JPH03194899A - Electric discharge lamp lighting device - Google Patents
Electric discharge lamp lighting deviceInfo
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- JPH03194899A JPH03194899A JP33545089A JP33545089A JPH03194899A JP H03194899 A JPH03194899 A JP H03194899A JP 33545089 A JP33545089 A JP 33545089A JP 33545089 A JP33545089 A JP 33545089A JP H03194899 A JPH03194899 A JP H03194899A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野ｊ
本発明は、放電灯の寿命末期異常を検出できるようにし
た放電灯点灯装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to a discharge lamp lighting device capable of detecting an abnormality at the end of the life of a discharge lamp.
［従来の技術］
一般に、蛍光ランプなどの放電灯のフィラメント電極に
は熱電子放射活性材（エミッタと称する）が塗布されて
おり、熱電子放出をし易くしている。[Prior Art] Generally, a filament electrode of a discharge lamp such as a fluorescent lamp is coated with a thermionic radiation active material (referred to as an emitter) to facilitate thermionic emission.
ところで、放電灯の寿命末期においては、一方のフィラ
メント電極のエミッタが減少あるいは全くなくなり、そ
のフィラメント電極から熱電子放出がなくなって他方の
フィラメント電極がらのみ熱電子放出が行われる半波放
電状態になり易く、この場合、放電灯があたかも整流素
子のような動作をすることになる。したがって、このよ
うな半波放電状態においては、主としてインダクタンス
素子にて形成される安定器のインピーダンスが低下する
ことになるので、放電灯および安定器に過電流が流れ、
安定器の発熱や、過電圧および過電流による電子部品の
ストレスが増大することになり、信頼性が著しく低下す
る恐れがある。By the way, at the end of the life of a discharge lamp, the emitter of one filament electrode decreases or disappears completely, and thermionic emission from that filament electrode disappears, resulting in a half-wave discharge state in which thermionic emission occurs only from the other filament electrode. In this case, the discharge lamp operates as if it were a rectifying element. Therefore, in such a half-wave discharge state, the impedance of the ballast, which is mainly formed by an inductance element, decreases, causing an overcurrent to flow through the discharge lamp and the ballast.
This increases heat generation in the ballast and stress on electronic components due to overvoltage and overcurrent, which may significantly reduce reliability.
そこで、上述のような問題を解決するために、ランプ異
常検出手段によって放電灯の寿命末期を検出し、放電灯
への供給電力を低減あるいは停止して点灯装置の保護を
図るようにしたものがあった。特に、スイッチング素子
を用いたインバータ回路にて点灯回路を形成して電子安
定器としたものにおいては、過電流による発熱に起因す
る電子部品のストレスを低減するために上述のランプ異
常検出手段が付加される場合が多い。Therefore, in order to solve the above-mentioned problems, a lamp abnormality detection means is used to detect the end of the discharge lamp's life and reduce or stop the power supplied to the discharge lamp to protect the lighting device. there were. In particular, in electronic ballasts where the lighting circuit is formed from an inverter circuit using switching elements, the lamp abnormality detection means described above is added to reduce stress on electronic components caused by heat generation due to overcurrent. It is often done.
第６図はランプ異常検出手段を具備した放電灯点灯装置
の従来例を示すもので、点灯回路１は、交流電源Ｖｓを
整流平滑するダイオードブリッジＤＢおよびコンデンサ
Ｃ０と、制御回路２により交互にオン、オフされ、直流
電圧を高周波電圧に変換する２個のスイッチング素子Ｑ
、、Ｑ２と、上記高周波電圧を２個の放電灯ＬＰ、、Ｌ
Ｐ２に印加するバランサＢＬ、とで構成されており、直
流電圧を一対のスイッチング素子Ｑ、、Ｑ２にてオン、
オフして得られる高周波電圧をバランサＢＬ、を介して
両放電灯ＬＰ、、ＬＰ２に印加して高周波点灯させるよ
うになっている。FIG. 6 shows a conventional example of a discharge lamp lighting device equipped with a lamp abnormality detection means, in which a lighting circuit 1 is alternately turned on by a diode bridge DB and a capacitor C0 that rectify and smooth an AC power supply Vs, and a control circuit 2. , two switching elements Q that are turned off and convert DC voltage to high frequency voltage.
,,Q2 and the above high frequency voltage are applied to two discharge lamps LP, ,L
It consists of a balancer BL that applies to P2, and a pair of switching elements Q, Q2 turn on the DC voltage.
A high frequency voltage obtained by turning off the discharge lamps is applied to both discharge lamps LP, LP2 via a balancer BL to cause high frequency lighting.
また、ランプ異常検出手段３は、放電灯ＬＰ、。Further, the lamp abnormality detection means 3 includes a discharge lamp LP.
Ｌ Ｐ ２の寿命末期のフィラメント電極のエミッタの
消耗、フィラメント切れなどの異常発生を検出して異常
検出信号を発生するようになっており、制御回路２では
、この異常検出信号が入力されたときにスイッチング素
子Ｑ、、Ｑ２のオン、オフを停止してインバータ動作を
強制的に停止させ、点灯回路１を構成する電子部品に過
電流が流れることによる温度上昇を防止して電子部品に
ストレスが加わらないようにし、信頼性を高くするよう
にしている。An abnormality detection signal is generated by detecting the occurrence of an abnormality such as wear of the emitter of the filament electrode at the end of the life of L P 2 or breakage of the filament, and when this abnormality detection signal is input to the control circuit 2, The switching elements Q, Q2 are then turned on and off to forcibly stop the inverter operation, thereby preventing temperature rise due to overcurrent flowing through the electronic components that make up the lighting circuit 1, thereby reducing stress on the electronic components. We are trying to prevent this from happening and increase reliability.
ここに、ランプ異常検出手段３は、検出回路５と判定回
路６とで形成され、検出回路５は、抵抗Ｒ＋ 、 Ｒ２
よりなる分圧用インピーダンス素子の直列回路を放電灯
ＬＰ、に並列接続して分圧回路４ａを形成するとともに
、抵抗Ｒ，，Ｒ，よりなる分圧用インピーダンス素子の
直列回路を放電灯ＬＰ２に並列接続して分圧回路４ｂを
形成し、両分圧回路４ａ、４ｂの各中点間に抵抗よりな
る電位差検出用インピーダンス素子Ｒ６を接続して構成
されており、電位差検出用インピーダンス素子Ｒ５の両
端に発生する電位差を検出信号Ｖｄとして出力している
。Here, the lamp abnormality detection means 3 is formed by a detection circuit 5 and a determination circuit 6, and the detection circuit 5 includes resistors R+ and R2.
A series circuit of voltage dividing impedance elements consisting of resistors R, , R is connected in parallel to the discharge lamp LP to form a voltage dividing circuit 4a, and a series circuit of voltage dividing impedance elements consisting of resistors R, , R is connected in parallel to the discharge lamp LP2. A potential difference detecting impedance element R6 made of a resistor is connected between the midpoints of both voltage dividing circuits 4a and 4b to form a voltage dividing circuit 4b. The generated potential difference is output as a detection signal Vd.
判定回路６は、同一特性のトランジスタＱコ。The determination circuit 6 includes transistors Q having the same characteristics.
Ｑ４、ダイオードＤ、、コンデンサＣＩおよび抵抗Ｒ５
にて構成され、検出信号Ｖｄと予め設定された異常判定
値Ｖｔｈ （）ランジスタＱ３．Ｑ４のベース・エミッ
タ間電圧■Ｉ）とを比較し、放電灯ＬＰ、、ＬＰ２の寿
命末期異常（例えば、半波点灯状！’！りの判定を行う
ようになっている。Q4, diode D, capacitor CI and resistor R5
It is composed of a detection signal Vd and a preset abnormality judgment value Vth () transistor Q3. By comparing the base-emitter voltage ■I) of Q4, it is determined whether there is an abnormality at the end of the life of the discharge lamps LP, LP2 (for example, half-wave lighting!'').
なお、上記例では、放電灯Ｌ Ｐ ＋ 、 Ｌ Ｐ ２
のランプ電圧をそれぞれ分圧する分圧回路４ａ、４ｂと
電位差検出用インピーダンス素子Ｒ１とで構成されるブ
リッジ回路にて放電灯ＬＰ、、ＬＰ２の寿命末期異常の
検出回路５が形成されており、両放電灯ＬＰＩ、ＬＰ２
が正常に点灯しているとき、ブリッジ回路が平衡状態と
なって電位差検出用インピーダンス素子Ｒ，の両端に発
生する電位差が略０となるように分圧回路４ａ、４ｂの
各抵抗値が設定され、両放電灯ＬＰＩ、ＬＰ２のいずれ
が一方が寿命末期となってランプ電圧が変化すると、ブ
リッジ回路の平衡状態が崩れ、電位差検出用インピーダ
ンス素子Ｒ６の両端に寿命末期異常に応じた検出信号Ｖ
ｄが発生するようになっている。なお、放電灯ＬＰ、、
ＬＰ２の寿命末期異常以外の原因によるランプ電圧の変
動は両分圧回路４ａ、４ｂに同じように影響し、この場
合にはブリッジ回路の平衡状態が崩れることがないので
、電位差検出用インピーダンス素子Ｒ８の両端に発生す
る検出信号Ｖｄが異常判定値ｖｔｈを越えることがなく
、誤った異常検出信号が出力されることはない。In addition, in the above example, the discharge lamps L P + , L P 2
The end-of-life abnormality detection circuit 5 for the discharge lamps LP, LP2 is formed by a bridge circuit composed of voltage dividing circuits 4a and 4b that divide the lamp voltages of , respectively, and an impedance element R1 for detecting a potential difference. Discharge lamp LPI, LP2
The resistance values of the voltage divider circuits 4a and 4b are set so that when the is lit normally, the bridge circuit is in a balanced state and the potential difference generated across the potential difference detection impedance element R is approximately 0. , when one of the two discharge lamps LPI and LP2 reaches the end of its life and the lamp voltage changes, the balanced state of the bridge circuit collapses, and a detection signal V corresponding to the end of life abnormality is sent to both ends of the potential difference detection impedance element R6.
d will occur. In addition, discharge lamp LP...
Fluctuations in the lamp voltage due to causes other than the end-of-life abnormality of LP2 affect both voltage divider circuits 4a and 4b in the same way, and in this case, the balanced state of the bridge circuit is not disrupted, so the impedance element for potential difference detection R8 The detection signal Vd generated at both ends of the signal does not exceed the abnormality determination value vth, and no erroneous abnormality detection signal is output.
以下、上述の従来例の動作について具体的に説明する。The operation of the above-mentioned conventional example will be specifically explained below.
いま、両放電灯ＬＰ、、ＬＰ２が正常に点灯している場
合、抵抗Ｒ，，Ｒ２、Ｒ，、Ｒ，および電位差検出用イ
ンピーダンス素子Ｒ６よりなるブリッジ回路が平衡状態
になっているので、電位差検出用インピーダンス素子Ｒ
６の両端に電位差が発生せず、判定回路６のトランジス
タＱ、、Ｑ、にベース電流が流れないため、トランジス
タＱ ｉ ＋Ｑ４がオフ状態を維持し、端子ａ、ｂ間に
電圧が発生せず、異常検出信号は出力されない。Now, when both discharge lamps LP, LP2 are lighting normally, the bridge circuit consisting of the resistors R, , R2, R, , R and the potential difference detection impedance element R6 is in a balanced state, so the potential difference is Detection impedance element R
Since no potential difference occurs across terminals 6 and no base current flows through transistors Q, , Q, of determination circuit 6, transistor Q i +Q4 remains off, and no voltage is generated between terminals a and b. , no abnormality detection signal is output.
一方、いずれかの放電灯ＬＰ＋、ＬＰ２に寿命末期異常
が発生した場合には、その放電灯ＬＰＬＰ、のランプ電
圧の振巾あるいは位相が変化するので、ブリッジ回路が
不平衡になって電位差検出用インピーダンス素子Ｒ６の
両端間に電位差が発生して検出信号Ｖｄとして出力され
、この電位差の極性は、両放電灯ＬＰ、、ＬＰ２のどち
らが寿命末期異常になるかによって逆になる。そして、
端子ｃ、ｄに入力される電位差がその極性に応じたトラ
ンジスタＱ３．Ｑ、のベース・エミッタ間電圧Ｖａｔ（
異常判定値Ｖｔｈ）に達すると、トランジスタＱ、、Ｑ
４のいずれかにベース電流が流れてトランジスタＱ３．
Ｑ、のいずれかがオンする。その結果、抵抗Ｒ１，Ｒ３
および電位差検出用インピーダンス素子Ｒ６を介してオ
ンになっているトランジスタＱ、、Ｑ、にコレクタ電流
が流れ、コレクタ電流によりダイオードＤ、を介してコ
ンデンサＣ，が充電され、端子ａ、ｂ問に直流電圧が発
生し、この直流電圧が放電灯ＬＰ、、ＬＰ２が寿命末期
となったことを示す異常検出信号となる。なお、コンデ
ンサＣ１に並列接続されている抵抗Ｒ６は、コンデンサ
Ｃ８の充電電荷を適当な時定数で放電させるための抵抗
である。また、トランジスタＱ３、Ｑ４のベース・エミ
ッタ間電圧Ｖｌｌｙは一定値（約０．７Ｖ）であり、電
位差検出用インピーダンス素子Ｒ，の両端の電位差を判
定する異常判定値■ｔｈも一定値（約０．７Ｖ）となる
が、電位差検出用インピーダンス素子Ｒ６の抵抗値を変
更することによって両端に発生する電位差を調整できる
ので、相対的な異常判定値を自由に設定できることにな
り、異常判定値ｖｔｈが一定となることによる支障はな
い。On the other hand, if an end-of-life abnormality occurs in either discharge lamp LP+ or LP2, the amplitude or phase of the lamp voltage of that discharge lamp LPLP will change, causing the bridge circuit to become unbalanced and A potential difference is generated between both ends of the impedance element R6 and output as a detection signal Vd, and the polarity of this potential difference is reversed depending on which of the discharge lamps LP, LP2 becomes abnormal at the end of its life. and,
The potential difference input to the terminals c and d corresponds to the polarity of the transistor Q3. The base-emitter voltage Vat(
When the abnormality judgment value Vth) is reached, the transistors Q, ,Q
The base current flows into one of the transistors Q3.
Q is turned on. As a result, resistors R1 and R3
A collector current flows through the transistors Q, Q, which are turned on through the potential difference detection impedance element R6, and the collector current charges the capacitor C through the diode D, and direct current flows between terminals a and b. A voltage is generated, and this DC voltage becomes an abnormality detection signal indicating that the discharge lamps LP, LP2 have reached the end of their lifespan. Note that a resistor R6 connected in parallel to the capacitor C1 is a resistor for discharging the charge in the capacitor C8 at an appropriate time constant. In addition, the base-emitter voltage Vlly of the transistors Q3 and Q4 is a constant value (approximately 0.7 V), and the abnormality judgment value However, by changing the resistance value of the potential difference detection impedance element R6, the potential difference generated between both ends can be adjusted, so the relative abnormality judgment value can be set freely, and the abnormality judgment value vth can be adjusted. There is no problem with it being constant.
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、上述の従来例にあっては、放電灯Ｌ Ｐ
＋ 、 Ｌ Ｐ ２の寿命末期異常以外の原因で生じ
るランプ電圧の変動（例えば、周囲温度の変動、電源電
圧の変動など）に影響されることなく、放電灯ＬＰ、、
ＬＰ２の寿命末期異常を高精度で検出できるようになっ
ているが、異常検出感度が一定になっていたので、高温
時における異常検出動作が適切に行われず、電子部品に
ストレスが加わって劣化し、信頼性が低下する場合があ
るという問題があった。[Problem to be solved by the invention] However, in the above-mentioned conventional example, the discharge lamp L P
The discharge lamp LP,...
It is now possible to detect end-of-life abnormalities in LP2 with high accuracy, but because the abnormality detection sensitivity was fixed, abnormality detection was not performed properly at high temperatures, which caused stress to be applied to electronic components and cause them to deteriorate. However, there was a problem in that reliability may deteriorate.
すなわち、異常検出レベルは、第２図に点線で示すよう
に、周囲温度Ｔに対して一定レベルになるので、実際に
装着した放電灯ＬＰ、、ＬＰ２のばらつきや、トランジ
スタＱ、、Ｑ、の温度特性のばらつきなどにより、所定
の異常判定ができなくなる可能性があり、特に高温時に
おいて適切な異常て劣化が著しくなり、信頼性が低下す
るという問題があった。In other words, the abnormality detection level is at a constant level with respect to the ambient temperature T, as shown by the dotted line in Fig. 2, so it is possible to There is a possibility that a predetermined abnormality determination cannot be made due to variations in temperature characteristics, etc., and there is a problem in that, especially at high temperatures, appropriate abnormalities cause significant deterioration and reduce reliability.
一方、異常検出レベルを全体的に下げると、上述の不動
作が回避できるものの、放電灯ＬＰＬＰ、が正常に点灯
している場合において、異常検出信号が出力される誤動
作が発生する場合があるという問題があった。On the other hand, if the abnormality detection level is lowered overall, the above-mentioned non-operation can be avoided, but even when the discharge lamp LPLP is lighting normally, a malfunction in which an abnormality detection signal is output may occur. There was a problem.
本発明は上記の点に鑑みて為されたものであり、その目
的とするところは、高温時における異常検出動作が適切
に行われ、電子部品にストレスが加わって劣化すること
がなく、高信頼性が得られる放電灯点灯装置を提供する
ことにある。The present invention has been made in view of the above points, and its purpose is to ensure that abnormality detection operations at high temperatures are performed appropriately, that electronic components are not subjected to stress and deteriorate, and that they are highly reliable. An object of the present invention is to provide a discharge lamp lighting device that provides high performance.
［課題を解決するための手段］
本発明の放電灯点灯装置は、点灯回路の出力端に接続さ
れた放電灯の寿命末期異常を検出する検出回路と、上記
検出回路から出力される検出信号が予め設定された異常
判定値を越えたときに異常検出信号を出力する判定回路
とよりなるランプ異常検出手段を具備した放電灯点灯装
置において、を、低温時よりも高温時において高くする
温度補償手段を設けたものである。[Means for Solving the Problems] A discharge lamp lighting device of the present invention includes a detection circuit for detecting an end-of-life abnormality of a discharge lamp connected to an output end of a lighting circuit, and a detection signal output from the detection circuit. In a discharge lamp lighting device equipped with a lamp abnormality detection means comprising a judgment circuit that outputs an abnormality detection signal when a preset abnormality judgment value is exceeded, the temperature compensation means makes the temperature higher at high temperatures than at low temperatures. It has been established.
［作 用］
本発明は上述のように構成されており、点灯回路の出力
端に接続された放電灯の寿命末期異常を検出する検出回
路と、上記検出回路から出力される検出信号が予め設定
された異常判定値を越えたときに異常検出信号を出力す
る判定回路とよりなるランプ異常検出手段を具備した放
電灯点灯装置において、上記検出回路および判定回路に
よる異常検出感度を、低温時よりも高温時において高く
する温度補償手段を設けたものであり、高温時における
異常検出動作が適切に行われ、電子部品にストレスが加
わって劣化することがなく、高信頼性が得られる放電灯
点灯装置を提供することができるようになっている。[Function] The present invention is configured as described above, and includes a detection circuit for detecting an end-of-life abnormality of a discharge lamp connected to the output end of a lighting circuit, and a detection signal output from the detection circuit set in advance. In a discharge lamp lighting device equipped with lamp abnormality detection means comprising a judgment circuit that outputs an abnormality detection signal when the abnormality judgment value exceeds the abnormality judgment value, the abnormality detection sensitivity of the detection circuit and judgment circuit is set to be higher than that at low temperatures. A discharge lamp lighting device that is equipped with a temperature compensation means that increases the temperature at high temperatures, performs abnormality detection appropriately at high temperatures, does not deteriorate due to stress on electronic components, and achieves high reliability. It is now possible to provide
［実施例］
第１図は本発明一実施例を示すもので、点灯回路ｌの出
力端に接続された放電灯ＬＰＩ、ＬＰ２の寿命末期異常
を検出する検出回路５と、上記検出回路５から出力され
る検出信号Ｖｄが予め設定された異常判定値ｖｔｈを越
えたときに異常検出信号を出力する判定回路６とよりな
るランプ異常検出手段３を具備した従来例と同様の放電
灯点灯装置において、上記検出回路５および判定回路６
による異常検出感度を、低温時よりも高温時において高
くする温度補償手段を設けたものであり、実施例では、
複数（実施例では２個）の放電灯ＬＰ１、ＬＰ２のラン
プ電圧の電圧差を検出するように前記検出回路５を形成
し、上記電圧差（検出信号Ｖｄ）が異常判定値ｖｔｈを
越えたときに異常検出信号が出力されるように判定回路
６を形成している。また２実施例では、従来例の検出回
路５の電位差検出用インピーダンス素子Ｒ５に代えて、
正特性サーミスタＴＰＯ，を用いて検出回路５を形成し
、検出回路５がら出力される検出信号Ｖｄのレベルを周
囲温度Ｔに応じて変化させるように温度補償手段を形成
し、高温時に検出信号Ｖｄのレベルを高くするようにし
ている。[Embodiment] FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, which includes a detection circuit 5 for detecting an end-of-life abnormality in the discharge lamps LPI and LP2 connected to the output terminal of the lighting circuit 1, and a In a discharge lamp lighting device similar to the conventional example, comprising a lamp abnormality detection means 3 comprising a judgment circuit 6 that outputs an abnormality detection signal when the output detection signal Vd exceeds a preset abnormality judgment value vth. , the detection circuit 5 and the determination circuit 6
A temperature compensation means is provided to make the abnormality detection sensitivity higher at high temperatures than at low temperatures, and in the embodiment,
The detection circuit 5 is formed to detect the voltage difference between the lamp voltages of a plurality of (two in the embodiment) discharge lamps LP1 and LP2, and when the voltage difference (detection signal Vd) exceeds the abnormality judgment value vth. The determination circuit 6 is formed so that an abnormality detection signal is outputted. In addition, in the second embodiment, instead of the potential difference detection impedance element R5 of the detection circuit 5 of the conventional example,
The detection circuit 5 is formed using a positive characteristic thermistor TPO, and a temperature compensation means is formed so as to change the level of the detection signal Vd outputted from the detection circuit 5 according to the ambient temperature T. I am trying to raise the level of this.
以下、実施例の動作について説明する。いま、放電灯Ｌ
Ｐ、、ＬＰ２のランプ電圧の電圧差を検出するように前
記検出回路５が形成されており、上記電圧差、すなわち
、検出回路５がら出力される検出信号Ｖｄが異常判定値
ｖｔｈを越えたときに判定回路６がら異常検出信号が出
方されるようになっている。ここに、検出回路５の正特
性サーミスタＴＰＣ，の抵抗値Ｒｔは、第３図に示すよ
うに、周囲温度Ｔに応じて変化するので、検出回路らか
ら出力される検出信号Ｖｄのレベルが周囲温度が高くな
るに従って大きくなり、異常判定値Ｖｔｈが一定である
ので、異常検出レベルは、第２図に実線で示すように、
周囲温度Ｔが高くなるに従って相対的に低くなって異常
検出感度は低くなる。したがって、異常判定感度は、高
温時に低温時よりも高くなり、高温時における異常検出
動作が適切に行われ、電子部品にストレスが加わって劣
化することがなく、高信頼性が得られることになる。The operation of the embodiment will be described below. Now, the discharge lamp L
The detection circuit 5 is formed to detect the voltage difference between the lamp voltages of P, LP2, and when the voltage difference, that is, the detection signal Vd output from the detection circuit 5 exceeds the abnormality judgment value vth. An abnormality detection signal is output from the determination circuit 6. Here, as shown in FIG. 3, the resistance value Rt of the positive characteristic thermistor TPC of the detection circuit 5 changes depending on the ambient temperature T, so that the level of the detection signal Vd output from the detection circuit etc. The abnormality detection level increases as the temperature increases, and since the abnormality judgment value Vth is constant, the abnormality detection level is as shown by the solid line in Fig. 2.
As the ambient temperature T becomes higher, it becomes relatively lower and the abnormality detection sensitivity becomes lower. Therefore, the abnormality detection sensitivity is higher at high temperatures than at low temperatures, and abnormality detection operations are performed appropriately at high temperatures, and electronic components are not subject to stress and deterioration, resulting in high reliability. .
第４図は他の実施例を示すもので、ダイオードＤ、に正
特性サーミスタＴＰＣ２を直列接続し、正特性サーミス
タＴ Ｐ Ｃ２を介してコンデンサＣ５を充電すること
により、異常判定値ｖｔｈを周囲温度に応じて変化させ
るように判定回路６を形成し、高温時に異常判定値ｖｔ
ｈを低くするようにしたものである。FIG. 4 shows another embodiment, in which a positive characteristic thermistor TPC2 is connected in series to the diode D, and a capacitor C5 is charged via the positive characteristic thermistor TPC2, so that the abnormality judgment value vth is adjusted to the ambient temperature. The judgment circuit 6 is formed to change the abnormality judgment value vt at high temperature.
This is to lower h.
いま、実施例では、正特性サーミスタＴＰＣ２の抵抗値
が周囲温度によって変化することにより、異常判定値ｖ
ｔｈが高温時に低く設定されることになり、判定回路６
における異常検出感度を、低温時よりも高温時において
高くすることができ、高温時における異常検出動作が適
切に行われ、電子部品にストレスが加わって劣化するこ
とがなく、高信頼性が得られる。In the present embodiment, the resistance value of the positive temperature coefficient thermistor TPC2 changes depending on the ambient temperature, so that the abnormality judgment value v
th is set low when the temperature is high, and the determination circuit 6
The anomaly detection sensitivity can be made higher at high temperatures than at low temperatures, and anomaly detection operations are performed appropriately at high temperatures, ensuring high reliability without stress on electronic components and deterioration. .
第５図はさらに他の実施例を示すもので、直流電圧Ｅを
抵抗Ｒ２および正特性サーミスタＴＰＣ。FIG. 5 shows yet another embodiment in which the DC voltage E is connected to a resistor R2 and a positive characteristic thermistor TPC.
にて分圧して異常判定値ｖｔｈを形成し、コンパレータ
ｃｐ、、ｃｐ２にて検出信号ｖｄと異常判定値ｖｔｈと
を比較し、比較出力にてダイオードＤ２、Ｄ３を介して
コンデンサｃ１を充電するようにして判定回路６を形成
したものであり、その動作は前記第４図実施例と同様で
ある。The voltage is divided to form an abnormality judgment value vth at The judgment circuit 6 is formed in the same manner, and its operation is the same as that of the embodiment shown in FIG.
［発明の効果］
本発明は上述のように構成されており、点灯回路の出力
端に接続された放電灯の寿命末期異常を検出する検出回
路と、上記検出回路から出力される検出信号が予め設定
された異常判定値を越えたときに異常検出信号を出力す
る判定回路とよりなるランプ異常検出手段を具備した放
電灯点灯装置において、上記検出回路および判定回路に
よる異常検出感度を、低温時よりも高温時において高く
する温度補償手段を設けたものであり、高温時における
異常検出動作が適切に行われ、電子部品にストレスが加
わって劣化することがなく、高信頼性が得られる放電灯
点灯装置を提供することができるという効果がある。[Effects of the Invention] The present invention is configured as described above, and includes a detection circuit for detecting an end-of-life abnormality in a discharge lamp connected to the output end of a lighting circuit, and a detection signal output from the detection circuit in advance. In a discharge lamp lighting device equipped with lamp abnormality detection means consisting of a judgment circuit that outputs an abnormality detection signal when a set abnormality judgment value is exceeded, the abnormality detection sensitivity of the detection circuit and judgment circuit is The discharge lamp is equipped with a temperature compensation means that increases the temperature when the temperature is high, and the abnormality detection operation at high temperatures is performed appropriately, and the electronic components are not subjected to stress and deteriorated, resulting in highly reliable discharge lamp lighting. This has the advantage that the device can be provided.
第１図は本発明一実施例の回路図、第２図および第３図
は同上の動作説明図、第４図は他の実施例の要部回路図
、第５図はさらに他の実施例の要部回路図、第６図は従
来例の回路図である。
１は点灯回路、２は制御回路、３はランプ異常検出手段
、５は検出回路、６は判定回路である。Fig. 1 is a circuit diagram of one embodiment of the present invention, Figs. 2 and 3 are explanatory diagrams of the same operation as above, Fig. 4 is a main circuit diagram of another embodiment, and Fig. 5 is still another embodiment. FIG. 6 is a circuit diagram of a conventional example. 1 is a lighting circuit, 2 is a control circuit, 3 is lamp abnormality detection means, 5 is a detection circuit, and 6 is a determination circuit.
Claims (4)
異常を検出する検出回路と、上記検出回路から出力され
る検出信号が予め設定された異常判定値を越えたときに
異常検出信号を出力する判定回路とよりなるランプ異常
検出手段を具備した放電灯点灯装置において、上記検出
回路および判定回路による異常検出感度を、低温時より
も高温時において高くする温度補償手段を設けたことを
特徴とする放電灯点灯装置。(1) A detection circuit that detects an end-of-life abnormality in the discharge lamp connected to the output end of the lighting circuit, and an abnormality detection signal when the detection signal output from the detection circuit exceeds a preset abnormality judgment value. In a discharge lamp lighting device equipped with lamp abnormality detection means consisting of a judgment circuit that outputs a value of Characteristic discharge lamp lighting device.
うに前記検出回路を形成し、上記電圧差が異常判定値を
越えたときに異常検出信号が出力されるように判定回路
を形成したことを特徴とする請求項１記載の放電灯点灯
装置。(2) The detection circuit is formed to detect a voltage difference between the lamp voltages of a plurality of discharge lamps, and the judgment circuit is formed so that an abnormality detection signal is output when the voltage difference exceeds an abnormality judgment value. The discharge lamp lighting device according to claim 1, characterized in that:
応じて変化させるように温度補償手段を形成し、高温時
に検出信号レベルを高くするようにしたことを特徴とす
る請求項１記載の放電灯点灯装置。(3) The sensor according to claim 1, characterized in that the temperature compensating means is formed so as to change the detection signal level outputted from the detection circuit according to the temperature, and the detection signal level is increased at high temperatures. Electric light lighting device.
判定回路を形成し、高温時に異常判定値を低くするよう
にしたことを特徴とする請求項１記載の放電灯点灯装置
。(4) The discharge lamp lighting device according to claim 1, wherein the determination circuit is formed to change the abnormality determination value in accordance with the ambient temperature, so that the abnormality determination value is lowered at high temperatures.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33545089A JPH03194899A (en) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | Electric discharge lamp lighting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33545089A JPH03194899A (en) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | Electric discharge lamp lighting device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03194899A true JPH03194899A (en) | 1991-08-26 |
Family
ID=18288696
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33545089A Pending JPH03194899A (en) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | Electric discharge lamp lighting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03194899A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001326088A (en) * | 2000-05-17 | 2001-11-22 | Shihen Tech Corp | Discharge lamp lighting device |
-
1989
- 1989-12-25 JP JP33545089A patent/JPH03194899A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001326088A (en) * | 2000-05-17 | 2001-11-22 | Shihen Tech Corp | Discharge lamp lighting device |
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