目的のスプリット比に設定する
ことができ、また、自動化も可能にすることを目的とす
るものである。
いて、簡単な操作により目的のスプリット比に設定する
ことができ、また、自動化も可能にすることを目的とす
るものである。
(課題を解決するための手段)
一実施例を示す第1図を参照して説明すると、本発明の
ガスクロマトグラフは、カラム3につながる試料注入口
1のキャリアガス入口に流量を検出できる圧力レギュレ
ータFCを備え、試料注入口1のスプリット出口4に電
気信号により流路抵抗を可変にできる抵抗器Rを備え、
圧力レギュレータFCによりカラム人口圧POを設定圧
力に制御するとともに、圧力レギュレータFCによる検
出流量UOが設定スプリット比Sにより定まる流量にな
るように抵抗器Rを制御する制御部12を備えている。
ガスクロマトグラフは、カラム3につながる試料注入口
1のキャリアガス入口に流量を検出できる圧力レギュレ
ータFCを備え、試料注入口1のスプリット出口4に電
気信号により流路抵抗を可変にできる抵抗器Rを備え、
圧力レギュレータFCによりカラム人口圧POを設定圧
力に制御するとともに、圧力レギュレータFCによる検
出流量UOが設定スプリット比Sにより定まる流量にな
るように抵抗器Rを制御する制御部12を備えている。
(作用)
スプリット出口4を閉じた状態で圧力レギュレータFC
によってカラム入口圧POが所定の一定圧になるように
キャリアガスを流しておき、そのときの流量UOを圧力
レギュレータFCで検出する。その圧力検出値UOと設
定されたスプリット比Sとから電気制御部12で全流量
が算出され。
によってカラム入口圧POが所定の一定圧になるように
キャリアガスを流しておき、そのときの流量UOを圧力
レギュレータFCで検出する。その圧力検出値UOと設
定されたスプリット比Sとから電気制御部12で全流量
が算出され。
電気制御部12は圧力レギュレータFCによる検出流量
UOがその算呂流量になるように抵抗器Rを制御する。
UOがその算呂流量になるように抵抗器Rを制御する。
(実施例)
第1図は一実施例を表わす。
1は試料注入口であり、キャリアガスがバルブ2を経て
供給される。キャリアガス入口には流量を検出すること
のできる圧力レギュレータFCが設けられている。圧力
レギュレータFCは後で第2図により説明されるもので
あり、流量コントローラとしても圧力レギュレータとし
ても用いることのできる装置である。
供給される。キャリアガス入口には流量を検出すること
のできる圧力レギュレータFCが設けられている。圧力
レギュレータFCは後で第2図により説明されるもので
あり、流量コントローラとしても圧力レギュレータとし
ても用いることのできる装置である。
試料注入口1にはキャピラリーカラム3.スプリット出
口4及びセプタムパージ出口6が接続されている。スプ
リット出口4にはフィルタ5を介して電気信号により流
路抵抗を可変にできる抵抗器Rが設けられている。抵抗
器Rは後で第3図により説明されるように、フラップを
備えた抵抗器である。
口4及びセプタムパージ出口6が接続されている。スプ
リット出口4にはフィルタ5を介して電気信号により流
路抵抗を可変にできる抵抗器Rが設けられている。抵抗
器Rは後で第3図により説明されるように、フラップを
備えた抵抗器である。
セプタムパージ出口6にはフィルタ7を介してニードル
バルブ8が設けられている。
バルブ8が設けられている。
12は電気制御部であり、圧力レギュレータFCに制御
信号を送ってカラム人口圧POが一定値になるように制
御するとともに、圧力レギュレータFCから圧力POと
キャリアガス流量UOを検出してモニタし、スプリット
流量U3=0のときの検出流量UO(=U1+02)と
与えられたスプリット比Sにより流量Uを U=U1 (1−8)/S+U2 として算出し、抵抗器Rに電気信号を送って圧力レギュ
レータFCを流れる全流量UOが前記算出流量Uとなる
ように抵抗器Rを制御する。ここで、5=U1/ (U
1+U3)、Ulはカラム流量、U2はセプタムパージ
流量である。
信号を送ってカラム人口圧POが一定値になるように制
御するとともに、圧力レギュレータFCから圧力POと
キャリアガス流量UOを検出してモニタし、スプリット
流量U3=0のときの検出流量UO(=U1+02)と
与えられたスプリット比Sにより流量Uを U=U1 (1−8)/S+U2 として算出し、抵抗器Rに電気信号を送って圧力レギュ
レータFCを流れる全流量UOが前記算出流量Uとなる
ように抵抗器Rを制御する。ここで、5=U1/ (U
1+U3)、Ulはカラム流量、U2はセプタムパージ
流量である。
第2図により圧力レギュレータFCとして用いられる装
置を説明する。
置を説明する。
14は入口(−次側)であり、入口14から供給された
ガスを導くために流路が設けられ、ノズル15を経て出
口(二次側)16から排出される。
ガスを導くために流路が設けられ、ノズル15を経て出
口(二次側)16から排出される。
入口14からノズル15に至る流路には層流素子18が
設けられており、その流路に並列にさらに流路が設けら
れて層流素子18の両端での圧力差を検出する差圧セン
サ20が設けられている。ノズル15からのガス流量を
制御するために鉄製フラップ22が設けられ、フラップ
22を変位させるために電磁石24が設けられている。
設けられており、その流路に並列にさらに流路が設けら
れて層流素子18の両端での圧力差を検出する差圧セン
サ20が設けられている。ノズル15からのガス流量を
制御するために鉄製フラップ22が設けられ、フラップ
22を変位させるために電磁石24が設けられている。
電磁石24に印加される制御電圧によってフラップ22
とノズル15の間の隙間が調節され、二次圧力及び流量
が制御される。26は二次圧力を検出する圧力センサで
ある。
とノズル15の間の隙間が調節され、二次圧力及び流量
が制御される。26は二次圧力を検出する圧力センサで
ある。
差圧センサ20により検出される差圧と流量の間には一
対一の関係がある。したがって、差圧センサ20の検出
信号を電気制御部12に入力し、その検出値が設定値に
なるように電磁石24の制御電圧にフィードバックをか
けると、この装置は流量コントローラとして働く。
対一の関係がある。したがって、差圧センサ20の検出
信号を電気制御部12に入力し、その検出値が設定値に
なるように電磁石24の制御電圧にフィードバックをか
けると、この装置は流量コントローラとして働く。
また、圧力センサ26の圧力検出値を電気制御部12に
入力し、その検出値が設定値になるように電磁石24の
制御電圧にフィードバックをかけると、この装置は圧力
レギュレータとして働く。
入力し、その検出値が設定値になるように電磁石24の
制御電圧にフィードバックをかけると、この装置は圧力
レギュレータとして働く。
第2図の装置を圧力レギュレータ又は流量コントローラ
のいずれに使う場合も、差圧(すなわち流量)と二次圧
力の実際の値を常にモニタすることができる。
のいずれに使う場合も、差圧(すなわち流量)と二次圧
力の実際の値を常にモニタすることができる。
第1図に戻って説明すると、圧力レギュレータFCでは
第2図の装置を圧力レギュレータとして用いるために、
圧力センサ26の検出信号により電磁石24を制御する
ようにフィードバックをかける。
第2図の装置を圧力レギュレータとして用いるために、
圧力センサ26の検出信号により電磁石24を制御する
ようにフィードバックをかける。
第1図における抵抗器Rの一例を第3図に示す。
30は入口であり、入口30から供給されたガスを導く
ために流路が設けられ、ノズル32を経て出口34から
排出される。ノズル32を含む流路の流路抵抗を可変に
するために鉄製フラップ36が設けられ、フラップ36
を変位させるために電磁石38が設けられている。電磁
石38には電気制御部12から制御電圧が与えられる。
ために流路が設けられ、ノズル32を経て出口34から
排出される。ノズル32を含む流路の流路抵抗を可変に
するために鉄製フラップ36が設けられ、フラップ36
を変位させるために電磁石38が設けられている。電磁
石38には電気制御部12から制御電圧が与えられる。
次に、第1図に戻って本実施例の動作について説明する
。
。
セプタムパージ出口6のニードルバルブ8を予め調整し
てセプタムパージ流量を設定しておく。
てセプタムパージ流量を設定しておく。
すなわち、圧力レギュレータFCにより試料注入口1の
圧力POを設定圧力に制御したときのセプタムパージ流
量U2が設定値になるようにニードルバルブ8を調整す
る。
圧力POを設定圧力に制御したときのセプタムパージ流
量U2が設定値になるようにニードルバルブ8を調整す
る。
スプリット比Sを自動的に設定する動作は次のように行
なう。
なう。
スプリット出口4の抵抗器Rの抵抗を無限大(すなわち
抵抗器Rを閉じること)にし、カラム人口圧POが設定
圧力になるように圧力レギュレータFCを電気制御部1
2によって制御する。これは、圧力レギュレータFCは
圧力を検出できるので、その検出圧力POが設定圧力に
なるように制御することである。そのとき圧力レギュレ
ータFCにより検出される流量UOは、セプタムパージ
流量U2とカラム3を流れる流量Ulの和であり、すな
わち(U1+U2)である。
抵抗器Rを閉じること)にし、カラム人口圧POが設定
圧力になるように圧力レギュレータFCを電気制御部1
2によって制御する。これは、圧力レギュレータFCは
圧力を検出できるので、その検出圧力POが設定圧力に
なるように制御することである。そのとき圧力レギュレ
ータFCにより検出される流量UOは、セプタムパージ
流量U2とカラム3を流れる流量Ulの和であり、すな
わち(U1+U2)である。
次に、設定しようとするスプリット比をSとすると、電
気制御部12はそのスプリット比Sと検出流量(U1+
U2))とから、圧力レギュレータFCを流量る流量を U=U1 (1−8)/S+U2 と算出する。
気制御部12はそのスプリット比Sと検出流量(U1+
U2))とから、圧力レギュレータFCを流量る流量を U=U1 (1−8)/S+U2 と算出する。
そして、電気制御部12は圧力レギュレータFCにより
検出される流量UOがその算出流量Uになるように、抵
抗器Rの電磁石38に制御電圧を送り、スプリット流量
U3を制御する。すなわち、カラム人口圧POは圧力レ
ギュレータFCによって設定値に制御され、圧力レギュ
レータFCを流れる全流量UOは抵抗器Rにより流量U
に制御されることになる。
検出される流量UOがその算出流量Uになるように、抵
抗器Rの電磁石38に制御電圧を送り、スプリット流量
U3を制御する。すなわち、カラム人口圧POは圧力レ
ギュレータFCによって設定値に制御され、圧力レギュ
レータFCを流れる全流量UOは抵抗器Rにより流量U
に制御されることになる。
(発明の効果)
本発明ではカラム人口圧を一定にしておいて、スプリッ
ト流量を0にしたときの圧力レギュレータを流れる流量
と設定されたスプリット比とから圧力レギュレータを流
れる全流量を算出し、圧力レギュレータの検出流量がそ
の算出値になるようにスプリット出口の抵抗器を制御す
るようにしたので、キャピラリーカラムを備えたガスク
ロマトグラフにおけるスプリット比の設定が容易になる
。
ト流量を0にしたときの圧力レギュレータを流れる流量
と設定されたスプリット比とから圧力レギュレータを流
れる全流量を算出し、圧力レギュレータの検出流量がそ
の算出値になるようにスプリット出口の抵抗器を制御す
るようにしたので、キャピラリーカラムを備えたガスク
ロマトグラフにおけるスプリット比の設定が容易になる
。
本発明ではまた、スプリット比を与えれば全流量を自動
的に制御してそのスプリット比になるように自動化する
ことも容易である。
的に制御してそのスプリット比になるように自動化する
ことも容易である。
第1図は一実施例を示す構成図、第2図は同実施例で圧
力レギュレータとして用いられる装置を示す構成図、第
3図は同実施例で抵抗器として用いられる装置を示す構
成図である。 FC・・・・・・圧力レギュレータ、R・・・・・・抵
抗器、1・・・・・・試料注入口、3・・・・・・カラ
ム、4・・・・・・スプリット出口、12・・・・・・
電気制御部、15.32・・・・・・ノズル、18・・
・・・・層流素子、20・・・・・・差圧センサ、22
.36・・・・・・フラップ、24,38・・・・・・
電磁石。 26・・・・・・圧力センサ。
力レギュレータとして用いられる装置を示す構成図、第
3図は同実施例で抵抗器として用いられる装置を示す構
成図である。 FC・・・・・・圧力レギュレータ、R・・・・・・抵
抗器、1・・・・・・試料注入口、3・・・・・・カラ
ム、4・・・・・・スプリット出口、12・・・・・・
電気制御部、15.32・・・・・・ノズル、18・・
・・・・層流素子、20・・・・・・差圧センサ、22
.36・・・・・・フラップ、24,38・・・・・・
電磁石。 26・・・・・・圧力センサ。
Claims (1)
- (1)カラムにつながる試料注入口のキャリアガス入口
に流量を検出できる圧力レギュレータを備え、前記試料
注入口のスプリット出口に電気信号により流路抵抗を可
変にできる抵抗器を備え、前記圧力レギュレータにより
カラム入口圧を設定圧力に制御するとともに、前記圧力
レギュレータによる検出流量が設定スプリット比により
定まる流量になるように前記抵抗器を制御する制御部を
備えたガスクロマトグラフ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2063758A JP2870947B2 (ja) | 1990-03-14 | 1990-03-14 | スプリッタを備えたガスクロマトグラフ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2063758A JP2870947B2 (ja) | 1990-03-14 | 1990-03-14 | スプリッタを備えたガスクロマトグラフ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03262964A true JPH03262964A (ja) | 1991-11-22 |
JP2870947B2 JP2870947B2 (ja) | 1999-03-17 |
Family
ID=13238614
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2063758A Expired - Fee Related JP2870947B2 (ja) | 1990-03-14 | 1990-03-14 | スプリッタを備えたガスクロマトグラフ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2870947B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05180815A (ja) * | 1991-06-05 | 1993-07-23 | Univ Michigan | ガス・クロマトグラフィー装置および方法 |
JPH05288737A (ja) * | 1992-04-06 | 1993-11-02 | Shimadzu Corp | ガスクロマトグラフ装置 |
US5672810A (en) * | 1995-07-18 | 1997-09-30 | Shimadzu Corporation | Gas chromatograph apparatus for a liquid sample containing a solvent |
-
1990
- 1990-03-14 JP JP2063758A patent/JP2870947B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05180815A (ja) * | 1991-06-05 | 1993-07-23 | Univ Michigan | ガス・クロマトグラフィー装置および方法 |
JPH05288737A (ja) * | 1992-04-06 | 1993-11-02 | Shimadzu Corp | ガスクロマトグラフ装置 |
US5672810A (en) * | 1995-07-18 | 1997-09-30 | Shimadzu Corporation | Gas chromatograph apparatus for a liquid sample containing a solvent |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2870947B2 (ja) | 1999-03-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3629329B2 (ja) | ガスクロマトグラフ装置 | |
JPH05288737A (ja) | ガスクロマトグラフ装置 | |
JP3259655B2 (ja) | ガスクロマトグラフ分析装置 | |
US4162689A (en) | Time division flow control | |
JPH03262964A (ja) | スプリッタを備えたガスクロマトグラフ | |
CN105283653A (zh) | 燃气发动机 | |
EP0973080B1 (en) | Gas flow rate control apparatus | |
JPH04105062A (ja) | ガスクロマトグラフのキャリヤガス流量制御方法 | |
JP2674671B2 (ja) | スプリッタを有するガスクロマトグラフ | |
JP4345967B2 (ja) | 分析循環路用の流体レギュレータ装置及びクロマトグラフィにおいての前記分析循環路用の流体レギュレータ装置の利用 | |
JPH02242150A (ja) | スプリッタを備えたガスクロマトグラフ | |
JP3206705B2 (ja) | 排気ガスサンプリング装置 | |
RU2509334C1 (ru) | Регулятор расхода газа | |
JP2527645B2 (ja) | ガスクロマトグラフのキャリアガス圧力コントロ―ル装置 | |
JP2000035821A (ja) | 気体流量制御装置 | |
JP3371628B2 (ja) | ガスクロマトグラフ装置 | |
JP2776065B2 (ja) | ガスクロマトグラフの試料導入方法 | |
JP3604060B2 (ja) | 希釈用ガス流量制御装置 | |
JPH10325834A (ja) | ガスクロマトグラフ装置 | |
JP3968085B2 (ja) | 部分希釈方式の排気ガス測定用ガス希釈システムおよび部分希釈方式の排気ガス中の微粒子状物質測定用ガス希釈システム | |
JPH0727753A (ja) | ガスクロマトグラフ装置 | |
JP3371626B2 (ja) | ガスクロマトグラフ装置 | |
JPH087195B2 (ja) | ガスクロマトグラフ | |
JP3541558B2 (ja) | ガスクロマトグラフの試料導入装置 | |
JPH04115158A (ja) | 液体クロマトグラフ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080108 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090108 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100108 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |