JPH03238233A - Device for loading and unloading sleeve for ic tester - Google Patents

Device for loading and unloading sleeve for ic tester

Info

Publication number
JPH03238233A
JPH03238233A JP2221388A JP22138890A JPH03238233A JP H03238233 A JPH03238233 A JP H03238233A JP 2221388 A JP2221388 A JP 2221388A JP 22138890 A JP22138890 A JP 22138890A JP H03238233 A JPH03238233 A JP H03238233A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sleeve
plate
transfer block
section
tester
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2221388A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0645406B2 (en
Inventor
Soo Pil Lee
スー、ピル、リー
Il Sub Kim
イル、スブ、キム
Duk Hui Lee
デュク、ヒー、リー
Yol Kim
ヨル、キム
Dong Chul Ahn
ドン、チュル、アーン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SK Hynix Inc
Original Assignee
Goldstar Electron Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1019890012565A external-priority patent/KR910005377A/en
Priority claimed from KR1019890015372A external-priority patent/KR960015559B1/en
Priority claimed from KR2019890015506U external-priority patent/KR930008125Y1/en
Priority claimed from KR2019890017068U external-priority patent/KR940000547Y1/en
Priority claimed from KR2019890017069U external-priority patent/KR940001273Y1/en
Priority claimed from KR2019900003834U external-priority patent/KR950006931Y1/en
Application filed by Goldstar Electron Co Ltd filed Critical Goldstar Electron Co Ltd
Publication of JPH03238233A publication Critical patent/JPH03238233A/en
Publication of JPH0645406B2 publication Critical patent/JPH0645406B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67253Process monitoring, e.g. flow or thickness monitoring
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67276Production flow monitoring, e.g. for increasing throughput

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)
  • Filling Or Emptying Of Bunkers, Hoppers, And Tanks (AREA)

Abstract

PURPOSE: To transport IC chip accommodating sleeves, which are installed at random in an accommodation box, one by one to a tester automatically by furnishing a timing belt between inside the box and a sorter part. CONSTITUTION: Sleeves 11 filled with IC chips 10 are accommodated at random in an accommodation box 2 in the condition that one of the caps of each sleeve 11 is removed, and are transported continuously by a timing belt 4 and fed automatically to a sorter part in a correct attitude, and then the IC chips 10 are sent to a tester 8. This permits the operation of a loader part to be automated. Then empty sleeves 11 are transported automatically to an ejector part by the first conveying block, fed therefrom one by one to an unloader part via a dropping part, and filled again with IC chips 10 classified by the tester 8, so that the whole operations from loading of chips 10 on the tester 8 to unloading can be automated.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、スリーブ内に収納された集積回路チップ(以
下、ICチップと呼ぶ)などの電子部品が供給源からテ
スターまで連続して送られ、テスターにおいて試験され
、試験されたチップの特性により分類され、その後再び
空のスリーブ内に収納されるような、ICテスターのた
めにスリーブを積み降ろしするための装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a method in which electronic components such as integrated circuit chips (hereinafter referred to as IC chips) housed in sleeves are continuously sent from a supply source to a tester. , relates to a device for loading and unloading sleeves for IC testers, such that they are tested in the tester, sorted according to the properties of the tested chips, and then stored again in empty sleeves.

〔従来の技術と発明が解決しようとする課題〕ICテス
ターのためにスリーブを積み降ろしする従来技術の装置
においては、ICチップを収納したスリーブが各々逆コ
字形の断面を有する1対のローダ−中に作業員により手
作業で規則正しく配置されると、スリーブがテスターに
1個づつ搬送され、それにより搬送されたスリーブ内の
ICチップをテスターに送り、その後空のスリーブが保
管箱中にランダムに収集される。その後、もしも保管箱
内に収集された空のスリーブが作業員により集められか
つアンローダ−に送られれば、テスターを通過しかつチ
ップの特性により分類されたICチップはアンローダ−
内に規則正しく配置された空のスリーブ内に収納される
。この場合、スリーブは作業員により手作業でローダ−
およびアンローダ−に常に規則正しく送られなければな
らない。それ故に、このような従来技術の装置において
は、ローダ−およびアンローダ−へのスリーブの供給が
作業員の手により行われるので、作業時間か著しく長(
なる。さらに、空のスリーブを作業員によりローダ−か
らアンローダ−まで搬送しなければならないので、自動
装置に構成することができず、したがって生産性が低下
する。
[Prior Art and Problems to be Solved by the Invention] In a prior art device for loading and unloading sleeves for an IC tester, each sleeve containing an IC chip is loaded into a pair of loaders each having an inverted U-shaped cross section. Once the sleeves are placed regularly by hand in the storage box, the sleeves are conveyed one by one to the tester, which sends the IC chips in the conveyed sleeves to the tester, and then the empty sleeves are randomly placed into the storage box. collected. Afterwards, if the empty sleeves collected in the storage box are collected by the worker and sent to the unloader, the IC chips that have passed the tester and are classified according to the characteristics of the chips will be sent to the unloader.
It is housed in empty sleeves that are regularly arranged inside. In this case, the sleeve is manually inserted into the loader by an operator.
and must be sent regularly to the unloader. Therefore, in such prior art devices, the feeding of the sleeves to the loader and unloader is done manually by the worker, which takes a considerable amount of time.
Become. Furthermore, since the empty sleeve must be transported by a worker from the loader to the unloader, it cannot be configured into an automated system, thus reducing productivity.

本発明は、従来技術の装置の上記の問題に鑑みなされた
ものであり、その目的は、収納箱内にランダムに配置さ
れたICチップ収納スリーブをテスターまで、収納箱の
内部とソーター部との間に設けられた調時ベルトにより
1個づつ自動的に搬送し、また空のスリーブをアンロー
ダー部に自動的に送り、それにより試験されかつ特性に
より分類されたICチップを空のスリーブ内に収納する
ことができるようにしたICテスターのためにスリーブ
を積み降ろしするための装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art devices, and its purpose is to transport IC chip storage sleeves randomly arranged in a storage box to a tester, and to connect the inside of the storage box and the sorter section. IC chips are automatically transported one by one by a timing belt installed between them, and empty sleeves are automatically sent to an unloader section, thereby placing IC chips that have been tested and classified according to their characteristics into empty sleeves. An object of the present invention is to provide a device for loading and unloading a sleeve for an IC tester that can be stored.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明によれば、上記目的を達成するために、両方共に
フレームに固定された収納箱およびブラケットの間に設
けらた調時ベルトと、該調時ベルト上に等間隔に装着さ
れ、かつスリーブを搬送するスリーブホルダーと、固定
された板に固着された第1整列板および第2整列板とを
含むローダー部と、 フック用みぞが形成された一体に構成された脚部を有し
、かつスリーブを掴むためのグリップ凹部を有する第1
移送ブロックと、該第1移送ブロックの往復動を案内す
る移送棒と、該移送棒に沿って移動可能なキャリッジと
、前記第1移送ブロックに固着された電磁弁と、前記第
1移送ブロックを上昇させかつ下降させる揺動アームと
、スリーブを前記グリップ凹部中に挿入する押込板とを
含むソーター部と、 1対のローラーを何しかつ定置板上に装着されたローラ
ー支持テーブルと、前記ローラーにより移動可能なカム
プレートと、連結板により前記カムプレートと連結され
た支持バーと、連結板により前記ローラー支持テーブル
と連結されたスライダーブロックと、連結片を介して前
記スライダーブロックと連結されたエゼクタ−とを含む
エゼクター部と、 1対の案内レールと、定置板に装着されかつ各々がシリ
コン板および押込板を有する1対の第1シリンダーと、
該第1シリンダーの外側に配置されかつ各々が係合棒を
有する別の1対の第2シリンダーとを含む落下部と、 空のスリーブを掴みかつ搬送する第2移送ブロックと、
該第2移送ブロックを貫通する案内棒と連結されたスリ
ーブホルダーと、該スリーブホルダー内に配置されかつ
ばねにより常時下方に偏位せしめられているセンサーピ
ンと、該センサーピンを介してスリーブの挿入を検出す
るセンサーと、スリーブを前記第2移送ブロック中に挿
入する押込板とを含むアンローダー部とを備え、それに
よりICチップが充填されたスリーブが前記収納箱内に
配置されたときにスリーブが前記ローダー部を通して前
記ソーター部に送られ、それによりICチップを前記テ
スターに送り、かつ前記ソーター部の所定位置に達した
空のスリーブが前記エゼクター部により前記落下部まで
移送され、次いで、ICチップが前記テスターにより分
類されたときに空のスリーブが試験されたICチップを
受け入れ、かつその後アンローダー部において分類され
かつ保管箱内に保管される、ICテスターのためにスリ
ーブを積み降ろしするための装置が提供される。
According to the present invention, in order to achieve the above object, a timing belt is provided between a storage box and a bracket, both of which are fixed to a frame, and a sleeve is mounted on the timing belt at equal intervals. a loader portion including a sleeve holder for conveying a sleeve holder, a first alignment plate and a second alignment plate fixed to a fixed plate, and an integrally configured leg portion in which a hook groove is formed; a first having a grip recess for gripping the sleeve;
a transfer block, a transfer rod that guides the reciprocating movement of the first transfer block, a carriage movable along the transfer rod, a solenoid valve fixed to the first transfer block, and a transfer rod that guides the reciprocating movement of the first transfer block; a sorter section including a swinging arm for raising and lowering, a pusher plate for inserting the sleeve into the grip recess; a roller support table having a pair of rollers mounted on a stationary plate; a support bar connected to the cam plate by a connecting plate; a slider block connected to the roller support table by a connecting plate; and an ejector connected to the slider block via a connecting piece. - a pair of guide rails; a pair of first cylinders mounted on the stationary plate and each having a silicone plate and a pusher plate;
a drop section including another pair of second cylinders disposed outside the first cylinder and each having an engagement bar; a second transfer block for gripping and transporting empty sleeves;
a sleeve holder connected to a guide rod passing through the second transfer block; a sensor pin disposed within the sleeve holder and constantly biased downward by a spring; and a sleeve holder that is inserted through the sensor pin. an unloader section including a sensor for detecting and a pushing plate for inserting the sleeve into the second transfer block, so that when the sleeve filled with IC chips is placed in the storage box, the sleeve is inserted into the storage box. The empty sleeve is sent to the sorter part through the loader part, thereby sending the IC chips to the tester, and the empty sleeve that has reached a predetermined position in the sorter part is transferred to the dropping part by the ejector part, and then IC chips are sent to the sorter part. for loading and unloading the sleeves for the IC tester, where the empty sleeves receive the tested IC chips when they are sorted by the tester and are then sorted in the unloader section and stored in a storage box. Equipment is provided.

〔発明の作用及び効果〕[Operation and effect of the invention]

本発明の装置によれば、ICチップが充填されたスリー
ブがそれぞれのスリーブのキャップの一方を取り外した
状態で収納箱内にランダムに収納されると、スリーブか
調時ベルトにより連続して搬送され、かつソーター部に
正しい姿勢で自動的に送られ、その後ICチップがテス
ターに送られる。したかって、ローダー部を自動化する
ことができる。さらに、空のスリーブが第1移送ブロッ
クによりエゼクター部に自動的に搬送され、その後エゼ
クター部から落下部を通してアンローダー部まで1個づ
つ送られ、テスターにより分類されたICチップが再充
填されるので、テスターへのチップの積込みからテスタ
ーからのチップの降ろしまでの全作業を自動化すること
ができ、それにより生産性を改良することかできる。
According to the device of the present invention, when sleeves filled with IC chips are randomly stored in a storage box with one of the sleeve caps removed, the sleeves or the timing belt continuously transport the sleeves. , and are automatically sent to the sorter section in the correct orientation, and then the IC chips are sent to the tester. Therefore, the loader section can be automated. Furthermore, empty sleeves are automatically transported to the ejector section by the first transfer block, and then sent one by one from the ejector section through the dropping section to the unloader section, where they are refilled with IC chips that have been sorted by the tester. , the entire process from loading chips to the tester to unloading the chips from the tester can be automated, thereby improving productivity.

本発明の多くのその他の利点、特徴および付加的な目的
は、当業者には以下の詳細な説明および本発明の原理か
組み込まれた好適な実施例を例示のために示した添付図
面を参照すると明らかになろう。
Numerous other advantages, features and additional objects of the present invention will be apparent to those skilled in the art from the following detailed description and accompanying drawings, which illustrate by way of illustration a preferred embodiment incorporating the principles of the invention. Then it will become clear.

〔実 施 例〕〔Example〕

第1図および第2図は、本発明によるICテスターのた
めのスリーブを積み降ろしする装置の一実施例を概略的
に示している。第3図乃至第5図は、この装置のローダ
ー部の説明図であり、そのうちの第3図は第1図に示し
た装置の一部分を示した断面図である。
1 and 2 schematically show an embodiment of a device for loading and unloading sleeves for an IC tester according to the invention. 3 to 5 are explanatory diagrams of the loader portion of this device, of which FIG. 3 is a sectional view showing a portion of the device shown in FIG. 1.

第1図および第3図について述べると、電子部品、例え
ばICチップ(10)が充填されたスリーブ(11)を
収納するホッパー型の箱(2)を示しである。スリーブ
(11)は、それぞれのスリーブのキャップのうちの1
個を取り外した状態で収納箱(2)内にランダムに収納
されている。調時ベルト(4)が、フレーム(1)に固
定されたプレート(3)を取り囲むように、垂直面に対
して所定の角度(例えば、約10°)をなして収納箱(
2)の片側に回転するように装着されている。調時ベル
ト(4)は、該ベルトの長手方向に沿って等間隔で配置
されたスリーブホルダー(5)を備えている。
Referring to FIGS. 1 and 3, a hopper-shaped box (2) is shown containing a sleeve (11) filled with electronic components, such as IC chips (10). The sleeves (11) each have one of the sleeve caps.
The pieces are removed and randomly stored in the storage box (2). The timing belt (4) surrounds the plate (3) fixed to the frame (1) so that the storage box (
2) is mounted so as to rotate on one side. The timing belt (4) includes sleeve holders (5) arranged at regular intervals along the length of the belt.

スリーブホルダー(5)は、調時ベルト(4)が主スィ
ッチ(図示せず)を作動させることにより回転するとき
に、収納箱(2)内のスリーブ(11)を上昇させかつ
該スリーブをソーター部に送る。各々下部傾斜面を有す
る第1整列板(6)および第2整列板(7)が、調時ベ
ルト(4)の両側において、調時ベルト(4)の下方に
配置された固定板(3)に固着されている。したがって
、スリーブ(11)が調時ベルト(4)によりソーター
部まで搬送されるときに、スリーブ(11)は第4図に
示すように整列板(6,7)上を摺動する。特に、整列
板(6,7)上を(図面で見たときに)みぞが左側に向
いた状態で摺動するスリーブ(11)は、該スリーブ内
に収納されたICチップ(10)の重心のためにスリー
ブホルダー(5)から外れることなくソーター部まで移
送することができる。
The sleeve holder (5) raises the sleeve (11) in the storage box (2) and moves the sleeve into the sorter when the timing belt (4) rotates by actuating a main switch (not shown). Send to the department. A first alignment plate (6) and a second alignment plate (7), each having a lower sloped surface, are a fixed plate (3) disposed below the timing belt (4) on both sides of the timing belt (4). is fixed to. Therefore, when the sleeve (11) is conveyed to the sorter section by the timing belt (4), the sleeve (11) slides on the alignment plates (6, 7) as shown in FIG. In particular, the sleeve (11) that slides on the alignment plates (6, 7) with the groove facing left (when viewed in the drawing) is the center of gravity of the IC chip (10) housed within the sleeve. Therefore, it can be transferred to the sorter section without coming off the sleeve holder (5).

しかしながら、スリーブ(11)がスリーブホルダー(
5)上に第4図の(a)、(b)、(C)に示すように
その他の方向に向いて支持されているときは、スリーブ
が整列板(6,7)上を通過する間に外方に押され、そ
れにより内部にICチップが収納されたスリーブの重心
が不安定であるために、収納箱(2)中に落下する。収
納箱(2)中に落下したスリーブ(11)は、スリーブ
ホルダー(5)により再び上昇させることができ、した
がって正しく配置されたスリーブ(11)のみをソータ
ー部まで搬送することかできる。
However, the sleeve (11) is not connected to the sleeve holder (
5) When the sleeve is supported in other directions as shown in FIG. 4 (a), (b), and (C), while the sleeve passes over the alignment plates (6, 7) As a result, the center of gravity of the sleeve with the IC chip stored inside it is unstable and falls into the storage box (2). The sleeves (11) that have fallen into the storage box (2) can be raised again by the sleeve holder (5), so that only correctly placed sleeves (11) can be transported to the sorter section.

調時ベルト(4)および固定板(3)を垂直面に対して
約10″の角度に傾斜させると、さらに効果的な作動性
能が得られる。数組の整列板の配置は、移送されるスリ
ーブ(11)の量を増加し、かつスリーブ(11)を整
列する信頼性を高めるように意図されている。スリーブ
ホルダー(5)の上面と第1整列板(6)および第2整
列板(7)の上面との間の距M (t)は、例えばスリ
ーブ(11)のサイズおよびICチップ(10)の形状
の如何により整列板(6゜7)を取り替えることにより
調節することができる。
Even more effective working performance can be obtained by tilting the timing belt (4) and the fixing plate (3) at an angle of about 10'' with respect to the vertical plane.The arrangement of several sets of alignment plates can be transferred It is intended to increase the amount of sleeves (11) and increase the reliability of aligning the sleeves (11).The upper surface of the sleeve holder (5) and the first alignment plate (6) and the second alignment plate ( 7) The distance M (t) between the sleeve (11) and the top surface can be adjusted by replacing the alignment plate (6°7) depending on the size of the sleeve (11) and the shape of the IC chip (10).

第6図および第7図には、スリーブ(11)をローダー
部からICテスター(8)まで移送し、その後、空のス
リーブ(11)をエゼクター部に送るためのソーター部
が示されている。
6 and 7 show the sorter section for transferring the sleeves (11) from the loader section to the IC tester (8) and then for feeding the empty sleeves (11) to the ejector section.

第1移送ブロック(13)が、1対の移送バ(9)に沿
って水平方向に摺動するキャリッジ(12)の頂部に装
着されている。第1移送ブロック(13)は、引張ばね
(14)によりキャリッジ(12)に付勢され、かつキ
ャリッジ(12)のまわりに所定の角度回転させること
かできる。フック用みぞ(15a、15b)か形成され
た1対の脚部(15)か、第1移送ブロック(13)の
下部に一体に固定されている。
A first transfer block (13) is mounted on top of the carriage (12) which slides horizontally along a pair of transfer bars (9). The first transfer block (13) is biased against the carriage (12) by a tension spring (14) and can be rotated around the carriage (12) through a predetermined angle. A pair of legs (15) formed with hook grooves (15a, 15b) are integrally fixed to the lower part of the first transfer block (13).

上下動用のシリンダー(16)と連結された揺動アーム
(17)は、脚部(15)に形成されたフック用みぞ(
15a、15b)中に選択可能に挿入することができる
。スリーブ(11)を掴むためのグリップ凹部(13a
)が第1移送ブロック(13)に形成されている。第1
0図および第11図に示すように、内部にエゼクタ−(
18)が配置される細長い開口部(13b)もまた第1
移送ブロック(13)の下部に形成されている。エゼク
タ−(18)は空のスリーブを取り出し、かつそれらを
落下部に送る。カバープレート(19)が第1移送ブロ
ック(13)の頂部に載置されかつ該頂部に固定されて
いる。
The swinging arm (17) connected to the vertical movement cylinder (16) is connected to the hook groove (15) formed in the leg (15).
15a, 15b). Grip recess (13a) for gripping the sleeve (11)
) are formed on the first transfer block (13). 1st
As shown in Figure 0 and Figure 11, there is an ejector (
18) in which the elongated opening (13b) is also located.
It is formed at the lower part of the transfer block (13). The ejector (18) takes out the empty sleeves and sends them to the drop section. A cover plate (19) is placed on top of the first transfer block (13) and fixed thereto.

カバープレート(19)上には、先端部に制御ピン(2
0a)を有する電磁弁(20)が装着されている。その
ほかに、カバープレート(19)の一端部から延びる延
長部には、スリーブ(11)内に収納されたICチップ
(10)のテスター中への供給中にICチップの円滑な
導入を保証するためのバイブレータ−(21)が固定さ
れている。
On the cover plate (19), there is a control pin (2
A solenoid valve (20) with 0a) is installed. In addition, an extension extending from one end of the cover plate (19) is provided to ensure a smooth introduction of the IC chip (10) housed in the sleeve (11) during its feeding into the tester. A vibrator (21) is fixed.

第2図に示すように、■字形の横断面を有しかつシリン
ダー(22)により作動せしめられる押込板(23)が
、ブラケット(24)を介して第1移送ブロック(13
)と反対側のフレーム(1)の側に固定されている。押
込板(23)は、スリーブ(11)が調時ベルト(4)
によりグリップ凹部(13a)の入口まで移送されると
きに、シリンダー(22)の作動によりスリーブ(11
)をグリップ凹部(13a)中に挿入する。通常の(す
なわち、初期の)状態においては、第1移送ブロック(
13)を揺動させる作用をする揺動アーム(17)は上
昇した位置、すなわち伸長位置に保たれている。その後
、前述したローダー部において調時ベルト(4)により
移送されるスリーブ(11)がグリップ凹部(13a)
内に配置され、かつ同時に調時ベルト(4)がセンサー
(図示せず)からの信号により停止されたときに、脚部
(15)のフック用みぞの一方(15a)に挿入された
揺動アーム(17)がシリンダー(16)の作動により
下降され、すなわち引込められ、それにより第1移送ブ
ロック(13)をばね(14)の引張力に抗して下降さ
せ、次いで水平方向に保持することができる。この位置
において、■字形横断面を有する押込板(23)がシリ
ンダ(22)により作動してスリーブ(11)をグリッ
プ四部(13a)中に挿入する。押込板(23)のV字
形の横断面はスリーブをグリップ凹部中に正しく挿入す
るために有利である。
As shown in FIG. 2, a pushing plate (23) having a ■-shaped cross section and actuated by a cylinder (22) is inserted into the first transfer block (13) through a bracket (24).
) is fixed to the side of the frame (1) opposite to the frame (1). The push plate (23) has a sleeve (11) that is connected to the timing belt (4).
When the cylinder (22) is operated, the sleeve (11
) into the grip recess (13a). In normal (i.e., initial) conditions, the first transport block (
The swinging arm (17), which serves to swing the device 13), is kept in a raised or extended position. Thereafter, the sleeve (11) transferred by the timing belt (4) in the loader section described above is placed in the grip recess (13a).
and at the same time inserted into one of the hook grooves (15a) of the leg (15) when the timing belt (4) is stopped by a signal from a sensor (not shown). The arm (17) is lowered or retracted by actuation of the cylinder (16), thereby lowering the first transfer block (13) against the tension of the spring (14) and then holding it in a horizontal direction. be able to. In this position, a push-in plate (23) with a ■-shaped cross section is actuated by the cylinder (22) to insert the sleeve (11) into the grip quadrant (13a). The V-shaped cross section of the push-in plate (23) is advantageous for correct insertion of the sleeve into the grip recess.

次いで、揺動アーム(17)がシリンダー(16)によ
り上昇せしめられるにつれて、前述したように内部にス
リーブ(11)が挿入された第1移送ブロック(13)
かばね(14)の引張力により回転せしめられて所定角
度に傾斜せしめられる。この点において、スリーブ(1
1)内のICチップ(10)が電磁弁(20)の端部に
配置された制御ピン(20a)により第7図に示すよう
にブロックされる。次いて、揺動アーム(17)がセン
サー(図示せず)からの信号により脚部(15)のフッ
ク用みぞ(15a)から除去されたときに、第1移送ブ
ロック(13)を移送棒(9)に沿ってテスター(8)
の空の入口まで移動させることかできる。その後、制御
ピン(20a)か電磁弁(20)の作動により上昇せし
められてグリップ凹部(13a)を開く。その結果、ス
リーブ(11)内のICチ・ツブ(10)は自重により
テスター(8)内に入る。しかしながら、もしもICチ
・ツブ(10)がスリーブ(11)の内面にぴったりと
接触していれば、チップをテスター(8)中に完全に送
入することができない。このような不完全な送入を防止
するために、スリーブ(11)の上面と接触するように
カバープレート(19)の延長部に装着されたバイブレ
ータ−(21)が作動して、スリーブ(11)を振動さ
せるようになっている。したかって、スリーブ内のすべ
てのICチップをテスター(8)中に円滑に送入するこ
とができる。
Then, as the swinging arm (17) is raised by the cylinder (16), the first transfer block (13) with the sleeve (11) inserted therein as described above
It is rotated and tilted at a predetermined angle by the tension of the cover spring (14). In this respect, the sleeve (1
The IC chip (10) in 1) is blocked by a control pin (20a) placed at the end of the solenoid valve (20) as shown in FIG. Then, when the swing arm (17) is removed from the hook slot (15a) of the leg (15) by a signal from a sensor (not shown), the first transfer block (13) is moved to 9) Along the tester (8)
You can move it to an empty entrance. Thereafter, the control pin (20a) is raised by actuation of the solenoid valve (20) to open the grip recess (13a). As a result, the IC chip (10) inside the sleeve (11) enters the tester (8) due to its own weight. However, if the IC chip (10) is in tight contact with the inner surface of the sleeve (11), the chip cannot be completely introduced into the tester (8). To prevent such incomplete feeding, a vibrator (21) mounted on the extension of the cover plate (19) in contact with the upper surface of the sleeve (11) is actuated to ) is designed to vibrate. Therefore, all the IC chips in the sleeve can be smoothly fed into the tester (8).

スリーブ内のICチップかテスター(8)中こ送入され
た後、空のスリーブを保持する第1移送ブロック(13
)が移送棒(9)に沿って逆の方向に、フック用みぞ(
15b)を有する脚部(15)か第6図に一点鎖線で示
すよう1こ上昇した揺動アーム(17)の右側部分に配
置されるような位置まで移動せしめられる。次いで、揺
動アーム(17)はシリンダー(16)の作動により下
降せしめられ、それにより第1移送ブロック(13)を
その当初の水平位置までもどす。このとき、第1移送ブ
ロック(13)はエゼクター部に配置されている。
After the IC chip in the sleeve is fed into the tester (8), the first transfer block (13) holding the empty sleeve is moved.
) in the opposite direction along the transfer rod (9), the hook groove (
15b) is moved to a position where it is disposed on the right side of the swinging arm (17) which has been raised by one position as shown by the dashed line in FIG. The swinging arm (17) is then lowered by actuation of the cylinder (16), thereby returning the first transfer block (13) to its original horizontal position. At this time, the first transfer block (13) is placed in the ejector section.

第8図はエゼクター部を部分的に断面で示した斜視図で
あり、第9A図および第9B図はエゼクター部の作動を
示し、また第10図および第11図は第1移送ブロック
(13)の下方に配置されたエゼクタ−を示している。
FIG. 8 is a partially cross-sectional perspective view of the ejector section, FIGS. 9A and 9B illustrate the operation of the ejector section, and FIGS. 10 and 11 are views of the first transfer block (13). The ejector is shown below.

案内板(26)が固定された案内柱(27)が定置板(
25)の表面の側部に装着されている。案内柱(27)
の一方の側には、頂部に回転可能に装着された1対のロ
ーラー(28)を有するローラー支持テーブル(29)
が配置されている。
The guide post (27) to which the guide plate (26) is fixed is connected to the stationary plate (
25) is attached to the side of the surface. Guide pillar (27)
On one side of the is a roller support table (29) having a pair of rollers (28) rotatably mounted on the top.
is located.

ローラー支持テーブル(29)は、第8図に矢印で示し
たように、シリンダー(30)の作動により対向する両
方向に往復動させることができる。さらに、斜面を有す
るカムプレート(31)か案内板(26)と向き合う関
係にローラー支持テーブル(29)の頂部上に装着され
ている。
The roller support table (29) can be reciprocated in both opposing directions by actuation of the cylinder (30), as shown by the arrows in FIG. Additionally, a cam plate (31) having an inclined surface is mounted on the top of the roller support table (29) in facing relationship with the guide plate (26).

カムプレート(31)の斜面を常にローラー(28)の
一方に向って付勢させるために、カムプレート(31)
の下側部に引張ばね(32)が装着されている。それ故
に、ローラー支持テーブル(29)がシリンダー(30
)により往復動せしめられると、カムプレー)(31)
は、該カムプレートの斜面と案内板(26)との間に配
置されたローラー(28)によりローラー支持テーブル
(29)の移動方向に垂直な方向に移動せしめられる。
In order to always urge the slope of the cam plate (31) toward one side of the roller (28), the cam plate (31)
A tension spring (32) is attached to the lower side of the . Therefore, the roller support table (29) is connected to the cylinder (30
) is reciprocated by cam play) (31)
is moved in a direction perpendicular to the moving direction of the roller support table (29) by a roller (28) disposed between the slope of the cam plate and the guide plate (26).

さらに明確に述べると、カムプレートの斜面はカムプレ
ート(31)と案内板(26)との間の距離が漸次狭く
なるような形状を有しているので、定置案内板(26)
と移動可能なカムプレート(31)との間に配置された
ローラー(28)がローラー支持テーブル(29)の移
動により移動せしめられるときに、ローラー(28)が
前述した距離を広げ、それによりカムプレート(31)
を案内板(26)から離れるように移動することができ
る。
More specifically, since the slope of the cam plate has a shape such that the distance between the cam plate (31) and the guide plate (26) gradually narrows, the fixed guide plate (26)
and the movable cam plate (31), when the roller (28) is moved by the movement of the roller support table (29), the roller (28) widens the aforementioned distance and thereby the cam Plate (31)
can be moved away from the guide plate (26).

1対の支持棒(33)が固定された連結板(34)がカ
ムプレート(31)の一方の側に固定され、かつ1対の
案内レール(35)の間に往復動させることができ、そ
れにより支持バ(33)は第1移送ブロック(13)が
ら釈放された空のスリーブ(11)を受け取ることがで
きる。案内レール(35)は落下部に配置されており、
各々槍状に形成された桿から成っている。別の案内柱(
37)は定置板(25)の他の側に配置されている。一
対の案内桿(36)が案内柱(37)に固定され、がっ
スライダーブロック(38)を貫通している。スライダ
ーブロック(38)は連結板(39)によりローラー支
持テーブル(29)と連結され、したがって、ローラー
支持テーブル(29)の移動によりX内桿(36)に沿
って移動することができる。第1移送ブロック(13)
の細長い開口部(13b)内を移動可能なエゼクタ−(
18)は、連結片(40)を介してスライダーブロック
(38)と連結されている。それ故に、第1移送ブロッ
ク(13)が、フック用みぞ(15b)を有する脚部(
15)が第6図に一点鎖線で示す揺動アーム(17)の
右側に配置された位置まで移動され、次いで揺動アーム
(17)により水平方向に保持されると、空のスリーブ
(11)が第8図に示すように落下部に配置された案内
レール(35)の間に配置される。
A connecting plate (34) to which a pair of support rods (33) are fixed is fixed to one side of the cam plate (31) and can be reciprocated between a pair of guide rails (35); The support bar (33) can thereby receive the empty sleeve (11) released from the first transfer block (13). The guide rail (35) is arranged at the falling part,
Each consists of a spear-shaped rod. Another guidepost (
37) is arranged on the other side of the stationary plate (25). A pair of guide rods (36) are fixed to the guide column (37) and pass through the slider block (38). The slider block (38) is connected to the roller support table (29) by the connection plate (39), and therefore can be moved along the X inner rod (36) by movement of the roller support table (29). First transfer block (13)
an ejector (
18) is connected to the slider block (38) via a connecting piece (40). Therefore, the first transfer block (13) has a leg (
15) is moved to a position on the right side of the swinging arm (17) shown in FIG. are arranged between the guide rails (35) arranged in the falling part as shown in FIG.

そ′の後、案内桿(36)上に摺動することができるス
ライダーブロック(38)が、第1移送ブロック(13
)から空のスリーブを分離するためにシリンダー(30
)の作動により第9A図に示した位置から第9B図に示
した位置まで移動せしめられると、第1移送ブロック(
13)の細長い開口部(13b)内に配置されたエゼク
タ−(18)がスライダーブロック(38)と共に移動
せしめられ、それにより空のスリーブ(11)の一端部
を押す。その結果、空のスリーブが第1移送ブロック(
13)のグリップ凹部(13a)から除去され、かつ案
内レール(35)の間に落下する。それと同時に、連結
板(39)を介してスライダーブロック(38)と連結
されたローラー支持テーブル(29)もまた、スライダ
ーブロック(38)の移動方向と同じ方向に移動せしめ
られる。それ故に、ローラー支持テーブル(29)の頂
部に回転可能に装着されたローラー(28)が案内板(
26)の案内により移動せしめられ、それによりカムプ
レート(31)の斜面を押す。その結果、カムプレート
(31)はローラー支持テーブル(29)に垂直な方向
に移動せしめられ、それにより第1移送ブロック(13
)のグリップ凹部(13a)から除去された空のスリー
ブを支持バー(33)上に配置することができる。次い
で、シリンダー(30)のピストン棒の引込み時にロー
ラー支持テーブル(29)が前記の順序と逆の順序で旧
位置に復帰するときに、カムプレート(31)が該カム
プレートの下側に装着された引張ばね(32)により初
期の位置にもどされる。このときに、案内レール(35
)の間に保持された空のスリーブ(11)は支持バー(
33)と−緒に移動せず、支持バー(33)の除去の際
にその自重により次の落下部中に落下する。
Thereafter, a slider block (38), which can slide on the guide rod (36), moves the first transfer block (13)
) to separate the empty sleeve from the cylinder (30
) is moved from the position shown in Figure 9A to the position shown in Figure 9B, the first transfer block (
An ejector (18) placed in the elongated opening (13b) of 13) is moved together with the slider block (38), thereby pushing against one end of the empty sleeve (11). As a result, the empty sleeve is placed in the first transfer block (
13) from the grip recess (13a) and fall between the guide rails (35). At the same time, the roller support table (29) connected to the slider block (38) via the connection plate (39) is also moved in the same direction as the slider block (38). Therefore, the roller (28) rotatably mounted on the top of the roller support table (29) is connected to the guide plate (
26), thereby pushing the slope of the cam plate (31). As a result, the cam plate (31) is moved in a direction perpendicular to the roller support table (29), thereby causing the first transfer block (13
The empty sleeve removed from the grip recess (13a) of ) can be placed on the support bar (33). Then, when the roller support table (29) returns to the old position in the reverse order to the above-mentioned order when the piston rod of the cylinder (30) is retracted, the cam plate (31) is attached to the underside of the cam plate. It is returned to its initial position by a tension spring (32). At this time, the guide rail (35
The empty sleeve (11) held between the support bars (
33), and when the support bar (33) is removed, it falls into the next falling part due to its own weight.

第12図は落下部の平面図、第13図は該落下部の側面
図、第14図は落下部の案内レールの下部に配置された
係合部材の斜視図である。
FIG. 12 is a plan view of the falling part, FIG. 13 is a side view of the falling part, and FIG. 14 is a perspective view of an engaging member arranged at the lower part of the guide rail of the falling part.

1対の第1シリンダー(42)が、フレーム(1)の側
壁部に固定された定置板(41)の内側に装着されてい
る。シリコン板(43)が固定された押込板(44)が
、第1シリンダー(42)の前端部に第1シリンダー(
42)の作動により前進しかつ引っこめることができる
ように取りけられている。押込板(44)に固定された
シリコン板(43)は、押込板(44)が第1シリンダ
ー(42)の作動によりスリーブ(11)を支持すると
きに、スリーブ(11)が押込板(44)により変形す
ることを阻止する。各々が前端部に係合棒(45)を有
する1対の第2シリンダー(46)が、第1シリンダ(
42)の外側に装着されている。係合棒(45)は第2
シリンダー(46)の作動により伸縮し、かつその伸長
位置において最も下側のスリーブ(11)を支持する。
A pair of first cylinders (42) are mounted inside a stationary plate (41) fixed to the side wall of the frame (1). A pushing plate (44) to which a silicon plate (43) is fixed is attached to the front end of the first cylinder (42).
42) so that it can be moved forward and retracted by actuation. The silicon plate (43) fixed to the pushing plate (44) is configured so that when the pushing plate (44) supports the sleeve (11) by the operation of the first cylinder (42), the sleeve (11) is fixed to the pushing plate (44). ) to prevent deformation. A pair of second cylinders (46), each having an engagement rod (45) at its front end, connect the first cylinder (
42). The engagement rod (45) is the second
It expands and contracts by actuation of the cylinder (46) and supports the lowermost sleeve (11) in its expanded position.

さらに、ストッパー(47)が第1移送ブロック(13
)と反対のフレーム(1)の側、すなわちスリーブが落
下部に積み重ねられるときに定置板(41)に対して一
定の距離だけ隔置されるように保持しながらスリーブを
案内する案内レール(35)の一方に隣接する側に装着
されている。第14図に示すように、所定位置に斜面か
形成された係合部材(48)か案内レール(35)の下
部にねしく49)により取り付けられ、それにより落下
部に積み重ねられた最も下側のスリーブ(11)を次の
アンローダー部にさらに容易に供給することが可能にな
る。
Further, the stopper (47) is connected to the first transfer block (13).
) and the side of the frame (1) opposite to the guide rail (35) that guides the sleeve while holding it at a constant distance from the stationary plate (41) when the sleeve is stacked on the drop section. ) is attached to the side adjacent to one side. As shown in FIG. 14, the engagement member (48) formed with a slope at a predetermined position is attached to the lower part of the guide rail (35) by a thread 49), and thereby the lowest part stacked on the falling part This makes it possible to more easily supply the sleeve (11) to the next unloader section.

第13図に示すように、前述のエゼクター部から送られ
たスリーブか案内レール(35)の間に積み重ねられた
状態では、第1シリンダー(42)は引っ込められた状
態に保たれ、一方、第2シリンダー(45)は係合棒(
45)により最も下側のスリーブを支持するように伸長
した状態に保たれている。
As shown in FIG. 13, in the stacked state between the sleeves fed from the ejector section mentioned above and the guide rails (35), the first cylinder (42) is kept in a retracted state, while the first cylinder (42) The second cylinder (45) is an engagement rod (
45) is maintained in an extended state to support the lowermost sleeve.

その後、最も下側のスリーブ(11)をアンローダー部
に送入しようとするときには、第1シリンダー(42)
が先ず伸長され、それにより押込板(44)に固定され
たシリコン板(43)が第13図に一点鎖線で示したよ
うに最も下側のスリーブを除いた上側のスリーブを適度
に押さえつける。その後、第2シリンダー(46)の延
長した係合棒(45)が引っ込められて支持された最も
下側のスリーブ(11)を釈放j7、それにより該スリ
ーブは自由に落下して次の処理に付することができる。
Thereafter, when the lowermost sleeve (11) is to be fed into the unloader section, the first cylinder (42)
is first expanded, so that the silicone plate (43) fixed to the pusher plate (44) appropriately presses down the upper sleeves except for the lowermost one, as shown by the dashed line in FIG. Thereafter, the extended engagement rod (45) of the second cylinder (46) is retracted to release the lowermost supported sleeve (11), which then falls freely for further processing. can be attached.

このたき、スリーブは、第14図に示すような係合部材
(48)の斜面のために、傾斜した状態で落下する。
At this time, the sleeve falls in an inclined state due to the slope of the engaging member (48) as shown in FIG.

第15図はアンローダー部を部分的に断面で示した斜視
図、第16図および第17図は構成部分を部分的に破断
して示したアンローダー部の側面図および平面図、第1
8図は第17図をD−D線に沿って裁断した断面図、第
19図は空のスリーブがテスターにより分類されたIC
チップを受け入れるためにアンローダー部の第2移送ブ
ロックにより移動される状態を示す。
FIG. 15 is a perspective view showing the unloader part partially in cross section, FIGS. 16 and 17 are side views and plan views of the unloader part showing the components partially cut away,
Figure 8 is a cross-sectional view of Figure 17 taken along the line D-D, and Figure 19 shows the ICs in which the empty sleeves have been classified by the tester.
FIG. 6 shows a state in which the second transfer block of the unloader section is moved to receive chips.

1対の案内棒(52)によりシリンダー(51)と連結
されたスリーブホルダー(53)が、案内面(50a)
を存しかつスリーブ(ユ1)を掴む第2移送ブロック(
50)の頂部に装着されている。スリーブ(11)と接
触することができるセンサーピン(54)がスリーブホ
ルダ(53)の大向に装着され、かつ通常、ばね(55
)により下方に付勢せしめられていると共に、スリーブ
ホルダー(53)の下側部に形成された四部(53a)
を通して下方に突出せしめられている。そのうえ、スリ
ーブホルダー(53)の頂部上には、立設されているセ
ンサーピン(54)を介してスリーブ(11)の挿入を
検出するセンサー(56)と、案内レール(35)に取
り付けられた係合部材(48)により傾斜状態で落下す
るスリーブを案内するためのV字形みぞ(57a)を有
する係合ブロック(57)とが装着されている。
A sleeve holder (53) connected to the cylinder (51) by a pair of guide rods (52) is connected to the guide surface (50a).
a second transfer block (
50). A sensor pin (54) that can come into contact with the sleeve (11) is mounted on the opposite side of the sleeve holder (53) and is normally attached to a spring (55).
) is urged downward by the four parts (53a) formed on the lower side of the sleeve holder (53).
It is made to protrude downward through the hole. Moreover, on the top of the sleeve holder (53), there is a sensor (56) that detects the insertion of the sleeve (11) via a sensor pin (54) provided upright, and a sensor (56) that is attached to the guide rail (35). An engagement block (57) having a V-shaped groove (57a) for guiding the sleeve falling in an inclined state by the engagement member (48) is attached.

キャリッジ(58)は、第16図に示すように第2移送
ブロック(50)の下側に固定され、かつ1対の移送棒
(59)と摺動自在に係合され、それにより第2移送ブ
ロック(50)を移送棒(59)に沿って往復動させる
ことができる。水平面に対して約30°〜40″の角度
を有する傾斜板(60)が第2移送ブロック(50)の
一方の側に装着されている。シリンダー(62)と連結
されたV字形の押込板(61)もまた、第2移送ブロッ
ク(50)と対向する側の傾斜板(60)の端部に固定
されている。センサー(63)が固定された定置板(6
4)は、押込板(61)の内面に近接して装着されてい
る。
The carriage (58) is fixed to the lower side of the second transfer block (50) as shown in FIG. The block (50) can be reciprocated along the transfer rod (59). An inclined plate (60) having an angle of about 30° to 40″ with respect to the horizontal plane is mounted on one side of the second transfer block (50). A V-shaped pushing plate connected to the cylinder (62) (61) is also fixed to the end of the inclined plate (60) on the side facing the second transfer block (50).The stationary plate (6
4) is mounted close to the inner surface of the pushing plate (61).

第2移送ブロック(50)の一方の側には、スリーブ(
11)を押込板(61)により給送する間にスリーブ(
11)を第2移送ブロック(50)中に正確に挿入する
ための案内面(50a)が形成されている。センサー(
63)は、空のスリーブかアンローダー部に送られると
きに、テスター(8)に送られないでスリーブ内に残存
しているICチップ(10)を検出するために、押込板
(61)に近い位置で定置板(64)に装着されている
。さらに、傾斜板(60)が水平面に対して30°〜4
0’の角度をなして配置されているので、空のスリーブ
が第2移送ブロック(50)により移送され、次いでテ
スター(8)により分類されたチップが充填されるとき
に、ICチップを傾斜板の傾斜のために空のスリーブ(
11)中に容易に送入することかできる。
On one side of the second transfer block (50), a sleeve (
11) by the pushing plate (61), the sleeve (
11) into the second transfer block (50) is formed with a guide surface (50a). sensor(
63) is attached to the pushing plate (61) in order to detect the IC chip (10) remaining in the sleeve without being sent to the tester (8) when the empty sleeve is sent to the unloader section. It is attached to a stationary plate (64) at a nearby position. Furthermore, the inclined plate (60) is 30° to 4° with respect to the horizontal plane.
0' angle so that when the empty sleeve is transferred by the second transfer block (50) and then filled with sorted chips by the tester (8), the IC chips are placed on the inclined plate. Empty sleeve for inclination (
11) Can be easily introduced into the container.

落下部により自由に落下する最も下側の空のスリ・−ブ
は、第2移送ブロック(50)に装着された係合ブロッ
ク(57)のV字形みぞ(57a)の案内により傾斜板
(60)上に配置され、かつ該スリーブの一端部は押込
板(61)と係合される。このとき、スリーブホルダー
(53)は上昇した位置に保持されている。この位置に
おいては、案内棒(52)を介してスリーブホルダー(
53)と連結されたシリンダ(51)のロッドは伸長せ
しめられており、スリーブホルダー(53)を第2移送
ブロック(50)の上面から引き離している。
The lowermost empty sleeve, which falls freely by the falling part, is guided by the V-shaped groove (57a) of the engagement block (57) attached to the second transfer block (50) to the inclined plate (60). ), and one end of the sleeve is engaged with the pusher plate (61). At this time, the sleeve holder (53) is held in an elevated position. In this position, the sleeve holder (
The rod of the cylinder (51) connected to the sleeve holder (53) is extended, pulling the sleeve holder (53) away from the upper surface of the second transfer block (50).

スリーブ(11)が傾斜板(60)上に載置され、かつ
その一端部が押込板(61)と係合された状態では、ソ
ーター部分によりテスター(8)中に入らないでスリー
ブ内に残存しているICチップ(10)がある場合には
このIcチップは傾斜板(60)により傾斜したスリー
ブの下端部に移動される。したがって、押込板(6ユ)
に近い位置で定置板(64)に固定されたセンサー(6
3)かICチップ(10)を検出したときには、センサ
ー(63)がシリンダー(62)の作動を停止し、かつ
作業員に例えばブザーまたは任意のその他の信号により
ICチップが残存していることを知らせる。
When the sleeve (11) is placed on the inclined plate (60) and one end thereof is engaged with the push plate (61), the sorter portion does not enter the tester (8) and remains inside the sleeve. If there is an IC chip (10) that is tilted, this IC chip is moved to the lower end of the sloped sleeve by the slope plate (60). Therefore, the push plate (6 units)
The sensor (6) fixed to the stationary plate (64) at a position close to
3) When detecting an IC chip (10), the sensor (63) deactivates the cylinder (62) and alerts the operator, e.g. by a buzzer or any other signal, that an IC chip remains. Inform.

スリーブ内にICチップが存在し7ていないときには、
第16図に実線で示したように、シリンダー(62)が
作動して押込板(61)を矢印の方向に移動し、それに
より第2移送ブロック(50)に形成された案内面(5
0a)の案内によりスリーブを第2移送ブロック(50
)中に挿入する。スリーブ(11)が第2移送ブロック
(50)中に挿入されたときに、スリーブホルダー(5
3)がシリンダー(51)により下降せしめられてスリ
ーブを掴み、かつ同時に下方に突出するようにスリーブ
ホルダー(53)内に装着されたセンサーピン(54)
がスリーブ(11)に向かって移動する。スリーブ(1
1)が、第15図に示すように、そのみぞが上方に向い
た状態で配置された場合には、所定の限度内で下降する
センサーピン(54)がスリーブのみぞ内に配置され、
それによりスリーブと接触せず、従ってセンサー(56
)を動作させることができず、それによりその後の段階
を実施することができる。しかしながら、第15図の(
a)、(b)および(c)に示すように、スリーブ(1
1)がセンサーピン(54)の下方にそのみぞが下方に
または横方向に向いた状態で配置されたときには、セン
サーピン(54)がスリーブ(11)の上面と接触し、
その後コイルばね(55)の偏位力に抗して上昇してス
リーブホルダー(53)の頂部に装着されたセンサー(
56)を動作させる。センサー(56)はスリーブの配
置の誤りを検出したときにはアンローダー部の作動を停
止する信号を出力し、かつ作業員に例えばセンサーと接
続された指示ランプまたはブザーによりこのような配置
の誤りを知らせる。
When there is no IC chip inside the sleeve,
As shown by the solid line in FIG. 16, the cylinder (62) operates to move the pushing plate (61) in the direction of the arrow, thereby forming the guide surface (5) on the second transfer block (50).
0a) guides the sleeve to the second transfer block (50
). When the sleeve (11) is inserted into the second transfer block (50), the sleeve holder (5
3) is lowered by the cylinder (51) and grips the sleeve, and at the same time, the sensor pin (54) is installed in the sleeve holder (53) so as to protrude downward.
moves towards the sleeve (11). Sleeve (1
1) is arranged with its groove facing upward, as shown in FIG.
Thereby there is no contact with the sleeve and therefore the sensor (56
) so that subsequent steps can be performed. However, in Figure 15 (
As shown in a), (b) and (c), the sleeve (1
1) is placed below the sensor pin (54) with its groove facing downward or laterally, the sensor pin (54) comes into contact with the upper surface of the sleeve (11),
Thereafter, the sensor (
56). When the sensor (56) detects an error in the placement of the sleeve, it outputs a signal to stop the operation of the unloader section and notifies the operator of such an error in placement, for example, by means of an indicator lamp or a buzzer connected to the sensor. .

スリーブ(11)が第19図に示すように第2移送ブロ
ック(50)中に正常に挿入されかつスリーブホルダー
(53)により掴まれると、第2移送ブロック(50)
に固定されたキャリッジ(58)を移送棒(59)に沿
ってテスタ(8)の複数の出口まで移動することができ
、それによりスリーブ(11)はテスター(8)により
分類されたICチップ(10)を受け入れることができ
る。テスターの出口まで移動せしめられる第2移送ブロ
ック(50)は、分類されたICチップの量の検出によ
り選択される出口、すなわち1個のスリーブに収納可能
な割合まで試験されたICチップを収納する出口におい
て停止される。その後、テスター(8)の出口の上方に
設けられた電磁弁(65)が動作して、試験されたチッ
プを空気圧力によりスリーブ内に配置する。スリーブ内
にICチップが十分に収納された後、第2移送ブロック
(50)は、移送棒(59)の下方に配置されかつ仕切
!!(66a)を有する保管箱(66)まで移動せしめ
られ、それによりICチップをそれらの特性により分類
しかつ保管することができる。
When the sleeve (11) is successfully inserted into the second transfer block (50) and gripped by the sleeve holder (53) as shown in FIG. 19, the second transfer block (50)
A carriage (58) fixed to can be moved along a transfer rod (59) to a plurality of outlets of the tester (8), whereby the sleeve (11) carries the IC chips ( 10) can be accepted. The second transfer block (50) that is moved to the outlet of the tester stores the IC chips that have been tested to the outlet selected by detecting the amount of classified IC chips, that is, the proportion that can be stored in one sleeve. It is stopped at the exit. A solenoid valve (65) located above the outlet of the tester (8) is then actuated to place the tested chip into the sleeve by air pressure. After the IC chip is fully accommodated in the sleeve, the second transfer block (50) is placed below the transfer rod (59) and the partition! ! (66a) to a storage box (66), by means of which the IC chips can be sorted and stored according to their characteristics.

第2移送ブロック(50)が保管箱(66)において停
止されたときに、スリーブホルダー(53)がシリンダ
ー(51)の作動により上昇せしめられて掴んだスリー
ブを釈放し、それによりこの再充填されたスリーブをそ
の自重により保管箱(66)中に落下させてその内部に
保管することができる。
When the second transfer block (50) is stopped in the storage box (66), the sleeve holder (53) is raised by actuation of the cylinder (51) to release the gripped sleeve, thereby allowing this refilling to occur. The sleeve can be dropped into the storage box (66) by its own weight and stored therein.

上記の説明は、収納箱(2)内にランダムに配置された
スリーブ(11)内のICチップ(10)をローダー部
およびソーター部を通してテスター(8)に自動的に送
り、空のスリーブをエゼクター部および落下部を通して
アンローダー部に送り、空のスリーブ内にテスターによ
り分類されたICチップを再充填し、かつチップが再充
填されたスリーブを保管箱内に保管する諸工程を含む作
業の一サイクルである。
The above explanation automatically feeds the IC chips (10) in the sleeves (11) randomly arranged in the storage box (2) to the tester (8) through the loader section and the sorter section, and transfers the empty sleeves to the ejector. The process includes the steps of sending the IC chips through the section and dropping section to the unloader section, refilling the empty sleeves with IC chips classified by the tester, and storing the refilled sleeves in the storage box. It's a cycle.

以上、本発明をその好ましい実施例について特に示しか
つ記載したが、当業者には、本発明の精神および範囲か
ら逸脱することなく、形態および細部の種々の変更およ
び変型を実施することができることは理解されよう。
While the invention has been particularly shown and described with respect to preferred embodiments thereof, it will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications in form and detail can be made therein without departing from the spirit and scope of the invention. be understood.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明による装置の概略立面図、第2図は該装
置の概略側面図、 第3図は第1図に示した装置の一部分を部分的に断面で
示した拡大部分図、 第4図は第3図において円で囲んだ一部分子AJの拡大
図、 第5図は第4図に示した部分の斜視図、第6図は第2図
に示した一部分子BJのソーター部の拡大斜視図、 第7図は第6図に示したソーター部の断面図、第8図は
エゼクター部の斜視図、 第9A図は作動前のエゼクター部の平面図、第9B図は
作動後のエゼクター部を示した第9A図と同様な図、 第10図は下方にエゼクタ−を配置した第1移送ブロッ
クの縦断面図、 第11図は第10図に示した第1移送ブロックの平面図
、 第12図は係合棒により支持されたスリーブを示した落
下部の平面図、 第13図は第12図に示した落下部の側面図、第14図
は係合部分を示す第2図に示した一部分子EJの拡大斜
視図、 第15図は第19図に示した一部分「C」を部分的に断
面で示した拡大斜視図、 第16図は構成部分を部分的に破断して示したアンロー
ダー部の側面図、 第17図は第16図に示したアンローダー部の平面図、 第18図は第17図をD−D線に沿って裁断した断面図
、そして 第19図はアンローダー部の第2移送ブロック内に挿入
されたスリーブを移送棒に沿ってテスターにより分類さ
れたICチップを受け入れる位置まで移動させた状態を
示す説明図である。 (1)はフレーム、(2)は収納箱、(4)は調時ベル
ト、(5)はスリーブホルダー(6)、(7)は整列板
、(8)は工Cテスタ(9)は移送棒、(10)はIC
チップ、(11)はスリーブ、(12)はキャリッジ、
(13)は第1移送ブロック、(13a)はグリップ凹
部、(14)はばね、(15)は脚部、(15a)、(
15b)はフック用みぞ、(16)はシリンダー (1
7)は揺動アーム、(18)はエゼクタ−(19)はカ
バープレート、(20)は電磁弁、(20a)は制御ピ
ン、(21)はバイブレータ−(22)はシリンダー 
(23)は押込板、(25)は定置板、(28)はロー
ラー (29)はローラー支持テーブル、(31)はカ
ムプレート、(32)はばね、(33)は支持バー (
34)は連結板、(35)は案内レール、(38)はス
ライダーブロック、(39)は連結板、(40)は連結
片、(41)は定置板、(42)は第1シリンダー (
43)はシリコン板、(44)は押込板、(45)は係
合棒、(46)は第2シリンダー (48)は係合部材
、(50)は第2移送ブロック、(52)は案内棒、(
53)はスリーブホルダー (54)はセンサーピン、
(55)はばね、(56)はセンサー (57)は係合
ブロック、(57a)はV字形みぞ、(58)はキャリ
ッジ、(59)は移送棒、(60)は傾斜板、(61)
は押込板、(63)はセンサー (64)は定置板、(
65)は電磁弁、(66)は保管箱。 6.1 6 4 8 9 b ba
1 is a schematic elevational view of a device according to the invention; FIG. 2 is a schematic side view of the device; FIG. 3 is an enlarged partial view, partially in section, of a portion of the device shown in FIG. 1; Fig. 4 is an enlarged view of the partial molecule AJ circled in Fig. 3, Fig. 5 is a perspective view of the part shown in Fig. 4, and Fig. 6 is a sorter section of the partial molecule BJ shown in Fig. 2. FIG. 7 is a sectional view of the sorter section shown in FIG. 6, FIG. 8 is a perspective view of the ejector section, FIG. 9A is a plan view of the ejector section before operation, and FIG. 9B is after operation. Figure 10 is a longitudinal cross-sectional view of the first transfer block with the ejector located below, Figure 11 is a plan view of the first transfer block shown in Figure 10. Fig. 12 is a plan view of the falling part showing the sleeve supported by the engagement rod, Fig. 13 is a side view of the falling part shown in Fig. 12, and Fig. 14 is a second view showing the engaging part. FIG. 15 is an enlarged perspective view showing a partial cross-section of part "C" shown in FIG. 19; FIG. 17 is a plan view of the unloader section shown in FIG. 16, FIG. 18 is a cross-sectional view of FIG. 17 taken along line D-D, and FIG. The figure is an explanatory diagram showing a state in which the sleeve inserted into the second transfer block of the unloader section has been moved along the transfer rod to a position to receive IC chips classified by the tester. (1) is the frame, (2) is the storage box, (4) is the timing belt, (5) is the sleeve holder (6), (7) is the alignment plate, (8) is the engineering C tester (9) is the transport Bar, (10) is IC
Chip, (11) is sleeve, (12) is carriage,
(13) is the first transfer block, (13a) is the grip recess, (14) is the spring, (15) is the leg, (15a), (
15b) is the hook groove, (16) is the cylinder (1
7) is the swing arm, (18) is the ejector, (19) is the cover plate, (20) is the solenoid valve, (20a) is the control pin, (21) is the vibrator, and (22) is the cylinder.
(23) is a push plate, (25) is a stationary plate, (28) is a roller, (29) is a roller support table, (31) is a cam plate, (32) is a spring, (33) is a support bar (
34) is the connecting plate, (35) is the guide rail, (38) is the slider block, (39) is the connecting plate, (40) is the connecting piece, (41) is the stationary plate, (42) is the first cylinder (
43) is a silicon plate, (44) is a push plate, (45) is an engagement rod, (46) is a second cylinder, (48) is an engagement member, (50) is a second transfer block, and (52) is a guide. rod,(
53) is the sleeve holder (54) is the sensor pin,
(55) is a spring, (56) is a sensor, (57) is an engagement block, (57a) is a V-shaped groove, (58) is a carriage, (59) is a transfer rod, (60) is an inclined plate, (61)
is a push-in plate, (63) is a sensor, (64) is a stationary plate, (
65) is a solenoid valve, and (66) is a storage box. 6.1 6 4 8 9 b ba

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)両方共にフレーム(1)に固定された収納箱(2
)およびブラケットの間に設けられた調時ベルト(4)
と、スリーブ(11)を支持しかつ搬送するために前記
調時ベルト(4)上に等間隔に装着されたスリーブホル
ダー(5)と、固定された板(3)に固着された第1整
列板(6)および第2整列板(7)とを含むローダー部
と、 フック用みぞ(15a,15b)が形成された一体に構
成された脚部(15)を有し、かつスリーブを掴むため
のグリップ凹部(13a)を有する第1移送ブロック(
13)と、該第1移送ブロック(13)の往復動を案内
する移送棒(9)と、該移送棒に沿って移動可能なキャ
リッジ(12)と、前記第1移送ブロック(13)に固
着された電磁弁(20)と、前記第1移送ブロック(1
3)を上昇させかつ下降させる揺動アーム(17)と、
スリーブを前記グリップ凹部(13a)中に挿入する押
込板(23)とを含むソーター部と、 1対のローラー(28)を有しかつ定置板 (25)に装着されたローラー支持テーブル(29)と
、前記ローラー(28)により移動可能なカムプレート
(31)と、連結板(34)により前記カムプレートと
連結された支持バー(33)と、連結板(39)により
前記ローラー支持テーブルと連結されたスライダーブロ
ック(38)と、連結片(40)を介して前記スライダ
ーブロックと連結されたエゼクター(18)とを含むエ
ゼクター部と、 1対の案内レール(35)と、定置板(41)に装着さ
れかつ各々がシリコン板(43)および押込板(44)
を有する1対の第1シリンダー(42)と、該第1シリ
ンダーの外側に配置されかつ各々が係合棒(45)を有
する別の1対の第2シリンダー(46)とを含む落下部
と、空のスリーブを掴みかつ移送する第2移送ブロック
(50)と、該第2移送ブロックを貫通する案内棒(5
2)と連結されたスリーブホルダー(53)と、該スリ
ーブホルダー(53)内に配置されかつばね(55)に
より常時下方に偏位せしめられているセンサーピン(5
4)と、該センサーピンを介してスリーブの挿入を検出
するセンサー(56)と、スリーブを前記第2移送ブロ
ック(50)中に挿入する押込板(61)とを含むアン
ローダー部 とを備え、それによりICチップ(10)が充填された
スリーブ(11)が前記収納箱(2)内に配置されたと
きにスリーブが前記ローダー部を通して前記ソーター部
に送られ、それによりICチップを前記テスター(8)
に送り、かつ前記ソーター部の所定位置に達した空のス
リーブが前記エゼクター部により前記落下部まで移送さ
れ、次いでICチップが前記テスター(8)により分類
されたときに空のスリーブが試験されたICチップを受
け入れ、かつその後アンローダー部において分類されか
つ保管箱(66)内に保管される、ICテスターのため
にスリーブを積み降ろしするための装置。 (2)前記ローダー部の調時ベルト(4)上の前記スリ
ーブホルダー(5)の各々の高さが、前記第1整列板(
6)および第2整列板(7)の高さよりも距離(t)だ
け高くしてあり、それによりスリーブが所定の状態で前
記スリーブホルダーにより支持されていないときにスリ
ーブがその自重により前記収納箱(2)の中に落下する
ことができる請求項1記載の装置。 (3)前記押込板(23)が、前記第1移送ブロック(
13)と向き合って配置され、かつ前記調時ベルト(4
)により給送されたスリーブ(11)を前記第1移送ブ
ロックのグリップ凹部(13a)中に挿入するために断
面V字形を有するものである請求項1記載の装置。 (4)前記ソーター部の第1移送ブロック(13)の頂
部に装着された前記電磁弁(20)がその下端部に制御
ピン(20a)を有し、該制御ピンがスリーブ(11)
内のICチップ(10)の前記テスター(8)への給送
を制御するために前記グリップ凹部(13a)内に伸長
せしめられ、かつ該グリップ凹部から引込められる請求
項1記載の装置。 (5)前記ソーター部がさらにカバープレート(19)
の一方の側に装着されたバイブレーター(21)を備え
、該バイブレーターが前記電磁弁(20)の制御ピン(
20a)の引込み時から所定の時間経過後に作動せしめ
られる請求項4記載の装置。 (6)前記揺動アーム(17)が前記第1移送ブロック
(13)の下側部分に固着された前記脚部(15)のフ
ック用みぞ(15a,15b)中に選択的に挿入されて
、前記第1移送ブロック(13)を上昇または下降させ
る請求項1記載の装置。 (7)前記ソーター部がさらに前記第1移送ブロック(
13)と前記キャリッジ(12)との間に配置されたば
ね(14)を備え、それにより前記第1移送ブロックを
常に上昇した位置に維持することができる請求項1記載
の装置。 (8)前記落下部の前記案内レール(35)が、各々槍
形に形成された桿からなる請求項1記載の装置。 (9)前記落下部がさらに、傾斜面を有しかつ前記案内
レール(35)の下側部分に取り付けられた係合部材(
48)を備え、前記アンローダー部がさらに、前記セン
サー(56)の上方に配置され、かつ自重により落下す
るスリーブを前記アンローダー部まで傾斜して摺動可能
ならしめるように傾斜して形成されたV字形みぞ(57
a)をその先端部に有する係合ブロックを備えている請
求項1記載の装置。 (10)前記アンローダー部がさらに、傾斜板(60)
と、該傾斜板(60)に平行にかつ前記押込板(61)
に近接して配置された定置板(64)と、空のスリーブ
内のICチップの存在を検出するために前記定置板(6
4)に固定されたセンサー(63)とを備えている請求
項1記載の装置。
[Claims] (1) Storage box (2) both fixed to frame (1)
) and the timing belt (4) provided between the bracket
a sleeve holder (5) mounted at equal intervals on the timing belt (4) for supporting and conveying the sleeve (11); and a first alignment fixed to a fixed plate (3). a loader part comprising a plate (6) and a second alignment plate (7); and integrally constructed legs (15) in which hook grooves (15a, 15b) are formed and for gripping the sleeve. a first transfer block (13a) having a grip recess (13a);
13), a transfer rod (9) that guides the reciprocating movement of the first transfer block (13), a carriage (12) movable along the transfer rod, and a carriage (12) fixed to the first transfer block (13). the electromagnetic valve (20) and the first transfer block (1
3) a swinging arm (17) for raising and lowering the
a sorter section including a push plate (23) for inserting the sleeve into the grip recess (13a); a roller support table (29) having a pair of rollers (28) and mounted on the stationary plate (25); a cam plate (31) movable by the roller (28); a support bar (33) connected to the cam plate by a connection plate (34); and a support bar (33) connected to the roller support table by a connection plate (39). an ejector section including a slider block (38) that is connected to the slider block (38), an ejector (18) connected to the slider block via a connecting piece (40), a pair of guide rails (35), and a stationary plate (41). and each has a silicon plate (43) and a push plate (44).
a falling part including a pair of first cylinders (42) having the following: and another pair of second cylinders (46) disposed outside the first cylinders and each having an engaging rod (45); , a second transfer block (50) for gripping and transferring empty sleeves, and a guide rod (50) passing through the second transfer block.
a sleeve holder (53) connected to the sleeve holder (53), and a sensor pin (5) disposed within the sleeve holder (53) and constantly biased downward by a spring (55).
4), an unloader section including a sensor (56) for detecting insertion of the sleeve through the sensor pin, and a pushing plate (61) for inserting the sleeve into the second transfer block (50). , whereby when the sleeve (11) filled with IC chips (10) is placed in the storage box (2), the sleeve is sent through the loader section to the sorter section, thereby transferring the IC chips to the tester. (8)
and the empty sleeves that reached a predetermined position in the sorter section were transferred to the dropping section by the ejector section, and then the empty sleeves were tested when the IC chips were sorted by the tester (8). A device for loading and unloading sleeves for IC testers, which accepts IC chips and is subsequently sorted and stored in storage boxes (66) in the unloader section. (2) The height of each of the sleeve holders (5) on the timing belt (4) of the loader section is such that the first alignment plate (
6) and a distance (t) higher than the height of the second alignment plate (7), so that when the sleeve is not supported by the sleeve holder in a predetermined state, the sleeve collapses into the storage box due to its own weight. 2. The device of claim 1, wherein the device is capable of falling into (2). (3) The pushing plate (23) is connected to the first transfer block (
13), and is arranged facing the timing belt (4).
2. Device according to claim 1, characterized in that it has a V-shaped cross-section for inserting the sleeve (11) fed by the sleeve (11) into the gripping recess (13a) of the first transfer block. (4) The solenoid valve (20) mounted on the top of the first transfer block (13) of the sorter section has a control pin (20a) at its lower end, and the control pin is connected to the sleeve (11).
2. The device of claim 1, wherein the device is extendable into and retracted from the grip recess (13a) for controlling the feeding of an IC chip (10) therein to the tester (8). (5) The sorter section further includes a cover plate (19)
includes a vibrator (21) mounted on one side of the solenoid valve (20), the vibrator being connected to the control pin (20) of the solenoid valve (20).
5. The device according to claim 4, wherein the device is activated after a predetermined period of time has elapsed from the retraction of the device 20a). (6) The swing arm (17) is selectively inserted into the hook grooves (15a, 15b) of the leg (15) fixed to the lower part of the first transfer block (13). , the device for raising or lowering the first transfer block (13). (7) The sorter section further includes the first transfer block (
13) and said carriage (12), comprising a spring (14) arranged between said first transfer block (13) and said carriage (12), by means of which said first transfer block can be maintained at all times in a raised position. 8. The device according to claim 1, wherein the guide rails (35) of the falling portion each consist of a lance-shaped rod. (9) The falling portion further includes an engaging member (
48), and the unloader part is further arranged above the sensor (56) and is formed to be inclined so that the sleeve that falls due to its own weight can be tilted and slid to the unloader part. V-shaped groove (57
2. The device of claim 1, further comprising an engagement block having a) at its distal end. (10) The unloader section further includes an inclined plate (60)
and parallel to the inclined plate (60) and the pushing plate (61).
a stationary plate (64) disposed in close proximity to said stationary plate (64) for detecting the presence of an IC chip within an empty sleeve;
4) A sensor (63) fixed to the device.
JP2221388A 1989-08-31 1990-08-24 Device for loading and unloading sleeves for IC testers Expired - Lifetime JPH0645406B2 (en)

Applications Claiming Priority (12)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR12565 1989-08-31
KR1019890012565A KR910005377A (en) 1989-08-31 1989-08-31 Automatic device for separating, leveling and dropping sleeves
KR15506 1989-10-25
KR1019890015372A KR960015559B1 (en) 1989-10-25 1989-10-25 Sleeve loading apparatus of ic tester
KR2019890015506U KR930008125Y1 (en) 1989-10-25 1989-10-25 Detecting apparatus of slive direction
KR15372 1989-10-25
KR17068 1989-11-18
KR2019890017068U KR940000547Y1 (en) 1989-11-18 1989-11-18 Dropping apparatus of sleeve
KR2019890017069U KR940001273Y1 (en) 1989-11-18 1989-11-18 I.c. detecting apparatus in sleeve
KR17069 1989-11-18
KR2019900003834U KR950006931Y1 (en) 1990-03-31 1990-03-31 Sorter for i.c tester
KR3834 1990-03-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03238233A true JPH03238233A (en) 1991-10-24
JPH0645406B2 JPH0645406B2 (en) 1994-06-15

Family

ID=37735089

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2221388A Expired - Lifetime JPH0645406B2 (en) 1989-08-31 1990-08-24 Device for loading and unloading sleeves for IC testers

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPH0645406B2 (en)
DE (1) DE4023772A1 (en)
FR (1) FR2651330B1 (en)
GB (1) GB2235581B (en)
NL (1) NL195037C (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100481298B1 (en) * 1997-08-04 2006-05-22 삼성전자주식회사 Semiconductor device transfer / insertion system and semiconductor device transfer / insertion method through it

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR950001245Y1 (en) * 1991-09-13 1995-02-24 금성일렉트론 주식회사 Apparatus for autotransmitting device of handler
DE4430844C1 (en) * 1994-08-31 1996-02-22 Jenoptik Technologie Gmbh Feeding device for semiconductor processing systems
DE4430846C2 (en) * 1994-08-31 1997-04-10 Jenoptik Jena Gmbh Device for the implementation of a transport object between two end positions
DE4443061A1 (en) * 1994-12-03 1996-06-05 Elmako Damm Gmbh Chip handling appts. for conveying chips from magazine to processing station or vice versa
JP3063602B2 (en) * 1995-12-22 2000-07-12 日立電子エンジニアリング株式会社 IC device transfer equipment
TW371347B (en) * 1995-12-27 1999-10-01 Advantest Corp Structure of rotary arm and device chuck part of a device handler
DE19733937C1 (en) * 1997-08-06 1999-03-04 Multitest Elektronische Syst Guide path for microelectronic component in automatic handling device
DE19813684C2 (en) 1998-03-27 2001-08-16 Brooks Automation Gmbh Device for receiving transport containers at a loading and unloading station
CN108152778B (en) * 2018-01-29 2024-01-30 苏州立讯技术有限公司 Automatic intermodulation test equipment of filter
CN115432423B (en) * 2022-08-29 2023-08-18 深圳市博辉特科技有限公司 Simple material classification mechanism
CN115870228B (en) * 2022-12-21 2023-10-20 江苏晟銮电子科技有限公司 Schottky chip detection system and chip detection method

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0166448B1 (en) * 1984-06-29 1991-10-09 Advantest Corporation Ic test equipment
US4775279A (en) * 1985-12-11 1988-10-04 American Tech Manufacturing, Inc. Method and apparatus for loading/unloading dip devices
US4776747A (en) * 1986-01-03 1988-10-11 Motorola Inc. High speed integrated circuit handler
US4744799A (en) * 1986-06-06 1988-05-17 Usm Corporation Combined sequencer and insertion machine
US4850785A (en) * 1987-03-13 1989-07-25 Quality Automation, Inc. Eprom feed apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100481298B1 (en) * 1997-08-04 2006-05-22 삼성전자주식회사 Semiconductor device transfer / insertion system and semiconductor device transfer / insertion method through it

Also Published As

Publication number Publication date
DE4023772C2 (en) 1992-07-16
FR2651330B1 (en) 1994-10-28
GB9017541D0 (en) 1990-09-26
NL195037C (en) 2003-06-25
GB2235581B (en) 1993-06-09
GB2235581A (en) 1991-03-06
JPH0645406B2 (en) 1994-06-15
DE4023772A1 (en) 1991-03-14
NL9001820A (en) 1991-03-18
FR2651330A1 (en) 1991-03-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH03238233A (en) Device for loading and unloading sleeve for ic tester
WO1997017619A1 (en) Ic conveyor, ic posture changer and ic takeout apparatus
US4761106A (en) Part feeder
US5190431A (en) Separation and transfer apparatus
JP3063602B2 (en) IC device transfer equipment
CN116873516B (en) Chip material pipe steering mechanism
CN108565242B (en) Tube-mounted chip blanking device, tube-mounted chip burner and control method thereof
CN108572829B (en) Burning device, tube-mounted chip burning machine and control method thereof
JPS60153308A (en) Device for supplying and discharging print circuit board
TW201327710A (en) Electronics equipment with a moving unit
US4941516A (en) Method and apparatus for straightening the pins of a pin grid array
US5217120A (en) Apparatus for loading and unloading sleeves for integrated circuit ester
JP5165658B2 (en) Chip supply device in chip alignment device
JPS60153306A (en) Device for supplying and discharging print circuit board
JPH01231710A (en) Container take-out device
JPH0121593Y2 (en)
JPH07202482A (en) Stopper insertion device into magazine
KR100247382B1 (en) The inspection system for bga semiconductor packages
US5209047A (en) Tube loader for integrated circuit parts
JPS60167400A (en) Device for supplying semiconductor element
JPS6362246A (en) Handler of component
JPH07196160A (en) Line-up device for rod-like article
JPH06320381A (en) Method and device for automatically packing work in cage
JPS6040949B2 (en) soldering equipment
JPS6360805A (en) Parts conveying bucket