JPH03128444A - 検査方法とその装置 - Google Patents

検査方法とその装置

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JPH03128444A
JPH03128444A JP26710489A JP26710489A JPH03128444A JP H03128444 A JPH03128444 A JP H03128444A JP 26710489 A JP26710489 A JP 26710489A JP 26710489 A JP26710489 A JP 26710489A JP H03128444 A JPH03128444 A JP H03128444A
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JP
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low
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JP26710489A
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English (en)
Inventor
Yasuyuki Miwa
三輪 泰之
Yukishige Yamakita
山北 幸重
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Publication date
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は検査方法とその装置、詳しくは繊維の紡糸口金
の紡糸孔の自動検査を行なうに当たり紡糸孔の位置決め
に利用され、更には光ディスク等の光学式情報記録円盤
においてアドレス等の記録しているID部を特徴点とし
て位置検出を行ない、任意の検査点を選択検査する場合
に用いられる検査方法とその装置に関するものである。
(従来の技術) 例えば、第2図に示した繊維用の紡糸口金(1)の検査
を実施する際に、その紡糸孔(10)(11)を顕微鏡
により拡大観察している。この際、紡糸口金(1)の全
ての範囲を高倍にて画像入力し、紡糸孔(10)(11
)の所だけ検査を行なうと非常に多くの時間を要する。
このため顕微鏡視野内に紡糸孔を効率よく位置決めする
必要があり、その位置決め精度は観察倍率、紡糸孔の径
、カメラの視野サイズ等に依存する。例えば、観察倍率
を15倍、紡糸孔の径をφ0.2開、カメラの視野を8
.8*6.6mmとした場合、±120μ■の位置決め
精度が必要になる。
そこで1つの方法として、予めマクロカメラにて紡糸口
金全体を観察し、得られた画像データより紡糸孔の位置
を算出する方法があるが、これは画像歪やCCDセンサ
ー等の傾きにより充分な精度が得られない。
また、特開昭61−105623号では紡糸孔の設計位
置を前述のマクロカメラで得られた紡糸孔の位置データ
で修正する。すなわち、マクロカメラにより紡糸口金の
中心座標と回転角を求め、その座標軸を原点として設計
位置に位置決めする方法が提案されている。
(発明が解決しようとする課題) 特開昭61−105623号の方法の場合、マクロカメ
ラにて検査データを算出するため、必要な精度を出す場
合にマクロカメラの分解能及び被検査物体の測定範囲の
大きさに制限が生じる。
すなわち、マクロカメラとしてCCDカメラを使用した
場合、CCDカメラの有効画素数は通常7501500
程度であり、被検査物の位置を判定するための最小測定
範囲が100寧100mn+の場合、200μ伽程度の
分解能しか得られない。撮像素子の解像度には限界があ
り、またより解像度の高いものを使用したとしても特徴
点や検査点の抽出のために行なう画像処理に大きな負荷
がかかる。一方、被検査点の測定範囲を小さくすること
も考えられるが対象によっては限界がある8更には、マ
クロカメラにて被検査物を測定するためには、その測定
場所を顕微鏡と干渉しない位置に構成する必要があり、
被検査物をマクロカメラ部と顕微鏡間を移動させる必要
が生じる。このため、装置が大きくなること、また被検
査物が非常に大きなものであればその移動ストロークも
長くなり、移動用ステージの位置決め精度の問題も生じ
てくる。すなわち、マクロカメラにて測定した位置デー
タに基づいて顕微鏡部で位置決めするためには移動用ス
テージの絶対位置決め精度が必要になるが、大ストロー
クにおいてこのような精度を保証するのは困難である。
本発明は、この様な問題点に鑑み、被検査物の位置を非
常に高精度に測定しかつ検査点を高精度に位置決めする
検査方法とその装置をうろことを目的とするものである
(課題を解決するための手段) 本発明は以上のような目的を達成するため、次のような
検査方法とその装置を提供するものである。
すなわち、被検査物体を画像処理等の光学的手法により
検査を行なう当り、画像入力部の観察倍率は少な(とも
2段階に切り換えられる倍率変換機能のある検査装置を
用いて予め低倍で検出もしくは推定した被検査領域が高
倍観察視野内に収まるように被検査物体を位置決めし、
しかる後高倍率で詳細な検査を行なうことを特徴とする
検査方法であり、この検査方法において低倍で検出する
際被検査物体の特徴点もしくは検査点を少なくとも1点
以上検出し、その位置情報より他の検査位置を推定算出
することを特徴とする検査方法である。
そして、以上のような方法を実施する装置として次のよ
うな装置を提供するものである。
すなわち、被検査物体を画像処理等の光学的手法により
検査を行なうものであって、画像入力部の観察倍率を少
なくとも2段階に切り換えることのできる倍率変換手段
と予め低倍で検出もしくは推定した被検査領域が高倍観
察視野内に収まるよう位置決めを行なう駆動手段とを有
する検査装置であり、この検査装置において、検出した
被検査領域の位置データに基づいて被検査物体を移動す
るに当り被検査物体がその慣性力により移動するのを防
ぐための該物体を固定する装置を有する検査装置である
(作用) 被検査物体をまず低倍で観察し、特徴点もしくは検査点
を少なくとも1点以上検出することにより、被検査物体
の位置を精度良く測定し、その位置データより検査点の
位置を算出する。
次に、画像入力部を高倍観察状態に切り換え、かつ位置
決め機構により検査点を高倍観測視野内に位置決めし、
しかる後高倍にて詳細な検査を実施する。
(実施例) 第1図は本発明を紡糸口金の画像処理検査に適用した例
を示したものである。
紡糸口金は第2図に示すように円形の口金に数カ所の孔
が開けられている。口金の大きさは外径がφ140mm
 、紡糸孔の大きさはφ0.2■、孔の数は3〜50個
程度である。孔は図に示すように同心円上に形成されて
いる。そして、(11)は中心孔であり、(10)は円
周孔である。本検査装置はこの紡糸孔のキズ、詰まり、
円形度等を画像処理により検査するものである。
本検査装置ではこの紡糸孔を検査する際、顕微鏡の視野
内に適当な位置におかれるが、紡糸孔の位置が必ずしも
顕微鏡視野内に入らない。
このため、紡糸孔を効率よ(視野内に収める必要がある
。この目的に本発明を利用し、第1図に示す自動検査機
を作成した。以下、この検査機の構成を述べる。
(2)は紙面横方向(以後、X方向と称す)駆動ステー
ジ、(3)は紙面垂直方向(以後、X方向と称す)駆動
ステージ、(8)は顕微鏡であり、この顕微鏡には観察
倍率を自動で切り換えるための電動レボルバ(4)、画
像取り込みのためのCCDカメラ(7)、オートフォー
カス装置(9)が構成されている。また、電動レボルバ
(4)には低倍率観察用対物レンズ(5)と高倍率観察
対物レンズ(6)が取付けられており、電動レボルバ(
4)により自動で低倍、高倍の切り換えが可能となる。
また、本装置はコンピュータにて制御されており画像処
理、紡糸孔の位置の算出、モータ駆動等を制御している
なお、本装置では顕微鏡の低倍、高倍の画像切り換え装
置を電動レボルバ(4)による対物レンズの交換によっ
て行なっているが、第3図に示すように2つのCCDカ
メラで異なった倍率の画像を得るように構成した顕微鏡
等を用いても構わない。ここで、(12)は高倍用、(
13)は低倍用である。第2図中(14)は高倍画像観
察視野(15)は低倍画像観察視野を示し、(16)は
顕微鏡鏡筒を示す。また、駆動ステージとしてX軸、Y
軸ステージを用いたが、極座標系(R−θ座標系)のス
テージを用いてもさしつかえない。
次に本装置での動作手順を説明する。
まず、X−Yステージ上に紡糸口金(1)をセットする
。この際、ステージには図示しないガイドが設けられて
おり、紡糸口金はガイドにより粗位置決めされる。また
、このコンピュータにはこの紡糸口金(1)の紡糸孔(
11)の設計位置がメモリーされており、紡糸孔が位置
する半径RO1紡糸孔の個数、円周方向のパターンが記
録されている。次に、電動レボルバ(4)の切り換えに
より顕微鏡の観察倍率を低倍にし、X−Y軸ステージ(
2)(3’)を駆動しこの低倍の視野内に紡糸孔(11
)が存在するであろう半径位置に位置決めする(第4図
)。この際、低倍の観察倍率は2倍、CCDカメラの有
効撮像面積は8.8*6.6mn+であるため、低倍視
野は4.4本3.3mmとなる。このため、第4図に例
として示されるように、必ずしも紡糸孔(1o)は低倍
率視野(17)内には存在しないが、X−Yステージに
より紡糸口金(1)を移動し、低倍率視野(17)を紡
糸孔の同心円上に走査させることにより平均数回にて検
知される。これにより、紡糸孔の位置が検知される。そ
の中心座標を(X+、Yl)とする。(なお、座標値の
数字は紡糸孔の番号を示す。)次に、(X、、Y、)と
紡糸孔の設計データ及び紡糸口金をテーブル上にセット
した際の口金の仮想中心(X゛0、Y”0)により他の
紡糸孔の位置が推定される。なお、ここで括弧内の右上
のダッシュは概略座標値であることを示している0例え
ば、第2図の紡糸口金の場合、Nα5の紡糸孔の概略座
標値(X”5、Y’5)は、 (X゛5、Y’5)= (2X’0−Xl、2Y’0−
Yl)■ で求められる0次にこの紡糸孔の正確な位置を求めるた
め、X−Yステージを駆動し前述の座標(X゛5、Y゛
5)が、顕微鏡の低倍率視野内に収まるように位置決め
する。この画像より、胤5の紡糸孔の正確な座標(X5
、Y5)を求める0次に、紡糸口金のより正確な中心座
標(X、、Y、)をNalとNa5の紡糸孔の中点とし
て算出する。
(X O,Y O) = ((X1+X5)/2.(Y
l +Y5/2)□■ 全ての紡糸孔の位置を算出するには、あと紡糸口金の回
転角θ(図5)を求めれば良い。回転角θは以下の式に
より求められる。
θ=jan((Yl−YO)/ (Xi−XO))□■ 以上、紡糸口金の中心座標と回転角θにより、各紡糸孔
の座標(X、、Yi )が算出される。
(Xl 、Yl )= (XO+rO*cos(4θ)
、YO+rO*5in(t θ)) □■ なお、紡糸孔の位置の加工精度は±30μm以下であり
、■式から推定される座標の精度は±100〃−以下を
満足する。一方、高倍での観察倍率が10倍の場合±2
30μmまで位置ずれが許容されるため、■式で求めた
座標値で高倍観察視野内に位置決めが可能となる。最後
に、電動レボルバ(4)の回転により観察倍率を高倍に
切り換え、x−yステージ(2)(3)の駆動により、
Nal〜8までの紡糸孔の高倍画像による検査が可能に
なる。
なお、ここに述べた例では2つの孔より中心座標、回転
角を算出したが、3つ以上の孔もしくは1つの孔から算
出してもよい、高倍での観察倍率が高く、位置精度を必
要とする場合では低倍での測定点数を増やす方が望まし
い。
また、■式の紡糸孔の半径位置roとしてこの例では設
計値を用いたが、低倍での測定値から近似円を求め、そ
の半径を用いればより精度は高くなる。
形状の異なる紡糸口金についてもコンピュータに設計形
状を予め記録し、更に検査している紡糸口金の種類が判
別できるようにしておけば、同様の方法で対処可能であ
る。なお、紡糸口金の種類の判別はキーボードからの入
力でも構わないし、また紡糸口金の文字認識によっても
可能である。
最後に、この紡糸口金(1)を移動する際、紡糸口金(
1)が慣性力によりずれ、測定した位置データに誤差が
生じるのを防ぐため、紡糸口金を固定する必要がある。
固定方法には制限はないが、−例として第6図に示すよ
うに、X−Yテーブル上に固定されたパレッ) (18
)にボールプランジャ(19)を組み込んでおけば、ワ
ンタッチで紡糸口金の組み込みが可能になり便利である
。図中(20)は被検査物体を組み込むためのパレット
凹孔である。
本装置により、紡糸口金の検査を行なうに当り効率のよ
い位置決めが可能になった。
(発明の効果) 画像入力部の観察倍率を低倍、高倍に自動で切り換える
機能を付加し、まず低倍で被検査物体の特徴点、検査点
を少なくとも一つ検出することにより被検査物体の設計
形状から全体の検査点の位置を推定することが可能にな
る。このため、自動検査の場合の位置決めが効率よく行
なわれ、装置の処理能力を高くすることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例として繊維の紡糸口金に適用
した場合を示す。 第2図は紡糸口金の形状を、 第3図は本発明に適用可能な低倍高倍切り換え機能付き
顕微鏡の一例を、 第4.5図は紡糸孔の探索手順を示したものである。 第6図(イ)(ロ)(ハ)は紡糸口金を固定する装置の
一例を示したもので、パレットの断面図、パレットの平
面図、ボールプランジャ部分の部分断面図である。 (1)・・・・・紡糸口金 (2)(3)  ・・・駆動ステージ (4)  ・・・・・電動レボルバ (5)・・・・・低倍率レンズ (6)・ (7)・ (8)・ (9)・ (10)(11) (12)・ (13)・ (14)・ (15)・ (16)・ (17)・ (18)  ・ (19)  ・ 高倍率レンズ CCDカメラ 顕微鏡 オートフォーカス 紡糸孔 CCDカメラ(高倍用) CCDカメラ(低倍用) 高倍画像観察視野 低倍画像観察視野 顕微鏡鏡筒 低倍画像観察視野 パレット ボールプランジャ 第1図 第2図 第3図 第 4 図 石 6 図 (イ) (ハ)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査物体を画像処理等の光学的手法により検査
    を行なう当り、画像入力部の観察倍率は少なくとも2段
    階に切り換えられる倍率変換機能のある検査装置を用い
    て予め低倍で検出もしくは推定した被検査領域が高倍観
    察視野内に収まるように被検査物体を位置決めし、しか
    る後高倍率で詳細な検査を行なうことを特徴とする検査
    方法。
  2. (2)請求項(1)の検出方法において低倍で検出する
    際被検査物体の特徴点もしくは検査点を少なくとも1点
    以上検出し、その位置情報より他の検査位置を推定算出
    することを特徴とする検査方法。
  3. (3)被検査物体を画像処理等の光学的手法により検査
    を行なうものであって、画像入力部の観察倍率を少なく
    とも2段階に切り換えることのできる倍率変換手段と予
    め低倍で検出もしくは推定した被検査領域が高倍観察視
    野内に収まるよう位置決めを行なう駆動手段とを有する
    検査装置。
  4. (4)検出した被検査領域の位置データに基づいて被検
    査物体を移動するに当り被検査物体がその慣性力により
    移動するのを防ぐための該物体を固定する装置を有する
    請求項(3)記載の検査装置。
JP26710489A 1989-10-13 1989-10-13 検査方法とその装置 Pending JPH03128444A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008145109A (ja) * 2006-12-06 2008-06-26 Pola Chem Ind Inc 角層細胞の評価装置
CN101846636A (zh) * 2010-04-27 2010-09-29 东华大学 一种喷丝板检测装置
CN105547182A (zh) * 2015-12-09 2016-05-04 中国科学院声学研究所东海研究站 喷丝板检测设备及方法

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JP2008145109A (ja) * 2006-12-06 2008-06-26 Pola Chem Ind Inc 角層細胞の評価装置
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