JPH03135713A - 測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は被写体に測距光を投光し、被写体からの反射光
を受光して測距を行うアクティブタイプの測距装置に関
するものである。

〔従来の技術〕

最近のコンパクトカメラにはアクティブタイプの測距装
置が利用されている。アクティブタイプの測距装置は、
被写体に向けて近赤外光を投光し、被写体からの反射光
を受光素子で受光する。受光素子上での前記反射光の入
射位置は被写体距離に対応しているから、反射光の入射
位置を電気的に検出することによって、被写体距離に対
応した測距信号を得ることができる。

前記受光素子として、半導体装置検出器（ＰＳＤ　：　
Ｐｏ５ｉｔｉｏｎ　５ｅｎｓｉｔｉｖｅ　Ｄｅｔｅｃｔ
ｏｒ　）が多く用いられてきている。ＰＳＤは２つの出
力端子を備え、光の入射位置に対応して各々の端子から
は異なる値をもった電流を出力するもので、この各々の
電流値をもとにして光の入射位置を算、出することがで
きる。

従来、このＰＳＤを用いる場合には、ＰＳＤの各端子に
プリアンプ、ゲインコントロールアンプ。

対数アンプ、差動アンプ等の各種のアンプを接続し、こ
れらのアンプを経た各出力信号の比をもとにして測距信
号を得ていた。

（発明が解決しようとする課題） ところが上述した従来方式によると、ＰＳＤの両端子か
らの出力電流が、構成は同様ではあるが各々別のアンプ
系を介して電流−電圧変換、増幅等の処理が行われるた
め、各々のアンプ系について入−出力特性に差があった
場合には、測距信号に誤差を生じさせる原因になる。ま
た、測距精度を高めるために、各アンプ系でオフセント
調節やゲインコントロールを行う場合には、それぞれの
アンプ系について個別にこれらの［ｆｆが必要となり、
回路構成が複雑になるという欠点もある。

〔発明の目的〕

本発明は以上のような従来技術の問題を解決するために
なされたもので、ＰＳＤを用いた測距装置のように、受
光素子からの２出力に基づいて測距信号を得るようにし
た測距装置について、測距誤差の発生を抑えるとともに
、回路構成の簡略化を図ることを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は上記目的を達成するために、受光素子からの第
１及び第２出力信号のいずれか一方を交互に選択するス
イッチング手段と、選択された出力信号が交互に入力さ
れ、これらの出力信号をそれぞれ第１．第２測距データ
に変換する一系統の信号処理手段と、信号処理手段から
出力された一方の測距データを一旦記憶保持しておき、
他方の測距データが出力された後に測距データの両者に
より演算を開始する演算手段とから測距装置を構成して
い、る。

〔作用〕

受光素子からの２つの出力信号のうち、スイッチング手
段で選択された第１出力信号が、まず信号処理手段によ
って信号処理され第１測距データとして出力され、この
第１測距データは演算手段で一旦記憶保持される。次に
スイッチング手段によって選択された第２出力信号は、
共通の信号処理手段によって同様の信号処理が加えられ
、第２測距データとして演算手段に入力される。演算手
段はこうして得られた第１．第２測距データに基づいて
演算を行い、被写体距離と相関をもった測距信号を算出
する。

以下、図面にしたがって本発明の一実施例について説明
する。

〔実施例〕

本発明の測距装置の構成を概略的に示した第１図におい
て、投光部２は光源部３と投光レンズ４とから構成され
、投光レンズ４の光軸４ａは撮影レンズ５の光軸５ａと
平行となっている。光源部３は、それぞれ近赤外光を発
する３個のＬＥＤ（発光ダイオード）３ａ、３ｂ、３ｃ
からなる。

これらのＬＥＤ３ａ、３ｂ、３ｃは水平に配列されてお
り、撮影画面中の３個所に向けて各々測距光を順次に投
光する。

受光部７は受光レンズ８とＰＳＤ９とから構成され、受
光レンズ８の光軸８ａも撮影レンズ光軸５ａと平行にな
っている。ＰＳＤ９は、受光レンズ８を通ってきた光の
光量及び入射位置に応じた信号を各々の出力端子９ａ、
９ｂから出力する。

第１図から明らかなように、近距離被写体が近いほど被
写体からの反射光はＰＳＤ９の下側に入射することにな
るが、出力端子９ａ、９ｂからの出力信号の比あるいは
大小関係（和、差）をもとにして、入射光の光量に依存
せずに、その入射位置に対応した信号を得ることができ
る。なお、ＰＳＤ９は水平方向に関しては識別作用をも
っておらず、垂直方向での入射高さが同じであれば、水
平方向での入射位置が異なっても出力端子９ａ、９ｂか
らは等価な出力信号が出される。

ＬＥＤ３ａ〜３ｃはオートフォーカスＩＣ１２からの信
号により、ＬＥＤドライバ１１を介して発光制御される
。オートフォーカスＩＣ１２は、マイクロコンピュータ
１４からのコマンドにしたがって予め決められた測距シ
ーケンスを実行し、ＬＥＤドライバ１１を作動させる他
に、ＰＳＤ９の出力端子９ａ、９ｂからのそれぞれの信
号を測距データに変換してマイクロコンピュータ１４に
出力する。マイクロコンピュータ１４は、前述のように
して得られる２種の測距データをもとに演算を行い、被
写体距離と相関をもった測距信号を算出する。そして、
マイクロコンピュータ１４によって算出された測距信号
に対応して撮影レンズ５のセット位置が決定される。

マイクロコンピュータ１４には汎用型のものが利用され
、測光回路５１で検出され、Ａ／Ｄコンバータ５２でデ
ジタル変換された測光データも入力される。マイクロコ
ンピュータ１４は測光データに基づいて最適露光条件を
算出し、露出制御回路５３を介してステッピングモータ
５４を駆動し、プログラムシャッタ５５を前記最適露光
条件が満足される絞り値、シャッタ速度でプログラムシ
ャンク５５を開閉させる。また、撮影後にはフィルム移
送回路５６によりフィルム給送モータ５７を駆動してフ
ィルム１コマ送りを行わせる。なお、プログラムシャッ
タ５５が開閉される前には、レンズ移動回路５８により
前記測距信号に対応した回転角でステッピングモータ６
０が駆動され、撮影レンズ５は合焦位置に繰り出し制御
される。

オートフォーカスＩＣ１２，マイクロコンピュータ１４
は概略的に第２図に示したように構成されている。オー
トフォーカスＩＣ１２は１チツプのＩＣからなり、ロジ
ック回路１５．ゲインコントローラ１６の他、ＰＳＤ９
の出力端子９ａ、９ｂから出力されてくる信号電流を電
圧に変換するプリアンプ１７ａ、１７ｂ、アナログスイ
ッチ１８、ゲインコントロールアンプ２０．サンプルホ
ールド回路２１．バッファアンプ２２等からなっている
。アナログスイッチ１８は、ロジック回路１５からの切
替え信号によってスイッチング動作し、プリアンプ１７
ａ、１７ｂのいずれか一方の信号を選択してゲインコン
トロールアンプ２０に供給する。

ゲインコントロールアンプ２０は、被写体距離が遠距離
の場合、ＰＳＤ９に入射してくる反射光の光量が低下し
て出力端子９ａ、９ｂからの信号電流の絶対値が小さく
なることを考慮して設けられたもので、後述するゲイン
コントロール処理によって適切な増幅率が与えられる。

サンプルホールド回路２１は、ロジック回路１５からの
サンプリングパルスを受けてゲインコントロールアンプ
２０で増幅された信号をサンプルホールドし、これを測
距データとしてバッファアンプ２２を介してマイクロコ
ンピュータ１４に出力する。なお、前記ロジック回路１
５は基本的にシリアルインパラレルアウトのシフトレジ
スタからなり、ゲインコントローラ１６はそのシフトレ
ジスタの所定ビット位置に設定されたゲインコントロー
ルコマンドを読み出し、これに基づいてゲインコントロ
ールアンプ２０のゲインを可変する。

マイクロコンピュータ１４は、ＣＰＵ２４．　　シリア
ルポート２５．Ａ／Ｄコンバータ２６の他、測距シーケ
ンス実行用のプログラムを格納したＲＯＭ２７及び測距
シーケンス実行に際して得られるデータや各種フラグを
一時的に格納するＲＡＭ２８からなる。シリアルボート
２５は、ＣＰＵ２４からのコマンドをシリアルデータパ
ルス（ＡＦＳＤ）に変換してロジック回路１５に供給す
るとともに、このシリアルデータの転送パルス（ＡＦＳ
ＣＫ）、シリアルデータのラッチやＬＥＤ３ａ〜３ｃの
発光タイミングを決定する制御パルス（ＡＰＬＣＫ）を
出力する。また、Ａ／Ｄコンバータ２６は、入力された
アナログ信号を７ビツトのデジタル値（十進数でＯ〜１
２７を表す）に変換する。

第３図は、ロジック回路１５に用いられている８ビツト
のシリアルイン−パラレルアウトのシフトレジスタ３０
を概念的に示している。ＤＯ−Ｄ４の５ビツトにはゲイ
ンコントロールデータ（ＧＡＩＮ）が、Ｄ５〜Ｄ６の２
ビツトにはＬＥＤ発光データ（ＬＥＤ）が、またＤ７の
１ビツトにはＬＥＤの発光／リセットの切替えデータ（
ＳＥＴ）が設定されている。５ビツトのゲインコントロ
ールデータは、「０」レベルから「３１」レベルまでの
ゲインレベルを表すことができる。また、２ビツトのＬ
ＥＤ発光データはｒ□」、ｒｌ」。

ｒ２」、　　「３．の４状態を表すことができ、「０」
のときにはＬＥＤ３８〜３ｃの全てをオフ、「１」のと
きにはＬＥＤ３　ａのみ点灯、「２」「３」のときには
それぞれＬＥＤ３ｂ、ＬＥＤ３Ｃを点灯させる。

第４図は基本的な測距シーケンスの処理を示すフローチ
ャートで、オートフォーカスＩＣ１２のアンプ系のオフ
セット値を検出する処理、ＬＥＤ３ａ〜３Ｃを順番に点
灯させ、ＬＥＤ３ａ〜３Ｃのそれぞれについて測距デー
タを取り込む測距処理、得られた複数の測距データから
最終的な測距信号を算出する処理が行われる。なお、測
距処理が行われる前には、ゲインコントロールアンプ２
０のゲインを最適値に設定するゲイン設定処理が行われ
る。

以下、上記構成による作用について説明する。

測距シーケンスが開始されると、まず第５図に示したオ
フセット値の検出処理が実行される。オフセット値検出
処理が行われるときには、シフトレジスタ３０のｒＤｏ
−Ｄ７Ｊの各ビット位置にｒｏｌｏｏｏｏｏｏ」　（２
進数）が転送される。

これにより、ｒＧＡＩＮ＝８」、ｒＬＥＤ＝ｏ」。

ｒｓＥＴ＝ｏｒの各データが設定される。同時に、ＣＰ
Ｕ２４内の所定レジスタにはｒｃＯＵＮＴ＝８Ｊが設定
される。

シフトレジスタ３０にセットされたデータの内、ｒＧＡ
ＩＮ＝８４のデータはゲインコントローラ１６を介して
ゲインコントロールアンプ２０に供給され、ゲインコン
トロールアンプ２０のゲインは「８」に設定される。な
お、ｒＧＡ　Ｉ　Ｎ＝　３１」が最大ゲイン、ｒＧＡＩ
Ｎ＝０４が最小ゲインに対応している。

このシリアルデータの転送後、ロジック回路１５はシリ
アルデータパルス（ＡＦＳＤ）、転送パルス（ＡＦＳＣ
Ｋ）、制御パルス（ＡＦＬ、ＣＫ）に基づいてサンプル
ホールド回路２１にサンプリングパルスを出力し、その
時点でゲインコントロールアンプ２０から出力されてい
る出力信号をホールドする。なお、通常の測距時にはサ
ンプリングパルスが出力される直前にＬＥＤ点灯用の発
光パルスが出力されるが、ｒＬＥＤ＝ＯＪとなっている
ため発光パルスの発生は禁止されており、ＬＥＤ３ａ〜
３Ｃは発光することはない。また、初期状態ではアナロ
グスイッチ１８は第２図に示した実線位置にある。した
がって、ＬＥＤ３ａ〜３Ｃが消灯した状態で、まずＰＳ
Ｄ９の出力端子９ａ側からの信号がゲインコントロール
アンプ２０で増幅された後、サンプルホールドされる。

こうしてサンプルホールドされた信号は、７Ｎｌソフア
アンプ２２を介してマイクロコンピュータ１４のＡ／Ｄ
コンバータ２６でデジタル変換され、第１チヤンネルの
測距データＡＦＤＩとしてＲＡＭ２Ｂに格納される。

続いてロジック回路１５からアナログスイ・ンチ１８に
切替え信号が出力される。これにより、アナログスイッ
チ１８は破線側、すなわちＰＳＤ９の出力端子９ｂ側の
信号をゲインコントロールアンプ２０に入力するように
切り替わる。その後、ロジック回路１５からサンプルホ
ールド回路２１には２個目のサンプリングパルスが出力
され、出力端子９ｂ側から得られた信号がサンプルホー
ルドされ、Ａ／Ｄコンバータ２６でのデジタル変換の後
、第２チヤンネルの測距データＡＦＤ２としてＲＡＭ２
８に格納される。

こうしてｒｃＯＵＮＴ＝０」になるまで、第１及び第２
チヤンネルの測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２は各々８個
ずつサンプリングされる。しかし、これらの測距データ
はＬＥＤ３ａ〜３Ｃを消灯したままのデータであるから
、主としてそのときの周囲光による信号成分及び回路系
の特性に依存したものとなる。マイクロコンピュータ１
４は、各チャンネルの８個の測距データＡＦＤＩ、ＡＦ
Ｄ２をもとに、各々のチャンネルごとにその平均値を算
出し、これをオフセット値ＯＦＩ、ＯＦ２として所定の
レジスタに格納する。

上述したオフセット値検出処理の後には、ゲイン決定処
理と測距処理とが引続き実行される。ゲイン決定処理が
開始されるときには、シリアルボート２５からロジック
回路１５に新たなコマンドを表すシリアルデータが転送
され、シフトレジスタ３０の各ビット位置にはｒｏ　１
００００１１Ｊの２進データがセットされる。これによ
り、「ＧＡＩＮ＝８Ｊ、　　「ＬＥＤ＝１」、　　ｒｓ
ＥＴ＝１」となり、ロジック回路１５からサンプリング
パルスが出力される直前にはＬＥＤ３　ａにのみ発光パ
ルスが供給される。

第６図のフローチャートに示したように、ゲイン決定処
理はまずＬＥＤ３ａを繰り返し発光させながら、そのと
きに得られる測距データＡＦＤＩ。

ＡＦＤ２の値を監視しながら行われる。もちろん、測距
データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２を取り込むときにはアナログ
スイッチ１８の切替えが行われ、ＬＥＤ３ａが２回発光
して一対の測距データＡＦＤＩ。

ＡＦＤ２が得られる。そして、これらの測距データＡＦ
ＤＩ、ＡＦＤ２は、それぞれゲインコントロールアンプ
２０．サンプルホールド回路２１バツフアアンプ２２か
らなる一系統の信号処理系を通って出力される。

一対の測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２が得られると、そ
のいずれかが十進数でｒ１２７」に達しているか否かが
判定される。ＡＦＤＩ、ＡＦＤ２の値がｒ１２７」に達
していることは、そのいずれかがオーバーフローしてい
ることを意味しており、ＰＳＤ９に入射した反射光の光
量がかなり大きく、測距データとしては極めて信頼性が
薄いものと判断される。したがって、この場合には「Ｇ
ＡＩＮ＝８４であることを確認した上で、被写体がかな
り接近しているものとして至近処理を行う。

この至近処理によって、ＬＥＤ３ａ点灯時の測距データ
ＡＦＤＩ、ＡＦＤ２が無効化され、撮影画面の中央に位
置する被写体までの距離が至近撮影距離よりもさらに近
距離であることを表すフラグがＲＡＮ２８の所定アドレ
ス位置にセットされる。

なお、ｒＧＡＩ　ＮＪの値を「８」以下に設定し直すこ
とも可能であるが、増幅特性が非線型になる等の不都合
が生じやすく、これは避けるのが望ましい。

測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２にオーバーフローが認め
られない場合には、各々の測距データの値から前述のオ
フセット処理で得られたオフセット値ＯＦＩ、ＯＦ２を
測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２の値から減算する。これ
により、周囲光や信号処理系中で生じる直流ノイズ成分
を除去することができる。そして、補正後の測距データ
ＡＦＤ１、ＡＦＤ２は加算により加算データＡＦＡＤＤ
とされ、その値がｒ１３６Ｊ以上であるか否かが判断さ
れる。この値がｒ１３６．以上であるときには、測距デ
ータＡＦＤＩ、ＡＦＤ２の各々の絶対値が以後の測距演
算に適切な範囲にあると判定され、ゲインコントロール
アンプ２０のゲインはそのときのｒＧＡＩ　ＮＪの値と
して決定されることになる。

一方、加算データＡＦＡＤＤの値がｒ１３６」未満であ
るときには、測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２の絶対値を
太き（すべく、そのときのｒＧＡＴＮＪの値に「Ｎ」を
加算する。この「Ｎ」の値は、加算データＡＦＡＤＤの
大きさに応じて次の表のように設定されている。

ｒＧＡＩＮＪの値を変更する過程ではコマンドが設定し
直されるが、シフトレジスタ３０の「ＤＯ」〜「Ｄ４」
のビット位置のデータだけが変化し、他のビット位置の
データはそのままとなっている。そして、ゲインコント
ローラ１６は新たなｒＧＡＩＮｊの値にしたがってゲイ
ンコントロールアンプ２０のゲインを調節する。

なお、ｒＧＡＩＮＪの値が「３１」に達しても適切な絶
対値をもった加算データＡＦＡＤＤが得られないときに
は、被写体からの反射光が極めて微弱、あるいはＰＳＤ
９に戻ってきていない状態であり、この場合には被写体
距離が極めて遠距離であることに対応する。したがって
、このような場合には無限遠処理が行われる。この無限
遠処理により、ＬＥＤ３ａによる測距結果が無限遠であ
ることを表すフラグがＲＡＮ２８の所定アドレス位置に
セットされる。

上述の処理によってｒＧＡＩ　ＮＪの値が決定されると
、ゲインコントロールアンプ２ｏのゲインがその値に設
定された状態で引続きＬＥＤ３ａによる測距処理が実行
される。測距処理は、第７図のフローチャートに示した
ように、アナログスイッチ１８を交互に切替えながら、
第１．第２チヤンネルの測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２
を１８個ずつ取り込む。この際、ＬＥＤ３　ａは各チャ
ンネルごとに１８回ずつ、都合３６回のパルス発光を行
う。なお、サンプリングされた測距データＡＦＤＩ、Ａ
ＦＤ２の個々に対しては、前述したオフセット値検出処
理によって決められたオフセット値ＯＦＩ、ＯＦ２によ
る補正が行われる。

こうして１８個ずつ取り込まれた測距データＡＦＤＩ、
ＡＦＤ２は、マイクロコンピュータ１４で加算平均され
、その平均値が平均測距データＡＦＡＶＩ、ＡＦＡＶ２
として算出される。さらにこの平均測距データＡＦＡＶ
Ｉ、ＡＦＡＶ２は相互に加算及び減算され、測距和デー
タＡＦＡＤＤ。

測距差データＡＦＤＩＦとして算出される。そして、測
距差データＡＦＤ　Ｉ　Ｆと測距和データＡＦＡＤＤの
比の値ｒＡＦＤＩ　Ｆ／ＡＦＡＤＤＪにｒ１２８．を乗
じた値が’ＡＦＲＥＳＵＬＴａＪとして求められ、これ
がＬＥＤ３ａによる最終的な測距結果としてＲＡＭ２Ｂ
に保存される。

以上によりＬＥＤ３　ａによる測距が完了すると、次に
ＬＥＤ３　ｂによるゲイン決定処理、測距処理が実行さ
れる。これらの処理は、ＬＥＤ３ａの代わりにＬＥＤ３
　ｂをパルス発光させる他は同様の処理がなされ、最終
的にはｒＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」が得られる。さらに続け
てＬＥＤ３　Ｃをパルス発光させながら同様の処理が行
われ、ｒＡＦＲＥＳＵＬＴｃＪが算出される。

第１図に示したように、ＬＥＤ３　ａによる測距は主要
被写体Ｓ１に対して行われ、ｒＡＦＲＥＳＵＬＴａ」の
値は主要被写体Ｓ１までの距離に対応した値を示してい
る。また、ＬＥＤ３ｂにょる測距は背景被写体Ｓ２に対
して行われ、ｒＡＦＲＥＳＵＬＴｂ、の値は背景被写体
ｓ２までの距離に対応した値を示している。さらに、Ｌ
ＥＤ３　ｃによる測距では、その光路内に被写体が存在
していないことから、その反射光はＰＳＤ９に入射しな
い。したがってＲＡＭ２８には、ＬＥＤ３　ｃによる測
距結果が無限遠であることを表すフラグがセットされて
おり、この場合にはｒＡＦＲＥｓＵＬＴＣＪのイ直は「
０」にされる。

こうしてＬＥＤ３ａ、３ｂ、３ｃを順次にパルス発光さ
せて３個のデータｒＡＦＲＥｓＵＬＴａ」、ｒＡＦＲＥ
ｓＵＬＴｂ」、ｒＡＦＲＥＳＵＬＴＣＪが得られると、
マイクロコンピュータ１４は、これらの中で最も近距離
に対応しているデータを最終測距データとして決定する
。こうして最終測距データが決定された後は、レンズ移
動回路５８を介してステンピングモータ６０が駆動され
、撮影レンズ５は最終測距データに対応した合焦位置に
移動される。ただし、最終測距データの決定時にはＲＡ
Ｍ２８の所定アドレス位置のフラグデータが参照され、
そのときの最も近距離に対応するデータが至近撮影距離
よりもさらに近距離であるときには、そのデータは無効
となる。なお、この場合にはファインダー等に近距離警
告を行うようにしてもよい。

以上、複数のＬＢＤ３ａ、３ｂ、３ｃを用い、複数個所
を測距する実施例について説明してきたが、本発明は１
個のＬＥＤにより被写体に測距光を投光するものについ
ても同様に適用することができる。また、オフセット値
検出処理やゲイン決定処理についてもこれらを省略し、
単にＰＳＤ９等の受光素子から出力されてくる２つの信
号出力に基づいて、一対の測距データを得るようにした
もの、あるいは一対の測距データを得るためにＬＥＤを
１回ずつパルス発光させるようにしたものについても本
発明を用いることができる。

〔発明の効果〕

上述したように、本発明の測距装置によれば、受光素子
から一対の出力信号を取り出し、これらの出力信号をそ
れぞれ信号処理手段に入力して増幅、信号処理するよう
にした測距装置について、信号処理手段を一系統にして
おき、スイッチング手段の切替えにより前記出力出力を
交互に択一し４、 て共通の信号処理手段に供給するようにしたから、各々
を別の信号処理手段を通すようにしたものと比較して回
路構成が簡単になるだけでなく、信号処理手段が固有の
入−出力特性をもっていたとしても、各出力信号に対す
る影響が相互間で異なることがないから、これらの出力
信号をもとにした測距演算によりほとんど誤差のない測
距信号を算出することができるようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の測距装置の構成を示す概略図である。 第２図はオートフォーカスＩＣの構成を示すブロック図
である。 第３図はロジック回路に用いられているシフトレジスタ
の概念図である。 第４図は全体的な測距シーケンスを表すフローチャート
である。 第５図はオフセット値検出処理を示すフローチャートで
ある。 第６図はゲイン決定処理を示すフローチャートである。 第７図は測距処理を示すフローチャートである。 ２　・　・　・ ３　・　・　・ ９　・　・　・ ｌ　２　・　・ ｌ　４　・　・ １５　・　・ １６　・　・ ｌ　８　・　・ ２０　・　・ 投光部 受光部 ＳＤ オートフォーカスＩＣ マイクロコンピュータ ロジック回路 ゲインコントローラ アナログスイッチ ゲインコントロールアンプ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）被写体から反射されてきた測距光を受光素子で受
   け、受光素子から出力される第１出力信号及び第２出力
   信号に基づいて演算を行って受光素子に対する測距光の
   入射位置を検出する測距装置において、 前記第１及び第２出力信号のいずれか一方を交互に選択
   するスイッチング手段と、このスイッチング手段で選択
   された出力信号を信号処理し、第１もしくは第２測距デ
   ータとして出力する一系統の信号処理手段と、この信号
   処理手段からの第１及び第２測距データの少なくとも一
   方を記憶保持し、他方の測距データが出力された後に第
   １及び第２測距データに基づいて演算を行う演算手段と
   からなることを特徴とする測距装置。