JPH03135753A - ねじ表面疵検査装置の検出能チェック方法 - Google Patents
ねじ表面疵検査装置の検出能チェック方法Info
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- JPH03135753A JPH03135753A JP24746789A JP24746789A JPH03135753A JP H03135753 A JPH03135753 A JP H03135753A JP 24746789 A JP24746789 A JP 24746789A JP 24746789 A JP24746789 A JP 24746789A JP H03135753 A JPH03135753 A JP H03135753A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、金属管等のねじ部の表面疵を光学的に検査す
る装置の検出能を、その使用前にチェックする方法に関
するものである。
る装置の検出能を、その使用前にチェックする方法に関
するものである。
（従来の技術）
ねじ加工工程におけるねじ部表面の欠陥を光学的に検査
する装置は、例えば特開昭５８−１４６８４２号公報及
び特開昭５８−１４６８４３号公報に開示されている。
する装置は、例えば特開昭５８−１４６８４２号公報及
び特開昭５８−１４６８４３号公報に開示されている。
これらのねじ表面疵検査装置は、これを実際に使用する
場合、まず品質を保証するために、検出能のチェックを
行う必要がある。この検出能チェック方法としては、第
３図に示すようにねじ面に人工ｉａを入れたサンプルパ
イプ１を用いてチェックする方法が考えられる。
場合、まず品質を保証するために、検出能のチェックを
行う必要がある。この検出能チェック方法としては、第
３図に示すようにねじ面に人工ｉａを入れたサンプルパ
イプ１を用いてチェックする方法が考えられる。
第３図中、２は投光器、３は受光器、４はレーザー光、
５は光フアイバー束である。
５は光フアイバー束である。
なお、鋼板の光学式表面疵検査装置の検出能チェック方
法は、穴加工を施したテストコイルを作り、それを検出
できるか否かによって確かめられている。
法は、穴加工を施したテストコイルを作り、それを検出
できるか否かによって確かめられている。
（発明が解決しようとする課題）
しかしながら、ねじ部表面に発生する疵の大きさはその
幅で５０〜１００μｍと小さく、したがってサンプルパ
イプへの疵加工が至難であって、加工の再現性がとれな
いこと、及びねじ部にごみやほこりが付着し易く、チェ
ックの際にこれらを完全に除去することが困難であるこ
と、またねじ面が錆び易く、油漬けにすると変色したり
、取り出した時に汚れ易くなる等の理由から、人工疵を
施したサンプルパイプを保管しておきこれをチェックに
用いるという方法には問題がある。
幅で５０〜１００μｍと小さく、したがってサンプルパ
イプへの疵加工が至難であって、加工の再現性がとれな
いこと、及びねじ部にごみやほこりが付着し易く、チェ
ックの際にこれらを完全に除去することが困難であるこ
と、またねじ面が錆び易く、油漬けにすると変色したり
、取り出した時に汚れ易くなる等の理由から、人工疵を
施したサンプルパイプを保管しておきこれをチェックに
用いるという方法には問題がある。
本発明はかかる問題を解決するためになされたものであ
り、サンプルパイプねし面への疵加工が不要で、しかも
ねじ面の汚れに関係なく、必要に応じてオペレータが短
時間に検出能のチェックを実施できる方法を提供するこ
とを目的とする。
り、サンプルパイプねし面への疵加工が不要で、しかも
ねじ面の汚れに関係なく、必要に応じてオペレータが短
時間に検出能のチェックを実施できる方法を提供するこ
とを目的とする。
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために本発明に係るねじ表面疵検査
装置の検出能チェック方法は、ねじ表面の疵を光学的に
検査する装置の検出能を、切り立てねじの谷部に所定径
のワイヤ線を張ったサンプルパイプを用いて検査するこ
ととしているのである。
装置の検出能チェック方法は、ねじ表面の疵を光学的に
検査する装置の検出能を、切り立てねじの谷部に所定径
のワイヤ線を張ったサンプルパイプを用いて検査するこ
ととしているのである。
（作 用）
本発明のように、サンプルパイプの切り立てねじの谷部
に、所定径のワイヤ線を張って反射光を見ると、ねじ面
の汚れによる反射光レベルの低下がなく、ねじ山、谷部
で高い反射光レベルが得られ、ワイヤ線を張った所はワ
イヤ径に基づいた反射光レベルの低下が検知され、これ
によって装置は正常であると判断される。
に、所定径のワイヤ線を張って反射光を見ると、ねじ面
の汚れによる反射光レベルの低下がなく、ねじ山、谷部
で高い反射光レベルが得られ、ワイヤ線を張った所はワ
イヤ径に基づいた反射光レベルの低下が検知され、これ
によって装置は正常であると判断される。
（実 施 例）
第１図は本発明方法の実施態様を例示したもので、この
第１図において６はサンプルパイプ１の切り立てねじの
谷部に張掛けたワイヤ線であり、７はこのワイヤ線６に
一定の張力を付与するためのおもりである。
第１図において６はサンプルパイプ１の切り立てねじの
谷部に張掛けたワイヤ線であり、７はこのワイヤ線６に
一定の張力を付与するためのおもりである。
ところで、このワイヤ線６としては、その表面に黒色塗
装を施し、更にマイクロメータ等を用いて径を計測し確
認した例えば５０〜１００ μｍ径のものを用いる。ま
たワイヤ線の張り方に関しては磁性ワイヤにして装着さ
せる方法、或いは接着剤を用いる方法等を採用してもよ
い。
装を施し、更にマイクロメータ等を用いて径を計測し確
認した例えば５０〜１００ μｍ径のものを用いる。ま
たワイヤ線の張り方に関しては磁性ワイヤにして装着さ
せる方法、或いは接着剤を用いる方法等を採用してもよ
い。
第２図は本発明の実施によるワイヤ線（同図（イ））と
ねじ反射光分布図（同図（ロ））であり、このねじ反射
光を同図（ハ）に示すように、あるスライスレベルで２
値化するのである。
ねじ反射光分布図（同図（ロ））であり、このねじ反射
光を同図（ハ）に示すように、あるスライスレベルで２
値化するのである。
本来ねじは決まった等ピッチで加工されているため、２
値化されたハイＨ，ローＬ信号は一定の時間ｔ、になる
。しかし疵が存在する場合、このパルスピッチ（時間１
＋）が正常ねじと異なることになる。つまりこの２値化
したパルスピッチのちがいを時間でチェックして異常を
疵と判断するのである。
値化されたハイＨ，ローＬ信号は一定の時間ｔ、になる
。しかし疵が存在する場合、このパルスピッチ（時間１
＋）が正常ねじと異なることになる。つまりこの２値化
したパルスピッチのちがいを時間でチェックして異常を
疵と判断するのである。
通常、疵判定のスライスレベルは、見つけてほしい疵の
自然疵サンプルによって決められるもので、ワイヤ線６
の径は前記スライスレベルより反射光が低くなるように
決められ、スライスレベルより低い反射光の落ち込みが
検知されることによって装置は正常に機能するものと判
断されるのである。
自然疵サンプルによって決められるもので、ワイヤ線６
の径は前記スライスレベルより反射光が低くなるように
決められ、スライスレベルより低い反射光の落ち込みが
検知されることによって装置は正常に機能するものと判
断されるのである。
（発明の効果）
以上のように、本発明では切り立てねじの谷部に所定径
のワイヤ線を張ったサンプルパイプを用いて装置の検出
能をチェックする方法であり、必要に応じて簡単にしか
も短時間に実施できるという効果がある。
のワイヤ線を張ったサンプルパイプを用いて装置の検出
能をチェックする方法であり、必要に応じて簡単にしか
も短時間に実施できるという効果がある。
第１図は本発明の実施の態様を例示した斜視図、第２図
は本発明の実施（同図（イ））による反射光分布図（同
図（ロ））とその２値化信号（同図（ハ））、第３図は
サンプルパイプに人工疵を施した従来のチェック方法の
態様を示す斜視図である。 ■はサンプルパイプ、６はワイヤ線。
は本発明の実施（同図（イ））による反射光分布図（同
図（ロ））とその２値化信号（同図（ハ））、第３図は
サンプルパイプに人工疵を施した従来のチェック方法の
態様を示す斜視図である。 ■はサンプルパイプ、６はワイヤ線。
Claims (1)
- （１）金属管等のねじ部にレーザー光等の光を照射して
その反射光の変化を検出することによってねじ部の表面
疵の有無を検査する装置の検出能をチェックするに際し
、該装置の検出能を、切り立てねじの谷部に所定径のワ
イヤ線を張ったサンプルパイプを用いて検査することを
特徴とするねじ表面疵検査装置の検出能チェック方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24746789A JPH03135753A (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | ねじ表面疵検査装置の検出能チェック方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24746789A JPH03135753A (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | ねじ表面疵検査装置の検出能チェック方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03135753A true JPH03135753A (ja) | 1991-06-10 |
Family
ID=17163884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24746789A Pending JPH03135753A (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | ねじ表面疵検査装置の検出能チェック方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03135753A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011093372A1 (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-04 | 住友金属工業株式会社 | 欠陥検査装置 |
-
1989
- 1989-09-22 JP JP24746789A patent/JPH03135753A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011093372A1 (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-04 | 住友金属工業株式会社 | 欠陥検査装置 |
| US9121833B2 (en) | 2010-01-29 | 2015-09-01 | Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation | Defect inspecting apparatus |
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