JPH03235009A - 画像処理による形状測定方法 - Google Patents

画像処理による形状測定方法

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JPH03235009A
JPH03235009A JP3042590A JP3042590A JPH03235009A JP H03235009 A JPH03235009 A JP H03235009A JP 3042590 A JP3042590 A JP 3042590A JP 3042590 A JP3042590 A JP 3042590A JP H03235009 A JPH03235009 A JP H03235009A
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JP
Japan
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points
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JP3042590A
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Inventor
Teruo Koyama
小山 輝夫
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Mitsubishi Power Ltd
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Babcock Hitachi KK
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は画像処理方法に係り、特に粒子等の境界か不明
確で検出できない場合の境界を画像処理により自動分離
する対象物の形状測定方法に関する。
[従来の技術] 近年、コンピュータの高度化に伴い、形状測定に画像処
理装置を用いることが多くなってきている。例えば、鉄
鋼材料の結晶粒度測定や粉体の粒度測定等に画像処理装
置を用いている。また、発明者の発明にかかる金属材料
の余寿命予測法(特願昭62−258087号)は、金
属材料の結晶粒形状を測定し、その形状変化量からクリ
ープ寿命を予測する方法であるが、この場合にも多くの
結晶粒の形状を測定するため、画像処理装置を用いてい
る。
一般に画像処理ではカメラから対象物のアナログ信号を
入力し、A/D変換器でディジタル化する。すなわち、
入力データを数百X数百の画素に分は各画素の座標デー
タとアナログ信号に対する色のデータをディジタル値と
して取り込む。このディジタル信号をコンピュータで処
理し、形状測定や形態分類等を行う。形状測定では測定
対象物を色の濃度で識別し、特定色の特定濃度をしきい
値として二つの色に分類する。これを二値化と呼んでい
るが、この二値化を行えば一方の色の画素の座標データ
から、長さ、面積等、種々の形状量をコンピュータで計
算することができる。
このように二値化さえできれば簡単に形状計測ができる
わけであるが、前述した金属組織の結晶粒や粉体等ては
境界線が途切れて見えることが多い。第11図は金属の
結晶粒を示したものであるか境界(粒界)が途切れてい
る箇所があるため、単純に二値化すると隣接する結晶粒
と接続され、第12図に示すように二つの結晶粒を一つ
の結晶粒と判断してしまう。
そこで、ディジタイザ−やライトペンを使用してマニュ
アルて境界を分離する必要がある。この場合には二値化
した像を修正するため、原画像と比較する必要があるが
、モニターか二台ある場合は開題はないが、−台の場合
には修正が困難になる。そこて、−台しかモニターがな
い場合は最初からマニュアル操作により境界を書き込ん
でいた。
[発明が解決しようとする課題] 上述したように従来技術では、二値化した像を修正する
ためマニュアル操作で隣接対象物の境界を書き込んてい
た。このため、上記境界がもともと連結していた境界か
、あるいは連結していなかった境界かを判断しなければ
ならいが、このような判断には専門的知識が必要である
。たとえは、金属組織の結晶粒界をマニュアル操作で書
き込む場合には金属組織の専門的知識が必要である。ま
た、専門家てあっても上記修正作業に個人差かでる。
さらに、マニュアル操作ては書き込みの時間が画像処理
の全時間の半分以上を占めており、多くの画像を処理す
るのは人間の疲労を考えると非常に困難な作業となる。
そこて、本発明の目的は、通常の画像処理方法ては結合
してしまう隣接した測定対象物の境界を自動分離するこ
とによりマニュアル操作における専門的知識を不必要と
し、個人差の解消と操作時間の短縮を図ることにある。
[課題を解決するための手段] 上記の目的は以下の技術的手段により達成される。
すなわち、対象物の輪郭の画素座標データを特定色の特
定濃度をしきい値として二値化して形状計測を行う画像
処理による形状測定方法において、前記二値化データで
は、実際には隣接分離している二以上の対象物の境界が
接続しているものと判断される場合に、対象物の輪郭の
画素座標データの各座標点の曲率から極値を示す座標点
を算出してこの座標点を境界分離候補点とし、該境界分
離候補点の内の二つの境界分離候補点の相対距離と、該
二つの境界分離候補点の内、一方の境界分離候補点のベ
クトルの進行方向を示す設定基準方向線と該二つの境界
分離候補点どうしを結ぶ直線のなす角度と、により隣接
する二つ以上の対象物の境界分離判定を行う画像処理に
よる形状測定方法、 である。
[作用] 上記技術的手段の中で、各座標点の曲率の極値を求める
ことは凹部を計算していることを意味するが。すなわち
、境界線が途切れている点では、曲率が単調減少から単
調増加に変化しており、曲率の極値は境界線が途切れて
いる点を含む凹部を検出している。分離判定基準の中で
二つの境界分離候補点の内、一方の境界分離候補点のベ
クトル進行方向を示す設定基準方向線と二つの境界分離
候補点を結ぶ直線とのなす角度θ。は、一方の境界分離
候補点の延長線近くに他の境界分離候補点が存在してい
るか否かの判断基準となる。もともと存在した境界線が
途切れている場合には上記角度θ。は小さな値を示すは
ずであり、一方の境界分離候補点の延長線近くに他の境
界分離候補点が存在しているはずである。また、二境界
分離候補点間の距離を測定することについては、一定の
距離以上前れている場合はもともと境界が存在しなかっ
たと判断するものである。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第9図は本発明による金属結晶粒形状測定のための画像
処理のフローを、第10図はそのハードウェアの構成を
示している。まず、光学類R鏡像10をカメラ11を介
して入力し、A/Dコンバータ12でアナログ信号をデ
ィジタル信号に変換し、GP−I B 13をインター
フェイスとしてホストコンピュータ15で処理てきるよ
うにする。
第1111aに入力画像の一例を示すが、本実施例ては
カラー子イスプレイとして512・、480の画素を有
するものを用い、各画素でイメージメモリ上にRGB(
レット、グリーン、フルー)の3色をそh−ch 25
6 RI調に分けた情報を持つようにティシタル化して
いる。次にRGBの内、−色を選定し、256階調のあ
る範囲の濃度をしきい値とし二値化する。本実施例では
第11図に示す金属組織のフェライト粒(白くみえる部
分)の形状を測定するため、レッドを選定して明るい範
囲、すなわち階調としては130以上の部分をとり出し
た。この操作はイメージメモリの中でレットの130以
上の画素をとり出す命令をcPUに送り、それをD/A
コンバータを介してカラーデイスプレィ上に表示するこ
とにより成される。第12図は第11図に示した画像を
二値化した図であるが、この写真からも分かるように隣
接する結晶粒が接合している部分がある。なお、本実施
例ではRGBB色を使用しているが、金属結晶粒の場合
は白黒の濃淡像であり、白黒モノカラーでも十分処理で
きる。
一値化した画像から本発明のポイントである粒界の自動
分離を行うわけであるが、これについては後で詳細に説
明する。なお、第13図は自動粒界分Mした後の写真を
示している。このように結晶粒を分離した二値化画像を
得ることができれば、その画素の座標データをホストコ
ンピュータで処理することにより測定対象物の面積、水
平、垂直軸投影径、最大径、最大径の方向角、周囲長等
の形状測定が可能となる。
次に本発明のポイントである粒界の自動分離方法につい
て説明するが、この操作はイメージメモリ上の情報をホ
ストコンピュータて計算することにより成される。
第1図は粒界分離方法のフローチャートを示している。
ます、二値化された測定対象物の輪郭の画素座標データ
を取り込む(ステップ1)。次に境界分離候補点を計算
により求めるが、この方法は第7図に示すように測定対
象物の輪郭の画素を左回りになぞっていき、各座標点で
の曲率を求める(ステップ2)。例えば、第2図で点O
から出発し、Ql、Pl、Q2となぞっていくと、曲率
は第3図に示すように変化していく。粒界が途切れたと
みなされる先端P1では曲率は極小値をとっており、こ
のように極小値をとる点を境界分離候補点とする(ステ
ップ3)。また、第4図に示すような空孔の場合には逆
に極大値を境界分離候補点とする。
なお、極値の絶対値が小さい場合にはその点はゆるやか
な曲線となっていることを意味し、境界分離候補点とは
しなかった。
次に境界分離候補点P、の基準方向を計算する(ステッ
プ4)、その方法を第5図に示すが、まず、第3図の曲
率の変化曲線から境界分離候補点P、の手前で曲率が正
から負に変化する点Q:I、および境界分離候補点P1
を通過後曲率が負から正に変化する点Q、を求める。こ
のQ、、Q、に対する座標の中点を、P′1とするとベ
クトルP ’ + P +を境界分離候補点P1の基準
方向D1と定義する。この基準方向D1は境界分離候補
点P、の進行方向を示している。このように境界分離候
補点P、の基準方向D1を決め、第6図に示すように基
準方向D1から一定の角度θ。内にある境界分離候補点
をピックアップする(ステップ5)。第6図(a)では
境界分離候補点P2かピックアップされ、境界分離候補
点P3はピックアップされない。これは、境界分離候補
点P、が結晶粒界が途切れた点であれば、その進行方向
、すなわち基準方向D1の近傍に他の境界分離候補点が
存在するはずであり、その点を探索していることを意味
している。
なお、実施例ではθ。を30’ とした。
なお、ここでθ。を30°とした理由を述べる。
もともと、結晶粒界であったものが途切れたものであれ
ば、境界分離候補点P1の基準方向D1の近傍に他の境
界分離候補点が存在しなければならない。この場合、途
切れた部分が第6図(b)に示すように略直線状であれ
ば、θ0の値はく例えば、5°〜10°のように)非常
に小さくても良い。しかし、第6図(c)に示すように
曲線状に途切れていれば、基準方向D1よりややはずれ
た位置に他の境界分離候補点P2が存在する。したがっ
て、θ。をある範囲内に設定し、二のような場合に対応
しなければならない。
θ0値について30’としたのは従来方法(ティジタイ
ザで人間が粒界を書き込む方法)との比較で30°前後
が人間の判断と最も近かったことによる。θ0の値を2
0°より小さくすると第6図(c)のようなケースを粒
界てないと判断することが多くなり、また、40°以上
にすると人間の判断では粒界であるとみなせないものま
で粒界とみなしてしまうケースが多くなる。以上のこと
がら実施例では30°としているが、20’から40°
の範囲て良好な結果、すなわち、人間の判断と同等の結
果が得られる。
次に、境界分離候補点P1とピックアップされた境界分
離候補点P2との距Nlにより分離判定、すなわち、P
lとP2とを連結し、二つの結晶粒に分離するかどうか
の判定を行う(ステップ6)。
判定基準は二点間の距1[が許容値!。より小さい場合
に分離すると判定するが、対象となる結晶粒の大きさが
種々存在するため、許容値1゜は結晶粒の大きさを考慮
する必要がある。そこで本実施例では以下のように許容
値!。を定義した。
第7図に示す水平軸投影径l1、垂直軸投影径l。
から次式により1゜を算出する。
1o −(f、+  1.)  7””A’     
   ・  ・  ・ −(1)ここてWは定数であり
、任意の値を設定てきるが、本実施例ては結晶粒の大き
さの1/10を目安にW−20とした。さらに、結晶粒
が極端に大きい場合や数個の結晶粒が連結している場合
にはioの値が大きくなり、2点間の距離がかなり大き
い場合でも分離してしまう。書き込みによる分離でも距
離がある程度離れている場合には分離しないと判断して
おり、このような問題点を解消するため、許容値の上限
1゜maxを決めている。
したがって、(1)式で算出しな1゜が1゜maxより
大きい場合には!。maxを10と定義する。本実施例
では1゜maxは20とした。以上のような方法で分離
判定を行い、結晶粒の自動分離を行う(ステップ7)。
また、二以上の隣接対象物の境界の分離判定は境界分離
候補点間の距離!により行うこともてきる。以下にその
方法を説明する。
第8図に示すように境界分離候補点P1とP2を結ぶ直
線Tを想定する。そして、直接Tにより二つの結晶粒1
と結晶粒2に分離されたと仮定し、それぞれの結晶粒の
直接T/\の投影長さplと12を求める。11と12
の内、短い方の長さを基準として許容値!。を決定する
。本実施例では11と12の短い方の1 y” 10を
許容値1゜とじたが、この方法によると、多数の結晶粒
が連結していたとしても、本来の結晶粒の大きさを基準
に基準値!。を決めることができる。
第1図に示すフローを第10図のコントロールブロック
図に示す画像処理装置で処理する。すなわち、顕微鏡1
0で撮影した画像をカメラ11を介して入力して、A/
Dコンバータ12によりディジタル信号に変換する。画
像処理装置はインタフェースGP−I B 13を介し
てホストコンピュータ15での処理ができるように本画
像処理装置のコントロールプロセッサ16が接続される
コントロールプロセッサ16は第1図のフローに示した
対象物の形状測定用の予め設定された計測ルールを記憶
したROM17、イメージメモリコン1〜ローラ19お
よび一時記憶部であるCPUメモリ20の制御を行う。
なお、イメージメモリコントローラ1つは画像を記憶す
るイメージメモリ群21およびイメージプロセッサ22
の制御を行う。
本発明の妥当性を検証するため、同じ金属組織の原画像
を用いて、結晶粒界をティジタイザで書き込む方法(従
来方法)と本発明での方法とで結晶粒形状の測定結果を
比較した。具体的には100個の結晶粒に対して最大径
の方向角θm(第14図参照)を測定し、その分布の標
準偏差Smを比較した(第15図参照)。結果を第1表
に示すがいずれのケースも誤差は1%以内てあり、本発
明が従来方法と比較して精度的に十分妥当なものである
ことが分かる。
第1表(Smの比較) [発明の効果] 従来方法の場合には書き込みて隣接対象物の境界を検出
していたために個人差か発生していたが、本発明ではそ
のようなことが発生するおそれがなくなる。
また、人間が直接操作する時間が短くなるため、人間の
疲労の面では有利になる。さらに画像処理装置が複数で
あれば、−人で同時に処理することも可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明になる境界自動分離方法の実施例を示す
フローチャート、第2図は結晶粒を二値化した時の輪郭
を示す図の一例、第3図は曲率の変化を示す図、第4図
は結晶粒を二値化した時に内部に空孔の存在する場合の
輪郭を示す図の一例、第5図は境界分離候補点P1の基
準方向を説明するための図、第6図は分離候補点を結ぶ
直線と基準方向線となす角度で境界分離候補点を選定す
ることを説明する図、第7図は2点間の距離で分離判定
することを説明する図、第8図は他の実施例における2
点間の距離で分離判定をすることを説明する図、第9図
は画像処理による測定物の形状測定を示すフローチャー
ト、第10図はそのハードウェア構成図、第11図は金
属組織を示す入力画像写真の複写図、第12図は第1図
を二値化した画像写真の複写図、第13図は本実施例に
よる方法で自動分離し、周辺にかかつている結晶粒や、
面積の小さい結晶粒を除去した時の画像写真の複写図、
第14図は結晶粒の最大径の方向角を示す図、第15図
はその分布の標準偏差を示す図である。 第1図 1・・・結晶粒、 Pl、P2・・・境界分離候補点D
1・・・基準方向、  θ。・・・分離候補点を結ぶ直
線と基準方向線とのなす角度

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 対象物の輪郭の画素座標データを特定色の特定濃度をし
    きい値として二値化して形状計測を行う画像処理による
    形状測定方法において、 前記二値化データでは、実際には隣接分離している二以
    上の対象物の境界が接続しているものと判断される場合
    に、対象物の輪郭の画素座標データの各座標点の曲率か
    ら極値を示す座標点を算出してこの座標点を境界分離候
    補点とし、該境界分離候補点の内の二つの境界分離候補
    点の相対距離と、該二つの境界分離候補点の内、一方の
    境界分離候補点のベクトルの進行方向を示す設定基準方
    向線と該二つの境界分離候補点どうしを結ぶ直線のなす
    角度と、により隣接する二つ以上の対象物の境界分離判
    定を行うことを特徴とする画像処理による形状測定方法
JP3042590A 1990-02-09 1990-02-09 画像処理による形状測定方法 Pending JPH03235009A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210153672A (ko) 2019-04-22 2021-12-17 가부시키가이샤 신가와 와이어 형상 측정 장치, 와이어 삼차원 화상 생성 방법 및 와이어 형상 측정 방법

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