JPH03135713A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH03135713A JPH03135713A JP27464589A JP27464589A JPH03135713A JP H03135713 A JPH03135713 A JP H03135713A JP 27464589 A JP27464589 A JP 27464589A JP 27464589 A JP27464589 A JP 27464589A JP H03135713 A JPH03135713 A JP H03135713A
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- distance measurement
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Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は被写体に測距光を投光し、被写体からの反射光
を受光して測距を行うアクティブタイプの測距装置に関
するものである。
を受光して測距を行うアクティブタイプの測距装置に関
するものである。
最近のコンパクトカメラにはアクティブタイプの測距装
置が利用されている。アクティブタイプの測距装置は、
被写体に向けて近赤外光を投光し、被写体からの反射光
を受光素子で受光する。受光素子上での前記反射光の入
射位置は被写体距離に対応しているから、反射光の入射
位置を電気的に検出することによって、被写体距離に対
応した測距信号を得ることができる。
置が利用されている。アクティブタイプの測距装置は、
被写体に向けて近赤外光を投光し、被写体からの反射光
を受光素子で受光する。受光素子上での前記反射光の入
射位置は被写体距離に対応しているから、反射光の入射
位置を電気的に検出することによって、被写体距離に対
応した測距信号を得ることができる。
前記受光素子として、半導体装置検出器(PSD :
Po5ition 5ensitive Detect
or )が多く用いられてきている。PSDは2つの出
力端子を備え、光の入射位置に対応して各々の端子から
は異なる値をもった電流を出力するもので、この各々の
電流値をもとにして光の入射位置を算、出することがで
きる。
Po5ition 5ensitive Detect
or )が多く用いられてきている。PSDは2つの出
力端子を備え、光の入射位置に対応して各々の端子から
は異なる値をもった電流を出力するもので、この各々の
電流値をもとにして光の入射位置を算、出することがで
きる。
従来、このPSDを用いる場合には、PSDの各端子に
プリアンプ、ゲインコントロールアンプ。
プリアンプ、ゲインコントロールアンプ。
対数アンプ、差動アンプ等の各種のアンプを接続し、こ
れらのアンプを経た各出力信号の比をもとにして測距信
号を得ていた。
れらのアンプを経た各出力信号の比をもとにして測距信
号を得ていた。
(発明が解決しようとする課題)
ところが上述した従来方式によると、PSDの両端子か
らの出力電流が、構成は同様ではあるが各々別のアンプ
系を介して電流−電圧変換、増幅等の処理が行われるた
め、各々のアンプ系について入−出力特性に差があった
場合には、測距信号に誤差を生じさせる原因になる。ま
た、測距精度を高めるために、各アンプ系でオフセント
調節やゲインコントロールを行う場合には、それぞれの
アンプ系について個別にこれらの[ffが必要となり、
回路構成が複雑になるという欠点もある。
らの出力電流が、構成は同様ではあるが各々別のアンプ
系を介して電流−電圧変換、増幅等の処理が行われるた
め、各々のアンプ系について入−出力特性に差があった
場合には、測距信号に誤差を生じさせる原因になる。ま
た、測距精度を高めるために、各アンプ系でオフセント
調節やゲインコントロールを行う場合には、それぞれの
アンプ系について個別にこれらの[ffが必要となり、
回路構成が複雑になるという欠点もある。
本発明は以上のような従来技術の問題を解決するために
なされたもので、PSDを用いた測距装置のように、受
光素子からの2出力に基づいて測距信号を得るようにし
た測距装置について、測距誤差の発生を抑えるとともに
、回路構成の簡略化を図ることを目的とする。
なされたもので、PSDを用いた測距装置のように、受
光素子からの2出力に基づいて測距信号を得るようにし
た測距装置について、測距誤差の発生を抑えるとともに
、回路構成の簡略化を図ることを目的とする。
本発明は上記目的を達成するために、受光素子からの第
1及び第2出力信号のいずれか一方を交互に選択するス
イッチング手段と、選択された出力信号が交互に入力さ
れ、これらの出力信号をそれぞれ第1.第2測距データ
に変換する一系統の信号処理手段と、信号処理手段から
出力された一方の測距データを一旦記憶保持しておき、
他方の測距データが出力された後に測距データの両者に
より演算を開始する演算手段とから測距装置を構成して
い、る。
1及び第2出力信号のいずれか一方を交互に選択するス
イッチング手段と、選択された出力信号が交互に入力さ
れ、これらの出力信号をそれぞれ第1.第2測距データ
に変換する一系統の信号処理手段と、信号処理手段から
出力された一方の測距データを一旦記憶保持しておき、
他方の測距データが出力された後に測距データの両者に
より演算を開始する演算手段とから測距装置を構成して
い、る。
受光素子からの2つの出力信号のうち、スイッチング手
段で選択された第1出力信号が、まず信号処理手段によ
って信号処理され第1測距データとして出力され、この
第1測距データは演算手段で一旦記憶保持される。次に
スイッチング手段によって選択された第2出力信号は、
共通の信号処理手段によって同様の信号処理が加えられ
、第2測距データとして演算手段に入力される。演算手
段はこうして得られた第1.第2測距データに基づいて
演算を行い、被写体距離と相関をもった測距信号を算出
する。
段で選択された第1出力信号が、まず信号処理手段によ
って信号処理され第1測距データとして出力され、この
第1測距データは演算手段で一旦記憶保持される。次に
スイッチング手段によって選択された第2出力信号は、
共通の信号処理手段によって同様の信号処理が加えられ
、第2測距データとして演算手段に入力される。演算手
段はこうして得られた第1.第2測距データに基づいて
演算を行い、被写体距離と相関をもった測距信号を算出
する。
以下、図面にしたがって本発明の一実施例について説明
する。
する。
本発明の測距装置の構成を概略的に示した第1図におい
て、投光部2は光源部3と投光レンズ4とから構成され
、投光レンズ4の光軸4aは撮影レンズ5の光軸5aと
平行となっている。光源部3は、それぞれ近赤外光を発
する3個のLED(発光ダイオード)3a、3b、3c
からなる。
て、投光部2は光源部3と投光レンズ4とから構成され
、投光レンズ4の光軸4aは撮影レンズ5の光軸5aと
平行となっている。光源部3は、それぞれ近赤外光を発
する3個のLED(発光ダイオード)3a、3b、3c
からなる。
これらのLED3a、3b、3cは水平に配列されてお
り、撮影画面中の3個所に向けて各々測距光を順次に投
光する。
り、撮影画面中の3個所に向けて各々測距光を順次に投
光する。
受光部7は受光レンズ8とPSD9とから構成され、受
光レンズ8の光軸8aも撮影レンズ光軸5aと平行にな
っている。PSD9は、受光レンズ8を通ってきた光の
光量及び入射位置に応じた信号を各々の出力端子9a、
9bから出力する。
光レンズ8の光軸8aも撮影レンズ光軸5aと平行にな
っている。PSD9は、受光レンズ8を通ってきた光の
光量及び入射位置に応じた信号を各々の出力端子9a、
9bから出力する。
第1図から明らかなように、近距離被写体が近いほど被
写体からの反射光はPSD9の下側に入射することにな
るが、出力端子9a、9bからの出力信号の比あるいは
大小関係(和、差)をもとにして、入射光の光量に依存
せずに、その入射位置に対応した信号を得ることができ
る。なお、PSD9は水平方向に関しては識別作用をも
っておらず、垂直方向での入射高さが同じであれば、水
平方向での入射位置が異なっても出力端子9a、9bか
らは等価な出力信号が出される。
写体からの反射光はPSD9の下側に入射することにな
るが、出力端子9a、9bからの出力信号の比あるいは
大小関係(和、差)をもとにして、入射光の光量に依存
せずに、その入射位置に対応した信号を得ることができ
る。なお、PSD9は水平方向に関しては識別作用をも
っておらず、垂直方向での入射高さが同じであれば、水
平方向での入射位置が異なっても出力端子9a、9bか
らは等価な出力信号が出される。
LED3a〜3cはオートフォーカスIC12からの信
号により、LEDドライバ11を介して発光制御される
。オートフォーカスIC12は、マイクロコンピュータ
14からのコマンドにしたがって予め決められた測距シ
ーケンスを実行し、LEDドライバ11を作動させる他
に、PSD9の出力端子9a、9bからのそれぞれの信
号を測距データに変換してマイクロコンピュータ14に
出力する。マイクロコンピュータ14は、前述のように
して得られる2種の測距データをもとに演算を行い、被
写体距離と相関をもった測距信号を算出する。そして、
マイクロコンピュータ14によって算出された測距信号
に対応して撮影レンズ5のセット位置が決定される。
号により、LEDドライバ11を介して発光制御される
。オートフォーカスIC12は、マイクロコンピュータ
14からのコマンドにしたがって予め決められた測距シ
ーケンスを実行し、LEDドライバ11を作動させる他
に、PSD9の出力端子9a、9bからのそれぞれの信
号を測距データに変換してマイクロコンピュータ14に
出力する。マイクロコンピュータ14は、前述のように
して得られる2種の測距データをもとに演算を行い、被
写体距離と相関をもった測距信号を算出する。そして、
マイクロコンピュータ14によって算出された測距信号
に対応して撮影レンズ5のセット位置が決定される。
マイクロコンピュータ14には汎用型のものが利用され
、測光回路51で検出され、A/Dコンバータ52でデ
ジタル変換された測光データも入力される。マイクロコ
ンピュータ14は測光データに基づいて最適露光条件を
算出し、露出制御回路53を介してステッピングモータ
54を駆動し、プログラムシャッタ55を前記最適露光
条件が満足される絞り値、シャッタ速度でプログラムシ
ャンク55を開閉させる。また、撮影後にはフィルム移
送回路56によりフィルム給送モータ57を駆動してフ
ィルム1コマ送りを行わせる。なお、プログラムシャッ
タ55が開閉される前には、レンズ移動回路58により
前記測距信号に対応した回転角でステッピングモータ6
0が駆動され、撮影レンズ5は合焦位置に繰り出し制御
される。
、測光回路51で検出され、A/Dコンバータ52でデ
ジタル変換された測光データも入力される。マイクロコ
ンピュータ14は測光データに基づいて最適露光条件を
算出し、露出制御回路53を介してステッピングモータ
54を駆動し、プログラムシャッタ55を前記最適露光
条件が満足される絞り値、シャッタ速度でプログラムシ
ャンク55を開閉させる。また、撮影後にはフィルム移
送回路56によりフィルム給送モータ57を駆動してフ
ィルム1コマ送りを行わせる。なお、プログラムシャッ
タ55が開閉される前には、レンズ移動回路58により
前記測距信号に対応した回転角でステッピングモータ6
0が駆動され、撮影レンズ5は合焦位置に繰り出し制御
される。
オートフォーカスIC12,マイクロコンピュータ14
は概略的に第2図に示したように構成されている。オー
トフォーカスIC12は1チツプのICからなり、ロジ
ック回路15.ゲインコントローラ16の他、PSD9
の出力端子9a、9bから出力されてくる信号電流を電
圧に変換するプリアンプ17a、17b、アナログスイ
ッチ18、ゲインコントロールアンプ20.サンプルホ
ールド回路21.バッファアンプ22等からなっている
。アナログスイッチ18は、ロジック回路15からの切
替え信号によってスイッチング動作し、プリアンプ17
a、17bのいずれか一方の信号を選択してゲインコン
トロールアンプ20に供給する。
は概略的に第2図に示したように構成されている。オー
トフォーカスIC12は1チツプのICからなり、ロジ
ック回路15.ゲインコントローラ16の他、PSD9
の出力端子9a、9bから出力されてくる信号電流を電
圧に変換するプリアンプ17a、17b、アナログスイ
ッチ18、ゲインコントロールアンプ20.サンプルホ
ールド回路21.バッファアンプ22等からなっている
。アナログスイッチ18は、ロジック回路15からの切
替え信号によってスイッチング動作し、プリアンプ17
a、17bのいずれか一方の信号を選択してゲインコン
トロールアンプ20に供給する。
ゲインコントロールアンプ20は、被写体距離が遠距離
の場合、PSD9に入射してくる反射光の光量が低下し
て出力端子9a、9bからの信号電流の絶対値が小さく
なることを考慮して設けられたもので、後述するゲイン
コントロール処理によって適切な増幅率が与えられる。
の場合、PSD9に入射してくる反射光の光量が低下し
て出力端子9a、9bからの信号電流の絶対値が小さく
なることを考慮して設けられたもので、後述するゲイン
コントロール処理によって適切な増幅率が与えられる。
サンプルホールド回路21は、ロジック回路15からの
サンプリングパルスを受けてゲインコントロールアンプ
20で増幅された信号をサンプルホールドし、これを測
距データとしてバッファアンプ22を介してマイクロコ
ンピュータ14に出力する。なお、前記ロジック回路1
5は基本的にシリアルインパラレルアウトのシフトレジ
スタからなり、ゲインコントローラ16はそのシフトレ
ジスタの所定ビット位置に設定されたゲインコントロー
ルコマンドを読み出し、これに基づいてゲインコントロ
ールアンプ20のゲインを可変する。
サンプリングパルスを受けてゲインコントロールアンプ
20で増幅された信号をサンプルホールドし、これを測
距データとしてバッファアンプ22を介してマイクロコ
ンピュータ14に出力する。なお、前記ロジック回路1
5は基本的にシリアルインパラレルアウトのシフトレジ
スタからなり、ゲインコントローラ16はそのシフトレ
ジスタの所定ビット位置に設定されたゲインコントロー
ルコマンドを読み出し、これに基づいてゲインコントロ
ールアンプ20のゲインを可変する。
マイクロコンピュータ14は、CPU24. シリア
ルポート25.A/Dコンバータ26の他、測距シーケ
ンス実行用のプログラムを格納したROM27及び測距
シーケンス実行に際して得られるデータや各種フラグを
一時的に格納するRAM28からなる。シリアルボート
25は、CPU24からのコマンドをシリアルデータパ
ルス(AFSD)に変換してロジック回路15に供給す
るとともに、このシリアルデータの転送パルス(AFS
CK)、シリアルデータのラッチやLED3a〜3cの
発光タイミングを決定する制御パルス(APLCK)を
出力する。また、A/Dコンバータ26は、入力された
アナログ信号を7ビツトのデジタル値(十進数でO〜1
27を表す)に変換する。
ルポート25.A/Dコンバータ26の他、測距シーケ
ンス実行用のプログラムを格納したROM27及び測距
シーケンス実行に際して得られるデータや各種フラグを
一時的に格納するRAM28からなる。シリアルボート
25は、CPU24からのコマンドをシリアルデータパ
ルス(AFSD)に変換してロジック回路15に供給す
るとともに、このシリアルデータの転送パルス(AFS
CK)、シリアルデータのラッチやLED3a〜3cの
発光タイミングを決定する制御パルス(APLCK)を
出力する。また、A/Dコンバータ26は、入力された
アナログ信号を7ビツトのデジタル値(十進数でO〜1
27を表す)に変換する。
第3図は、ロジック回路15に用いられている8ビツト
のシリアルイン−パラレルアウトのシフトレジスタ30
を概念的に示している。DO−D4の5ビツトにはゲイ
ンコントロールデータ(GAIN)が、D5〜D6の2
ビツトにはLED発光データ(LED)が、またD7の
1ビツトにはLEDの発光/リセットの切替えデータ(
SET)が設定されている。5ビツトのゲインコントロ
ールデータは、「0」レベルから「31」レベルまでの
ゲインレベルを表すことができる。また、2ビツトのL
ED発光データはr□」、rl」。
のシリアルイン−パラレルアウトのシフトレジスタ30
を概念的に示している。DO−D4の5ビツトにはゲイ
ンコントロールデータ(GAIN)が、D5〜D6の2
ビツトにはLED発光データ(LED)が、またD7の
1ビツトにはLEDの発光/リセットの切替えデータ(
SET)が設定されている。5ビツトのゲインコントロ
ールデータは、「0」レベルから「31」レベルまでの
ゲインレベルを表すことができる。また、2ビツトのL
ED発光データはr□」、rl」。
r2」、 「3.の4状態を表すことができ、「0」
のときにはLED38〜3cの全てをオフ、「1」のと
きにはLED3 aのみ点灯、「2」「3」のときには
それぞれLED3b、LED3Cを点灯させる。
のときにはLED38〜3cの全てをオフ、「1」のと
きにはLED3 aのみ点灯、「2」「3」のときには
それぞれLED3b、LED3Cを点灯させる。
第4図は基本的な測距シーケンスの処理を示すフローチ
ャートで、オートフォーカスIC12のアンプ系のオフ
セット値を検出する処理、LED3a〜3Cを順番に点
灯させ、LED3a〜3Cのそれぞれについて測距デー
タを取り込む測距処理、得られた複数の測距データから
最終的な測距信号を算出する処理が行われる。なお、測
距処理が行われる前には、ゲインコントロールアンプ2
0のゲインを最適値に設定するゲイン設定処理が行われ
る。
ャートで、オートフォーカスIC12のアンプ系のオフ
セット値を検出する処理、LED3a〜3Cを順番に点
灯させ、LED3a〜3Cのそれぞれについて測距デー
タを取り込む測距処理、得られた複数の測距データから
最終的な測距信号を算出する処理が行われる。なお、測
距処理が行われる前には、ゲインコントロールアンプ2
0のゲインを最適値に設定するゲイン設定処理が行われ
る。
以下、上記構成による作用について説明する。
測距シーケンスが開始されると、まず第5図に示したオ
フセット値の検出処理が実行される。オフセット値検出
処理が行われるときには、シフトレジスタ30のrDo
−D7Jの各ビット位置にroloooooo」 (2
進数)が転送される。
フセット値の検出処理が実行される。オフセット値検出
処理が行われるときには、シフトレジスタ30のrDo
−D7Jの各ビット位置にroloooooo」 (2
進数)が転送される。
これにより、rGAIN=8」、rLED=o」。
rsET=orの各データが設定される。同時に、CP
U24内の所定レジスタにはrcOUNT=8Jが設定
される。
U24内の所定レジスタにはrcOUNT=8Jが設定
される。
シフトレジスタ30にセットされたデータの内、rGA
IN=84のデータはゲインコントローラ16を介して
ゲインコントロールアンプ20に供給され、ゲインコン
トロールアンプ20のゲインは「8」に設定される。な
お、rGA I N= 31」が最大ゲイン、rGAI
N=04が最小ゲインに対応している。
IN=84のデータはゲインコントローラ16を介して
ゲインコントロールアンプ20に供給され、ゲインコン
トロールアンプ20のゲインは「8」に設定される。な
お、rGA I N= 31」が最大ゲイン、rGAI
N=04が最小ゲインに対応している。
このシリアルデータの転送後、ロジック回路15はシリ
アルデータパルス(AFSD)、転送パルス(AFSC
K)、制御パルス(AFL、CK)に基づいてサンプル
ホールド回路21にサンプリングパルスを出力し、その
時点でゲインコントロールアンプ20から出力されてい
る出力信号をホールドする。なお、通常の測距時にはサ
ンプリングパルスが出力される直前にLED点灯用の発
光パルスが出力されるが、rLED=OJとなっている
ため発光パルスの発生は禁止されており、LED3a〜
3Cは発光することはない。また、初期状態ではアナロ
グスイッチ18は第2図に示した実線位置にある。した
がって、LED3a〜3Cが消灯した状態で、まずPS
D9の出力端子9a側からの信号がゲインコントロール
アンプ20で増幅された後、サンプルホールドされる。
アルデータパルス(AFSD)、転送パルス(AFSC
K)、制御パルス(AFL、CK)に基づいてサンプル
ホールド回路21にサンプリングパルスを出力し、その
時点でゲインコントロールアンプ20から出力されてい
る出力信号をホールドする。なお、通常の測距時にはサ
ンプリングパルスが出力される直前にLED点灯用の発
光パルスが出力されるが、rLED=OJとなっている
ため発光パルスの発生は禁止されており、LED3a〜
3Cは発光することはない。また、初期状態ではアナロ
グスイッチ18は第2図に示した実線位置にある。した
がって、LED3a〜3Cが消灯した状態で、まずPS
D9の出力端子9a側からの信号がゲインコントロール
アンプ20で増幅された後、サンプルホールドされる。
こうしてサンプルホールドされた信号は、7Nlソフア
アンプ22を介してマイクロコンピュータ14のA/D
コンバータ26でデジタル変換され、第1チヤンネルの
測距データAFDIとしてRAM2Bに格納される。
アンプ22を介してマイクロコンピュータ14のA/D
コンバータ26でデジタル変換され、第1チヤンネルの
測距データAFDIとしてRAM2Bに格納される。
続いてロジック回路15からアナログスイ・ンチ18に
切替え信号が出力される。これにより、アナログスイッ
チ18は破線側、すなわちPSD9の出力端子9b側の
信号をゲインコントロールアンプ20に入力するように
切り替わる。その後、ロジック回路15からサンプルホ
ールド回路21には2個目のサンプリングパルスが出力
され、出力端子9b側から得られた信号がサンプルホー
ルドされ、A/Dコンバータ26でのデジタル変換の後
、第2チヤンネルの測距データAFD2としてRAM2
8に格納される。
切替え信号が出力される。これにより、アナログスイッ
チ18は破線側、すなわちPSD9の出力端子9b側の
信号をゲインコントロールアンプ20に入力するように
切り替わる。その後、ロジック回路15からサンプルホ
ールド回路21には2個目のサンプリングパルスが出力
され、出力端子9b側から得られた信号がサンプルホー
ルドされ、A/Dコンバータ26でのデジタル変換の後
、第2チヤンネルの測距データAFD2としてRAM2
8に格納される。
こうしてrcOUNT=0」になるまで、第1及び第2
チヤンネルの測距データAFDI、AFD2は各々8個
ずつサンプリングされる。しかし、これらの測距データ
はLED3a〜3Cを消灯したままのデータであるから
、主としてそのときの周囲光による信号成分及び回路系
の特性に依存したものとなる。マイクロコンピュータ1
4は、各チャンネルの8個の測距データAFDI、AF
D2をもとに、各々のチャンネルごとにその平均値を算
出し、これをオフセット値OFI、OF2として所定の
レジスタに格納する。
チヤンネルの測距データAFDI、AFD2は各々8個
ずつサンプリングされる。しかし、これらの測距データ
はLED3a〜3Cを消灯したままのデータであるから
、主としてそのときの周囲光による信号成分及び回路系
の特性に依存したものとなる。マイクロコンピュータ1
4は、各チャンネルの8個の測距データAFDI、AF
D2をもとに、各々のチャンネルごとにその平均値を算
出し、これをオフセット値OFI、OF2として所定の
レジスタに格納する。
上述したオフセット値検出処理の後には、ゲイン決定処
理と測距処理とが引続き実行される。ゲイン決定処理が
開始されるときには、シリアルボート25からロジック
回路15に新たなコマンドを表すシリアルデータが転送
され、シフトレジスタ30の各ビット位置にはro 1
000011Jの2進データがセットされる。これによ
り、「GAIN=8J、 「LED=1」、 rs
ET=1」となり、ロジック回路15からサンプリング
パルスが出力される直前にはLED3 aにのみ発光パ
ルスが供給される。
理と測距処理とが引続き実行される。ゲイン決定処理が
開始されるときには、シリアルボート25からロジック
回路15に新たなコマンドを表すシリアルデータが転送
され、シフトレジスタ30の各ビット位置にはro 1
000011Jの2進データがセットされる。これによ
り、「GAIN=8J、 「LED=1」、 rs
ET=1」となり、ロジック回路15からサンプリング
パルスが出力される直前にはLED3 aにのみ発光パ
ルスが供給される。
第6図のフローチャートに示したように、ゲイン決定処
理はまずLED3aを繰り返し発光させながら、そのと
きに得られる測距データAFDI。
理はまずLED3aを繰り返し発光させながら、そのと
きに得られる測距データAFDI。
AFD2の値を監視しながら行われる。もちろん、測距
データAFDI、AFD2を取り込むときにはアナログ
スイッチ18の切替えが行われ、LED3aが2回発光
して一対の測距データAFDI。
データAFDI、AFD2を取り込むときにはアナログ
スイッチ18の切替えが行われ、LED3aが2回発光
して一対の測距データAFDI。
AFD2が得られる。そして、これらの測距データAF
DI、AFD2は、それぞれゲインコントロールアンプ
20.サンプルホールド回路21バツフアアンプ22か
らなる一系統の信号処理系を通って出力される。
DI、AFD2は、それぞれゲインコントロールアンプ
20.サンプルホールド回路21バツフアアンプ22か
らなる一系統の信号処理系を通って出力される。
一対の測距データAFDI、AFD2が得られると、そ
のいずれかが十進数でr127」に達しているか否かが
判定される。AFDI、AFD2の値がr127」に達
していることは、そのいずれかがオーバーフローしてい
ることを意味しており、PSD9に入射した反射光の光
量がかなり大きく、測距データとしては極めて信頼性が
薄いものと判断される。したがって、この場合には「G
AIN=84であることを確認した上で、被写体がかな
り接近しているものとして至近処理を行う。
のいずれかが十進数でr127」に達しているか否かが
判定される。AFDI、AFD2の値がr127」に達
していることは、そのいずれかがオーバーフローしてい
ることを意味しており、PSD9に入射した反射光の光
量がかなり大きく、測距データとしては極めて信頼性が
薄いものと判断される。したがって、この場合には「G
AIN=84であることを確認した上で、被写体がかな
り接近しているものとして至近処理を行う。
この至近処理によって、LED3a点灯時の測距データ
AFDI、AFD2が無効化され、撮影画面の中央に位
置する被写体までの距離が至近撮影距離よりもさらに近
距離であることを表すフラグがRAN28の所定アドレ
ス位置にセットされる。
AFDI、AFD2が無効化され、撮影画面の中央に位
置する被写体までの距離が至近撮影距離よりもさらに近
距離であることを表すフラグがRAN28の所定アドレ
ス位置にセットされる。
なお、rGAI NJの値を「8」以下に設定し直すこ
とも可能であるが、増幅特性が非線型になる等の不都合
が生じやすく、これは避けるのが望ましい。
とも可能であるが、増幅特性が非線型になる等の不都合
が生じやすく、これは避けるのが望ましい。
測距データAFDI、AFD2にオーバーフローが認め
られない場合には、各々の測距データの値から前述のオ
フセット処理で得られたオフセット値OFI、OF2を
測距データAFDI、AFD2の値から減算する。これ
により、周囲光や信号処理系中で生じる直流ノイズ成分
を除去することができる。そして、補正後の測距データ
AFD1、AFD2は加算により加算データAFADD
とされ、その値がr136J以上であるか否かが判断さ
れる。この値がr136.以上であるときには、測距デ
ータAFDI、AFD2の各々の絶対値が以後の測距演
算に適切な範囲にあると判定され、ゲインコントロール
アンプ20のゲインはそのときのrGAI NJの値と
して決定されることになる。
られない場合には、各々の測距データの値から前述のオ
フセット処理で得られたオフセット値OFI、OF2を
測距データAFDI、AFD2の値から減算する。これ
により、周囲光や信号処理系中で生じる直流ノイズ成分
を除去することができる。そして、補正後の測距データ
AFD1、AFD2は加算により加算データAFADD
とされ、その値がr136J以上であるか否かが判断さ
れる。この値がr136.以上であるときには、測距デ
ータAFDI、AFD2の各々の絶対値が以後の測距演
算に適切な範囲にあると判定され、ゲインコントロール
アンプ20のゲインはそのときのrGAI NJの値と
して決定されることになる。
一方、加算データAFADDの値がr136」未満であ
るときには、測距データAFDI、AFD2の絶対値を
太き(すべく、そのときのrGATNJの値に「N」を
加算する。この「N」の値は、加算データAFADDの
大きさに応じて次の表のように設定されている。
るときには、測距データAFDI、AFD2の絶対値を
太き(すべく、そのときのrGATNJの値に「N」を
加算する。この「N」の値は、加算データAFADDの
大きさに応じて次の表のように設定されている。
rGAINJの値を変更する過程ではコマンドが設定し
直されるが、シフトレジスタ30の「DO」〜「D4」
のビット位置のデータだけが変化し、他のビット位置の
データはそのままとなっている。そして、ゲインコント
ローラ16は新たなrGAINjの値にしたがってゲイ
ンコントロールアンプ20のゲインを調節する。
直されるが、シフトレジスタ30の「DO」〜「D4」
のビット位置のデータだけが変化し、他のビット位置の
データはそのままとなっている。そして、ゲインコント
ローラ16は新たなrGAINjの値にしたがってゲイ
ンコントロールアンプ20のゲインを調節する。
なお、rGAINJの値が「31」に達しても適切な絶
対値をもった加算データAFADDが得られないときに
は、被写体からの反射光が極めて微弱、あるいはPSD
9に戻ってきていない状態であり、この場合には被写体
距離が極めて遠距離であることに対応する。したがって
、このような場合には無限遠処理が行われる。この無限
遠処理により、LED3aによる測距結果が無限遠であ
ることを表すフラグがRAN28の所定アドレス位置に
セットされる。
対値をもった加算データAFADDが得られないときに
は、被写体からの反射光が極めて微弱、あるいはPSD
9に戻ってきていない状態であり、この場合には被写体
距離が極めて遠距離であることに対応する。したがって
、このような場合には無限遠処理が行われる。この無限
遠処理により、LED3aによる測距結果が無限遠であ
ることを表すフラグがRAN28の所定アドレス位置に
セットされる。
上述の処理によってrGAI NJの値が決定されると
、ゲインコントロールアンプ2oのゲインがその値に設
定された状態で引続きLED3aによる測距処理が実行
される。測距処理は、第7図のフローチャートに示した
ように、アナログスイッチ18を交互に切替えながら、
第1.第2チヤンネルの測距データAFDI、AFD2
を18個ずつ取り込む。この際、LED3 aは各チャ
ンネルごとに18回ずつ、都合36回のパルス発光を行
う。なお、サンプリングされた測距データAFDI、A
FD2の個々に対しては、前述したオフセット値検出処
理によって決められたオフセット値OFI、OF2によ
る補正が行われる。
、ゲインコントロールアンプ2oのゲインがその値に設
定された状態で引続きLED3aによる測距処理が実行
される。測距処理は、第7図のフローチャートに示した
ように、アナログスイッチ18を交互に切替えながら、
第1.第2チヤンネルの測距データAFDI、AFD2
を18個ずつ取り込む。この際、LED3 aは各チャ
ンネルごとに18回ずつ、都合36回のパルス発光を行
う。なお、サンプリングされた測距データAFDI、A
FD2の個々に対しては、前述したオフセット値検出処
理によって決められたオフセット値OFI、OF2によ
る補正が行われる。
こうして18個ずつ取り込まれた測距データAFDI、
AFD2は、マイクロコンピュータ14で加算平均され
、その平均値が平均測距データAFAVI、AFAV2
として算出される。さらにこの平均測距データAFAV
I、AFAV2は相互に加算及び減算され、測距和デー
タAFADD。
AFD2は、マイクロコンピュータ14で加算平均され
、その平均値が平均測距データAFAVI、AFAV2
として算出される。さらにこの平均測距データAFAV
I、AFAV2は相互に加算及び減算され、測距和デー
タAFADD。
測距差データAFDIFとして算出される。そして、測
距差データAFD I Fと測距和データAFADDの
比の値rAFDI F/AFADDJにr128.を乗
じた値が’AFRESULTaJとして求められ、これ
がLED3aによる最終的な測距結果としてRAM2B
に保存される。
距差データAFD I Fと測距和データAFADDの
比の値rAFDI F/AFADDJにr128.を乗
じた値が’AFRESULTaJとして求められ、これ
がLED3aによる最終的な測距結果としてRAM2B
に保存される。
以上によりLED3 aによる測距が完了すると、次に
LED3 bによるゲイン決定処理、測距処理が実行さ
れる。これらの処理は、LED3aの代わりにLED3
bをパルス発光させる他は同様の処理がなされ、最終
的にはrAFRESULTb」が得られる。さらに続け
てLED3 Cをパルス発光させながら同様の処理が行
われ、rAFRESULTcJが算出される。
LED3 bによるゲイン決定処理、測距処理が実行さ
れる。これらの処理は、LED3aの代わりにLED3
bをパルス発光させる他は同様の処理がなされ、最終
的にはrAFRESULTb」が得られる。さらに続け
てLED3 Cをパルス発光させながら同様の処理が行
われ、rAFRESULTcJが算出される。
第1図に示したように、LED3 aによる測距は主要
被写体S1に対して行われ、rAFRESULTa」の
値は主要被写体S1までの距離に対応した値を示してい
る。また、LED3bにょる測距は背景被写体S2に対
して行われ、rAFRESULTb、の値は背景被写体
s2までの距離に対応した値を示している。さらに、L
ED3 cによる測距では、その光路内に被写体が存在
していないことから、その反射光はPSD9に入射しな
い。したがってRAM28には、LED3 cによる測
距結果が無限遠であることを表すフラグがセットされて
おり、この場合にはrAFREsULTCJのイ直は「
0」にされる。
被写体S1に対して行われ、rAFRESULTa」の
値は主要被写体S1までの距離に対応した値を示してい
る。また、LED3bにょる測距は背景被写体S2に対
して行われ、rAFRESULTb、の値は背景被写体
s2までの距離に対応した値を示している。さらに、L
ED3 cによる測距では、その光路内に被写体が存在
していないことから、その反射光はPSD9に入射しな
い。したがってRAM28には、LED3 cによる測
距結果が無限遠であることを表すフラグがセットされて
おり、この場合にはrAFREsULTCJのイ直は「
0」にされる。
こうしてLED3a、3b、3cを順次にパルス発光さ
せて3個のデータrAFREsULTa」、rAFRE
sULTb」、rAFRESULTCJが得られると、
マイクロコンピュータ14は、これらの中で最も近距離
に対応しているデータを最終測距データとして決定する
。こうして最終測距データが決定された後は、レンズ移
動回路58を介してステンピングモータ60が駆動され
、撮影レンズ5は最終測距データに対応した合焦位置に
移動される。ただし、最終測距データの決定時にはRA
M28の所定アドレス位置のフラグデータが参照され、
そのときの最も近距離に対応するデータが至近撮影距離
よりもさらに近距離であるときには、そのデータは無効
となる。なお、この場合にはファインダー等に近距離警
告を行うようにしてもよい。
せて3個のデータrAFREsULTa」、rAFRE
sULTb」、rAFRESULTCJが得られると、
マイクロコンピュータ14は、これらの中で最も近距離
に対応しているデータを最終測距データとして決定する
。こうして最終測距データが決定された後は、レンズ移
動回路58を介してステンピングモータ60が駆動され
、撮影レンズ5は最終測距データに対応した合焦位置に
移動される。ただし、最終測距データの決定時にはRA
M28の所定アドレス位置のフラグデータが参照され、
そのときの最も近距離に対応するデータが至近撮影距離
よりもさらに近距離であるときには、そのデータは無効
となる。なお、この場合にはファインダー等に近距離警
告を行うようにしてもよい。
以上、複数のLBD3a、3b、3cを用い、複数個所
を測距する実施例について説明してきたが、本発明は1
個のLEDにより被写体に測距光を投光するものについ
ても同様に適用することができる。また、オフセット値
検出処理やゲイン決定処理についてもこれらを省略し、
単にPSD9等の受光素子から出力されてくる2つの信
号出力に基づいて、一対の測距データを得るようにした
もの、あるいは一対の測距データを得るためにLEDを
1回ずつパルス発光させるようにしたものについても本
発明を用いることができる。
を測距する実施例について説明してきたが、本発明は1
個のLEDにより被写体に測距光を投光するものについ
ても同様に適用することができる。また、オフセット値
検出処理やゲイン決定処理についてもこれらを省略し、
単にPSD9等の受光素子から出力されてくる2つの信
号出力に基づいて、一対の測距データを得るようにした
もの、あるいは一対の測距データを得るためにLEDを
1回ずつパルス発光させるようにしたものについても本
発明を用いることができる。
上述したように、本発明の測距装置によれば、受光素子
から一対の出力信号を取り出し、これらの出力信号をそ
れぞれ信号処理手段に入力して増幅、信号処理するよう
にした測距装置について、信号処理手段を一系統にして
おき、スイッチング手段の切替えにより前記出力出力を
交互に択一し4、 て共通の信号処理手段に供給するようにしたから、各々
を別の信号処理手段を通すようにしたものと比較して回
路構成が簡単になるだけでなく、信号処理手段が固有の
入−出力特性をもっていたとしても、各出力信号に対す
る影響が相互間で異なることがないから、これらの出力
信号をもとにした測距演算によりほとんど誤差のない測
距信号を算出することができるようになる。
から一対の出力信号を取り出し、これらの出力信号をそ
れぞれ信号処理手段に入力して増幅、信号処理するよう
にした測距装置について、信号処理手段を一系統にして
おき、スイッチング手段の切替えにより前記出力出力を
交互に択一し4、 て共通の信号処理手段に供給するようにしたから、各々
を別の信号処理手段を通すようにしたものと比較して回
路構成が簡単になるだけでなく、信号処理手段が固有の
入−出力特性をもっていたとしても、各出力信号に対す
る影響が相互間で異なることがないから、これらの出力
信号をもとにした測距演算によりほとんど誤差のない測
距信号を算出することができるようになる。
第1図は本発明の測距装置の構成を示す概略図である。
第2図はオートフォーカスICの構成を示すブロック図
である。 第3図はロジック回路に用いられているシフトレジスタ
の概念図である。 第4図は全体的な測距シーケンスを表すフローチャート
である。 第5図はオフセット値検出処理を示すフローチャートで
ある。 第6図はゲイン決定処理を示すフローチャートである。 第7図は測距処理を示すフローチャートである。 2 ・ ・ ・ 3 ・ ・ ・ 9 ・ ・ ・ l 2 ・ ・ l 4 ・ ・ 15 ・ ・ 16 ・ ・ l 8 ・ ・ 20 ・ ・ 投光部 受光部 SD オートフォーカスIC マイクロコンピュータ ロジック回路 ゲインコントローラ アナログスイッチ ゲインコントロールアンプ。
である。 第3図はロジック回路に用いられているシフトレジスタ
の概念図である。 第4図は全体的な測距シーケンスを表すフローチャート
である。 第5図はオフセット値検出処理を示すフローチャートで
ある。 第6図はゲイン決定処理を示すフローチャートである。 第7図は測距処理を示すフローチャートである。 2 ・ ・ ・ 3 ・ ・ ・ 9 ・ ・ ・ l 2 ・ ・ l 4 ・ ・ 15 ・ ・ 16 ・ ・ l 8 ・ ・ 20 ・ ・ 投光部 受光部 SD オートフォーカスIC マイクロコンピュータ ロジック回路 ゲインコントローラ アナログスイッチ ゲインコントロールアンプ。
Claims (1)
- (1)被写体から反射されてきた測距光を受光素子で受
け、受光素子から出力される第1出力信号及び第2出力
信号に基づいて演算を行って受光素子に対する測距光の
入射位置を検出する測距装置において、 前記第1及び第2出力信号のいずれか一方を交互に選択
するスイッチング手段と、このスイッチング手段で選択
された出力信号を信号処理し、第1もしくは第2測距デ
ータとして出力する一系統の信号処理手段と、この信号
処理手段からの第1及び第2測距データの少なくとも一
方を記憶保持し、他方の測距データが出力された後に第
1及び第2測距データに基づいて演算を行う演算手段と
からなることを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1274645A JP2609333B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1274645A JP2609333B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | 測距装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03135713A true JPH03135713A (ja) | 1991-06-10 |
JP2609333B2 JP2609333B2 (ja) | 1997-05-14 |
Family
ID=17544590
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1274645A Expired - Fee Related JP2609333B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | 測距装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2609333B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS606819A (ja) * | 1983-06-24 | 1985-01-14 | Canon Inc | 距離検出装置 |
JPH01202614A (ja) * | 1988-02-08 | 1989-08-15 | Nikon Corp | アクティブ測距装置 |
-
1989
- 1989-10-20 JP JP1274645A patent/JP2609333B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS606819A (ja) * | 1983-06-24 | 1985-01-14 | Canon Inc | 距離検出装置 |
JPH01202614A (ja) * | 1988-02-08 | 1989-08-15 | Nikon Corp | アクティブ測距装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2609333B2 (ja) | 1997-05-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |