JPH03188312A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
- Publication number
- JPH03188312A JPH03188312A JP30671890A JP30671890A JPH03188312A JP H03188312 A JPH03188312 A JP H03188312A JP 30671890 A JP30671890 A JP 30671890A JP 30671890 A JP30671890 A JP 30671890A JP H03188312 A JPH03188312 A JP H03188312A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- light
- step parts
- lead frame
- emitting source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明は、三角測量方式を用いたカメラの測距装置に関
する。
する。
（従来の技術）
自動焦点カメラに用いられる測距装置として、被写体に
向けて測距ビームを照射し、被写体からの反射光を光電
変換素子で受光し、三角測量方式によって被写体までの
間を測距するものが用いられている。このような方式に
よる従来の測距装置は、一般に画面内での測距範囲が狭
く、例えば人物２人が並んでいる場合、ファインダーの
中央部を２人の間に合わせると測距ビームは２人の間に
照射され、人物の背景にピントが合ってしまい、誤測距
となる。
向けて測距ビームを照射し、被写体からの反射光を光電
変換素子で受光し、三角測量方式によって被写体までの
間を測距するものが用いられている。このような方式に
よる従来の測距装置は、一般に画面内での測距範囲が狭
く、例えば人物２人が並んでいる場合、ファインダーの
中央部を２人の間に合わせると測距ビームは２人の間に
照射され、人物の背景にピントが合ってしまい、誤測距
となる。
このような問題点を解決するには、たとえば第４図に示
すように画面の複数地点を測距することが考えられる。
すように画面の複数地点を測距することが考えられる。
この−例として、複数の発光素子を投光レンズと受光レ
ンズとを結ぶ基線長方向に沿って１列に配置し、発光素
子列と受光素子とを水平方向に並べる方式が、米国特許
第４４７０６８１号明細書や特開昭６０−１４０３０６
号公報に示されている。
ンズとを結ぶ基線長方向に沿って１列に配置し、発光素
子列と受光素子とを水平方向に並べる方式が、米国特許
第４４７０６８１号明細書や特開昭６０−１４０３０６
号公報に示されている。
これらはいずれも複数の発光素子を順次点灯させ、発光
素子から生じる測距ビームにより被写体を水平方向に走
査し、被写体からの反射光が受光素子に入射する位置を
検出して距離を算出するもので、前述した従来例より広
い測距装置を得ることができる。
素子から生じる測距ビームにより被写体を水平方向に走
査し、被写体からの反射光が受光素子に入射する位置を
検出して距離を算出するもので、前述した従来例より広
い測距装置を得ることができる。
しかし、上記公知例の前者では、点灯された発光素子に
より基線長が変化するので、瞬時に距離を算出できない
という問題点がある。この傾向は発光素子の数が増すと
顕著になる。ところが、発光素子の数が少ないと測距エ
ラーが多くなるので、発光素子を多くせざるを得ず、上
記問題点が顕著に生じる。
より基線長が変化するので、瞬時に距離を算出できない
という問題点がある。この傾向は発光素子の数が増すと
顕著になる。ところが、発光素子の数が少ないと測距エ
ラーが多くなるので、発光素子を多くせざるを得ず、上
記問題点が顕著に生じる。
また、上記公知例の後者では、測距ビームの方向がファ
インダーの光軸方向とずれるので、ファインダー内に測
距範囲を表示できない。すなわち、測距範囲を測距装置
と撮影レンズとで一致させることができない。
インダーの光軸方向とずれるので、ファインダー内に測
距範囲を表示できない。すなわち、測距範囲を測距装置
と撮影レンズとで一致させることができない。
上述した各問題点を解決すべく、複数の発光素子を基線
長方向と直交する方向に一列に並置し、基線長を不変と
し、かっ測距ビームとファインダーの光軸方向とを一致
させた測距装置が、特願昭６１−６７４５９号として提
案されている。
長方向と直交する方向に一列に並置し、基線長を不変と
し、かっ測距ビームとファインダーの光軸方向とを一致
させた測距装置が、特願昭６１−６７４５９号として提
案されている。
さらに、単一の半導体基板上に複数個の測距用発光源（
Ｌ Ｅ Ｄ）としてＰＮ接合部を設置するものが、たと
えば特開昭６１−１３４０８５号公報で知られている。
Ｌ Ｅ Ｄ）としてＰＮ接合部を設置するものが、たと
えば特開昭６１−１３４０８５号公報で知られている。
ところが、複数個の測距用発光源（Ｌ Ｅ Ｄ）の間隔
が広い場合は、単一の半導体基板上に複数個のＬＥＤを
構成することは非常にコストがかかる。
が広い場合は、単一の半導体基板上に複数個のＬＥＤを
構成することは非常にコストがかかる。
（発明が解決しようとする課題）
上述のような測距装置において、測距誤差を少なくして
正確な測距を行なうための１つの条件として、複数の発
光源の位置決めが重要な意味を持つ。すなわち、受光素
子の位置に対して、複数の発光素子の位置を設計値の基
線長連りに正確に位置合わせをすることが重要であるが
、コストが上昇するとともに生産性に問題を有している
。
正確な測距を行なうための１つの条件として、複数の発
光源の位置決めが重要な意味を持つ。すなわち、受光素
子の位置に対して、複数の発光素子の位置を設計値の基
線長連りに正確に位置合わせをすることが重要であるが
、コストが上昇するとともに生産性に問題を有している
。
反対に、たとえば平板状のリードフレームに発光源とし
てのＬＥＤチップをボンディングマシンで個々に装着す
れば、発光源の量産効率は良くなるものの、ボンディン
グマシンが、ＬＥＤチップを位置決めする位置決め精度
が、そのまま測距の精度に影響をおよぼす問題を有して
いる。
てのＬＥＤチップをボンディングマシンで個々に装着す
れば、発光源の量産効率は良くなるものの、ボンディン
グマシンが、ＬＥＤチップを位置決めする位置決め精度
が、そのまま測距の精度に影響をおよぼす問題を有して
いる。
本発明は、上記問題点に鑑みなされたもので、容易な構
成で高い測距精度を得ることができる測距装置を提供す
ることを目的とする。
成で高い測距精度を得ることができる測距装置を提供す
ることを目的とする。
（問題点を解決するための手段）
本発明の測距装置は、複数の発光源と少なくとも１つの
受光素子により複数地点の測距を行なう測距装置におい
て、上記発光源は、リードフレーム上に形成された複数
の段差部にそれぞれ半導体としての素片を取付けたもの
である。
受光素子により複数地点の測距を行なう測距装置におい
て、上記発光源は、リードフレーム上に形成された複数
の段差部にそれぞれ半導体としての素片を取付けたもの
である。
（作用）
本発明は、リードフレームに複数の段差部を形成し、こ
の段差部に半導体の素片を取付け、複数の発光源を形成
させる。そして、半導体の素片が発光すると、段差部全
体で反射し、外部から観察すると段差部全体が発光する
ように見え、各段差部が発光源となるので、半導体の素
片が微妙な位置ずれを生じても、各発光源としての発光
位置には変化を生じない。
の段差部に半導体の素片を取付け、複数の発光源を形成
させる。そして、半導体の素片が発光すると、段差部全
体で反射し、外部から観察すると段差部全体が発光する
ように見え、各段差部が発光源となるので、半導体の素
片が微妙な位置ずれを生じても、各発光源としての発光
位置には変化を生じない。
（実施例）
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
まず、第２図により、三角測量手段を用いた測距装置の
基本構成を説明する。この第２図は、横（Ｘ軸）が３６
ｍｍ、縦（Ｚ軸）が２４ｍｍの撮像面を有する、いわゆ
る３５＋ｎ＋ｉカメラを示しており、撮影レンズ１１の
上下に、縦（２軸）方向の基線長ｌを保って投光レンズ
１２および受光レンズ１３を配置している。＋４． １
５．１６はそれぞれ発光源で、これら各発光源１４．１
５．１６は、投光レンズ１２と対向し、かつ、前記基線
長ｌの方向と直交するＸ軸方向に沿って並設されている
。１８は受光装置で、この受光装置１８は受光素子とし
て一次元半導体装置検出素子を用いており、前記受光レ
ンズ１３と対向し、かつ、その長さ方向が基線長ｌに沿
う縦（Ｚ軸）方向に配設されている。この受光装置１８
には、前記複数の発光源１４．１５．１６によって照射
され、被写体１９によって反射された反射光がそれぞれ
図示横方向に受光される。この受光装置１８上の受光位
置は、被写体１９までの距離に応じて縦（２軸）方向に
変位する。
基本構成を説明する。この第２図は、横（Ｘ軸）が３６
ｍｍ、縦（Ｚ軸）が２４ｍｍの撮像面を有する、いわゆ
る３５＋ｎ＋ｉカメラを示しており、撮影レンズ１１の
上下に、縦（２軸）方向の基線長ｌを保って投光レンズ
１２および受光レンズ１３を配置している。＋４． １
５．１６はそれぞれ発光源で、これら各発光源１４．１
５．１６は、投光レンズ１２と対向し、かつ、前記基線
長ｌの方向と直交するＸ軸方向に沿って並設されている
。１８は受光装置で、この受光装置１８は受光素子とし
て一次元半導体装置検出素子を用いており、前記受光レ
ンズ１３と対向し、かつ、その長さ方向が基線長ｌに沿
う縦（Ｚ軸）方向に配設されている。この受光装置１８
には、前記複数の発光源１４．１５．１６によって照射
され、被写体１９によって反射された反射光がそれぞれ
図示横方向に受光される。この受光装置１８上の受光位
置は、被写体１９までの距離に応じて縦（２軸）方向に
変位する。
第３図は複数の発光源１４．１５．１６と投光レンズ１
２との関係を拡大して示しており、各発光源１４゜１５
、１６は一定の幅Ｗを有し、中心部間隔Ｘで一列に配列
されている。この場合、各発光源＋４．１５゜１６には
半導体の素片としてＰＮ接合部から赤外光を発光させる
ＬＥＤを用いており、そのＬＥＤチップの幅寸法が発光
源１４．１５．１６の幅Ｗとなる。
２との関係を拡大して示しており、各発光源１４゜１５
、１６は一定の幅Ｗを有し、中心部間隔Ｘで一列に配列
されている。この場合、各発光源＋４．１５゜１６には
半導体の素片としてＰＮ接合部から赤外光を発光させる
ＬＥＤを用いており、そのＬＥＤチップの幅寸法が発光
源１４．１５．１６の幅Ｗとなる。
なお、第１図のように、リードフレーム２１に、プレス
やパンチ等によりこのリードフレーム２１の面より下面
の段差部２１！を形成し、この内部にＬＥＤチップをボ
ンディングした場合、発光源１４．１５゜１６の幅Ｗは
、ＬＥＤチップの幅Ｗより大きな段差部２１ａの開口幅
となる。
やパンチ等によりこのリードフレーム２１の面より下面
の段差部２１！を形成し、この内部にＬＥＤチップをボ
ンディングした場合、発光源１４．１５゜１６の幅Ｗは
、ＬＥＤチップの幅Ｗより大きな段差部２１ａの開口幅
となる。
上述の構成により、リードフレーム２１の段差部２］ａ
で位置決めされた発光源１４．１５．１６が得られる。
で位置決めされた発光源１４．１５．１６が得られる。
また、段差部２１３の深さは、一方の半導体部（たとえ
ばＰ型半導体の部分）の厚さ以上にすれば、特に効果的
である。すなわち、発光源＋４．１５゜１６であるＬＥ
Ｄチップが段差部２１１内に没入するので、段差部２１
ａの側壁等ので発光光線を有効に反射し、発光源１４．
１５．１６のほぼ全部を被写体方向に投射できるからで
ある。
ばＰ型半導体の部分）の厚さ以上にすれば、特に効果的
である。すなわち、発光源＋４．１５゜１６であるＬＥ
Ｄチップが段差部２１１内に没入するので、段差部２１
ａの側壁等ので発光光線を有効に反射し、発光源１４．
１５．１６のほぼ全部を被写体方向に投射できるからで
ある。
なお、上記実施例の説明は３５ｍｍカメラについて行な
ったが、ビデオカメラ、その他のものにも適用できる。
ったが、ビデオカメラ、その他のものにも適用できる。
本発明によれば、リードフレームに段差部を形成し、こ
の段差部に半導体の素片を取付けることにより、正確に
位置決めできるので、容易な構成で高い測距精度を得る
ことができる。
の段差部に半導体の素片を取付けることにより、正確に
位置決めできるので、容易な構成で高い測距精度を得る
ことができる。
第１図は本発明によるカメラの測距装置の一実施例にお
ける発光源の構成例を示す断面図、第２図は本発明が適
用対象となる測距装置の構成例を示す斜視図、第３図は
発光源と投光レンズとの関係を示す拡大図、第４図は被
写体への測距ビーム照射状態を説明する図である。 ！４．１５．１６・・発光源、１８・・受光素子を有す
る受光装置、２１・・リードフレーム、２１ａ段差部。 平成２年１１月１３日 発 明 者 竹 花 同 道 同 近 藤 邦太部 同 小 松 賢 次
ける発光源の構成例を示す断面図、第２図は本発明が適
用対象となる測距装置の構成例を示す斜視図、第３図は
発光源と投光レンズとの関係を示す拡大図、第４図は被
写体への測距ビーム照射状態を説明する図である。 ！４．１５．１６・・発光源、１８・・受光素子を有す
る受光装置、２１・・リードフレーム、２１ａ段差部。 平成２年１１月１３日 発 明 者 竹 花 同 道 同 近 藤 邦太部 同 小 松 賢 次
Claims (1)
- （１）複数の発光源と少なくとも１つの受光素子により
複数地点の測距を行なう測距装置において、 上記発光源は、リードフレーム上に形成された複数の段
差部にそれぞれ半導体としての素片を取付けたものであ
ることを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2306718A JPH0711624B2 (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2306718A JPH0711624B2 (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | 測距装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62200498A Division JPH0758366B2 (ja) | 1987-08-11 | 1987-08-11 | カメラの測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03188312A true JPH03188312A (ja) | 1991-08-16 |
| JPH0711624B2 JPH0711624B2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=17960464
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2306718A Expired - Lifetime JPH0711624B2 (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0711624B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0519911U (ja) * | 1991-08-27 | 1993-03-12 | 株式会社精工舎 | 測距装置の投光素子 |
| US7281860B2 (en) | 2003-06-06 | 2007-10-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical transmitter |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57118312U (ja) * | 1981-01-17 | 1982-07-22 | ||
| JPS61134085A (ja) * | 1984-12-05 | 1986-06-21 | Canon Inc | 発光素子 |
-
1990
- 1990-11-13 JP JP2306718A patent/JPH0711624B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57118312U (ja) * | 1981-01-17 | 1982-07-22 | ||
| JPS61134085A (ja) * | 1984-12-05 | 1986-06-21 | Canon Inc | 発光素子 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0519911U (ja) * | 1991-08-27 | 1993-03-12 | 株式会社精工舎 | 測距装置の投光素子 |
| US7281860B2 (en) | 2003-06-06 | 2007-10-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical transmitter |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0711624B2 (ja) | 1995-02-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4867570A (en) | Three-dimensional information processing method and apparatus for obtaining three-dimensional information of object by projecting a plurality of pattern beams onto object | |
| KR20200043952A (ko) | 구조형 광의 프로젝터 | |
| KR20120084738A (ko) | 고속, 고해상도, 3차원 태양 전지 검사 시스템 | |
| CN100585615C (zh) | 检测*** | |
| JP5966467B2 (ja) | 測距装置 | |
| US20070127038A1 (en) | Optical measuring device | |
| CN110249199B (zh) | 接合装置以及接合对象物的高度检测方法 | |
| JP2001203234A (ja) | ボンディング装置およびボンディング方法 | |
| JP2005241340A (ja) | マルチ測距装置 | |
| JP2002139304A (ja) | 距離測定装置、及び距離測定方法 | |
| US10382642B2 (en) | Image reading apparatus | |
| EP2538171A1 (en) | Method for adjusting floodlight beam | |
| US20150192528A1 (en) | Method and apparatus for determining coplanarity in integrated circuit packages | |
| US10976560B2 (en) | Navigation device, illumination system and light beam shaping optics thereof | |
| JP2007170948A (ja) | 幅測定装置、端部位置検出装置、端部厚さ測定装置、及び形状測定装置 | |
| JPH03188312A (ja) | 測距装置 | |
| US20050206883A1 (en) | Single source, single camera inspection system | |
| JPS6130689B2 (ja) | ||
| JP4466083B2 (ja) | 測距用光源及び測距装置 | |
| EP0606770B1 (en) | A measuring-point member for optical measurement | |
| US5719663A (en) | Range finder apparatus | |
| JP2005251795A (ja) | 発光ダイオードを備えた光源及びそれを用いた測距装置 | |
| JP3348908B2 (ja) | 測距装置 | |
| JP2764121B2 (ja) | 自動焦点調節装置 | |
| US20050175217A1 (en) | Using target images to determine a location of a stage |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080208 Year of fee payment: 13 |