JPH0318786A - 放射線検出装置 - Google Patents
放射線検出装置Info
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- JPH0318786A JPH0318786A JP15210589A JP15210589A JPH0318786A JP H0318786 A JPH0318786 A JP H0318786A JP 15210589 A JP15210589 A JP 15210589A JP 15210589 A JP15210589 A JP 15210589A JP H0318786 A JPH0318786 A JP H0318786A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 31
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 16
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 7
- 239000000835 fiber Substances 0.000 abstract description 24
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 abstract description 9
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 2
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 abstract 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 9
- HTUMBQDCCIXGCV-UHFFFAOYSA-N lead oxide Chemical compound [O-2].[Pb+2] HTUMBQDCCIXGCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N lead(II) oxide Inorganic materials [Pb]=O YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 3
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 3
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 3
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 2
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 2
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000005194 fractionation Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000033764 rhythmic process Effects 0.000 description 1
- 229910052959 stibnite Inorganic materials 0.000 description 1
- YPMOSINXXHVZIL-UHFFFAOYSA-N sulfanylideneantimony Chemical compound [Sb]=S YPMOSINXXHVZIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、X線等の放射線を検出する放射線検出装置に
関し、特に数10μ一程度の微細構造を有する電子部品
等の被検体を拡大して透視する際に用いられる放射線検
出装置に関する。
関し、特に数10μ一程度の微細構造を有する電子部品
等の被検体を拡大して透視する際に用いられる放射線検
出装置に関する。
(従来の技術)
従来の放射線検出装置の一例を第9図に示す。
第9図は、従来のX線ビジコン(ブランビコン)チュー
ブ101を示す。このX線ビジコンチューブ101は通
常のビジコンチューブが硫化アンチモン(Sb2S3
)をターゲット材として用いているのに対して一酸化鉛
(Pb O)を用いると共に、フェースプレート103
の材質をX線吸収量が小であるベリリウム(Be )板
としたものである。
ブ101を示す。このX線ビジコンチューブ101は通
常のビジコンチューブが硫化アンチモン(Sb2S3
)をターゲット材として用いているのに対して一酸化鉛
(Pb O)を用いると共に、フェースプレート103
の材質をX線吸収量が小であるベリリウム(Be )板
としたものである。
この従来のX線用ビジコンチューブ101は、円筒状の
ガラス管の前面のフェースプレート103の裏面側に図
示しない透明導電膜を被膜形威し、さらにこの透明導電
膜の上側に光導電材料である一酸化鉛を被膜してターゲ
ットを形威している。
ガラス管の前面のフェースプレート103の裏面側に図
示しない透明導電膜を被膜形威し、さらにこの透明導電
膜の上側に光導電材料である一酸化鉛を被膜してターゲ
ットを形威している。
また、この透明導電膜の外周には、当該透明導電膜から
信号電流を取り出すための信号電極105が巻回される
。さらにガラス管の内部には図示しないカソード、ヒー
タ等からなる電子銃が内装され、該ガラス管の外側には
偏向用等の複数のコイルが配置される。
信号電流を取り出すための信号電極105が巻回される
。さらにガラス管の内部には図示しないカソード、ヒー
タ等からなる電子銃が内装され、該ガラス管の外側には
偏向用等の複数のコイルが配置される。
一方、放射線の検出にこのX線用ビジコンチュブ101
を用いない方法も検討されている。例えば、 SPIE,Vol.486,P141 〜P14519
84年, Medical I maging and I
nstrumontationX − R A Y
imaging with two −dime
ntional charge − coupled device
( C C D ) arraysに記載されるX線
イメージングデバイス201は、第10図に示すように
、CCDエリアセンサ203のセンサ而にシンチレーシ
ョンファイバープレト205を載置して構成される。こ
のX線イメージングデバイス201は、前記X線ビジコ
ンチューブ101による場合と同等の成果か得られ、ま
た感度の向上も期待できる。
を用いない方法も検討されている。例えば、 SPIE,Vol.486,P141 〜P14519
84年, Medical I maging and I
nstrumontationX − R A Y
imaging with two −dime
ntional charge − coupled device
( C C D ) arraysに記載されるX線
イメージングデバイス201は、第10図に示すように
、CCDエリアセンサ203のセンサ而にシンチレーシ
ョンファイバープレト205を載置して構成される。こ
のX線イメージングデバイス201は、前記X線ビジコ
ンチューブ101による場合と同等の成果か得られ、ま
た感度の向上も期待できる。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、上述した従来のX線用ビジコンチューブ
101で用いられるベリリウムは、粉塵を吸入すると人
体に対し猛毒であるため、その取扱いには注意を必要と
した。またターゲットに一酸化鉛を用いることで(以下
、このターゲット材に一酸化鉛を用いたターゲットを単
にPbOタゲットという)、面欠陥の少ないターゲット
を製作することが困難となるため分留りが悪くなり、そ
のため価格の上昇を招来するものであった。
101で用いられるベリリウムは、粉塵を吸入すると人
体に対し猛毒であるため、その取扱いには注意を必要と
した。またターゲットに一酸化鉛を用いることで(以下
、このターゲット材に一酸化鉛を用いたターゲットを単
にPbOタゲットという)、面欠陥の少ないターゲット
を製作することが困難となるため分留りが悪くなり、そ
のため価格の上昇を招来するものであった。
一方、X線の捕捉効率はPbOターゲットの膜厚によっ
て決定されるが、X線の捕捉効率を高めるために膜厚を
厚くすると而欠陥の発生確率が上がり保留りをさらに悪
化させるため、所定以上の厚さにすることは好ましくな
い。そのため、このような従来のX線川ビジコンチュー
ブ101は、X線に対する感度を高めることか困難で、
かつ高価なものとなっている。
て決定されるが、X線の捕捉効率を高めるために膜厚を
厚くすると而欠陥の発生確率が上がり保留りをさらに悪
化させるため、所定以上の厚さにすることは好ましくな
い。そのため、このような従来のX線川ビジコンチュー
ブ101は、X線に対する感度を高めることか困難で、
かつ高価なものとなっている。
また、このような従来のX線用ビジコンチュブ101を
検査装置に組み込む場合、このX線ビジコンチューブ1
01の感度の不足を補う必要から、対向して配置される
X線管のX線焦点と当該X線用ビジコンチューブ101
のセンサ而,すなわちターゲット面との間の距離(以下
、単にFSDと略記する)を小さくすると共に、前記X
線管の放射X線量を増大するようにしていた。
検査装置に組み込む場合、このX線ビジコンチューブ1
01の感度の不足を補う必要から、対向して配置される
X線管のX線焦点と当該X線用ビジコンチューブ101
のセンサ而,すなわちターゲット面との間の距離(以下
、単にFSDと略記する)を小さくすると共に、前記X
線管の放射X線量を増大するようにしていた。
しかしながら放射X線量を増大させるために、第11図
(A)に示すX線管の陽極体に形成される焦点107a
(FOCUS)が第11図(B)に示す焦点107
bのように大きなものとされることから、前記センサ面
109に披検体111による半影113bが生じて画像
にボケが発生するところとなる。この半影113bが前
記FSDbを小さくすることによって、さらに増大して
画像品質を劣化させ、また検査し得る被検体111の大
きさに制限を加える等の問題が生じた。
(A)に示すX線管の陽極体に形成される焦点107a
(FOCUS)が第11図(B)に示す焦点107
bのように大きなものとされることから、前記センサ面
109に披検体111による半影113bが生じて画像
にボケが発生するところとなる。この半影113bが前
記FSDbを小さくすることによって、さらに増大して
画像品質を劣化させ、また検査し得る被検体111の大
きさに制限を加える等の問題が生じた。
また、この半影113bを小径化するために第11図(
C)に示すように前記FSDbを長くすることは(FS
Dc>FSDb) 、感度の低下及び検査装置の大型化
等の問題に回帰するに過ぎず、何ら上記問題を解決する
ものとはならない。
C)に示すように前記FSDbを長くすることは(FS
Dc>FSDb) 、感度の低下及び検査装置の大型化
等の問題に回帰するに過ぎず、何ら上記問題を解決する
ものとはならない。
一方、X線イメージングデバイス201を用いる場合、
CCDエリアセンサ203の画素配置が固定されること
から、前記X線用ビジコンチュブ101で可能な電子ズ
ーミングを行うことができない。
CCDエリアセンサ203の画素配置が固定されること
から、前記X線用ビジコンチュブ101で可能な電子ズ
ーミングを行うことができない。
また、シンチレーションファイバプレート205とCC
Dエリアセンサ203をそれぞれ構或するシンチレーシ
ョンファイバとフォトダイオードアレイの接合而は、直
接的に接合することが必要とされるが、この接合には高
度な接合技術が要求され容易ではない等の問題を有して
いる。
Dエリアセンサ203をそれぞれ構或するシンチレーシ
ョンファイバとフォトダイオードアレイの接合而は、直
接的に接合することが必要とされるが、この接合には高
度な接合技術が要求され容易ではない等の問題を有して
いる。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものでその目的と
しては、X線等の放射線に対する感度及び空間分解能に
優れ、かつ被検体を拡大して透硯する際に必要とされる
電子ズーミングを可能とする放射線検出装置を提供する
ことにある。
しては、X線等の放射線に対する感度及び空間分解能に
優れ、かつ被検体を拡大して透硯する際に必要とされる
電子ズーミングを可能とする放射線検出装置を提供する
ことにある。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するため、本発明の放射線検出装置は、
入射する放射線の放射線量に応じた光量の光に変換する
変換手段と、この変換手段で光に変換された光を所定の
方向へ導く導光手段と、この導光手段と密着して配設さ
れ当該導光手段を介して入射する光の光量に応じた電気
信号を出力する光導電形撮像管とを有して構成した。
入射する放射線の放射線量に応じた光量の光に変換する
変換手段と、この変換手段で光に変換された光を所定の
方向へ導く導光手段と、この導光手段と密着して配設さ
れ当該導光手段を介して入射する光の光量に応じた電気
信号を出力する光導電形撮像管とを有して構成した。
(作用)
本発明における放射線検出装置においては、例えば被検
体等を透過して変換手段に入射した放射線は、当該変換
手段において放射線量に応した光量の光に変換される。
体等を透過して変換手段に入射した放射線は、当該変換
手段において放射線量に応した光量の光に変換される。
この変換手段で変換され発生した光は、導光手段によっ
て散乱することなく、この導光手段と密着して配設され
る光導電形撮像管に導かれ、この光導電形撮像管におい
て前記光量に応じた電気信号として出力される。
て散乱することなく、この導光手段と密着して配設され
る光導電形撮像管に導かれ、この光導電形撮像管におい
て前記光量に応じた電気信号として出力される。
(実施例)
以下、本発明を図面を用いて詳細に説明する。
第1図は本発明の放射線検出装置に係る一実施例を示す
図である。
図である。
本実施例の放射線検出装置は光導電形撮像管であるビジ
コンチューブ1と、光をビジコンチュブ1へ導く導光手
段であるファイバプレート3と、入射するX線を光へ変
換する変換手段であるシンチレータプレート5によって
構成される。
コンチューブ1と、光をビジコンチュブ1へ導く導光手
段であるファイバプレート3と、入射するX線を光へ変
換する変換手段であるシンチレータプレート5によって
構成される。
また、前記ビジコンチューブ1は、円筒状のガラス管の
一側に内装される電子銃11と、他側の端部を蔽うフェ
ースプレート13と、このフェースプレート13の内側
面に被膜される透明導電膜15及び光導電膜であるター
ゲット17と、この透明導電膜15に正電位を印加して
ターゲッhl7から得られる信号電流を外部へ取り出す
信号電極19と、前記電子銃11から射出される電子ビ
ームを集束すると共に偏向してターゲット17の内側面
の所定の領域を走査する集束・偏向コイル21等によっ
て4lI!威される。
一側に内装される電子銃11と、他側の端部を蔽うフェ
ースプレート13と、このフェースプレート13の内側
面に被膜される透明導電膜15及び光導電膜であるター
ゲット17と、この透明導電膜15に正電位を印加して
ターゲッhl7から得られる信号電流を外部へ取り出す
信号電極19と、前記電子銃11から射出される電子ビ
ームを集束すると共に偏向してターゲット17の内側面
の所定の領域を走査する集束・偏向コイル21等によっ
て4lI!威される。
ファイバプレート3は、第2図の部分拡大図に示すよう
に多数の短軸状の光ファイバの軸方向を一方向に揃えて
、かつ密接して板状に形成したものである。この光アア
イバはコア部3aとクラッド部3bとを有し、その形態
は任意のものを用いることができる。
に多数の短軸状の光ファイバの軸方向を一方向に揃えて
、かつ密接して板状に形成したものである。この光アア
イバはコア部3aとクラッド部3bとを有し、その形態
は任意のものを用いることができる。
また、シンチレータプレート5の板厚は、入射するX線
量によって適宜変更することができる。
量によって適宜変更することができる。
すなわちX,線の透過の良い被検体を対象とする場合に
は、第3図(A)に示すように板厚の薄いシンチレータ
プレート5を用いるようにすることで、X線の入射によ
って発生した光の散乱が少なく、ボケの少ない、空間分
角q能に優れた透視画像を得ることができる。一方、第
3図(B)に示すようにX線の透過の悪い被検体を対象
とする場合には、人対するX線も少ないのでX線感度を
上げるため板厚の厚いシンチレータプレート5を用いる
。この場合、光の散乱量が増加するため、ボケの多い、
空間分8’l能の悪い透視画像となるが、一般的にX線
の透過の悪い被検体は空間分解能に対する要求レベルが
低いので特に問題とはならない。
は、第3図(A)に示すように板厚の薄いシンチレータ
プレート5を用いるようにすることで、X線の入射によ
って発生した光の散乱が少なく、ボケの少ない、空間分
角q能に優れた透視画像を得ることができる。一方、第
3図(B)に示すようにX線の透過の悪い被検体を対象
とする場合には、人対するX線も少ないのでX線感度を
上げるため板厚の厚いシンチレータプレート5を用いる
。この場合、光の散乱量が増加するため、ボケの多い、
空間分8’l能の悪い透視画像となるが、一般的にX線
の透過の悪い被検体は空間分解能に対する要求レベルが
低いので特に問題とはならない。
またシンチレータプレート5の前面には、X線を選択的
に透過すると共に光を反射する反射膜が塗布され、シン
チレータプレート5.ファイバプレート3及びフェース
プレート13の側面にはX線、光等の電磁波を反射する
反射膜が塗布される。
に透過すると共に光を反射する反射膜が塗布され、シン
チレータプレート5.ファイバプレート3及びフェース
プレート13の側面にはX線、光等の電磁波を反射する
反射膜が塗布される。
次に電子ズーミングについて第4図を参照して説明する
。この電子ズーミングは電子銃11から射出された電子
ビームの偏向量を前記集束・偏向コイル21によって変
化させて、電子ビームが走査するターゲット17の面積
を変更するものである。例えば、通常エリアBを走査し
ているものとすると、エリアAを走査するように走査面
積を拡大すると、この走査によって得られる透視画像を
CRT画面43aで目視するときにはエリアBの透視画
像より画像領域が拡大されて、すなわち被検体が縮小さ
れ・て表示されることになる。また、反対にエリアCを
走査するように走査面積を縮小すると、この走査によっ
て得られる透視画像は、画像領域が縮小されて、すなわ
ち被検体が拡大されて表示される。従って、この電子ズ
ーミングを用いると機構的に動作させることなく、被検
体の細部を拡大して、あるいは縮小して被検体の全体像
を観察することができるようになる。
。この電子ズーミングは電子銃11から射出された電子
ビームの偏向量を前記集束・偏向コイル21によって変
化させて、電子ビームが走査するターゲット17の面積
を変更するものである。例えば、通常エリアBを走査し
ているものとすると、エリアAを走査するように走査面
積を拡大すると、この走査によって得られる透視画像を
CRT画面43aで目視するときにはエリアBの透視画
像より画像領域が拡大されて、すなわち被検体が縮小さ
れ・て表示されることになる。また、反対にエリアCを
走査するように走査面積を縮小すると、この走査によっ
て得られる透視画像は、画像領域が縮小されて、すなわ
ち被検体が拡大されて表示される。従って、この電子ズ
ーミングを用いると機構的に動作させることなく、被検
体の細部を拡大して、あるいは縮小して被検体の全体像
を観察することができるようになる。
次に、本発明に係るX線検査システム3oについて第5
図を参照して説明する。
図を参照して説明する。
X線遮蔽箱31は、内部からのX線の漏洩を防止すると
共に外部からの光等の内部への侵入を遮蔽する。このX
線遮蔽箱31の内部には、図示しない被検体を載置する
載置台33と、この載置台33の所定位置に載置される
被検体にX線を照射するX線管35と、この被検体を透
過したX線を検出するX線撮像部37が内装される。ま
たこのX線撮像部37には、放射線検出装置が内蔵され
る。
共に外部からの光等の内部への侵入を遮蔽する。このX
線遮蔽箱31の内部には、図示しない被検体を載置する
載置台33と、この載置台33の所定位置に載置される
被検体にX線を照射するX線管35と、この被検体を透
過したX線を検出するX線撮像部37が内装される。ま
たこのX線撮像部37には、放射線検出装置が内蔵され
る。
コントロールユニット3つは、前記X線撮像部37と接
続されて、該X線撮像部37の動作等の制御を行うカメ
ラコントローラ39aと、放射線検出装置による電子ズ
ームの制御を行う電子ズムコントローラ39bとを備え
ている。
続されて、該X線撮像部37の動作等の制御を行うカメ
ラコントローラ39aと、放射線検出装置による電子ズ
ームの制御を行う電子ズムコントローラ39bとを備え
ている。
画像処理ユニット41は、接続されるコントロールユニ
ット39を介して人力される透視画像に各種補正等の画
像処理を施してCRT43へ出力して、CRT画面43
aへ表示させる。
ット39を介して人力される透視画像に各種補正等の画
像処理を施してCRT43へ出力して、CRT画面43
aへ表示させる。
次に他の実施例について第6図を参照して説明する。尚
、本実施例では、ビジコンチューブ1の構或については
第1図に示したと同様であり、同一番号を付して詳細な
説明を省略する。
、本実施例では、ビジコンチューブ1の構或については
第1図に示したと同様であり、同一番号を付して詳細な
説明を省略する。
本実施例においては、前記ビジコンチューブ1のフェー
スプレート13前面に変換手段及び導光手段としてのシ
ンチレーヨンファイバプレート7を密着して固設してな
る。
スプレート13前面に変換手段及び導光手段としてのシ
ンチレーヨンファイバプレート7を密着して固設してな
る。
また、このシンチレーションファイバプレート7は、多
数の短軸状のシンチレーションファイバの軸方向を一方
向に揃えて、かつ密接して板状に形威したものであって
、このシンチレーションファイバのコア部またはコア部
とクラッド部とを透明で放1・1線捕捉効率に優れた、
例えばTb2o3ドーブ等によって形成されるシンチレ
ー夕によって構成する。
数の短軸状のシンチレーションファイバの軸方向を一方
向に揃えて、かつ密接して板状に形威したものであって
、このシンチレーションファイバのコア部またはコア部
とクラッド部とを透明で放1・1線捕捉効率に優れた、
例えばTb2o3ドーブ等によって形成されるシンチレ
ー夕によって構成する。
このシンチレーションファイ/くについては、I E
E E T ransactlon on N
uclearS clence, Vol,NS−30,No.1,Feb.1983年 A Scjntillatlng Glass,
Fiber−opticplate illag
ing system ror activ
e target and traeklng
app+tcattons.−in high
energy physics experi
mentsに詳しい。
E E T ransactlon on N
uclearS clence, Vol,NS−30,No.1,Feb.1983年 A Scjntillatlng Glass,
Fiber−opticplate illag
ing system ror activ
e target and traeklng
app+tcattons.−in high
energy physics experi
mentsに詳しい。
このように構成することによって第1図に示す実施例と
比較して接合面が一箇所減るので接合而における反射に
よる損失を減少することができると共に、ファイバプレ
ート3とシンチレータ5との接合工程を省略することが
できる等の利点がある。
比較して接合面が一箇所減るので接合而における反射に
よる損失を減少することができると共に、ファイバプレ
ート3とシンチレータ5との接合工程を省略することが
できる等の利点がある。
尚、シンチレーションファイバプレート7の前面にはX
線を還択的に透過すると共に光を反射する反射膜が塗布
され、またシンチレーションファイバプレート7及びフ
ェースプレート]−3の側面にはX線、光等の電磁波を
反射する反射膜が塗布されて、効率の向上が計られてい
る。
線を還択的に透過すると共に光を反射する反射膜が塗布
され、またシンチレーションファイバプレート7及びフ
ェースプレート]−3の側面にはX線、光等の電磁波を
反射する反射膜が塗布されて、効率の向上が計られてい
る。
尚、上述したファイバプレート3及びシンチレーション
ファイバプレート7でそれぞれ用いられる光ファイバ及
びシンチレーションファイバの形状を、軸方向に同一径
としたが、本発明はこれに限定されることなく、例えば
第7図及び第8図に示すようなテーバファイバを用いて
も良い。
ファイバプレート7でそれぞれ用いられる光ファイバ及
びシンチレーションファイバの形状を、軸方向に同一径
としたが、本発明はこれに限定されることなく、例えば
第7図及び第8図に示すようなテーバファイバを用いて
も良い。
すなわち第7図は第1図に対応するものであって、シン
チレータプレート5とフェースプレート13との間に配
設されるファイバプレート3aを構成する光ファイバの
形状を、該光ファイバの軸方向一側端の口径を他側端の
口径より大あるいは小となるように形成するものであっ
て、コア部の口径も光ファイバの口径の変更に比例して
大あるいは小となる。さらに第7図(A)は、光ファイ
バの口径をフェースプレート13側で小となるように構
成したものであって視野の拡大に用い,第7図(B)は
、同フェースプレート13側で大となるよう構成したも
のであって空間分解能の向上に寄与するものである。
チレータプレート5とフェースプレート13との間に配
設されるファイバプレート3aを構成する光ファイバの
形状を、該光ファイバの軸方向一側端の口径を他側端の
口径より大あるいは小となるように形成するものであっ
て、コア部の口径も光ファイバの口径の変更に比例して
大あるいは小となる。さらに第7図(A)は、光ファイ
バの口径をフェースプレート13側で小となるように構
成したものであって視野の拡大に用い,第7図(B)は
、同フェースプレート13側で大となるよう構成したも
のであって空間分解能の向上に寄与するものである。
また、同様に第8図は第6図に対応するものであって、
フェースプレート13前面に配設されるシンチレーショ
ンファイバプレート7を構成するシンチレーションファ
イバの一側の口径を他側より大あるいは小とするもので
ある。前記第7図で示すと同様に、第8図(A)はシン
チレーションファイバの口径をフェースプレート13側
で小となるように構成して視野の拡大用として、第8図
(B)は同フェースプレート13側で大となるように構
威して空間分解能の向上用としてそれぞれ効果を奏する
。
フェースプレート13前面に配設されるシンチレーショ
ンファイバプレート7を構成するシンチレーションファ
イバの一側の口径を他側より大あるいは小とするもので
ある。前記第7図で示すと同様に、第8図(A)はシン
チレーションファイバの口径をフェースプレート13側
で小となるように構成して視野の拡大用として、第8図
(B)は同フェースプレート13側で大となるように構
威して空間分解能の向上用としてそれぞれ効果を奏する
。
上述してきたように、本実施例によればX線に対する感
度を高めることができたので、その分FSDを大きくと
ることができる。
度を高めることができたので、その分FSDを大きくと
ることができる。
従って
SSD
ボケ量一 ×(焦点の大きさ)FSD−
SSD 但し、SSD:被検体とセンサ面との距離からも明らか
なように、ボケffi(半影径)のX線管焦点の大きさ
による影響を小さくすることができ、またより大きな被
検体に対する検査も可能となる。
SSD 但し、SSD:被検体とセンサ面との距離からも明らか
なように、ボケffi(半影径)のX線管焦点の大きさ
による影響を小さくすることができ、またより大きな被
検体に対する検査も可能となる。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の放射線検出装置は光導電
形撮像管に変換手段と導光手段とを密着して設けるよう
にしたので、高感度でかつ空間分解能に優れ、さらには
光導電形撮像管による電子ズーミングも可能となる等の
効果を奏するものである。
形撮像管に変換手段と導光手段とを密着して設けるよう
にしたので、高感度でかつ空間分解能に優れ、さらには
光導電形撮像管による電子ズーミングも可能となる等の
効果を奏するものである。
第1図は本発明に係る放射線検出装置の構成を示す一部
切欠断面図、第2図は第1図で使用されるファイバプレ
ートの構戊を示す斜視図、第3図はシンチレータプレー
トの板厚と空間分解能との関係を説明する図、第4図は
電子ズーミングを説明する図、第5図は本発明の放射線
検出装置を用いたX線検査システムの構戊を示す図、第
6図は他の実施例の構成を示す一部切欠断面図、第7図
、第8図はテーバファイバの使用例を示す図、第9図は
従来のビジコンチューブの外観を示す斜視図、第10図
は従来のX線イメージングデバイスの構或を示す斜視図
、第11図はFSDと半影との関係を示す図である。 1・・・ビジコンチューブ 3・・・ファイバプレート 5・・・シンチレータプレート
切欠断面図、第2図は第1図で使用されるファイバプレ
ートの構戊を示す斜視図、第3図はシンチレータプレー
トの板厚と空間分解能との関係を説明する図、第4図は
電子ズーミングを説明する図、第5図は本発明の放射線
検出装置を用いたX線検査システムの構戊を示す図、第
6図は他の実施例の構成を示す一部切欠断面図、第7図
、第8図はテーバファイバの使用例を示す図、第9図は
従来のビジコンチューブの外観を示す斜視図、第10図
は従来のX線イメージングデバイスの構或を示す斜視図
、第11図はFSDと半影との関係を示す図である。 1・・・ビジコンチューブ 3・・・ファイバプレート 5・・・シンチレータプレート
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 入射する放射線の放射線量に応じた光量の光に変換する
変換手段と、 この変換手段で光に変換された光を所定の方向へ導く導
光手段と、 この導光手段と密着して配設され当該導光手段を介して
入射する光の光量に応じた電気信号を出力する光導電形
撮像管と を有することを特徴とする放射線検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15210589A JPH0318786A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 放射線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15210589A JPH0318786A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 放射線検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0318786A true JPH0318786A (ja) | 1991-01-28 |
Family
ID=15533164
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15210589A Pending JPH0318786A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 放射線検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0318786A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002505794A (ja) * | 1997-06-13 | 2002-02-19 | ガタン・インコーポレーテッド | 電子顕微鏡の影像検出器の解像度を改良しノイズを低減する方法及び装置 |
JP2009085776A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Japan Science & Technology Agency | 生体内情報を画像化するためのツールおよびその利用 |
-
1989
- 1989-06-16 JP JP15210589A patent/JPH0318786A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002505794A (ja) * | 1997-06-13 | 2002-02-19 | ガタン・インコーポレーテッド | 電子顕微鏡の影像検出器の解像度を改良しノイズを低減する方法及び装置 |
JP2009085776A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Japan Science & Technology Agency | 生体内情報を画像化するためのツールおよびその利用 |
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