JPH0283460A - 電圧変動検出方法 - Google Patents
電圧変動検出方法Info
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- JPH0283460A JPH0283460A JP23591688A JP23591688A JPH0283460A JP H0283460 A JPH0283460 A JP H0283460A JP 23591688 A JP23591688 A JP 23591688A JP 23591688 A JP23591688 A JP 23591688A JP H0283460 A JPH0283460 A JP H0283460A
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、一定周期で変化する電圧における電圧変動、
殊に半サイクル以下の瞬時電圧変動を検出するようにう
した電圧変動検出方法に関する。
殊に半サイクル以下の瞬時電圧変動を検出するようにう
した電圧変動検出方法に関する。
［従来の技術］
従来からある一般的な電磁回路や熱回路などからなる交
流回路においては、瞬時電圧変動、殊に１サイクル以内
の瞬時電圧変動が問題となるようなことはほとんどなか
った。したがって、最近まではこうした１サイクル以下
の瞬時電圧変動を検出するような方法を開発することは
ほとんど注目さ・れていなかった。
流回路においては、瞬時電圧変動、殊に１サイクル以内
の瞬時電圧変動が問題となるようなことはほとんどなか
った。したがって、最近まではこうした１サイクル以下
の瞬時電圧変動を検出するような方法を開発することは
ほとんど注目さ・れていなかった。
ところが近時、コンピュータを始めとする電子装置が急
速に発展してきたため、これにともなって前述のような
瞬時電圧変動の実態を確認する必要性が生じてきた。す
なわち、コンピュータ等の電子装置の場合、その動作が
非常に速いため従来は問題にならなかったような瞬時電
圧変動が問題となってきており、これに対し電力使用者
側にこうした瞬時電圧変動の情報を提供できるようにし
たいという要望が生じてきたのである。
速に発展してきたため、これにともなって前述のような
瞬時電圧変動の実態を確認する必要性が生じてきた。す
なわち、コンピュータ等の電子装置の場合、その動作が
非常に速いため従来は問題にならなかったような瞬時電
圧変動が問題となってきており、これに対し電力使用者
側にこうした瞬時電圧変動の情報を提供できるようにし
たいという要望が生じてきたのである。
こうした要望に応えるものとして近時、測定入力波形の
波高値やピークＩ・ウビーク値、あるいは波形の実効値
を検出するようにし、これらが所定の設定値に達しない
とき、瞬時電圧変動があったものとしてそれを記録でき
るようにしたものが開発されている。
波高値やピークＩ・ウビーク値、あるいは波形の実効値
を検出するようにし、これらが所定の設定値に達しない
とき、瞬時電圧変動があったものとしてそれを記録でき
るようにしたものが開発されている。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、上記のような公知の電圧変動検出方法の
内、波形の波高値やピークトウピーク値を検出して設定
値と比較するものでは、波形のピーク部のみでしか変動
検出を行うことができないため、波形のピーク部を除い
た部分で半サイクル以内の幅をもって生じる瞬時電圧変
動や、レベル変動の伴わない波形ひずみ等を検出するこ
とができないという問題があった。
内、波形の波高値やピークトウピーク値を検出して設定
値と比較するものでは、波形のピーク部のみでしか変動
検出を行うことができないため、波形のピーク部を除い
た部分で半サイクル以内の幅をもって生じる瞬時電圧変
動や、レベル変動の伴わない波形ひずみ等を検出するこ
とができないという問題があった。
また、波形の実効値を測定してこれを所定の設定値と比
較する方法も、電子装置に影響を与える可能性のある高
周波のサージや短時間のひずみが発生した場合に、それ
らによる実効値の変動が検出設定値を越える程には至ら
ないため、検出が不能であるという問題があった。
較する方法も、電子装置に影響を与える可能性のある高
周波のサージや短時間のひずみが発生した場合に、それ
らによる実効値の変動が検出設定値を越える程には至ら
ないため、検出が不能であるという問題があった。
本発明は上記のような事情に鑑みなされたものであって
、半サイクル以内の幅しかない瞬時の電圧変動や短時間
の波形ひずみをも確実に検出することのできる電圧変動
検出方法を提供することを目的としている。
、半サイクル以内の幅しかない瞬時の電圧変動や短時間
の波形ひずみをも確実に検出することのできる電圧変動
検出方法を提供することを目的としている。
［課題を解決するための手段］
本発明による電圧変動検出方法は上記目的を達成するた
めに、一定周期で変化する電圧の変動を検出する電圧変
動検出方法であって、各サンプリングデータの絶対値が
前記電圧の標準波形における瞬時値の絶対値に所定の設
定量を加算してなるものである基準波形を設定し、前記
標準波形の半サイクル中に複数回各データをサングルで
きるよう設定された所定周期のサンプリングクロックに
同期して測定入力波形のデータをサンプリングし、この
サンプリングした測定入力波形のデータと前記標準波形
の瞬時値の差の絶対値が前記設定量より大きいとき変動
検出信号を発生するようにしたことを特徴としている。
めに、一定周期で変化する電圧の変動を検出する電圧変
動検出方法であって、各サンプリングデータの絶対値が
前記電圧の標準波形における瞬時値の絶対値に所定の設
定量を加算してなるものである基準波形を設定し、前記
標準波形の半サイクル中に複数回各データをサングルで
きるよう設定された所定周期のサンプリングクロックに
同期して測定入力波形のデータをサンプリングし、この
サンプリングした測定入力波形のデータと前記標準波形
の瞬時値の差の絶対値が前記設定量より大きいとき変動
検出信号を発生するようにしたことを特徴としている。
また、本発明の他の電圧変動検出方法は、基準波形を、
上記第１の発明のものに代えて、各サンプリングデータ
の絶対値が前記電圧の標準波形における各瞬時値の絶対
値から所定の設定量を減算したものの絶対値と等しくさ
れたものとし、前記サンプリングクロックに同期する測
定入力波形のデータと前記標準波形の瞬時値の差の絶対
値が前記所定量とより大きいとき変動検出信号を発生す
るようにしたことを特徴としている。
上記第１の発明のものに代えて、各サンプリングデータ
の絶対値が前記電圧の標準波形における各瞬時値の絶対
値から所定の設定量を減算したものの絶対値と等しくさ
れたものとし、前記サンプリングクロックに同期する測
定入力波形のデータと前記標準波形の瞬時値の差の絶対
値が前記所定量とより大きいとき変動検出信号を発生す
るようにしたことを特徴としている。
さらに、本願における第３の発明による電圧変動検出方
法は、上記第１の発明における基準波形と第２の発明に
おける基準波形を両方とも設定し、サンプリングクロッ
クに同期する測定入力波形のデータと標準波形の瞬時値
の差の絶対値が、前記第１及び第２の基準波形を決定す
る前記所定の設定値より大きいとき、変動検出信号を発
生するようにしたことを特徴としている。
法は、上記第１の発明における基準波形と第２の発明に
おける基準波形を両方とも設定し、サンプリングクロッ
クに同期する測定入力波形のデータと標準波形の瞬時値
の差の絶対値が、前記第１及び第２の基準波形を決定す
る前記所定の設定値より大きいとき、変動検出信号を発
生するようにしたことを特徴としている。
［作 用］
上記第１の発明による電圧変動検出方法は、測定入力波
形と基準波形のデータを半サイクル中に複数回比較する
ことにより、この半サイクル以下の幅を持ち瞬時値の絶
対値が大きくなる電圧変動を検出する。
形と基準波形のデータを半サイクル中に複数回比較する
ことにより、この半サイクル以下の幅を持ち瞬時値の絶
対値が大きくなる電圧変動を検出する。
また、上記第２の発明による電圧変動検出方法は、測定
入力波形と基準波形のデータを半サイクル中に複数回比
較することにより、この半サイクル以下の幅を持ち瞬時
値の絶対値が小さくなる電圧変動を検出する。
入力波形と基準波形のデータを半サイクル中に複数回比
較することにより、この半サイクル以下の幅を持ち瞬時
値の絶対値が小さくなる電圧変動を検出する。
さらに、上記第３の発明による電圧変動検出方法は、・
測定入力波形と第１及び第２基準波形のデー夕を半サイ
クル中に複数回比較することにより、この半サイクル以
下の幅を持つ電圧変動を検出する。
測定入力波形と第１及び第２基準波形のデー夕を半サイ
クル中に複数回比較することにより、この半サイクル以
下の幅を持つ電圧変動を検出する。
［実施例］
以下、本発明を図示した実施例に基づいて説明する。こ
こに示すのは、測定入力波形に対し半サイクル毎に第１
及び第２基準電圧を設定するようにしたものである。
こに示すのは、測定入力波形に対し半サイクル毎に第１
及び第２基準電圧を設定するようにしたものである。
第１図は第１基準波形に相当する上限基準波形２及び第
２基皐波形に相当する下限基準波形３の形成方法を示す
原理図であって、図において１は測定電圧の標準波形で
ある。
２基皐波形に相当する下限基準波形３の形成方法を示す
原理図であって、図において１は測定電圧の標準波形で
ある。
標準波形１は、周波数Ｈ１実効値ｖＳである測定しよう
とする交流電圧波形の理想波形における、その正方向側
半サイクルに相当するものである。
とする交流電圧波形の理想波形における、その正方向側
半サイクルに相当するものである。
この標準波形１に基づいて、前記上限基準波形２及び下
限基準波形３は、それぞれ以下のようにして形成されて
いる。
限基準波形３は、それぞれ以下のようにして形成されて
いる。
すなわち、上限基準波形２及び下限基準波形３は、とも
に基準波形クロックＳに＝２・トに寛をサンプリングク
ロックとして形成されており、上限基準波形２は、 ５Ｈ（Ｎ） ＝１７・ＶＳ−５ｉｎ（ｒｒ−Ｈ／にｓ
）＋／′７（ｖｔｌ−ｖｓ）一方、下限基準波形３は、 ５Ｌ（Ｎ） ＝／７−ＶＳ−ｓｉｎ（π−Ｎ／Ｋｘ ）
＋ｆｆ（ＶＬ−ＶＳ）で計算される基準波形データの集
合体である。但し、ｄＶｌ＋は上限基準波形２の最大値
、／７ＶＬは下限基準波形３の最大値、Ｋ１は前記基準
波形クロックＳＫに同期してカウントされる上限及び下
限基準波形２．３を形成するサンプリングデータ数であ
る。また、Ｎは上限基準波形２もしくは下限基準電圧３
を形成するサンプリングデータのクロック番号で、０≦
Ｎ≦に＋１の範囲にある。上式５Ｈ（Ｎ）、５Ｌ（Ｎ）
からも明らかなように、上限基準波形２を形成する各サ
ンプリングデータは、各サンプリングクロックに対応す
る標準波形１の瞬時値に所定の第１設定量ｍ ｔ ＝
ｆ７（Ｖｌｌ−ＶＳ）を加ｍｉる。、：とにより形成さ
れたものであり、一方、下限基準波形３を形成する各サ
ンプリングデータは各サンプリングクロックに対応する
標準波形１の瞬時値から所定の第２設定量ＩＪ ＝／７
（ＶＬ−ＶＳ）を減算することにより形成されたもので
ある。尚、前記第１設定量口１．及び第２設定ｆｆ１ｌ
ｎ２は別個に設定されるものであり、もちろん異なる値
に設定しても同一値に設定してもよい。
に基準波形クロックＳに＝２・トに寛をサンプリングク
ロックとして形成されており、上限基準波形２は、 ５Ｈ（Ｎ） ＝１７・ＶＳ−５ｉｎ（ｒｒ−Ｈ／にｓ
）＋／′７（ｖｔｌ−ｖｓ）一方、下限基準波形３は、 ５Ｌ（Ｎ） ＝／７−ＶＳ−ｓｉｎ（π−Ｎ／Ｋｘ ）
＋ｆｆ（ＶＬ−ＶＳ）で計算される基準波形データの集
合体である。但し、ｄＶｌ＋は上限基準波形２の最大値
、／７ＶＬは下限基準波形３の最大値、Ｋ１は前記基準
波形クロックＳＫに同期してカウントされる上限及び下
限基準波形２．３を形成するサンプリングデータ数であ
る。また、Ｎは上限基準波形２もしくは下限基準電圧３
を形成するサンプリングデータのクロック番号で、０≦
Ｎ≦に＋１の範囲にある。上式５Ｈ（Ｎ）、５Ｌ（Ｎ）
からも明らかなように、上限基準波形２を形成する各サ
ンプリングデータは、各サンプリングクロックに対応す
る標準波形１の瞬時値に所定の第１設定量ｍ ｔ ＝
ｆ７（Ｖｌｌ−ＶＳ）を加ｍｉる。、：とにより形成さ
れたものであり、一方、下限基準波形３を形成する各サ
ンプリングデータは各サンプリングクロックに対応する
標準波形１の瞬時値から所定の第２設定量ＩＪ ＝／７
（ＶＬ−ＶＳ）を減算することにより形成されたもので
ある。尚、前記第１設定量口１．及び第２設定ｆｆ１ｌ
ｎ２は別個に設定されるものであり、もちろん異なる値
に設定しても同一値に設定してもよい。
上記上限基準波形２と下限基準波形３は、測定した交流
電圧波形がゼロクロスしたことを検出すると、次の基檗
波形クロックＳＫに同期して前述の５ｌｌ（Ｎ）、 ５
Ｌ（Ｎ）のクロック番号Ｎを０にリセットし、次いでク
ロックＳＫに同期してクロック番号Ｎを１づつ増加して
いることにより、第２図に示すように、繰り返し連続的
に設定されるようになっている。尚、クロック番号Ｎ＝
にｓｌまでタロツクがカランｌ−された時点で測定電圧
波形のゼロクロスが検出されない場合には、次のクロッ
クでクロック番号Ｎ＝Ｏにリセットすることにより、測
定波形の次の半サイクルに対応する上限基準波形２と下
限基準波形３を設定するようにしている。
電圧波形がゼロクロスしたことを検出すると、次の基檗
波形クロックＳＫに同期して前述の５ｌｌ（Ｎ）、 ５
Ｌ（Ｎ）のクロック番号Ｎを０にリセットし、次いでク
ロックＳＫに同期してクロック番号Ｎを１づつ増加して
いることにより、第２図に示すように、繰り返し連続的
に設定されるようになっている。尚、クロック番号Ｎ＝
にｓｌまでタロツクがカランｌ−された時点で測定電圧
波形のゼロクロスが検出されない場合には、次のクロッ
クでクロック番号Ｎ＝Ｏにリセットすることにより、測
定波形の次の半サイクルに対応する上限基準波形２と下
限基準波形３を設定するようにしている。
次に、上記の如くして設定された上限基準波形２と下限
基準波形３を用いて測定電圧の電圧変動を検出する手順
を説明する。
基準波形３を用いて測定電圧の電圧変動を検出する手順
を説明する。
第３図において、Ａは測定電圧の全波整流波形であり、
すなわちこれは、測定入力を絶対値で示したものである
。前述したように、測定電圧がゼロクロスしたことが検
出されると、次の基準波形クロックＳＫに同期して始ま
る上限基準波形２と下限基準波形３が設定される。
すなわちこれは、測定入力を絶対値で示したものである
。前述したように、測定電圧がゼロクロスしたことが検
出されると、次の基準波形クロックＳＫに同期して始ま
る上限基準波形２と下限基準波形３が設定される。
ここで、前記全波整流波形Ａに対し、測定データクロッ
クＤに＝Ｓに／に２をサンプリングクロックとしてその
データＤをサンプリングしていく、この測定データクロ
ックＤＫは前記式からも明らかなように、前述の基準波
形クロックＳにをに２で分周したものであり、これによ
って測定電圧波形の半サイクル当り、少なくとも２回以
上データをサンプリングするようにしている。第３図の
実施例においては、前記に＋ ＝１０２４．そしてに２
＝３２として測定電圧のデータをサンプリングしており
、このようにした場合、 Ｄに＝ ＳＫ／に２＝２・１１・に、／に２＝ ２ ｘ
Ｈｘ １０２４／３２ ＝３２Ｘ２ＸＨ となり、半サイクル当りのサンプリング回数は３２回と
なる。この測定データクロックＤＫは、測定入力のゼロ
クロスに関係なく等間隔で刻時していくものとする。
クＤに＝Ｓに／に２をサンプリングクロックとしてその
データＤをサンプリングしていく、この測定データクロ
ックＤＫは前記式からも明らかなように、前述の基準波
形クロックＳにをに２で分周したものであり、これによ
って測定電圧波形の半サイクル当り、少なくとも２回以
上データをサンプリングするようにしている。第３図の
実施例においては、前記に＋ ＝１０２４．そしてに２
＝３２として測定電圧のデータをサンプリングしており
、このようにした場合、 Ｄに＝ ＳＫ／に２＝２・１１・に、／に２＝ ２ ｘ
Ｈｘ １０２４／３２ ＝３２Ｘ２ＸＨ となり、半サイクル当りのサンプリング回数は３２回と
なる。この測定データクロックＤＫは、測定入力のゼロ
クロスに関係なく等間隔で刻時していくものとする。
このようにして前記測定データクロックＯＫと同期する
データＤをサンプリングするのと同時に、このデータＤ
を、前述の如くして設定された上限基準波形２及び下限
基準波形３と比較する。そして、データＤが上限基準波
形２を上回るかもしくは下限基準波形３を下回ったとき
、つまり測定入力波形のデータと標準波形の瞬時値の差
の絶対値が前記第１設定Ｊｉｍｔもしくは第２設定量ｍ
２より大きくなったときには、変動検出信号を発生する
ようにする。すなわち、例えば第３図に示すように、測
定電圧波形半サイクル中において１６番目及び１７番目
の測定データクロック１６０に、１１０にに該当する位
置に、瞬時値が下限基準波形３より小さく且つ少なくと
も１／Ｄに時間以上継続する電圧変動部Ｘが存在してい
ると、測定データクロック１６０に、 １７ＤＫに同期
してサンプリングされた測定データＤが、この測定デー
タクロック１６ＤＫ、 １７ＤＫに同期する下限基準波
形３のサンプリングデータを下回ることになり、前述し
た変動検出信号が発生されるのである。
データＤをサンプリングするのと同時に、このデータＤ
を、前述の如くして設定された上限基準波形２及び下限
基準波形３と比較する。そして、データＤが上限基準波
形２を上回るかもしくは下限基準波形３を下回ったとき
、つまり測定入力波形のデータと標準波形の瞬時値の差
の絶対値が前記第１設定Ｊｉｍｔもしくは第２設定量ｍ
２より大きくなったときには、変動検出信号を発生する
ようにする。すなわち、例えば第３図に示すように、測
定電圧波形半サイクル中において１６番目及び１７番目
の測定データクロック１６０に、１１０にに該当する位
置に、瞬時値が下限基準波形３より小さく且つ少なくと
も１／Ｄに時間以上継続する電圧変動部Ｘが存在してい
ると、測定データクロック１６０に、 １７ＤＫに同期
してサンプリングされた測定データＤが、この測定デー
タクロック１６ＤＫ、 １７ＤＫに同期する下限基準波
形３のサンプリングデータを下回ることになり、前述し
た変動検出信号が発生されるのである。
上記実施例のような電圧変動検出方法によると、上限基
準波形２及び下限基準波形３を決定する標準波形１に対
する前記第１及び第２設定量ｍｌ。
準波形２及び下限基準波形３を決定する標準波形１に対
する前記第１及び第２設定量ｍｌ。
ｍ２を任意に選択することにより、検出する必要のある
変動量を示した電圧変動を、それが１／Ｄ１１時間以上
継続すれば確実に検出することができる。
変動量を示した電圧変動を、それが１／Ｄ１１時間以上
継続すれば確実に検出することができる。
すなわち、測定電圧波形の半サイクル中に、複数回にわ
たってこの測定電圧のデータを上限及び下限基準波形と
比較するようにしているから、半サイクル以内のきわめ
て短い電圧変動であっても、確実に検出することができ
る。
たってこの測定電圧のデータを上限及び下限基準波形と
比較するようにしているから、半サイクル以内のきわめ
て短い電圧変動であっても、確実に検出することができ
る。
尚、上述の電圧変動検出方法では、測定入力波形を、半
サイクル毎に第１基準波形に相当する上限基準波形２及
び第２基準波形に相当する下限基準波形３と比較するよ
うにしているが、第４図に示すように、１サイクル毎に
、各サンプリングデータの絶対値が前記電圧の標準波形
１ａにおける瞬時値の絶対値に所定の第１設定量を加算
してなるものである第１基準波形２ａ、及び各サンプリ
ングデータの絶対値が前記電圧の標準波形１ａにおける
各瞬時値の絶対値から所定の第２設定量を減算したもの
の絶対値と等しくされた第２基準波形３ａを設定し、前
述例と同様のサンプリングクロックに同期してサンプリ
ングした測定入力波形のデータと標準波形の瞬時値の差
の絶対値が、第１設定量もしくは第２設定量より大きい
とき変動検出信号を発生するようにしてもよい、さらに
、第１基準波形及び第２基準波形を１．５サイクル以上
の幅を持つものとしても、同様にして電圧変動を検出で
きることは明らかである。
サイクル毎に第１基準波形に相当する上限基準波形２及
び第２基準波形に相当する下限基準波形３と比較するよ
うにしているが、第４図に示すように、１サイクル毎に
、各サンプリングデータの絶対値が前記電圧の標準波形
１ａにおける瞬時値の絶対値に所定の第１設定量を加算
してなるものである第１基準波形２ａ、及び各サンプリ
ングデータの絶対値が前記電圧の標準波形１ａにおける
各瞬時値の絶対値から所定の第２設定量を減算したもの
の絶対値と等しくされた第２基準波形３ａを設定し、前
述例と同様のサンプリングクロックに同期してサンプリ
ングした測定入力波形のデータと標準波形の瞬時値の差
の絶対値が、第１設定量もしくは第２設定量より大きい
とき変動検出信号を発生するようにしてもよい、さらに
、第１基準波形及び第２基準波形を１．５サイクル以上
の幅を持つものとしても、同様にして電圧変動を検出で
きることは明らかである。
上述した電圧変動検出方法は、第１の基準波形と第２の
基準波形の両方を設定しており、このようにした場合は
、電圧変動の原因となる事故の種類の如何に拘らずそれ
により生じた電圧変動を検出することができる。しかし
ながら、第１の基準波形もしくは第２の基準波形のいず
れか一方のみを設定するだけであっても、特定の原因に
よる電圧変動を検出することはできる。
基準波形の両方を設定しており、このようにした場合は
、電圧変動の原因となる事故の種類の如何に拘らずそれ
により生じた電圧変動を検出することができる。しかし
ながら、第１の基準波形もしくは第２の基準波形のいず
れか一方のみを設定するだけであっても、特定の原因に
よる電圧変動を検出することはできる。
すなわち、第１の基準波形のみを設定し、サンプリング
した測定入力波形のデータと標準波形の瞬時値の差が前
記第１設定量より大きいとき変動検出信号を発生するよ
うにしても、地絡事故を原因とする、瞬時値の絶対値が
大きくなる電圧変動を検出することができる。
した測定入力波形のデータと標準波形の瞬時値の差が前
記第１設定量より大きいとき変動検出信号を発生するよ
うにしても、地絡事故を原因とする、瞬時値の絶対値が
大きくなる電圧変動を検出することができる。
また、第２の基準波形のみを設定し、サンプリングした
測定入力波形のデータと標準波形の瞬時値の差の絶対値
が前記第２設定量より大きいとき変動検出信号を発生す
るようにしても、短絡事故、あるいは異相地絡等の多重
事故を原因とする、瞬時停電を含む瞬時値の絶対値が小
さくなる電圧変動を検出することができる。
測定入力波形のデータと標準波形の瞬時値の差の絶対値
が前記第２設定量より大きいとき変動検出信号を発生す
るようにしても、短絡事故、あるいは異相地絡等の多重
事故を原因とする、瞬時停電を含む瞬時値の絶対値が小
さくなる電圧変動を検出することができる。
ところで、上記した電圧変動検出方法は、正弦波形のみ
ならず、方形波やのこぎり波に対しても採用できるのは
いうまでもない。
ならず、方形波やのこぎり波に対しても採用できるのは
いうまでもない。
［発明の効果］
・請求項１によれば、半サイクル以下の幅を持つ瞬時値
の絶対値が大きくなる電圧変動が確実に検出されるから
、地絡事故を原因とする電圧変動の実態を把握すること
ができるようになり、こうした種類の電圧変動に対する
、コンピュータを始めとする電子装置等における対策に
貢献することができる。
の絶対値が大きくなる電圧変動が確実に検出されるから
、地絡事故を原因とする電圧変動の実態を把握すること
ができるようになり、こうした種類の電圧変動に対する
、コンピュータを始めとする電子装置等における対策に
貢献することができる。
請求項２によれば、短絡事故、あるいは異相地絡等の多
重事故を原因として発生した、半サイクル以下の幅を持
つ瞬時値の絶対値が小さくなる電圧変動、すなわち瞬時
停電のような比較的起こり易い電圧変動に対し、前記請
求項１の方法による場合と同様の効果を奏することがで
きる。
重事故を原因として発生した、半サイクル以下の幅を持
つ瞬時値の絶対値が小さくなる電圧変動、すなわち瞬時
停電のような比較的起こり易い電圧変動に対し、前記請
求項１の方法による場合と同様の効果を奏することがで
きる。
請求項３によれば、あらゆる原因による半サイクル以下
の瞬時電圧変動や電圧波形のひずみを検出することが可
能となり、前述した電子装置等における対策をトータル
的なものとすることができる。
の瞬時電圧変動や電圧波形のひずみを検出することが可
能となり、前述した電子装置等における対策をトータル
的なものとすることができる。
第１図は上限基準波形及び下限基準波形の形成方法を示
す原理図、第２図は上限及び下限基準波形の設定状態を
示す説明図、第３図は変動検出信号の発生条件を説明す
るための波形図、第４図は他側による第１基準波形と第
２基準波形を示す波形図である。 １・・・標準波形 訃・・上限基準波形〈第１基準波形） ３・・・下限基準波形（第２基準波形）１ａ・・・標準
波形 ２ａ・・・第１基準波形 ３ａ・・・第２基準波形 Ｄ・・・測定データ（測定入力波形のデータ）Ｄに・・
・測定データクロック（サンプリングクロック）第１図 第２図
す原理図、第２図は上限及び下限基準波形の設定状態を
示す説明図、第３図は変動検出信号の発生条件を説明す
るための波形図、第４図は他側による第１基準波形と第
２基準波形を示す波形図である。 １・・・標準波形 訃・・上限基準波形〈第１基準波形） ３・・・下限基準波形（第２基準波形）１ａ・・・標準
波形 ２ａ・・・第１基準波形 ３ａ・・・第２基準波形 Ｄ・・・測定データ（測定入力波形のデータ）Ｄに・・
・測定データクロック（サンプリングクロック）第１図 第２図
Claims (3)
- （１）一定周期で変化する電圧の変動を検出する電圧変
動検出方法であって、 各サンプリングデータの絶対値が前記電圧の標準波形に
おける瞬時値の絶対値に所定の設定量を加算してなるも
のである基準波形を設定し、前記標準波形の半サイクル
中に複数回各データをサンプルできるよう設定された所
定周期のサンプリングクロックに同期して測定入力波形
のデータをサンプリングし、 このサンプリングした測定入力波形のデータと前記標準
波形の瞬時値の差が前記設定量より大きいとき変動検出
信号を発生するようにした ことを特徴とする電圧変動検出方法。 - （２）一定周期で変化する電圧の変動を検出する電圧変
動検出方法であって、 各サンプリングデータの絶対値が前記電圧の標準波形に
おける各瞬時値の絶対値から所定の設定量を減算したも
のの絶対値と等しくされた基準波形を設定し、 前記標準波形の半サイクル中に複数回各データをサンプ
ルできるよう設定された所定周期のサンプリングクロッ
クに同期して測定入力波形のデータをサンプリングし、 このサンプリングした測定入力波形のデータと前記標準
波形の瞬時値の差の絶対値が前記設定量より大きいとき
変動検出信号を発生するようにした ことを特徴とする電圧変動検出方法。 - （３）一定周期で変化する電圧の変動を検出する電圧変
動検出方法であって、 各サンプリングデータの絶対値が前記電圧の標準波形に
おける瞬時値の絶対値に所定の第１設定量を加算してな
るものである第１の基準波形と、各サンプリングデータ
の絶対値が前記電圧の標準波形における各瞬時値の絶対
値から所定の第２設定量を減算したものの絶対値と等し
くされた第２の基準波形とを設定し、 前記標準電圧波形の半サイクル中に複数回各データをサ
ンプリングできるよう設定された所定周期のサンプリン
グクロックに同期して測定入力波形のデータをサンプリ
ングし、 このサンプリングした測定入力波形のデータと標準波形
の瞬時値の差の絶対値が前記第１設定量もしくは第２設
定量より大きいとき変動検出信号を発生するようにした ことを特徴とする電圧変動検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63235916A JPH06105264B2 (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 電圧変動検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63235916A JPH06105264B2 (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 電圧変動検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0283460A true JPH0283460A (ja) | 1990-03-23 |
| JPH06105264B2 JPH06105264B2 (ja) | 1994-12-21 |
Family
ID=16993140
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63235916A Expired - Lifetime JPH06105264B2 (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 電圧変動検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06105264B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001153891A (ja) * | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Hioki Ee Corp | 電気測定器の波形判定方法 |
| JP2012122825A (ja) * | 2010-12-08 | 2012-06-28 | Hioki Ee Corp | 測定装置および判定方法 |
| JP2019158858A (ja) * | 2018-03-07 | 2019-09-19 | 日新電機株式会社 | 電圧異常検出装置及び電圧異常検出方法 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5324871A (en) * | 1976-08-19 | 1978-03-08 | Siemens Ag | Device for monitoring quantity of electricity in aac |
| JPS5833923A (ja) * | 1981-08-19 | 1983-02-28 | 日本電気株式会社 | 交流電圧検出回路 |
| JPS59179383U (ja) * | 1983-05-18 | 1984-11-30 | 株式会社リコー | 瞬断検知装置 |
| JPS6290572A (ja) * | 1985-10-17 | 1987-04-25 | Toshiba Corp | 停電検出回路 |
| JPS63163177A (ja) * | 1986-12-25 | 1988-07-06 | Nissin Electric Co Ltd | 瞬時電圧低下検出方法 |
-
1988
- 1988-09-20 JP JP63235916A patent/JPH06105264B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| JP2019158858A (ja) * | 2018-03-07 | 2019-09-19 | 日新電機株式会社 | 電圧異常検出装置及び電圧異常検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06105264B2 (ja) | 1994-12-21 |
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