JPH03167434A - Apparatus for inspecting tightly sealed container - Google Patents
Apparatus for inspecting tightly sealed containerInfo
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- JPH03167434A JPH03167434A JP30480289A JP30480289A JPH03167434A JP H03167434 A JPH03167434 A JP H03167434A JP 30480289 A JP30480289 A JP 30480289A JP 30480289 A JP30480289 A JP 30480289A JP H03167434 A JPH03167434 A JP H03167434A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、密封容器の検査装置に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to a sealed container inspection device.
特に、例えば輸液容器（点滴容器）、注射液容器（アン
プル）等の医療用の密封容器で、特に５年前後という長
年月の保存においても内容物に全く変化を生じることの
ないように数μから数十μオーダーのピンホールの存在
をも許されないような高度の密封性が要求される密封容
器についての密封不良の検査に用いる検査装置に関する
もので、そこにおいて対象とする「密封不良」は、シー
ルが不完全であることにより生じるシール不良あるいは
シールとは関係なく存在する容器自体のピンホール等で
ある。In particular, for medical sealed containers such as infusion containers (intravenous drip containers) and injection containers (ampoules), the number of micro-micrometers is particularly important to ensure that the contents do not change at all even after being stored for many years, especially around 5 years. This is an inspection device used to inspect for sealing defects in sealed containers that require a high level of sealing performance that does not allow even the presence of pinholes on the order of tens of microns. , a seal failure caused by an incomplete seal, or a pinhole in the container itself that exists regardless of the seal.
したがって、この明細書で、「密封不良部分」という場
合には、シール不良部分あるいはピンホール等を意味し
ている。また、この明細書で「密封容器」とは、内部に
液体等が入っていない状態でも一定の形状を維持してい
る「硬質容器」だけでなく、内部に液体等が入っていな
い状態では立体形状を維持しない「軟質バッグ」のよう
なものも含むものとする。Therefore, in this specification, the term "poor sealing portion" means a sealing failure portion, a pinhole, or the like. In addition, in this specification, a "sealed container" refers not only to a "rigid container" that maintains a certain shape even when there is no liquid inside, but also to a "hard container" that maintains a certain shape even when there is no liquid inside. It also includes items such as "soft bags" that do not maintain their shape.
この種の検査に関しては、例えば、特開昭６０−９ ０
１ １ ８号、特開昭６０−２０４４３１号、特開昭
６０−２０４４３１号、特開昭ｓ６−７４０３０号、特
開昭５９−１２＼４２４６号、特開昭５９−１２４２４
７号、特開昭５８−１９３２３７号、特開昭５８−１９
３２３８号、特開昭５８−１９３２３９号、特開昭５８
−１９３２４０号あるいは特願昭６ ２ −２ １ ５
２ １ ９号等に示される技術が従来より知られてい
る。Regarding this type of inspection, for example, JP-A-60-90
1 1 8, JP-A-60-204431, JP-A-60-204431, JP-A-S6-74030, JP-A-59-12\4246, JP-A-59-12424
No. 7, JP-A-58-193237, JP-A-58-19
No. 3238, JP-A-58-193239, JP-A-58
-193240 or patent application 1986 2-2 1 5
The technique shown in No. 219 and the like has been known from the past.
これらの従来技術、例えば特願昭６ ２ −２ １ ５
２１９号に示される真空度の差による検査方法では、か
なり精度が高いものの、一定の真空度の設定やその維持
の困難性、あるいは漏れ出る気体による真空度の変化量
等の条件から、精々６０μ位のピンホールまで検出でき
るだけである。These conventional techniques, for example, Japanese Patent Application No. 62-21-5
Although the inspection method based on the difference in the degree of vacuum shown in No. 219 is quite accurate, it is difficult to set and maintain a constant degree of vacuum, and the amount of change in the degree of vacuum due to leaking gas, etc. It is only possible to detect pinholes as small as 1.
しかし、６０μ位のピンホールの検出では、上述したよ
うに、要求されるのが数μオーダーのものの検出という
ことであるから、未だ不十分である。However, detection of pinholes of about 60 μm is still insufficient because, as described above, what is required is detection of pinholes on the order of several μm.
そこで、この発明では、６０μ以下のような小さいピン
ホールをも検出できる検査が可能な検査装置を提供しよ
うとするものである。Therefore, an object of the present invention is to provide an inspection device capable of detecting pinholes as small as 60 μm or less.
具体的には、この発明による検査装置は、密封容器を一
定以下の真空度とされた真空チャンバ内に所定時間保持
することにより、充填されている液体を真空雰囲気によ
り密封不良部分より密封容器の外面に漏出させ、この漏
出した液体を真空雰囲気により急激に気化させることに
より、密封不良部分の外面部位の温度を部分的に低下さ
せ、それから、密封容器を真空チャンバ内より取り出し
、密封不良部分の外面部位の温度が部分的に低下した状
態が維持されている間に、この密封容器の外面の熱画像
を捉えることにより、密封不良部分を検出するようにし
てなる検査方法に用いるものであって、寝た状態で搬送
されて来る検査対象の密封容器を直立させる直立手段、
直立状態で所定の軌道上を搬送されて来る各密封容器を
左右に振り分け左右方向で所定個数が横列する横列ブロ
ックとさせる横列手段、複数の横列ブロックを収容可能
な真空チャンバを複数備え、この複数の真空チャンバが
所定の周上を回転するようになっている真空処理手段、
横列ブロックを真空チャンバのボトムプレートへ、また
はボトムプレートから移載自在である移載手段、横列ブ
ロックから各密封容器を取り出して各密封容器ごとに搬
送される状態になるようにする解横列手段、及び個々に
搬送されて来る各密封容器の熱画像を捉える熱画像処理
手段を備えてなるものである。Specifically, the inspection device according to the present invention maintains a sealed container in a vacuum chamber with a vacuum level below a certain level for a predetermined period of time, and uses a vacuum atmosphere to remove the filled liquid from the poorly sealed portion of the sealed container. By causing the leaked liquid to leak to the outside surface and rapidly vaporizing it in a vacuum atmosphere, the temperature of the external surface area of the poorly sealed area is partially lowered.Then, the sealed container is taken out from the vacuum chamber and the leaked liquid is rapidly vaporized in a vacuum atmosphere. This method is used for an inspection method that detects a poorly sealed area by capturing a thermal image of the external surface of the sealed container while the temperature of the external surface area is maintained in a partially decreased state. , an upright means for uprighting a sealed container to be inspected that is transported in a lying state;
A rowing means for distributing each sealed container conveyed in an upright state on a predetermined orbit to the left and right to form a predetermined number of row blocks in a row in the left and right direction, a plurality of vacuum chambers capable of accommodating a plurality of row blocks, and a plurality of vacuum chambers capable of accommodating a plurality of row blocks. a vacuum processing means configured to rotate a vacuum chamber on a predetermined circumference;
a transfer means capable of freely transferring the row blocks to or from the bottom plate of the vacuum chamber; a disassembly means for taking out each sealed container from the row block and transporting each sealed container one by one; and thermal image processing means for capturing thermal images of each sealed container individually transported.
この検査装置は、密封不良部分より漏出する液体による
温度むらを持った熱画像により密封不良部分を検出する
ようにしている点に特徴があり、同時に、検査精度を上
げるため、つまり密封不良部分を熱画像において捉え易
くするために、真空処理を行って密封不良部分からの液
体の漏出の促進及び漏出した液体の気化の促進を行うよ
うにしている点に特徴がある。そして、この検査装置は
、そのために、個々に搬送されてくる密封容器を一旦横
列ブロックとし、この横列ブロックを複数個真空チャン
バ内に収容して処理するようにしている点を一つの特徴
とするが、これにより、長時間を要する真空処理と短時
間で済む熱画像処理との関係が調整され、連続的したー
ライン化が可能となって、処理速度の向上が図られるこ
とになる。This inspection device is unique in that it uses a thermal image with temperature irregularities due to liquid leaking from the defective seal to detect the defective seal, and at the same time, to improve inspection accuracy, In order to make it easier to capture in thermal images, vacuum treatment is performed to promote the leakage of liquid from poorly sealed areas and the vaporization of the leaked liquid. One of the features of this inspection device is that, for this purpose, the sealed containers that are individually transported are made into row blocks, and a plurality of row blocks are housed in a vacuum chamber for processing. However, as a result, the relationship between vacuum processing, which requires a long time, and thermal image processing, which takes a short time, is adjusted, and continuous line processing becomes possible, thereby improving processing speed.
また、複数の真空チャンバを所定の周上を回転させる点
も一つの特徴であるが、これにより、真空処理時間が十
分に取れてより正確な検査が可能となり、また密封容器
の反転が行われることになるので、密封容器内に空隙部
があってもここが検査漏れとなるようなことがなく、確
実な検査が行われることになる。Another feature is that multiple vacuum chambers are rotated on a predetermined circumference, which allows for sufficient vacuum processing time and enables more accurate inspection, and also allows for the inversion of sealed containers. Therefore, even if there is a gap in the sealed container, the inspection will not be missed, and the inspection will be performed reliably.
以下、この発明による検査装置の一実施例を説明する。 An embodiment of the inspection device according to the present invention will be described below.
先ず、この実施例で対象とする密封容器について説明す
る。First, the sealed container targeted in this example will be explained.
密封容器１は、第２図に示すような医療用の注射液アン
プル１で、この注射液アンプル１は内部に液体等が入っ
ていない状態でも一定の形状を維持している「硬質容器
」タイプで、先端にシール部２がある、例えば２． ５
ａｍΦＸ７ｃｍというような比較的小さな円筒状のも
のである。The sealed container 1 is a medical injection ampoule 1 as shown in Fig. 2, and the injection ampoule 1 is a "hard container" type that maintains a certain shape even when there is no liquid inside. There is a seal part 2 at the tip, for example 2. 5
It has a relatively small cylindrical shape with a diameter of 7 cm.
この実施例の場合には、このような注射液アンプルｌが
５個仮接続されたアンプルセットＳを１個の「密封容器
」として検査対象としている。In the case of this embodiment, an ampoule set S in which five such injection solution ampoules 1 are temporarily connected is treated as one "sealed container" to be inspected.
このアンプルセットＳは、密封工程が終了した後、適宜
の処理を施すことによりその表面に付着水分が全く存在
しない状態とされて、後述の検査装置ｌＯに供給されて
来る。After the sealing process is completed, the ampoule set S is subjected to appropriate treatment so that no moisture adheres to its surface, and is then supplied to the inspection device 1O, which will be described later.
検査装置ｌＯは、直立手段ｌｌ、横列手段１２、真空処
理手段ｌ３、移載手段１４、解横列手段ｌ５及び熱画像
処理手段ｌ６を備えてなるものである。The inspection apparatus 1O is equipped with an upright means 11, a row means 12, a vacuum processing means 13, a transfer means 14, a resolution row means 15, and a thermal image processing means 16.
直立手段１１は、寝た状態で搬送されて来るアンプルセ
ットＳを直立させるためのもので、従来公知の姿勢変更
コンベア等を用いることができる。The uprighting means 11 is for standing up the ampoule set S that has been conveyed in a lying state, and a conventionally known posture changing conveyor or the like can be used.
横列手段１２は、振分けアーム１２ａを備えており、一
列で送られて来るアンプルセットＳを左右に振り分け複
数列、この例ではｌＯ列に横列させて横列ブロックＢと
するためのものである。振分けアーム１２ａで振り分け
られたアンプルセットＳは、ｌＯ列に対応するように並
列された薄いガイド板ｌ７にガイドされる状態で、横列
ブロックＢを維持しながら搬送されて行く。このような
横列手段１２には、例えば特公昭５ ３ −３ ２ ５
８２号に示されるような技術を用いることができる。The row means 12 is provided with a distribution arm 12a, and is used to distribute the ampoule sets S sent in one row to the left and right and arrange them in a plurality of rows, in this example 10 rows, to form a row block B. The ampoule sets S distributed by the distribution arm 12a are conveyed while maintaining the row blocks B while being guided by thin guide plates 17 arranged in parallel corresponding to the 10 rows. Such row means 12 includes, for example,
A technique such as that shown in No. 82 can be used.
真空処理手段１３は、複数、この例では８個の横列ブロ
ックＢを収容可能な真空チャンバｌ８を複数、この例で
は４個備えているもので、各真空チャンバ１８は回転体
ｌ９の周囲に等間隔で取り付けられており、回転体ｌ９
が与える周上を回転するようになっている。The vacuum processing means 13 is equipped with a plurality of vacuum chambers 18 that can accommodate a plurality of, in this example four, vacuum chambers 18 that can accommodate a plurality of row blocks B, eight in this example, and each vacuum chamber 18 is arranged equally around the rotating body l9. They are installed at intervals, and the rotating body l9
It rotates on the circumference given by .
移載手段１４は、横列ブロックＢを一括して取上げ得る
ような構造を持つアーム部２０をレール部２１により矢
示Ｘ方向に移動自在としてなるもので、第１ポジション
Ｐ＋においては真空チャンバｌ８のボトムプレート１８
ｃヘコンベア２２から横列ブロックＢを移載し、第２ポ
ジションＰ２においてはボトムプレー｝１８ｃからコン
ベア２２へ横列ブロックＢを移載するものである。The transfer means 14 has an arm section 20 having a structure that can pick up the row blocks B all at once, and is movable in the direction of the arrow X by means of a rail section 21. At the first position P+, the arm section 20 is configured to be able to pick up the row blocks B all at once. Bottom plate 18
In the second position P2, the row blocks B are transferred from the bottom play 18c to the conveyor 22.
解横列手段ｌ５は、前述の横列手段ｌ２とは逆の働きを
するもので、横列ブロックＢから各アンプルセットＳを
取り出して各アンプルセットＳごとに搬送される状態に
するためのものである。この解横列手段ｌ５にも同様に
特公昭５３−３２５８２号に示されるような技術を用い
ることができる。The solution row means 15 has a function opposite to that of the row means 12 described above, and is for taking out each ampoule set S from the row block B and making it possible to transport each ampoule set S individually. Similarly, the technology shown in Japanese Patent Publication No. 53-32582 can be used for this solution row means 15.
熱画像処理手段１６は、赤外線映像装置２３を内蔵する
もので、この赤外線映像装置２３によりアンプルセット
Ｓの熱画像を捉えるようになっている。The thermal image processing means 16 has an infrared imaging device 23 built therein, and is configured to capture a thermal image of the ampoule set S by this infrared imaging device 23.
以下、この検査装置ｌＯによる検査の状態について説明
する。Hereinafter, the state of inspection by this inspection device IO will be explained.
皇皇聾里
アンプルセットＳがＩＯ列で形成された横列ブロックＢ
を８個、移載手段ｌ４でボトムプレート１８ｃの上に移
載し、それからボトムプレートｌ８ｃを真空チャンバｌ
８にセットする。このようにして、８０個のアンプルセ
ット８１つまり４００個の注射液アンプルｌを同時に、
一定以下の真空度とされた真空チャンバｌ８内で所定時
間、つまり真空チャンバｌ８が一回転する間の時間保持
して真空条件下に晒す。Row block B in which Emperor Huang Shengli Ampoule Set S is formed in IO rows
are transferred onto the bottom plate 18c by the transfer means l4, and then the bottom plate l8c is placed in the vacuum chamber l.
Set to 8. In this way, 80 ampoule sets 81, that is, 400 injection solution ampoules L, were simultaneously prepared.
It is held in the vacuum chamber l8, which has a degree of vacuum below a certain level, for a predetermined period of time, that is, the period during which the vacuum chamber l8 rotates once, and is exposed to the vacuum condition.
これにより、もしアンプルセットＳ中の各注射液アンプ
ルｌに密封不良部分、例えばピンホールがあれば、その
ピンホールから注射液アンプル１内の液体が真空という
条件により吸引されることにより促進されて漏れ出る。As a result, if each injection ampoule l in the ampoule set S has a poorly sealed part, such as a pinhole, the liquid in the injection ampoule 1 will be sucked through the pinhole due to the vacuum condition. It leaks out.
ここで、真空チャンバｌ８が回転するようになっている
ので、注射液アンプルｌは一旦は必ず反転し、注射液ア
ンプルｌ内に液体の詰まっていない空隙部１ｅがあって
もここが検査漏れとなるようなことがなく、確実な検査
が行われることになる。Here, since the vacuum chamber l8 is designed to rotate, the injection liquid ampoule l is always turned upside down once, and even if there is a gap 1e that is not filled with liquid in the injection liquid ampoule l, this will be considered as a missed part of the inspection. There will be no such thing, and a reliable inspection will be carried out.
そして、漏れ出た液体は真空雰囲気により急激に気化し
、その際に急激な気化に応じて多量に気化潜熱を奪うこ
とにより注射液アンプル１の外面部位の温度を部分的に
大きく低下させる。Then, the leaked liquid is rapidly vaporized by the vacuum atmosphere, and at this time, a large amount of latent heat of vaporization is taken away in response to the rapid vaporization, thereby significantly lowering the temperature of the outer surface portion of the injection liquid ampoule 1 locally.
以上の説明から分かるように、真空処理の目的の一つが
ピンホールからの液体の漏出を促進することにあるので
、真空処理の条件つまり真空チャンバｌ８内の排気速度
は、検査精度つまり検査対象となり得るピンホールのサ
イズに関係することになり、要求される検査条件、つま
り検査精度、検査速度等に応じて具体的に定められる。As can be seen from the above explanation, one of the purposes of vacuum processing is to promote leakage of liquid from pinholes, so the conditions of vacuum processing, that is, the pumping speed in vacuum chamber l8, are important for inspection accuracy, that is, the object of inspection. It is related to the size of the pinhole to be obtained, and is specifically determined according to the required inspection conditions, ie, inspection accuracy, inspection speed, etc.
また、処理時間は、液体の漏出量に関係する範囲で検査
精度とも関係するが、同時に、漏出した液体による外面
の温度分布の変化にも関係し、余り長いと温度差を平均
化することになるので、両者の兼ね合いにより決定され
る。In addition, the processing time is related to the inspection accuracy insofar as it is related to the amount of liquid leaked, but at the same time, it is also related to changes in the temperature distribution on the outer surface due to the leaked liquid, and if it is too long, it may be difficult to average out the temperature difference. Therefore, it is decided based on the balance between the two.
熱画像検査
所定の真空処理が終了したら、ピンホール部分の外面部
位の温度が部分的に低下した状態のアンプルセットＳを
真空チャンバｌ８内より取り出し、前述の赤外線映像装
置２３でその熱画像を捉える。Thermal image inspection When the prescribed vacuum treatment is completed, the ampoule set S, whose temperature at the outer surface of the pinhole portion has partially decreased, is taken out from the vacuum chamber l8, and its thermal image is captured by the aforementioned infrared imaging device 23. .
赤外線映像装置２３というのは周知のように、対象物の
外面から放射される赤外線により画像を捉えるもので、
温度に応じた階調を以て対象物の外面の温度分布状態を
熱画像として表すことのできるものである。As is well known, the infrared imaging device 23 captures images using infrared rays emitted from the outer surface of an object.
It is possible to represent the temperature distribution state on the outer surface of an object as a thermal image using gradation according to the temperature.
したがって、この赤外線映像装置２３により上記の如き
アンプルセットＳの熱画像を捉えると、周囲より温度の
低いピンホール部分を周囲とは異なった階調により画像
として捉えることができる。Therefore, when a thermal image of the ampoule set S as described above is captured by the infrared imaging device 23, the pinhole portion whose temperature is lower than the surrounding area can be captured as an image with a different gradation from the surrounding area.
勿論、この「画像として捉える」ことは実際の視覚、つ
まりモニタによる画像である必要はなく、単なるデータ
として取り込み、ピンホールの存在を自動的に判断する
ことも可能である。Of course, this ``capturing as an image'' does not have to be actual vision, that is, an image on a monitor; it is also possible to capture it as mere data and automatically determine the presence of a pinhole.
ここで、解像度について説明すると、現在可能な解像度
の一例は、２５６の階調と、０． １ ’Ｃの温度分解
能との組合せにより得られるもので、具体的には、０．
１’ｃＸ２ ５ ６＝２５．６℃の範囲において０．１
℃の差異まで検出できる。つまり、注射液アンプルｌの
表面温度をＸ℃前後とすると、赤外線映像装置２３の観
測温度範囲をＸ−１２．５°Ｃ〜Ｘ＋１２．５℃とする
ことにより、この間に入る温度であれば、０．１℃の差
異を持つ部位がそれに対応する階調により画像として得
られるということである。Here, to explain the resolution, an example of currently possible resolution is 256 gradations and 0. This is obtained by combining it with a temperature resolution of 1'C, specifically 0.
1'cX2 5 6 = 0.1 in the range of 25.6℃
It can detect differences up to ℃. In other words, if the surface temperature of the injection solution ampoule 1 is around X°C, by setting the observation temperature range of the infrared imaging device 23 to X-12.5°C to X+12.5°C, if the temperature falls within this range, This means that regions with a difference of 0.1° C. can be obtained as images with corresponding gradations.
島二王息立星別
ピンホールの存否により良・不良に分け、良品はそのま
まラインに流してその後の処理を継続し、不良品はライ
ンより排除する゛。Products are classified as good or defective based on the presence or absence of pinholes, and good products are sent directly to the line for further processing, while defective products are removed from the line.
この良・不良の分別は、モニタ画像を利用して視覚によ
り人的に行ってもよいが、上述したように熱画像をデー
タ的に捉え、コンピュータによる自動的処理とするのが
より好ましい。This classification of good and bad products may be performed manually visually using a monitor image, but it is more preferable to capture the thermal image as data and automatically process it using a computer, as described above.
以上の如き処理により検出し得たピンホールは、そのサ
イズを確認できたものが約３０μであった。The size of the pinholes detected by the above process was approximately 30 μm.
そして、この３０μのピンホールの場合には、前述した
解像度の数十倍である約４〜５℃の温度差が得られた。In the case of this 30 μm pinhole, a temperature difference of about 4 to 5° C. was obtained, which is several tens of times the resolution mentioned above.
もっとも、このことは、３０μというサイズが限界であ
るというのではなく、単にこれ以下のサイズのピンホー
ルを人工的に形成するのが非常に難しいという理由によ
るものであって、３０μのピンホールにおける液体の漏
出状態及び熱画像の前述の如き明瞭性及びこれに関連し
てなされた間接的な実験から、たとえｌＯμ以下のピン
ホールでも十分検出し得ることの見通しが得られている
。However, this is not because the size of 30μ is the limit, but simply because it is extremely difficult to artificially form pinholes smaller than this size. The above-mentioned clarity of the liquid leakage state and the thermal image, and the indirect experiments conducted in this connection, have given rise to the prospect that even pinholes smaller than 10μ can be detected satisfactorily.
〔発明の効果〕
この発明に係る密封容器の検査装置は、以上説明してき
た如く、真空処理と熱画像処理との組合せによる言わば
顕微鏡的拡大による微小な密封不良の検査を可能とする
ものであり、しかもこのような検査を高速で且つ確実に
行えるものであり、例えば医療用の密封容器に対する信
頼性の向上に大きく寄与できるという秀れた効果がある
。[Effects of the Invention] As explained above, the sealed container inspection device according to the present invention is capable of inspecting minute sealing defects through microscopic magnification using a combination of vacuum processing and thermal image processing. Moreover, such an inspection can be performed quickly and reliably, and has the excellent effect of greatly contributing to improving the reliability of, for example, medical sealed containers.
第ｌ図は、この発明による検査装置の概略斜視図、そし
て
第２図は、密封容器の概略斜視図である。
ｌ・・・・・・・密封容器
１０−・・・・・・・検査装置
１１・・・・・・・・直立手段
ｌ２，・−・・・・・横列手段
１３・・・・・・・・真空処理手段
１４・・−・・−・一移載手段
ｌ５・・・・・−・・解横列手段
ｌ６・・・・・・・・熱画像処理手段
Ｓ・・一・・−・・アンプルセット（密封容器）Ｂ・・
・・・・・・横列ブロックFIG. 1 is a schematic perspective view of an inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a schematic perspective view of a sealed container. l... Sealed container 10 - Inspection device 11 Upright means l2, Row means 13...・・Vacuum processing means 14・・・・・・・・Transfer means 15・・・・・・・Solution row means 16・・・・・Thermal image processing means S・・・・・・・・Ampoule set (sealed container) B...
...horizontal block
Claims (1)
所定時間保持することにより、充填されている液体を真
空雰囲気により密封不良部分より密封容器の外面に漏出
させ、この漏出した液体を真空雰囲気により急激に気化
させることにより、密封不良部分の外面部位の温度を部
分的に低下させ、それから、密封容器を真空チャンバ内
より取り出し、密封不良部分の外面部位の温度が部分的
に低下した状態が維持されている間に、この密封容器の
外面の熱画像を捉えることにより、密封不良部分を検出
するようにしてなる検査方法に用いる密封容器の検査装
置であって、 寝た状態で搬送されて来る検査対象の密封容器を直立さ
せる直立手段、 直立状態で所定の軌道上を搬送されて来る各密封容器を
左右に振り分け左右方向で所定個数が横列する横列ブロ
ックとさせる横列手段、 複数の横列ブロックを収容可能な真空チャンバを複数備
え、この複数の真空チャンバが所定の周上を回転するよ
うになっている真空処理手段、横列ブロックを真空チャ
ンバのボトムプレートへ、またはボトムプレートから移
載自在である移載手段、 横列ブロックから各密封容器を取り出して各密封容器ご
とに搬送される状態になるようにする解横列手段、及び 個々に搬送されて来る各密封容器の熱画像を捉える熱画
像処理手段を備えてなる密封容器の検査装置。[Claims] By keeping a sealed container in a vacuum chamber with a vacuum level below a certain level for a predetermined period of time, the liquid contained in the container is caused to leak out from the poorly sealed portion to the outer surface of the sealed container due to the vacuum atmosphere. By rapidly vaporizing the leaked liquid in a vacuum atmosphere, the temperature of the outer surface of the defective seal is partially lowered.Then, the sealed container is removed from the vacuum chamber, and the temperature of the outer surface of the defective seal is partially reduced. An inspection device for a sealed container used in an inspection method that detects a defective sealing part by capturing a thermal image of the outer surface of the sealed container while the temperature is maintained in a low state. an upright means for uprighting sealed containers to be inspected that are conveyed in an upright state, and a horizontal line that divides the sealed containers that are conveyed in an upright state on a predetermined track to the left and right to form a row block in which a predetermined number of sealed containers are arranged in rows in the left and right direction. means, a vacuum processing means comprising a plurality of vacuum chambers capable of accommodating a plurality of row blocks, the plurality of vacuum chambers rotating on a predetermined circumference; A transfer means that can be freely transferred from the plate, a disassembly means that takes out each sealed container from the row block so that each sealed container can be transported one by one, and a heat transfer means for each sealed container that is individually transported. A sealed container inspection device comprising a thermal image processing means for capturing images.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30480289A JPH03167434A (en) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | Apparatus for inspecting tightly sealed container |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30480289A JPH03167434A (en) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | Apparatus for inspecting tightly sealed container |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03167434A true JPH03167434A (en) | 1991-07-19 |
Family
ID=17937419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30480289A Pending JPH03167434A (en) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | Apparatus for inspecting tightly sealed container |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03167434A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100850681B1 (en) * | 2007-11-23 | 2008-08-06 | 홍종승 | A pressure vessel transporting and positioning equipment for pressure test of water tank type |
| JP2010151846A (en) * | 1997-05-26 | 2010-07-08 | Martin Lehmann | Method and apparatus for leak testing |
| US8459099B2 (en) | 1997-05-27 | 2013-06-11 | Wilco Ag | Method for leak testing and leak testing apparatus |
| WO2015186778A1 (en) * | 2014-06-05 | 2015-12-10 | 株式会社エヌテック | Container inspection device |
-
1989
- 1989-11-27 JP JP30480289A patent/JPH03167434A/en active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010151846A (en) * | 1997-05-26 | 2010-07-08 | Martin Lehmann | Method and apparatus for leak testing |
| US9091612B2 (en) | 1997-05-26 | 2015-07-28 | Wilco Ag | Method for leak testing and leak testing apparatus |
| US8459099B2 (en) | 1997-05-27 | 2013-06-11 | Wilco Ag | Method for leak testing and leak testing apparatus |
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| US9823262B2 (en) | 2014-06-05 | 2017-11-21 | Kabushiki Kaisha N-Tech | Container inspection device |
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