JPH03223992A - 侵入に対して保護されたマイクロ回路カード - Google Patents
侵入に対して保護されたマイクロ回路カードInfo
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- JPH03223992A JPH03223992A JP2185155A JP18515590A JPH03223992A JP H03223992 A JPH03223992 A JP H03223992A JP 2185155 A JP2185155 A JP 2185155A JP 18515590 A JP18515590 A JP 18515590A JP H03223992 A JPH03223992 A JP H03223992A
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- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06K19/06—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明に、マイクロ回路カード、さらに詳しく言えば、
侵入に対して保護されたマイクロ回路カードに関するも
のである。
侵入に対して保護されたマイクロ回路カードに関するも
のである。
従来の技術
マイクロ回路カードは、主に、多くの場合秘密の情報、
特に、サービスにアクセスするための暗号を格納するた
めの媒体として使用される。操作に不可欠な安全性を確
保するために、このようなマイクロ回路カードが保持す
る情報の秘密性を侵そうとする不正行為者による侵入か
らマイクロ回路カードを保護することが重要である。不
正行為者が使用する可能性がある観察手段は、能動的な
侵入手段を使用せずにカードを観察する静的な手段、ま
たはその動作状態をシミュレートすることによってカー
ドを観察する動的手段である。静的手段による侵入に対
して格納された情報を保護する公知の方法は、マイクロ
回路内でその情報を最大限に隠すことである。しかし、
「動的」な観察手段が使用される侵入に対して保護する
手段は、現在のところない。
特に、サービスにアクセスするための暗号を格納するた
めの媒体として使用される。操作に不可欠な安全性を確
保するために、このようなマイクロ回路カードが保持す
る情報の秘密性を侵そうとする不正行為者による侵入か
らマイクロ回路カードを保護することが重要である。不
正行為者が使用する可能性がある観察手段は、能動的な
侵入手段を使用せずにカードを観察する静的な手段、ま
たはその動作状態をシミュレートすることによってカー
ドを観察する動的手段である。静的手段による侵入に対
して格納された情報を保護する公知の方法は、マイクロ
回路内でその情報を最大限に隠すことである。しかし、
「動的」な観察手段が使用される侵入に対して保護する
手段は、現在のところない。
発明が解決しようとする課題
本発明の目的は、動的な手段による侵入に対して保護さ
れたマイクロ回路カードを提供することである。
れたマイクロ回路カードを提供することである。
課題を解決するための手段
本発明は、侵入に対して保護されたマイクロ回路カード
であって、少なくとも1つの歪みセンサが、特徴的で人
為的なプレストレスト状態で挿入されており、このプレ
ストレスト状態が、カードからマイクロ回路を取りだそ
うとする試みによって破壊されることを特徴とする回路
を提供する。
であって、少なくとも1つの歪みセンサが、特徴的で人
為的なプレストレスト状態で挿入されており、このプレ
ストレスト状態が、カードからマイクロ回路を取りだそ
うとする試みによって破壊されることを特徴とする回路
を提供する。
本発明の特徴及び利点は、添付図面を参照して行う以下
の説明によって、明らかとなろう。
の説明によって、明らかとなろう。
実施例
本発明は、動的手段を使用する侵入の場合は、不正行為
者が電子部品を支持するマイクロモジュールまたはカー
ドから電子部品を必ず取り出し、それを観察装置の下に
配置しなければならないという事実を利用する。通常、
電子部品がカード内またはそれ自体がカード内に挿入さ
れたマイクロモジュール内に挿入されている時、イオン
打ち込みされたまたは拡散側上の“アクティブ面を見る
ことはできる。従って、マイクロモジュールを固定した
後、その電子部品を物理的な攻撃から保護するために保
護層で被覆する。マイクロ回路にアクセスしようとする
不正行為者が侵入を試みると、この保護層は必ず破損を
受ける。従って、本発明によるマイクロ回路は、保護層
が受けた破損を検出する部品をカード内に挿入して、侵
入が試みられると、カードが機能しない及び/または協
働しなければならないサービスステーションにこのカー
ドに侵入が行われたことを知らせる決定することができ
るようにされている。
者が電子部品を支持するマイクロモジュールまたはカー
ドから電子部品を必ず取り出し、それを観察装置の下に
配置しなければならないという事実を利用する。通常、
電子部品がカード内またはそれ自体がカード内に挿入さ
れたマイクロモジュール内に挿入されている時、イオン
打ち込みされたまたは拡散側上の“アクティブ面を見る
ことはできる。従って、マイクロモジュールを固定した
後、その電子部品を物理的な攻撃から保護するために保
護層で被覆する。マイクロ回路にアクセスしようとする
不正行為者が侵入を試みると、この保護層は必ず破損を
受ける。従って、本発明によるマイクロ回路は、保護層
が受けた破損を検出する部品をカード内に挿入して、侵
入が試みられると、カードが機能しない及び/または協
働しなければならないサービスステーションにこのカー
ドに侵入が行われたことを知らせる決定することができ
るようにされている。
この目的のために、第1に、マイクロ回路内の機械的応
力を検出することのできる歪みセンサがカード内に挿入
されており、第2に、マイクロ回路をその保護層で被覆
するときに、そのマイクロ回路に応力を加え、乾燥作業
の間中維持して、乾燥後に、この応力を原因とする歪み
が残るようにする。このように予め負荷された応力すな
わちプレストレスは、自然に得られるのが好ましい。こ
の目的のため、保護層を熱い滴下物として塗布し、極め
て迅速に冷却する。この冷却中、この滴下物の硬化した
樹脂は、プレストレスを及ぼす。他の方法では、集積回
路も高温にする。この滴下物と集積回路の冷却中、膨張
率が異なるので、所望のプレストレスが得られる。この
時から、マイクロ回路の内部論理回路によってアクセス
できる歪みセンサは、保護層が存在することを示す電気
値を測定できる状態にある。不正行為者がマイクロ回路
をカードから取り出すために保護層を破損させた後にマ
イクロ回路を作動させようとすると、歪みセンサによる
測定値は回路に歪みがないことを表し、この歪みセンサ
は、マイクロ回路の内部論理回路に歪みが無いことを伝
える。その結果として、内部論理回路は、正常な動作を
すべて防ぐ。
力を検出することのできる歪みセンサがカード内に挿入
されており、第2に、マイクロ回路をその保護層で被覆
するときに、そのマイクロ回路に応力を加え、乾燥作業
の間中維持して、乾燥後に、この応力を原因とする歪み
が残るようにする。このように予め負荷された応力すな
わちプレストレスは、自然に得られるのが好ましい。こ
の目的のため、保護層を熱い滴下物として塗布し、極め
て迅速に冷却する。この冷却中、この滴下物の硬化した
樹脂は、プレストレスを及ぼす。他の方法では、集積回
路も高温にする。この滴下物と集積回路の冷却中、膨張
率が異なるので、所望のプレストレスが得られる。この
時から、マイクロ回路の内部論理回路によってアクセス
できる歪みセンサは、保護層が存在することを示す電気
値を測定できる状態にある。不正行為者がマイクロ回路
をカードから取り出すために保護層を破損させた後にマ
イクロ回路を作動させようとすると、歪みセンサによる
測定値は回路に歪みがないことを表し、この歪みセンサ
は、マイクロ回路の内部論理回路に歪みが無いことを伝
える。その結果として、内部論理回路は、正常な動作を
すべて防ぐ。
歪みセンサは、ピエゾ電気効果を利用する歪みゲージま
たは圧力センサの構成部品と同じもので構成できる。こ
の歪みセンサは、インジケータ、RAMの1つのメモリ
ロケーションまたは電子部品内でテストできるフラッグ
に接続されており、それらインジケータ、RAMの1つ
のメモリロケーションまたは電子部品内のフラッグは、
マイクロ回路が機械的応力を受けているかどうか、及び
、ソフトウェアまたはオートマトンが新たな使用ごとに
試験されるマイクロ回路の動作を制御するかどうかによ
ってその状態を変化させる。
たは圧力センサの構成部品と同じもので構成できる。こ
の歪みセンサは、インジケータ、RAMの1つのメモリ
ロケーションまたは電子部品内でテストできるフラッグ
に接続されており、それらインジケータ、RAMの1つ
のメモリロケーションまたは電子部品内のフラッグは、
マイクロ回路が機械的応力を受けているかどうか、及び
、ソフトウェアまたはオートマトンが新たな使用ごとに
試験されるマイクロ回路の動作を制御するかどうかによ
ってその状態を変化させる。
マイクロ回路は、複数の歪みセンサと接続されており、
これらの歪みセンサは各々インジケータと接続されても
よい。この場合、回路の内部論理回路は歪みセンサに接
続されたインジケータを全部テストする。また、カード
の製造中、歪みセンサのいくつかだけに応力をかけ、他
の歪みセンサには全く応力をかけず、その結果、プレス
トレスト状態を再現するのをより困難にすることもでき
る。
これらの歪みセンサは各々インジケータと接続されても
よい。この場合、回路の内部論理回路は歪みセンサに接
続されたインジケータを全部テストする。また、カード
の製造中、歪みセンサのいくつかだけに応力をかけ、他
の歪みセンサには全く応力をかけず、その結果、プレス
トレスト状態を再現するのをより困難にすることもでき
る。
また、不揮発性メモリ (EEPROM、EPROM、
または、不揮発性RAM)を備えるオートアダプティブ
LSIの場合は、製造直後の電子部品が備える全インジ
ケータの数値を記憶して、これらの数値を後で内部論理
回路によって使用される参照値として保持することがで
きる。従って、電子部品の製造サイクルを変更しないで
、部品ごとに異なるプレストレスト状態に対応する各々
の参照値を得て、使用することができる。
または、不揮発性RAM)を備えるオートアダプティブ
LSIの場合は、製造直後の電子部品が備える全インジ
ケータの数値を記憶して、これらの数値を後で内部論理
回路によって使用される参照値として保持することがで
きる。従って、電子部品の製造サイクルを変更しないで
、部品ごとに異なるプレストレスト状態に対応する各々
の参照値を得て、使用することができる。
第1図は、マイクロ回路10上に3つの歪みセンサC1
、C2及びC3を備える実施態様を図示したものである
。これら歪みセンサの出力は、マイクロ回路の内部論理
回路(図示せず)に直接接続されている。次に、この全
体を保護層で被覆する。
、C2及びC3を備える実施態様を図示したものである
。これら歪みセンサの出力は、マイクロ回路の内部論理
回路(図示せず)に直接接続されている。次に、この全
体を保護層で被覆する。
第2図は、ホイートストンブリッジ型の測定ブリッジに
抵抗型の歪みセンサCrを挿入した第1の実施例の等価
回路図である。この歪みセンサでは、出力電圧VXは、
基準電圧Voが入力間に印加されたときの変形の関数F
である。
抵抗型の歪みセンサCrを挿入した第1の実施例の等価
回路図である。この歪みセンサでは、出力電圧VXは、
基準電圧Voが入力間に印加されたときの変形の関数F
である。
第3図は1.容量型の歪みセンサの第2の実施例の等価
回路図である。この歪みセンサでは、容量C×は、加え
られた応力によって変化し、歪みセンサの容量Cxに直
接接続された出力信号の周波数Fxが変形に応じて変化
する。
回路図である。この歪みセンサでは、容量C×は、加え
られた応力によって変化し、歪みセンサの容量Cxに直
接接続された出力信号の周波数Fxが変形に応じて変化
する。
第4図は、マイクロ回路の内部の、このマイクロ回路に
装着された1組の歪みセンサに接続された論理回路の1
実施例を図示したものである。参照符号Cnで示すよう
な歪みセンサは、各々、測定値Vm (例えば、電圧ま
たは周波数)を出力する測定回路Mnに接続されている
。この測定値Vmは、変形の関数である。参照値レジス
タRnは、マイクロ回路の製造中に記憶された、変形が
存在する場合の初期値を保持する。これらの2つの数値
は、比較器Onに転送され、この比較器はその差dnを
閾値増幅器Anに出力する。この閾値増幅器は、対応す
る歪みセンサでの差の最大許容値Bnを他方の人力に受
ける。
装着された1組の歪みセンサに接続された論理回路の1
実施例を図示したものである。参照符号Cnで示すよう
な歪みセンサは、各々、測定値Vm (例えば、電圧ま
たは周波数)を出力する測定回路Mnに接続されている
。この測定値Vmは、変形の関数である。参照値レジス
タRnは、マイクロ回路の製造中に記憶された、変形が
存在する場合の初期値を保持する。これらの2つの数値
は、比較器Onに転送され、この比較器はその差dnを
閾値増幅器Anに出力する。この閾値増幅器は、対応す
る歪みセンサでの差の最大許容値Bnを他方の人力に受
ける。
差dnO値が最大許容値Enを越えると、閾値増幅器は
、マイクロ回路が使用される度にマイクロ回路の内部プ
ロセッサPによってテストされるインジケータ■のレジ
スタの対応する段の状態を変化させる。
、マイクロ回路が使用される度にマイクロ回路の内部プ
ロセッサPによってテストされるインジケータ■のレジ
スタの対応する段の状態を変化させる。
本発明は、上記の実施例や図示した歪みセンサに限定さ
れるものではない。特に、マイクロ回路上に1つの歪み
センサだけを備えることもあり、一方、多数の歪みセン
サを備えることもある。また、歪みセンサを図示した配
置と異なる形態にマイクロ回路上に配置することもでき
る。さらに、変形を電気値に変換するために、歪みセン
サが、容量、周波数または抵抗の変化を発生させてもよ
い。
れるものではない。特に、マイクロ回路上に1つの歪み
センサだけを備えることもあり、一方、多数の歪みセン
サを備えることもある。また、歪みセンサを図示した配
置と異なる形態にマイクロ回路上に配置することもでき
る。さらに、変形を電気値に変換するために、歪みセン
サが、容量、周波数または抵抗の変化を発生させてもよ
い。
第1図は、3つの歪みセンサを備える、本発明によるマ
イクロ回路カードを図示したものであり、第2図及び第
3図は、各々、使用可能な歪みセンサの実施例を図示し
たものであり、 第4図は、侵入検出用の歪みセンサに接続された回路を
図示したものである。 (主な参照番号) 10・・・マイクロ回路
イクロ回路カードを図示したものであり、第2図及び第
3図は、各々、使用可能な歪みセンサの実施例を図示し
たものであり、 第4図は、侵入検出用の歪みセンサに接続された回路を
図示したものである。 (主な参照番号) 10・・・マイクロ回路
Claims (7)
- (1)侵入に対して保護されたマイクロ回路であって、
少なくとも1つの歪みセンサが上記マイクロ回路上に配
置されており、上記マイクロ回路はプレストレスト状態
にあり、このプレストレスト状態は、上記マイクロ回路
上に堆積された保護層によって維持されており、このプ
レストレスト状態が、カードから該マイクロ回路を取り
出そうとする試みによって変更され、上記マイクロ回路
は、このプレストレスト状態の変化を検出する上記歪み
センサの端子に接続されている内部論理回路を更に備え
ることを特徴とするマイクロ回路カード。 - (2)複数の歪みセンサが上記マイクロ回路の表面上に
配置されていることを特徴とする請求項1に記載のカー
ド。 - (3)上記歪みセンサは、ピエゾ電気型の圧力感知素子
であることを特徴とする請求項1または2に記載のカー
ド。 - (4)上記歪みセンサは、変形を感知する抵抗型の素子
を備え、抵抗測定回路に接続されていることを特徴とす
る請求項1または2に記載のカード。 - (5)上記歪みセンサは、変形を感知する容量型素子で
あって、周波数測定回路に接続されていることを特徴と
する請求項1または2に記載のカード。 - (6)上記内部論理回路は、インジケータとして、上記
マイクロ回路上の歪みセンサと同数の段を備えるレジス
タを備え、上記レジスタは、マイクロ回路が使用される
前に毎回そのテストを実行させる上記マイクロ回路内の
プロセッサに接続されていることを特徴とする請求項1
からは請求項5までの何れか1項に記載のカード。 - (7)上記内部論理回路は、上記歪みセンサに接続され
た測定回路の出力と上記レジスタの対応する段との間に
比較器を備え、上記比較器は更に参照値レジスタに接続
されており、その出力は増幅器に接続されて、該比較器
が出力する差が許容差より大きくなると状態を変化させ
ることを特徴とする請求項6に記載のカード。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8909549A FR2649817B1 (fr) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | Carte a microcircuit protegee contre l'intrusion |
FR8909549 | 1989-07-13 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03223992A true JPH03223992A (ja) | 1991-10-02 |
JPH0736197B2 JPH0736197B2 (ja) | 1995-04-19 |
Family
ID=9383816
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2185155A Expired - Lifetime JPH0736197B2 (ja) | 1989-07-13 | 1990-07-12 | 侵入に対して保護されたマイクロ回路カード |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5060261A (ja) |
EP (1) | EP0408456B2 (ja) |
JP (1) | JPH0736197B2 (ja) |
CA (1) | CA2021004C (ja) |
DE (1) | DE69000132T3 (ja) |
ES (1) | ES2031405T5 (ja) |
FR (1) | FR2649817B1 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08249239A (ja) * | 1994-12-19 | 1996-09-27 | Sgs Thomson Microelectron Sa | 集積回路の安全性を向上させるための方法および装置 |
JPH10187546A (ja) * | 1996-10-25 | 1998-07-21 | Fuji Xerox Co Ltd | 暗号化装置、復号装置、機密データ処理装置、及び情報処理装置 |
JP2000207285A (ja) * | 1999-01-18 | 2000-07-28 | Nec Corp | 機密保護機能付デ―タ保持装置 |
US6477650B1 (en) | 1997-10-28 | 2002-11-05 | Nec Corp. | Data protecting system and method for protecting data |
JP2010287894A (ja) * | 2009-06-15 | 2010-12-24 | St Microelectronics (Rousset) Sas | Icチップの基板が薄くなった箇所を検出する装置 |
JP2011510395A (ja) * | 2008-01-16 | 2011-03-31 | テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン(パブル) | デバイスを密閉するカバーの開放を検出する方法及びそのデバイス |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5353350A (en) * | 1989-10-03 | 1994-10-04 | University Of Technology | Electro-active cradle circuits for the detection of access or penetration |
FR2690008B1 (fr) * | 1991-05-29 | 1994-06-10 | Gemplus Card Int | Memoire avec cellule memoire eeprom a effet capacitif et procede de lecture d'une telle cellule memoire. |
FR2683342B1 (fr) * | 1991-10-31 | 1994-01-07 | Gemplus Card International | Circuit d'interface pour carte a circuit integre. |
FR2686989B1 (fr) * | 1992-01-30 | 1997-01-17 | Gemplus Card Int | Procede de comptage de securite pour un compteur electronique binaire. |
US5376778A (en) * | 1992-02-26 | 1994-12-27 | Angewandte Digital Electronik Gmbh | Contact-free chip card for remote transmission |
DE4212111C2 (de) * | 1992-04-10 | 2003-05-22 | Angewandte Digital Elektronik | Indikation unsachgemäß behandelter Chipkarten |
FR2703501B1 (fr) * | 1993-04-01 | 1995-05-19 | Gemplus Card Int | Circuit intégré pour carte à mémoire et procédé de décomptage d'unités dans une carte à mémoire. |
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