JPH03160668A - 符号間干渉除去装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、符号間干渉除去装置、特にビタビアルゴリ
ズムを応用した符号間干渉除去装置に関する． 〔発明の概要〕 この発明は、符号間干渉除去装置において、再生中のビ
ットと、該再生ビットの近傍の複数のビットとから状態
を設定し、状態に対し、ビタビアルゴリズムを適用して
磁気記録媒体に記録されているデータを再生したことに
より、高密度に磁気記録されているデータに於ける非線
型歪み、線型歪み等の符号間干渉の影響を除いてデータ
を復号できるようにしたものである． 〔従来の技術〕 高密度の磁気記録が磁気記録媒体になされるようになる
と符号間干渉が不可避的に生ずる。以下、符号間干渉に
ついて説明する． 例えば、線型伝送路によってデジタル信号が伝送される
場合、入力データ系列を（ａｔ）（ａ＋＝０、ｌ）、出
力信号をｙ（ｔ）とし、伝送路のインパルス応答をｇ（
ｔ）とすると、デジタル信号ｅ（ｔ）（ｅ（ｔ）＝１、
但し０≦ｔ≦Ｔ）が伝送された時の出力信号ｃ（ｔ）は
以下の式で表される。

ｃ（ｔ）　＝ｇ（ｔ）　＊　ｅ（ｔ） ビット間隔をＴとし、上述のｃ（ｔ）を用いると、出力
信号ｙ（ｔ）は以下の式で表される。

ｙ（ｔ）＝Σａ　１　　＊　ｃ（ｔ−ｉＴ）ここで、人
力データ系列を（ａｔ　）　＝　（１０１１００１１１
００１０　）とすると、ｃ（ｎＴ）　　＝Ｏ　（ｎ　≠
０）であれば、第９図に示されるように隣接ビットでの
出力値がｃ（ｔ）によって影響されないため、検出時点
での出力信号ｙ　（ｎＴ）はＯ或いは１となり検出が容
易となる。

そこで、通常は、等化器（イコライザ）を用いてｃ（ｎ
Ｔ）　＝　０となるようにパルス整形がなされる．しか
しながら、この等化が十分でなく、等化誤差が残ってｃ
（ｎＴ）≠０になると、第１０図に示されるように隣接
ビットに影響が及ぼされ、検出時点での出力信号　ｙ（
ｎＴ）はＯ或いは１にならない．これを符号間干渉とい
う． 〔発明が解決しようとする課題〕 上述の符号間干渉には、線型歪みと、非線型歪みとがあ
る． 従来、線型歪みに対しては、線型等化器（積分器、ロー
バスフィルタ等の組み合わせ）で等化することによって
符号間干渉の除去が行なわれていた．しかしながら、こ
の線型等化器による場合には、ノイズも強調されてしま
うので、Ｓ／Ｎが劣化してしまうという問題点があった
． そこで、バス帰還ビタビ復号で符号間干渉の除去を行な
うことが提案されている〔「アイを開かずに検出するバ
ス帰還ビタビ復号法」　池谷、井手、山光、信学技法Ｍ
Ｒ８７−３８　］　．このバス帰還ビタビ復号によって
符号間干渉の除去を行なう場合には既に復号したデータ
による符号間干渉しか除去できず、未だ復号していない
データからの符号間干渉は除去できないという問題点が
あった．一方の非線型歪みの例として、近年、高密度で
なされるようになったデジタル信号の磁気記録がある． この磁気記録過程は非線型過程であるが、媒体中の磁化
パターンが孤立磁化反転の線形な足し合わせに等しいと
仮定すれば、線型伝送路と同様に、第１１図に示される
孤立再生波形の畳み込みで再生波形を得ることができる
．尚、図中、ＡＲＩは遷移領域、１００は磁気テープを
夫々示す．デジタル信号を記録する際、第１２図に示さ
れるように、記録波長Ｔが比較的、長い場合には、上述
の仮定が成立するため、孤立再生波形の畳み込みで再生
波形を得ることができる．しかしながら、第１３図に示
されるように高密度記録によって記録波長Ｔが短くなる
につれて隣接ビットとの距離が短くなり、第１３図中、
矢示Ｙ印に示されるように、遷移領域ＡＲＩが重なり合
うようになる．そして、既に記録されている記録信号磁
界の残留磁化が、新たな記録信号磁界によって乱される
．このため、上述の孤立磁化反転の線型な足し合わの仮
定が成立し難くなり、実際の再生波形は孤立再生波形の
畳み込みで得られた波形とは一致しなくなる．この結果
、第１３図中、矢示Ｘ部に示されるような非線型歪みが
発生するという問題点があった． 現在までのところ、上述のような非線型歪みの除去につ
いては殆ど対処されておらず、非線型歪みによる符号間
干渉を除去することが望まれていた。

ところで、この非線型歪みを除去するのには、等化器を
適用することも考えられるが、従来の線型等化では不十
分で、非線型歪みに対応できないという問題点があった
．また、前述のバス帰還ビタビ復号を適用することも考
えられるが、この場合には、後続のデータによる影響が
除去されないため、正確な復号が困難で、非線型歪みに
対応できないという問題点があった． 更に、これらの符号間干渉によってエラーレートが向上
しないという問題点があった。

従ってこの発明の目的は、高密度に磁気記録されている
データに於ける非線型歪み、線型歪み等の符号間干渉を
除去し得る符号間干渉除去装置を提供することにある． 〔課題を解決するための手段〕 この発明は、再生中のビットと、該再生ビットの近傍の
複数のビットとから状態を設定し、状態に対し、ビタビ
アルゴリズムを適用して磁気記録媒体に記録されている
データを再生したｔｌｒＩｉとしている． 〔作用〕 この発明では、再生中のビットと、該再生ビットの近傍
の複数のビットとから状態が設定され、この状態に対し
、ビタビアルゴリズムが適用される．即ち、再生中のビ
ットから検出された信号と、所定の予想サンプル値とに
基づいてメトリックが求められ、このメトリックの比較
に基づいて生き残りパスが決定され、最も尤度の高い復
号値の系列が求められる． このようにして、磁気記録媒体に記録されているデータ
が再生される． 〔実施例〕 以下、この発明の実施例について第１図乃至第８図を参
照して説明する． この発明の実施例では、まず一実施例に於いて非線型歪
みの除去について説明し、次いで、他の実施例にて線型
歪み及び非線型歪みの双方の除去について説明している
。

第１図乃至第５図には、この発明の一実施例が示されて
いる． 第１図には一実施例の状態の設定が示され、第２図には
符号間干渉除去装置のブロック図が示されている。

まず、実施例の理解を容易にするため、ビタビアルゴリ
ズムの適用について説明した後、符号間干渉除去装置に
ついて説明する． 前述したように、非線型歪みの原因としては、後続ビッ
トの記録磁界が既に形威されている記録磁界（残留磁化
）を乱すこと或いは記録減磁等が考えられるので、非線
型歪みの大きさは後続データ〔これから再生しようとす
るデータ〕に依存することになる．従って、この発明で
は、検出ビッ｝ａｔ及び後続データのビットのパターン
が状態として設定され、ビタビアルゴリズムが通用され
ている． ？述の状態の数は、検出ビットａｍから何ビット後の後
続データの影響まで想定するかによって規定される．例
えば、第１図に示されるように、検出ビットａ．と、後
続データとして２ビットａＫ＊Ｉ　、ａ（＊■の合計３
ビットを想定すると、３ビット（　ａｔ　ｓ　ａｌｌ＊
１　、ａｍ＋＊　）の取り得る状態の数は８　（＝２’
　）となるので、８状態、即ち、Ｓ１　（０００）〜Ｓ
８（１１１）のビタビ復号が考えられる．この時の状態
遷移図が第３図に示され、トレリス線図が第４図に示さ
れている． 検出ビッ｝ａｘに於ける予想サンプル値Ｙｓを考える．
この予想サンプル値Ｙｓは、非線型歪み及び等化誤差の
全く無い場合、Ｙｌ−Ｙ４が０、Ｙ５〜Ｙ８が１とされ
るが、予想サンプル値Ｙｓに、後続データのビットのパ
ターンの状態Ｓ（Ｓ−３１−３８）に応じて非線型歪み
が加えられることによって、Ｙｓ＝Ｙ１〜Ｙ８の８つの
値が考えられる．尚、予想サンプル値Ｙｓは、実験的に
求められた値である．この予想サンプル値Ｙｓは、例え
ば、再生波形をデジタイズし測定値から実測したり、或
いはエラーレートを測定しながら、適応的に決定できる
． 実際の再生された信号をＺｋ　（Ｚｋ＝Ｙｓ＋ｎｋｉｎ
ｋはガウシアンノイズを想定）とし、或る状態Ｓに至る
遷移の“長さ”を、（−（Ｚｋ−Ｙｓ）８）としてビタ
ビアルゴリズムが適用される．即ち、時点（ｋ−１）に
於けるメトリックを、夫々Ｌｍ−＋　’　＋　　Ｌｍ−
＋　”　＋　’−・−・−’．Ｌｋ−１　８とする時、
各遷移の長さを考慮しつつ最大のＬ　ｋ−１　’　＋最
大のＬｋ−１　”　＊　’−・−’．　　Ｌｋ−１　”
が得られるような遷移が、夫々選択される．例えば、Ｌ
ｋｌを求める場合、第３図の状態遷移図から状態Ｓ１に
至るのは、Ｓ１若しくはＳ５であるから、ＬｋＩは、〔
Ｌお−＋　’　　　（Ｚｋ　　Ｙｌ）”　）．　　（Ｌ
ｍ−ｔ　’−（Ｚｋ−Ｙ５）”　）の２つを比較し大き
い方の値を選択することによってもとめられる．これに
より、最も確からしい状態遷移、即ち、最も確からしい
復号系列が求められる． このようにして、未だ復号されていない後続データのビ
ットのパターンを予想しつつ、最も確からしい復号系列
を選び出すことができる．以下、アルゴリズムを、第２
図を参照して説明する． 第２図の構或に於いて、磁気ヘッド２によって磁気テー
プ１から時刻ｔ　（ｋ）に於いて再生された信号Ｚｋは
、イコライザアンプ３を介してＰＬＬ４と、スイッチ５
の端子５ａに供給される．ＰＬＬ４では、再生された信
号Ｚｋからクロック信号ＣＬＫが抽出される．このクロ
ック信号ＣＬＫは端子６から取出されると共に、装置内
部の各回路に供給される。

スイッチ５は、端子７から供給されるクロック信号ＣＬ
Ｋによって開閉が制御される．スイッチ５が閉状態、即
ち、端子５ａ、５ｂが接続状態にある時に信号Ｚｋが加
算器８〜ｌ５に夫々供給される． 加算器８〜１５では、端子ｌ６〜２３から供給される所
定のサンプル値Ｙ１〜Ｙ８と、信号Ｚｋの加算が行なわ
れる．加算器８〜１５からの出力は、２乗回路２４〜３
ｌに供給される．２乗回路２４〜３ｌでは、加算器８〜
１５から供給される出力（Ｚｋ−Ｙｌ）〜（Ｚｋ−Ｙ８
）の値が２乗され負符号が付される．この２乗回路２４
〜３１からの出力（−（Ｚｋ−Ｙｌ）富）〜（一（Ｚｋ
−Ｙ８）”　）の夫々は、加算器３２〜３９に供給され
る． 加算器３２では、上述の出力（−（Ｚｋ−Ｙｌ）”）と
、比較器４０から供給される時刻Ｌ　（ｋ−１）のメト
リックＬｋ−１　’或いはＬｋ−１　’の加算がなされ
、時刻ｔ　（ｋ）に於けるメトリックｌ，ＩＩｌが求め
られ（Ｌｋ　’　＝Ｌ，ｋ−，’　−　（Ｚｋ−Ｙｌ）
寡、Ｌｋ＝Ｌｂ−ｔ　’　　　（Ｚｋ　　Ｙ５）”　）
、このメトリックＬア１がメモリ４４に供給される． メモリ４４では、端子５２を介して供給されるクロック
信号区ＣＬＫに基づいて、メトリックＬｍが取り込まれ
、比較器４０に供給される．加算器３３では、上述の出
力（−（Ｚｋ−Ｙ２）”）と、比較器４０から供給され
る時刻ｔ　（ｋ−１）のメトリックＬｋ−１　’或いは
Ｌｋ−１　’の加算がなされ、時刻ｔ　（ｋ）に於ける
メトリックＬ．′が求められ（Ｌｋ”　　＝Ｌ．−１　
　’　　−　（Ｚｋ−Ｙ２）”　、ｔ．”＝Ｌ，ｋ−，
　５−　（Ｚｋ−Ｙ２）”　）　、このメトリックｌ−
ｋｔがメモリ４５に供給される．メモリ４５では、端子
５２を介して供給されるクロック信号ＣＬＫに基づいて
、メトリックＬ，′が取り込まれ、比較器４１に供給さ
れる．加算器３４では、上述の出力（−（Ｚｋ−Ｙ３）
”）と、比較器４１から供給される時刻ｔ（ｋ−１）の
メトリックＬｋ−１　”或いはＬｋ−１　”に基づいて
、時刻ｔ　（ｋ）に於けるメトリックしｋ３が求められ
、このメトリックＬ，３がメモリ４６に供給される．メ
モリ４６では、クロック信号ＣＩＪに基づいて、メトリ
ックＬｋ３が取り込まれ、比較器４２に供給される。

加算器３５では、上述の出力（一（Ｚｋ−Ｙ４）ｔ）と
、比較器４ｌから供給される時刻ｔ（ｋ−１）のメトリ
ックＬｋ−１　”或いはＬｋ−１　”に基づいて、時刻
Ｌ　（ｋ）に於けるメトリックし，′が求められ、この
メトリックＬ％がメモリ４７に供給される．メモリ４７
では、クロック信号ＣＬＫに基づいて、メトリックｌ，
ＩＩ４が取り込まれ、比較器４３に供給される． 加算器３６では、上述の出力（−（Ｚｋ−Ｙ５）冨）と
、比較器４２から供給される時刻ｔ（ｋ−１）のメトリ
ックＬｍ−１　’或いはＬアー，？に基づいて、時刻ｔ
　（ｋ）に於けるメトリックＬヶ′が求められ、このメ
トリックＬｋＳがメモリ４８に供給される．メモリ４８
では、クロック信号ＣＬＫに基づいて、メトリックＬｋ
Ｓが取り込まれ、比較器４０に供給される． 加算器３７では、上述の出力（−（Ｚ　ｋ−Ｙ　６）”
）と、比較器４２から供給される時刻ｔ（ｋ−１）のメ
トリックＬｋ−１　’或いはＬｋ−１　’に基づいて、
時刻ｔ　（ｋ）に於けるメトリックＬ．ｈが求められ、
このメトリックＬ，′がメモリ４９に供給される．メモ
リ４９では、クロック信号ＣＬＫに基づいて、メトリッ
クＬ，′が取り込まれ、比較器４ｌに供給される． 加算器３８では、上述の出力（−（Ｚｋ−Ｙ７）”）と
、比較器４３から供給される時刻ｔ　（ｋ−１）のメト
リックＬｋ−１　’或いはＬｌｌ−１　”に基づいて、
時刻ｔ　（ｋ）に於けるメトリック［，ｌＩ？が求めら
れ、このメトリックＬｋ７がメモリ５０に供給される．
メモリ５０では、クロック信号ＣＩＪＩに基づいて、メ
トリックＬ１′が取り込まれ、比較器４２に供給される
． 加算器３９では、上述の出力（一（Ｚｋ−Ｙ８）”）と
、比較器４３から供給される時刻ｔ　（ｋ−１）のメト
リックＬ１，４或いはＬｌｌ−１−に基づいて、時刻Ｕ
（ｋ）に於けるメトリックＬｋ１が求められ、このメト
リックＬ．′がメモリ５ｌに供給される．メモリ５ｌで
は、クロック信号ＣＬＫに基づいて、メトリックＬ．“
が取り込まれ、比較器４３に供給される． 比較器４０〜４３では、第４図のトレリス線図に従って
、メトリックｌ，ｋｌ　，Ｌ，　＠の大小比較が行なわ
れ、この比較結果から、生き残りパスが決定され、後述
の規則に基づいて、状態遷移の判別が行なわれる．そし
て、“１″或いは゛゜０”をシフトレジスタ５３〜５６
に供給する．これと共に、比較器４０〜４３からは、時
刻ｔ　（ｋ）に於けるメトリックＩ，．Ｉ＝ｌ，．＠が
加算器３２〜３９にフ．イードバックされる。

第２図に示される横戒では、状態Ｓ１と３２、Ｓ３とＳ
４、Ｓ５とＳ６、Ｓ７とＳ８では、メトリンクＬｋ−１
の値は夫々、共通の値が用いられている．以下、これに
ついて説明する． 第３図の状態遷移図及び第４図のトレリス線図をみると
、状態Ｓ１に至るのは、状態Ｓ１と３５のみである．２
同様に、状７１！３２に至るのも、状態Ｓ１と５５のみ
である． 状Ｊ！３ｉＳｌに至るパスは、次の式で決定される．Ｌ
ｍ−１’一（Ｚ　ｋ−Ｙ　１）”＞Ｌ，−＋’−（Ｚ　
ｋ−Ｙ　ｌ）”　・−−｛１）この（１）式の場合には
、状態Ｓ１から状態Ｓ１への遷移と判断される． Ｌｍ−１’−（Ｚ　ｋ−Ｙ　１）”＜　Ｌｋ−１’−（
Ｚ　ｋ−Ｙ　１）”・−・−・（２）この（２）式の場
合には、状態Ｓ５から状ＢＳｌへの遷移と判断される． ここで、（Ｚｋ−Ｙｌ）”の項は共通であるから（１）
、（２）式は次のように書直される．Ｌｌ＋−１　’　
＞　Ｌｉ＋−＋　’・・・−・−・−・・−・・・−・
（３）Ｌｋ−，　’　＜ｔ，ｋ−＋　’　−・−−−一
−・・−・−・・−・（４）また、状ＬＱＳ２に至るパ
スは、次の式で決定される． Ｌｋ−１’−（Ｚ　ｋ−Ｙ　２）”＞　Ｌｌｌ−＋’−
（Ｚ　ｋ−Ｙ　２）”この（５）式の場合には、状態Ｓ
ｌから状態Ｓ２への遷移と判断される。

Ｌｍ−１’−（Ｚ　ｋ−Ｙ　２）”＜　Ｌｋ−１’−（
Ｚ　ｋ−Ｙ　２）”この（６）式の場合には、状１１ｓ
５から状ｊｉｌｓ２への遷移と判断される． ここで、（Ｚｋ−Ｙ２）”の項は共通であるから（５）
、（６）式は次のように書直される．Ｌ　１−＋　’　
＞Ｌｉ＋−＋　’・一・−・−・−・・・−・（７）Ｌ
ｍ−ｔ　’　＜Ｌｍ−＋　’・−・−・・・・・・・−
・−（８）第（３）、（４）式と、第（７）、（８）式
とは、全く同じである．これによって、次の２つの結論
が導かれる．■．遷移先が状ｊｌｑｓＩＳＳ２のいずれ
であっても同じ判別式で最も確からしいパスが決定され
る．■．その時のメトリックとしては、遷移先が状態Ｓ
１、Ｓ２のいずれであっても同じメトリック・・・−｛
５） ・・−・・（６） ［Ｌｍ−＋　’　，　Ｌｍ−＋　’　）を加えて求めら
れる．上述の２つの結論は、他の状ＪｌｌＳ３とＳ４、
Ｓ５とＳ６、Ｓ７とＳ８であっても同様である．従って
、第１図の構或に示されるように、状態Ｓ１とＳ２、Ｓ
３とＳ４、Ｓ５とＳ６、Ｓ７とＳ８の夫々について同じ
値のメトリックを用いることができる． 比較器４０では状態３１，３２に至る遷移についての判
別が行なわれ、比較器４１では状ｊｌｌｓ３、Ｓ４に至
る遷移についての判別が行なわれ、比較器４２では状ｊ
ｆｆｉｓ５、Ｓ６に至る遷移についての判別が行なわれ
、比較器４３では状態Ｓ７、Ｓ８に至る遷移についての
判別が行なわれる．この比較の結果、各パスでの復号｛
ｉ（１或いは０）が決定する．この復号値はシフトレジ
スタ５３〜５６に供給される． 本来、シフトレジスタの数は、状態数と同じだけ必要な
はずであるが、この例では、上述のように、状態Ｓｌに
至る場合もＳ２に至る場合も同じ判別式で同じ復号値を
とる．状態Ｓ３と３４、Ｓ５とＳ６、Ｓ７とＳ８でも同
様なので、シフトレジスタの数は、８つの状態数の半分
とされる．シフトレジスタ５３には状態Ｓｌ−３２に至
るパスの復号値、シフトレジスタ５４には状態Ｓ３・Ｓ
４に至るパスの復号値、シフトレジスタ５５には状１１
ｓ５・Ｓ６に至るパスの復号値、シフトレジスタ５６に
は状態Ｓ７・Ｓ８に至るパスの復号値が送られる．シフ
トレジスタ５３〜５６は、トレリス線図に従って相互に
接続されており、上述した生き残りパスの選択に従って
、復号値のシリアルロード或いはパラレルロードが行わ
れる．このシフトレジスタ５３〜５６における復号値の
シリアルロード或いはパラレルロードは、端子５２から
供給されるクロック信号ＣＬＫに同期して第５図のよう
に行なわれる．これは、トレリス線図上に於けるパスの
マージに相当する．シフトレジスタ５３〜５６からは、
復号値が判別回路５７に供給される． 判別回路５７に供給される４つの復号値は、本来、一敗
しているはずであるが、実際には、ノイズその他の影響
で一致しないことも十分に考えられる．そこで、判別回
路５７では、多数決、メトリックの大小等の基準によっ
て、復号値が選択され、端子５８から取り出される。

この実施例によれば、検出ビットａｍと、検出ビットａ
．に続く後続データとして２ビットａ１＋、ａＫ目を対
象にして状態を設定し、ビタビアルゴリズムを適用して
データを再生し復号しているので、高密度に磁気記録さ
れているデータに於いて、後続データの２ビットａ１ｌ
ｓ　ａＫｈＲによって生ずる非線型歪みを除去でき、符
号間干渉を除去できる． また、この符号間干渉の除去に際しては、線型等化器を
使用しないので、Ｓ／Ｎが劣化してしまうことを防止で
き、また、パス帰還ビタビ復号によらないので、未だ復
号していないデータからの符号間干渉を除去することが
できる． 尚、この実施例では、符号間干渉の除去の為に、検出ビ
ットａｌｌ＋と、後続データのビットａ．．１、ａ．８
の３ビットを対象にして状態を設定してい？が、これに
限定されるものではなく対象とするビット数は任意に設
定し得る． 第６図乃至第８図には、この発明の他の実施例が示され
ている． この他の実施例が、前述の一実施例と異なる点は、検出
ビットａ１の前後のビットａＫ−１　、ａｌｌ＋１を考
慮していることである．即ち、前述の一実施例では、検
出ビットに対する後続ビットａ■１、ａ　ｗｅｔの影響
である非線型歪みを除去する例について説明されている
が、この他の実施例では、検出済のビッ｝ａｌｌ−１の
影響である線型歪みをも考慮していることである． この他の実施例では、第６図に示されるように、検出ビ
ットａ．の前後の各ｌビットａＫ−１、ａＫ＋１の値が
“状態”として設定される．そして、ビタビアルゴリズ
ムに基づいて最も尤度の高い復号系列が求められる． まず、符号間干渉と、状態との関係について説明する． ノイズがないと仮定すると、検出時点ｔ＝ＫＴでの信号
の値は一意に定まる．等価誤差ＣＫであれば、ａ．＝０
ならｙ＊　−０　％　ａ　Ｋ　−１３＋１＝１である．
第７図に示されるような、誤差がある場合には符号間干
渉により、νや下の式で表される． がＯ なら 等化 は以 νＫ３Σａ！’ＣＩ＋−１ ｛一 一般的に、ｎポイントにわたり等化誤差Ｃ１が残ってい
る場合、ｙえは、２ｓ通りの値をとる．例えば、第８図
に示されるように、３ポイントにわたって等化娯差Ｃ　
＋　ｌ、Ｃ．、Ｃ，が残っている場合には、ｙ，の値は
、２３＝８通り考えられる．（ａｅ＋−＋　、ａ．、ａ
ｌｌ　）−　（００　０）ｙ＊　＝０　　（＝ｙｇ＋）
状態Ｓｌ （ａｘ−＋　、ａｘ　、ａｌｌ＋１　）　””　（００
　１）νｔ　−Ｃ−＋　　（＝３’　ｓｚ）状態Ｓ２（
ａｍ−＋　、ａｍ　、ａｗＬ−＋　）　−　（０　１　
０）９　ｍ　＝　１　　　（”ｌ　ｓｓ）状１１３３（
ａｍ−＋　、ａｗｔ　、ａ＊．ｔ　）　’＝　（Ｏ　ｌ
　１　））ｌ　＊　−　１　＋　Ｃ−＋　　（＝ｙ　ｓ
ａ）状！！Ｓ４（ａｘ−ｔ　　、ａｍ　、ａｌｌｌ　　
）　　＝　　（１　０　０）ｙｘ　＝Ｃ＋　　　（＝ｙ
ｓｓ）状ＬＱＳ５（ａ１＋　　、ａｗｒ　、ａｔ−＋　
　）　　＝　　（１　０　１　）νｘ＝ｃ−＋＋Ｃ＋　
　　（＝３’Ｓ６）状態Ｓ６（ａｍ−１　　、ａＫ，　
　ａｘ−＋　　）　　＝　（１　　１　０））’　＊　
＝　１　＋Ｃ１　　　（＝）’　ｓ，）状態Ｓ７（ａｘ
−＋　　、ａｘ　，　　ａｘ−＋　　）　　＝　　（１
　　１　１）ｙイ＝１＋Ｃ−＋＋Ｃ＋　　　Ｃ＝ｙｓｓ
）状［３８更に、非線型歪みを考慮する場合には、各パ
ターンに応じた非線型歪みα▲を、何らかの方法で求め
て加えればよい。非線型歪みは、基本的には、パターン
に依存するものであるから、このようにして、十分、非
線型特性の影響を考慮した検出が期待できる． （ａｘ−＋　、ａＫｓ　ａｚ＊１　）　＝　（Ｏ　Ｏ　
Ｏ）ｙ．＝０＋α＋（””）’ｓ＋）状態Ｓ１（　ａＩ
＋−１　、ａウ、ａ＊．＋　）＝　（ｏｏ　１）”）＊
＝Ｃ−＋＋αｇ　　（＝）ｌ　ｓｚ）状Ｌｌｔｓ２（ａ
ｍ−＋　、ａｘ　，　ａｍ．＋　）　＝　（０　１　０
　）ｙヨ＝ｌ＋α３（””）ｌｓｓ）状ｊｌｌｓ３（ａ
ｍ−＋　　、ａｘ　，ａＫ−１　　）　　”　　（０　
１　　１　）３’＊−１＋Ｃ−１＋αａ　　　（＝３’
！４）状ＬｑＳ４（ａ．Ｋ−１　　，　　ａｌ　、ａＫ
．Ｉ　　）　　＝　　（　１　０　０）ｙｗ＝Ｃ＋　＋
αｓ　　　（＝ｙｓｓ）状５１ｑ３５（ａＫ−＋　　、
ａＫ，　　ａｔ−＋　　）　　”　（ｌ　Ｏ　ｌ　））
）　＊　＝　Ｃ−＋　＋　Ｃ　＋　＋α６　　　（＝３
’ｓａ）状ＪｌｑＳ６（ａｘ−＋　　、ａｗｔ　％　　
ａＫ＊１　　）　　−　　（１　１　０）νｍ＝１＋Ｃ
１　＋αｔ　　　（−３’ｓｔ）状態Ｓ７（ａｍ−＋　
　％　　ａｘ　、ａｌｌ４１　　）　−　（１　１　１
）９　ｗ　”＝１＋Ｃ−＋＋Ｃ１　＋αＩ　　　（−３
’ｓｗ）状態Ｓ８この時の（　ａｌｌ−１　、ａｌｌ　
、ａｌｌ＋１　）を状態と考えてビタビアルゴリズムが
適用される．尚、ビタビアルゴリズムの適用、回路、遷
移図、トレリス綿図等の内容については、前述の一実施
例と同様であり、共通する部分には同一符号を付し、重
複する説明を省略する． この他の実施例によれば、前述の一実施例の効果に加え
、検出ビッ｝ａｍと、その前後の各ｌビッＦａｌｌ−１
、ａκ１を対象にして状態を設定し、ビタビアルゴリズ
ムを適用してデータを復号しているので、高密度に磁気
記録されているデータに於いて、前後の各ｌビッＦ　ａ
Ｋ−１　、ａ−，によって生ずる線型歪み、また、検出
ビッ｝ａｘに後続する後続データのビットａ１，によっ
て生ずる非線型歪みの双方を除去でき、符号間干渉を除
去できる． 〔発明の効果〕 この発明に係る符号間干渉除去装置によれば、検出ビッ
トと、その前後のビットを対象にして状態を設定し、ビ
タビアルゴリズムを応用してデータを復号しているので
、高密度に磁気記録されているデータに於ける非腺型歪
みを除去でき符号間干渉を除去できるという効果がある
．また、高密度に磁気記録されているデータに於ける線
型歪みを除去でき符号間干渉を除去できるという効果が
ある． これによって、エラーレートを向上させることができる
という効果がある． そして、符号間干渉の除去に際しては、線型等花器を使
用しないので、ノイズが強調されることがなく、Ｓ／Ｎ
が劣化してしまうことを防止できる．また、パス帰還ビ
タビ復号によらないので、未だ復号されていないデータ
からの符号間干渉を除去することができるという効果が
ある．

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例に於ける状態の設定を示す
説明図、第２図はこの発明の一実施例を示すブロック図
、第３図は状態遷移図、第４図はトレリス線図、第５図
はシフトレジスタの動作を示す略線図、第６図はこの発
明の他の実施例に於ける状態の設定を示す説明図、第７
図は等化誤差による符号間干渉を示す説明図、第８図は
等化誤差の例を示す説明図、第９図及び第ｌＯ図は夫々
等化誤差の有無に応じた出力信号のレベルを示す図、第
１１図は孤立再生波形の磁化状態を示す図、第ｌ２図は
記録信号の波長が長い場合の磁化状態を示す図、第１３
図は記録信号の波長が短い場合の磁化状態及び非線型歪
みを示す図である．図面に於ける主要な符号の説明 １、１００：磁気テープ、ａ．：検出ビット、ａＫ−Ｉ
　ＳａＫ◆Ｉ％　　ａｌｔ＋ｌ　％　　ａＫ＊２　　：
ビット％Ｓ，Ｓｌ〜Ｓ８：状態。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 再生中のビットと、該再生ビットの近傍の複数のビット
   とから状態を設定し、 上記状態に対し、ビタビアルゴリズムを適用して磁気記
   録媒体に記録されているデータを再生することを特徴と
   する符号間干渉除去装置。