JPH0282317A - Bias setting device for buffer memory - Google Patents

Bias setting device for buffer memory

Info

Publication number
JPH0282317A
JPH0282317A JP63233511A JP23351188A JPH0282317A JP H0282317 A JPH0282317 A JP H0282317A JP 63233511 A JP63233511 A JP 63233511A JP 23351188 A JP23351188 A JP 23351188A JP H0282317 A JPH0282317 A JP H0282317A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
write
read
bias
signal
timing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63233511A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kimiya Osaki
大崎 仁也
Shinji Tanaka
伸二 田中
Akifumi Fukuyama
福山 紀史
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP63233511A priority Critical patent/JPH0282317A/en
Publication of JPH0282317A publication Critical patent/JPH0282317A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Communication Control (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Abstract

PURPOSE:To set the phase difference between the write timing and the read timing so that it has always a maximum margin by setting the bias between the write timing and the read timing again at the time of starting the operation of a system. CONSTITUTION:A write control means 13 and a read control means 14 start the operation at the time of rise of the whole of the system, and output of a write control signal 15 and a read control signal 16 is started at independent timings. At this time, phase relations between respective output timings of the write control signal 15 and the read control signal 16 are not secured. The bias setting operation is performed at the time of system rise by a bias resetting means 17. Thus, the means 17 gives a maximum margin to the bias between output timings of the read control signal 16 and the write control signal 15, and the operation of a buffer memory means 10 is started in this state.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概  要〕 バッファメモリを用いた速度変換回路に係り、更に詳し
くはデータの書込みタイミングと読出しタイミング間の
バイアス設定方式に関し、システムの動作開始時及びそ
れ以外の任意のタイミングで、書込みタイミングと読出
しタイミングの間のバイアスの再設定を可能とし、これ
により書込みタイミングと読み出しタイミングの位相差
を常に最大余裕を有するように設定可能とすることを目
的とし、 書込みデータを記憶するバッファメモリ手段と、該手段
に書込み制御信号を与えて、第1のデータ転送クロック
に同期する書込みデータを前記バッファメモリ手段に書
き込む書込み制御手段と、前記バッファメモリ手段に読
出し制御信号を与えて、前記バッファメモリ手段に記憶
されている前記書込みデータを前記書込み動作とは独立
して第2のデータ転送クロックに同期する読出しデータ
として読み出す読出し制御手段と、バイアス設定時に、
前記読出し制御信号又は前記書込み制御信号のいずれか
一方に基づいて前記書込み制御手段における書込み制御
信号又は前記読出し制御手段における読出し制御信号の
いずれか一方の出力タイミングを制御して、該両信号間
のバイアスが最大余裕を有するように該バイアスの再設
定を行うバイアス再設定手段とを有するように構成する
[Detailed Description of the Invention] [Summary] It relates to a speed conversion circuit using a buffer memory, and more specifically, to a bias setting method between data write timing and data read timing. The purpose of this method is to enable resetting the bias between the write timing and the read timing, and thereby to always set the phase difference between the write timing and the read timing so that there is a maximum margin. buffer memory means for applying a write control signal to the buffer memory means, write control means for writing write data to the buffer memory means in synchronization with a first data transfer clock, and a read control signal for applying a read control signal to the buffer memory means; , read control means for reading out the write data stored in the buffer memory means as read data that is synchronized with a second data transfer clock independently of the write operation, and when setting a bias;
The output timing of either the write control signal in the write control means or the read control signal in the read control means is controlled based on either the read control signal or the write control signal, and the timing between the two signals is controlled. and bias reset means for resetting the bias so that the bias has a maximum margin.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、バッファメモリを用いた速度変換回路に係り
、更に詳しくはデータの書き込みタイミングと読み出し
タイミング間のバイアス設定装置に関する。
The present invention relates to a speed conversion circuit using a buffer memory, and more particularly to a bias setting device between a data write timing and a data read timing.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

ディジタル交換網において、回線側の通信データの転送
が1.544 MHzのクロックに同期して行われ、交
換機内では4.096 MHzのクロックに同期して行
われるような場合があり、この場合には、当然データ転
送速度が異なるため、両者の間で速度変換を行う必要が
ある。その他、様々なデータ通信の形態において、デー
タ転送の速度変換を行う必要性が高い場合が多い。
In a digital switching network, there are cases where communication data transfer on the line side is synchronized to a 1.544 MHz clock, and inside the exchange is synchronized to a 4.096 MHz clock. Of course, the data transfer speeds are different, so it is necessary to perform speed conversion between the two. In addition, in various forms of data communication, it is often necessary to convert the speed of data transfer.

上記速度変換を行う装置として、メモリを速度変換用の
バッファとして用いたものがある。第4図に従来のバッ
ファメモリを用いた速度変換回路の構成を示す。エラス
ティックRAM (ES、以下同じ)1は、ランダムア
クセスメモリである速度変換用のバッファメモリであり
、ライトリセット端子WRに入力するライトリセット信
号WR*によって、内部で先頭アドレスから自動的にア
ドレスを更新しながら、一定のデータ量の書込みデ−タ
2を順次書き込む。また、リードリセット端子RRに人
力するリードリセット信号RR*によって、内部で先頭
アドレスから自動的にアドレスを更新しながら、各アド
レスの内容を一定のデータ量の読出しデータ3として順
次読み出す。この場合、上記書き込み動作と読み出し動
作は、各々独立して行えるという特徴を有するメモリで
ある。
As a device for performing the above-mentioned speed conversion, there is one that uses memory as a buffer for speed conversion. FIG. 4 shows the configuration of a speed conversion circuit using a conventional buffer memory. Elastic RAM (ES, same hereinafter) 1 is a buffer memory for speed conversion which is a random access memory, and the address is automatically changed internally from the first address by the write reset signal WR* input to the write reset terminal WR. While updating, a certain amount of write data 2 is sequentially written. Further, the contents of each address are sequentially read out as read data 3 of a fixed amount of data while automatically updating the addresses internally from the first address by a read reset signal RR* inputted to the read reset terminal RR. In this case, the memory is characterized in that the write operation and the read operation can be performed independently.

ここで、書込みデータ2は例えばディジタル交換網にお
ける回線側から入力する通信データであって、書込みク
ロック4に同期し、読出しデータ3は例えば交換機側に
出力される通信データであって上記書込みクロック4と
は異なる読出しクロック5に同期している。そして、E
SIにより速度変換されることになる。
Here, the write data 2 is, for example, communication data input from the line side in a digital switching network, and is synchronized with the write clock 4, and the read data 3 is communication data, for example, output to the exchange side, and is synchronized with the write clock 4. It is synchronized with a read clock 5 which is different from the read clock 5. And E
The speed will be converted by SI.

次に、ライトリセット信号WR*は、セレクタ8の出力
であり、書込みポインタ制御部6から出力される2種類
のライトリセット信号WRI*又はライトリセット信号
WRII*が選択的に出力される。そして、書込みポイ
ンタ制御部6は前記書込めクロック4に同期して上記両
信号を出力する。
Next, the write reset signal WR* is the output of the selector 8, and two types of write reset signal WRI* or write reset signal WRII* output from the write pointer control section 6 are selectively output. Then, the write pointer control section 6 outputs both of the above signals in synchronization with the write clock 4.

一方、リードリセット信号RR*は、前記読出しクロッ
ク5に同期して動作する続出しポインタ制御部7から出
力される。
On the other hand, the read reset signal RR* is output from the successive pointer control section 7 which operates in synchronization with the read clock 5.

オーバフロー/アンプフロー検出部9は、ライトリセッ
ト信号WR*及びり−Fリセソi・信号RR*の衝突状
態を監視する回路であり、衝突が検出された場合(パル
スがぶつかった場合)にリハイアス信号10を介してセ
レクタ8を制御し、ライトリセット信号WR*をライト
リセット信号WR■*からライトリセラ1〜信号WRI
I*に切り替える。
The overflow/amplifier flow detection unit 9 is a circuit that monitors the collision state of the write reset signal WR* and the RI-F reset signal RR*, and when a collision is detected (when pulses collide), a reheat signal is sent. 10 to control the selector 8 and convert the write reset signal WR* from the write reset signal WR■* to the write reseller 1 to signal WRI.
Switch to I*.

次に、上記従来例の動作を、第5図の動作タイミングチ
ャート図を用いて説明する。
Next, the operation of the above conventional example will be explained using the operation timing chart of FIG.

まず、読出しポインタ制御部7から出力されるリードリ
セット信号RR*は、第5図に示すように一定周期の負
論理パルスであり、読出しクロック5に同期している。
First, the read reset signal RR* output from the read pointer control section 7 is a negative logic pulse with a constant period, as shown in FIG. 5, and is synchronized with the read clock 5.

これに対して、書込みポインタ制御部6から出力される
ライトリセット信号WRI*及びライトリセット信IW
RII*は、やはり第5図に示すように一定周期の負論
理パルスで、書込みクロック4に同期しており、両者の
位相は半周期骨ずれている。そして、通常は第4図のオ
ーバフロー/アンプフロー検出部9からのリハイアス信
号10がローレベルとなっており、第4図のセレクタ8
においては、ライトリセット信号WR*としてライトリ
セラ1〜信号WRI*が選択されている。
In contrast, the write reset signal WRI* and the write reset signal IW output from the write pointer control unit 6
As shown in FIG. 5, RII* is also a negative logic pulse with a constant period and is synchronized with the write clock 4, and the phases of the two are shifted by half a period. Normally, the rehearsing signal 10 from the overflow/amplifier flow detection section 9 shown in FIG. 4 is at a low level, and the selector 8 shown in FIG.
, write reseller 1 to signal WRI* are selected as write reset signal WR*.

そして、ライトリセット信号WR*の負論理パルスによ
りESIに書き込まれた読出しデータ3は、リートリセ
ット信号RR*の負論理パルスにより書込みデータ2と
して読み出される。この場合、読出しデータ3の書込み
タイミングは書込みクロック4に同期し、読出しデータ
3の読出しタイミングは読出しクロック5に同期して、
結局、ESIにより速度変換されることになる。
Then, the read data 3 written to the ESI by the negative logic pulse of the write reset signal WR* is read out as the write data 2 by the negative logic pulse of the write reset signal RR*. In this case, the write timing of the read data 3 is synchronized with the write clock 4, and the read timing of the read data 3 is synchronized with the read clock 5.
Eventually, the speed will be converted by ESI.

上記動作で、システム全体の電源立ち上げ時は、書込み
ポインタ制御部6と読出しポインタ制御部7は各々独立
した書込みクロック4及び読出しクロック5によって制
御されるため、ライトリセット信号WR*とリードリセ
ット信号RR*の相互の位相関係は保障されない。従っ
て、第5図のライトリセット信号WR*とリートリセッ
ト信号RR*の位相差はシステム立ち上げ後にどのよう
な幅を有するのかわからない。ここで、位相差が第5図
の位相差τ直のように接近しすぎてほとんど0になって
しまうと、ライトリセラ1−信号WR*とリート′リセ
ッI・信号RR*が衝突を起こし、ESlに書き込まれ
たデータが破壊されてしまう。
In the above operation, when powering up the entire system, the write pointer control section 6 and the read pointer control section 7 are controlled by the independent write clock 4 and read clock 5, respectively, so the write reset signal WR* and the read reset signal The mutual phase relationship of RR* is not guaranteed. Therefore, it is not known what width the phase difference between the write reset signal WR* and the read reset signal RR* shown in FIG. 5 will have after the system is started up. Here, if the phase difference becomes too close to almost 0 as shown in the phase difference τ in FIG. The data written to it will be destroyed.

また、位相差が完全にOでなくても、書込みクロック4
は例えば回線データから抽出されたものを使用するため
、クロックの精度の間B(ジッタ)等により上記両信号
が衝突する場合もある。従って、システム全体のデータ
の信頼性を確保するために、上記衝突状態を回避する必
要がある。
Also, even if the phase difference is not completely O, the write clock 4
For example, since the signal extracted from the line data is used, the above two signals may collide due to B (jitter) etc. due to the accuracy of the clock. Therefore, in order to ensure data reliability of the entire system, it is necessary to avoid the above collision state.

第4図のオーバフロー/アンプフロー検出部9ばそのよ
うな衝突状態を検出する。すなわち、第4図では省略し
であるが、ライトリセット信号WR*とリードリセット
信号RR*とを例えば特には図示しないオア回路に入力
させ、両信号が第5図のtlのタイミングで衝突して共
にローレベルとなり、上記オア回路の出力がハイレベル
からローレベルに立ち下がることにより、特には図示し
ない適当なりバイアス信号発生回路により、第4図のリ
ハイアス信号10の論理が、第5図のt2のタイミング
でローレベルからハイレベルに反転する。
The overflow/amplifier flow detection section 9 in FIG. 4 detects such a collision condition. That is, although it is omitted in FIG. 4, the write reset signal WR* and the read reset signal RR* are input to, for example, an OR circuit (not particularly shown), and the two signals collide at the timing tl in FIG. As both of them become low level and the output of the OR circuit falls from high level to low level, an appropriate bias signal generation circuit (not shown) changes the logic of the rehearsing signal 10 in FIG. 4 to t2 in FIG. It flips from low level to high level at the timing of .

上記のようにして衝突が検出されリハイアス信号10の
論理が変化することにより、セレクタ8はライトリセッ
ト信号W]l*ではなくライトリセット信号WRII*
を選択し、以後ライトリセッ1へ信号WR*は第5図の
t3、t4といったタイミングで負論理パルスを出力す
るようになる。これにより、ライトリセット信号WR*
とリードリセント信号RR*間のバイアスが再設定され
てその位相差が約手周期分ずれ、それ以降は、ライトリ
セット信号WR*とリートリセット信号RR*の衝突が
回避される。そして、この場合の第6図に示す位相差τ
2は最も大きい位相差となり、最大余裕を有することと
なって、第4図のシステム全体の動作の信頼性は最も高
くなる。それ以後、何らかの原因で衝突が発生する毎に
セレクタ8の選択が切り替わり、バイアスの再設定をし
て衝突回避の動作を行う。
As a result of detecting a collision and changing the logic of the rehearsing signal 10 as described above, the selector 8 receives the write reset signal WRII* instead of the write reset signal W]l*.
After that, the signal WR* to the write reset 1 starts outputting negative logic pulses at timings such as t3 and t4 in FIG. As a result, the write reset signal WR*
The bias between the write reset signal WR* and the read recent signal RR* is reset, the phase difference thereof is shifted by about half a period, and from then on, collision between the write reset signal WR* and the read reset signal RR* is avoided. In this case, the phase difference τ shown in FIG.
2 is the largest phase difference and has the maximum margin, so that the reliability of the operation of the entire system in FIG. 4 is the highest. Thereafter, whenever a collision occurs for some reason, the selection of the selector 8 is switched, the bias is reset, and collision avoidance operation is performed.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、上記第4図の従来例においては、既に述べたよ
うに、システム全体の電源立ち上げ時には、ライトリセ
ラ)・信号WR*及び基本リードリセット信号RR*の
相互の位相関係は保障されておらず、システム運用中に
おいて、前記ライトリセット信号WR*とリードリセッ
ト信号RR*の衝突が発生し、その瞬間における入力デ
ータ3が破壊されてしまうという問題点を有している。
However, in the conventional example shown in FIG. 4 above, as mentioned above, when powering up the entire system, the mutual phase relationship of the write reseller) signal WR* and the basic read reset signal RR* is not guaranteed. , there is a problem in that during system operation, a collision occurs between the write reset signal WR* and the read reset signal RR*, and the input data 3 at that moment is destroyed.

すなわち、第4図の従来例の場合、衝突発生前に、事前
にライ1〜リセット信号WR*とり一ドリセット信号R
R*間のバイアスの再設定を行うことはできない。従っ
て、たとえオーバフロー/アンプフロー検出部9を備え
ていたとしても、衝突がシステム運用中に発生ずるのは
好ましくなく、結果的にシステム全体の信頼性が十分な
ものといえなくなるという問題点を有している。
That is, in the case of the conventional example shown in FIG.
It is not possible to reset the bias between R*. Therefore, even if the overflow/amplifier flow detection unit 9 is provided, it is undesirable for collisions to occur during system operation, and as a result, there is a problem that the reliability of the entire system cannot be said to be sufficient. are doing.

本発明は、システムの動作開始時及びそれ以外の任意の
タイミングで、書込みタイミングと読出しタイミングの
間のバイアスの再設定を可能とし、これにより書込みタ
イミングと読み出しタイミングの位相差を常に最大余裕
を有するように設定可能とすることを目的とする。
The present invention makes it possible to reset the bias between the write timing and the read timing at the start of system operation and at any other timing, thereby ensuring that the phase difference between the write timing and the read timing always has a maximum margin. The purpose is to make it possible to set it as follows.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第1図は、本発明のブロック図である。 FIG. 1 is a block diagram of the present invention.

バッファメモリ手段10は、書込みデータ11を記憶す
る速度変換用のバッファメモリであり、例えば外部から
ライトリセット信号又はリードリセット信号の各パルス
列信号を入力することにより、内部で自動的にアドレス
を更新しながら書き込み動作及び読み出し動作を各々独
立したタイミング及び速度で行うエラスティックRAM
である。
The buffer memory means 10 is a speed conversion buffer memory that stores the write data 11, and automatically updates the address internally by inputting each pulse train signal of a write reset signal or a read reset signal from the outside, for example. Elastic RAM that performs write and read operations at independent timing and speed.
It is.

書込み制御手段13は、バッファメモリ手段10に書込
み制御信号15を与えて、第1のデータ転送クロックに
同期する書込みデータ11を前記バッファメモリ手段1
0に書き込む手段であり、例えばバッファメモリ手段1
0が前記エラスティックRAMの場合、該手段10に、
前記第1のデータ転送クロックと共に、書込の制御信号
15であるライトリセット信号を所定のパルス周期で与
える手段である。
The write control means 13 provides a write control signal 15 to the buffer memory means 10 to write write data 11 in synchronization with the first data transfer clock to the buffer memory means 1.
0, for example, buffer memory means 1
When 0 is the elastic RAM, the means 10 includes:
This means provides a write reset signal, which is a write control signal 15, at a predetermined pulse period together with the first data transfer clock.

読出し制御手段14は、バッファメモリ手段10に読出
し制御信号16を与えて、バッファメモリ手段10に記
憶されている書込みデータ11を前記書込み動作とは独
立して第2のデータ転送クロックに同期して読出しデー
タ12として読み出す手段であり、例えばバッファメモ
リ手段10が前記エラスティックRAMの場合、該手段
10に、前記第2のデータ転送クロックと共に、読出し
制御信号16であるリードリセットパルス信号を所定の
パルス周期で与える手段として実現される。
The read control means 14 applies a read control signal 16 to the buffer memory means 10 to write write data 11 stored in the buffer memory means 10 in synchronization with the second data transfer clock independently of the write operation. For example, when the buffer memory means 10 is the elastic RAM, a read reset pulse signal, which is the read control signal 16, is applied to the means 10 along with the second data transfer clock at a predetermined pulse rate. It is realized as a means of giving in cycles.

バイアス再設定手段17は、バイアス設定時に読出し制
御信号16又は書込み制御信号15のいずれか一方に基
づいて書込み制御手段13における書込み制御信号15
又は前記読出し制御手段14における読出し制御信号1
6のいずれか一方の出力タイミングを制御して、該両信
号間のバイアスが最大余裕を有するように該バイアスの
再設定を行う手段であり、第1図では例として読出し制
御信号16に基づいて書込み制御手段13における書込
み制御信号15の出力タイミングを制御するようになっ
ている。なお、当然この逆の構成でもよい。そして同手
段は、例えば読出し制御信号16であるリードリセット
パルス信号のパルスの出力タイミングから、前記第1の
データ転送クロックを基準として最大余裕バイアスに対
応する所定クロック数経過後に、書込み制御手段13が
書込み制御信号15であるライトリセットパルス信号を
出力するように制御する手段である。なお、同手段は、
システム立ち上げ時又はその他の任意のタイミングのバ
イアス設定時に動作し、バイアス設定時以外は、書込み
制御手段13が上記バイアス再設定タイミングを基準に
自走し、第1のデータ転送クロックに同期して書込み制
御信号15を出力する。
The bias resetting means 17 controls the write control signal 15 in the write control means 13 based on either the read control signal 16 or the write control signal 15 when setting the bias.
or the read control signal 1 in the read control means 14
This means controls the output timing of either one of the signals 6 and resets the bias so that the bias between the two signals has a maximum margin, and in FIG. The output timing of the write control signal 15 in the write control means 13 is controlled. Note that, of course, the configuration may be reversed. The write control means 13 starts the write control means 13 after a predetermined number of clocks corresponding to the maximum margin bias has elapsed from the output timing of the read reset pulse signal, which is the read control signal 16, for example, based on the first data transfer clock. This is means for controlling to output a write reset pulse signal which is the write control signal 15. In addition, the same means:
It operates when the bias is set at system start-up or any other timing, and when the bias is not set, the write control means 13 runs by itself based on the bias resetting timing, and synchronizes with the first data transfer clock. A write control signal 15 is output.

〔作   用〕[For production]

上記手段において、第1図のシステム全体を立ち上げた
時点において、書込み制御手段13及び読出し制御手段
14が動作を開始し、書込み制御信号15及び読出し制
御信号16を独立したタイミングで出力を開始する。こ
のとき、書込み制御信号15と読出し制御信号16の各
出力タイミングの位相関係は保障されていない。
In the above means, when the entire system shown in FIG. 1 is started up, the write control means 13 and the read control means 14 start operating and start outputting the write control signal 15 and the read control signal 16 at independent timings. . At this time, the phase relationship between the output timings of the write control signal 15 and the read control signal 16 is not guaranteed.

ここで、システム立ち上げ時に、バイアス再設定手段1
7にバイアス設定動作を行わせることにより、同手段1
7が、読出し制御信号16と書込み制御信号15の出力
タイミングのバイアス(位相差)に最大余裕をもたせた
状態でバッファメモリ手段10の動作を開始させること
ができる。また、システム立ち上げ後のシステム運用時
の任意のタイミング、例えば書込みデータ11が入力し
ていないときの定期点検時等において、上記と同様にバ
イアス再設定手段17を動作させることにより、バイア
スの再設定を行える。
Here, when starting up the system, bias resetting means 1
7 to perform the bias setting operation, the same means 1
7 can start the operation of the buffer memory means 10 in a state where the bias (phase difference) between the output timings of the read control signal 16 and the write control signal 15 has a maximum margin. In addition, the bias can be reset by operating the bias resetting means 17 in the same manner as described above at any timing during system operation after system startup, for example, during periodic inspection when the write data 11 has not been input. You can make settings.

〜14 〔実  施  例〕 以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。~14 〔Example〕 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第2図は、本実施例の構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of this embodiment.

まず第2図(a)で、エラスティックRAM(ES、以
下間し)1は、第4図の従来例と同様、ランダムアクセ
スメモリである速度変換用のパンツアメモリであり、ラ
イトリセット端子WRに入力するライトリセット信号W
R*によって、内部で先頭アドレスから自動的にアドレ
スを更新しながら、一定のデータ量の書込みデータ2を
順次書き込む。
First, in FIG. 2(a), elastic RAM (ES, hereinafter) 1 is a panzer memory for speed conversion which is a random access memory, similar to the conventional example in FIG. 4, and a write reset terminal WR. Write reset signal W input to
By R*, a fixed amount of write data 2 is sequentially written while automatically updating the address internally from the first address.

また、リードリセット端子RRに入力するり一ドリセッ
ト信号RR*によって、内部で先頭アドレスから自動的
にアドレスを更新しながら、各アドレスの内容を一定の
データ量の読出しデータ3として順次読み出す。そして
、書込みデータ2は第4図の従来例と同様、書込みクロ
ック4に同期し、読出しデータ3は書込のクロック4と
は異なる読出しクロック5に同期している。そして、E
SIにより速度変換されることになる。
Further, the contents of each address are sequentially read out as read data 3 of a fixed amount of data while automatically updating the addresses internally from the first address by the read reset signal RR* inputted to the read reset terminal RR. The write data 2 is synchronized with a write clock 4 as in the conventional example shown in FIG. 4, and the read data 3 is synchronized with a read clock 5 different from the write clock 4. And E
The speed will be converted by SI.

次に、ライトリセット信号WR*は、セレクタ25の出
力であり、ケート回路24及び23を介して各々出ノj
される2種類のライトリセット信号WR−A*及びライ
トリセット信号WR−B*が選択的に出力される。
Next, the write reset signal WR* is the output of the selector 25, and is output through the gate circuits 24 and 23, respectively.
Two types of write reset signals WR-A* and write reset signal WR-B* are selectively output.

ゲート回路24及び23には、書込みクロック4に同期
して書込みフレームパルス発生部18から出力される書
込みフレームパルスWFP*が入力する。
A write frame pulse WFP* output from the write frame pulse generator 18 in synchronization with the write clock 4 is input to the gate circuits 24 and 23 .

バイアス設定時書込みポインタ制御部19は、書込めフ
レームパルスWFP*、バイアス設定レジスタ20から
のバイアス設定値26及び読出しポインタ制御部7から
のリードリセット信号RR*に従って動作し、ケート回
路23の開閉制御を行うイネーブル信号EN−Bを出力
する。
The bias setting write pointer control section 19 operates according to the write frame pulse WFP*, the bias setting value 26 from the bias setting register 20, and the read reset signal RR* from the read pointer control section 7, and controls the opening/closing of the gate circuit 23. It outputs an enable signal EN-B for performing this.

書込みポインタ制御部21ば、書込みフレームパルスW
FP*及びバッファ深さ設定レシスク22からのバッフ
ァ深さ設定値27に従って動作し、ゲート回路24の開
閉制御を行うイネーブル信号EN−Aを出力する。
The write pointer control unit 21 outputs a write frame pulse W.
It operates according to FP* and the buffer depth setting value 27 from the buffer depth setting resistor 22, and outputs an enable signal EN-A for controlling the opening and closing of the gate circuit 24.

ノハイアス制御部28は、システム立ち上げ時、ライl
−リセット信号WR*とリードリセット信号RR*の衝
突時又は所定の時間間隔でリハイアス信号RBを出力し
、セレクタ25を制御する。
When starting up the system, the no-hias control unit 28 controls the
- Output the rehearsing signal RB when the reset signal WR* and the read reset signal RR* collide or at predetermined time intervals to control the selector 25.

一方、リードリセット信号RR*は、読出しクロック5
に同期して動作する読出しポインタ制御部7から出力さ
れ、第4図の従来例と同じである。
On the other hand, the read reset signal RR* is the read clock 5
This is outputted from the read pointer control section 7 which operates in synchronization with the above, and is the same as the conventional example shown in FIG.

次に、第2図(b)は、バイアス設定時書込みポインタ
制御部19及び書込みポインタ制御部21の部分の詳細
な構成図である。
Next, FIG. 2(b) is a detailed configuration diagram of the bias setting write pointer control section 19 and the write pointer control section 21. As shown in FIG.

バイアス設定時書込みポインタ制御部19は、バイアス
カウンタ29及び比較回路30で構成され、バイアスカ
ウンタ29ば、書込みフレームパルスWFP*によって
カウントアツプされ、リードリセット信号RR*により
リセットされる。バイアスカウンタ29の出力であるカ
ランI・値31は、比較回路30においてバイアス設定
レジスタ20(第2図(a))からのバッファ深さ設定
値27とトし較され、一致したときにハイレヘルとなる
イネーブル信号EN−Aを出力する6 次に、書込みポインタ制御部21は、バッファ深さカウ
ンタ32及び比較回路33で構成され、バッファ深さカ
ウンタ32は、書込みフレームパルスW F P *に
よってカランI・アップされ、ライトリセット信号WR
*によりリセットされる。バッファ深さカウンタ32の
出力であるカウント値34は、比較回路33においてバ
ッファ深さ設定レジスタ22(第2図(a))からのバ
ッファ深さ設定値27と比較され、一致したときにハイ
レヘルとなるイネーブル信号EN−Bを出力する。
The bias setting write pointer control unit 19 includes a bias counter 29 and a comparison circuit 30. The bias counter 29 is counted up by the write frame pulse WFP* and reset by the read reset signal RR*. The current value 31, which is the output of the bias counter 29, is compared with the buffer depth setting value 27 from the bias setting register 20 (FIG. 2(a)) in the comparator circuit 30, and when they match, it is determined as high level. Next, the write pointer control unit 21 is composed of a buffer depth counter 32 and a comparison circuit 33, and the buffer depth counter 32 outputs an enable signal EN-A of・Write reset signal WR
*Reset by *. The count value 34 which is the output of the buffer depth counter 32 is compared with the buffer depth setting value 27 from the buffer depth setting register 22 (FIG. 2(a)) in the comparator circuit 33, and when they match, it is determined as high level. The enable signal EN-B is output.

上記実施例の動作を、第3図の動作タイミングチャート
図を用いて説明する。
The operation of the above embodiment will be explained using the operation timing chart of FIG.

まず、読出しポインタ制御部7から出力されるリードリ
セッ1へ信号RR*は、第3図に示すように一定周期の
負論理パルスであり、読出しクロック5に同期している
First, the read reset 1 signal RR* output from the read pointer control section 7 is a negative logic pulse with a constant period, as shown in FIG. 3, and is synchronized with the read clock 5.

一方、セレクタ25から出力されるライトリセラI・信
号WR*も、後述するように一定周期の負論理パルスで
あり、書込みクロック4に同期している。
On the other hand, the write reseller I signal WR* output from the selector 25 is also a negative logic pulse with a constant period, as will be described later, and is synchronized with the write clock 4.

ここで、第2図(a)のESIに入力する書込みデータ
2は、フレームと呼ばれる書込みクロック4に同期した
時間単位で入力してくる。そして、書込みフレームパル
ス発生部18は、書込みクロック4に同期して第3図に
示すような一定周期の書込みフレームパルスWFP*を
発生し、通常は後述するようにこのパルスを基準として
7フレーム毎に、負論理パルスのライトリセット信号W
R*が出力される。従って、ESlには7フレ一ム分ま
での書込めデータ2を一時記憶させることができる。こ
れに対して、リードリセット信号RR*は、読出しクロ
ック5に同期しているため書込みフレームパルスWFP
*には同期しないが、はぼ7フレームの一定間隔で負論
理パルスとしてESlに与えられることにより、ESI
に記憶されてゆく書込みデータ2を、その書き込み動作
とは独立して追うように読出しデータ3として読み出し
ていく。これにより、データの速度変換がなされる。
Here, the write data 2 input to the ESI in FIG. 2(a) is input in units of time synchronized with the write clock 4 called a frame. Then, the write frame pulse generator 18 generates a write frame pulse WFP* with a constant cycle as shown in FIG. , write reset signal W of negative logic pulse
R* is output. Therefore, the write data 2 for up to seven frames can be temporarily stored in the ES1. On the other hand, since the read reset signal RR* is synchronized with the read clock 5, the write frame pulse WFP
Although it is not synchronized with *, ESI is
The write data 2 stored in the memory is read out as read data 3 independently of the write operation. This performs speed conversion of data.

ここで、システム全体の電源立ち上げ時には、リハイア
ス信号RBは始めはローレベルであり、セレクタ25は
ライ1−リセット信号WR−A*を選択し、ライ1−リ
セット信号WR*として出力している。そして、第2図
fa)の書込みクロック4と読出しクロック5は一般に
同期していないため、第3図のライトリセット信号WR
*の出力タイミング1.+ とリードリセット信号RR
*の出力タイミングt9の位相差τ1がどのくらいの幅
になるのか保障されない。この場合、位相差τ、が小さ
いと、ESIにおいてライ1−υセント信号WR*とリ
ートリセット信号RR*のパルスが衝突を起こし、内部
の動作が保障されずデータが破壊されてしまう6 そこで、本実施例では、システム立ち上げ時に、第2図
(a)のリハイアス制御部28が、システムτfち−L
げ直後のライトリセン1〜信号WR*の立ち下がりタイ
ミングt1を検出した移・のタイミングt2において、
リハイアス信号RBをハイレベルに立ち上げる。これに
より、セレクタ25はライトリセット信号WR−B*を
選択するモードになる。
Here, when powering up the entire system, the requisite signal RB is initially at a low level, and the selector 25 selects the lie 1-reset signal WR-A* and outputs it as the lie 1-reset signal WR*. . Since the write clock 4 and the read clock 5 in FIG. 2fa) are generally not synchronized, the write reset signal WR in FIG.
* Output timing 1. + and read reset signal RR
The width of the phase difference τ1 at the output timing t9 of * is not guaranteed. In this case, if the phase difference τ is small, the pulses of the read 1-υ cent signal WR* and the read reset signal RR* will collide in the ESI, and the internal operation will not be guaranteed and the data will be destroyed6. In this embodiment, when the system is started up, the rehearsing control unit 28 of FIG. 2(a)
At the timing t2 of the transition when the falling timing t1 of the write resensing signal 1 to the signal WR* is detected immediately after the transition,
Raise the rehaus signal RB to high level. As a result, the selector 25 enters a mode in which the write reset signal WR-B* is selected.

上記動作と共心こ、バイアス設定時書込みポインタ制御
部19において、リセット信号RBが立ち上がった直後
のリードリセット信号RR*の負論理パルスが立ち上が
るタイミングL、で、第2図(b)のバイアスカウンタ
29が第3図に示すように「0」にリセットされ、それ
以後、バイアスカウンタ29は、第3図に示すように書
込みフレームパルスWFPのjL 86 理パルスがハ
イレベルに戻る毎に「0」から順次カウントアツプする
Concurrent with the above operation, in the bias setting write pointer control unit 19, at timing L when the negative logic pulse of the read reset signal RR* rises immediately after the reset signal RB rises, the bias counter of FIG. 2(b) 29 is reset to "0" as shown in FIG. 3, and thereafter, the bias counter 29 is reset to "0" every time the write frame pulse WFP returns to high level as shown in FIG. Count up sequentially from

ここで、第2図(a)のバイアス設定レジスタ20には
、バイアス設定値26として、数値「4」が設定されて
いる。従って、上記カウントアツプ動作により、第2図
(b)のバイアスカウンタ29からのカウント値31が
「4jに等しくなった第3図のタイミングt4において
、比較回路30が第3図に示すようにイネーブル信号E
N−Bをハイレベルに立ち上げる。そして、このハイレ
ベル状態は、カウント値31が「5」になるタイミング
t6までの1フレーム分続く。
Here, a numerical value "4" is set as the bias setting value 26 in the bias setting register 20 of FIG. 2(a). Therefore, due to the above count up operation, at timing t4 in FIG. 3 when the count value 31 from the bias counter 29 in FIG. 2(b) becomes equal to 4j, the comparison circuit 30 is enabled as shown in FIG. Signal E
Raise N-B to a high level. This high level state continues for one frame until timing t6 when the count value 31 becomes "5".

従って、上記イネーブル信号EN−Bがハイレベルとな
っている間は、第2図(a)のゲート回w!r23がオ
ンとなり、第3図のタイミングt5で出力される書込み
フレームパルスWFP*が同図に示すようにライトリセ
ット 力され、更に、セレクタ25を介してライトリセット信
号WR*とじて出力される。
Therefore, while the enable signal EN-B is at a high level, the gate circuit w! of FIG. 2(a) is active. r23 is turned on, and the write frame pulse WFP* output at timing t5 in FIG.

この状態で、上記ライトリセット信号WR*が出力され
るタイミングL7は、リートリセット信号RR*の出力
周期のほぼ中間になるため、そのタイミングt7と次に
リードリセット信号RR*が出ツノされるタイミングL
9の位相差τ2は、最大の余裕を有するようになる7 続いて、第2図(a)のリハイアス制御部28が、」二
記タイミングt7てライトリセット信号WR*の負論理
パルスを検出した後のタイミングt8において、リハイ
アス信号RBを第3図に示すようにローレベルに立ち下
げる。これにより、セレクタ25はライトリセット信号
WR−A*を選択するモードになる。
In this state, the timing L7 at which the write reset signal WR* is outputted is approximately in the middle of the output cycle of the read reset signal RR*, so the timing L7 and the next timing at which the read reset signal RR* is outputted are interlocked. L
The phase difference τ2 of 9 has the maximum margin7.Next, the rehearsing control unit 28 in FIG. 2(a) detects a negative logic pulse of the write reset signal WR* at timing t7. At later timing t8, the rehiasing signal RB is lowered to a low level as shown in FIG. As a result, the selector 25 enters a mode in which the write reset signal WR-A* is selected.

従ってそれ以後は、書込みポインタ制御部21の動作が
中心になる。すなわち、まず、第3図のライ1〜リセッ
1−信号WR*が立ち上がるタイミングt7で、第2図
(b)のバッファ深さカウンタ32が第3図に示すよう
に「0」にリセットされ、それ以後、バッファ深さカウ
ンタ32は、第3図に示すように書込みフレームパルス
WFPの負論理パルスがハイレベルに戻る毎に「0」か
らl1lJ[次カウントアツプする。
Therefore, from then on, the operation of the write pointer control section 21 will be the main focus. That is, first, at timing t7 when the RIE 1 to RESET 1 signal WR* in FIG. 3 rises, the buffer depth counter 32 in FIG. 2(b) is reset to "0" as shown in FIG. Thereafter, the buffer depth counter 32 increments from "0" to l1lJ[next] each time the negative logic pulse of the write frame pulse WFP returns to high level, as shown in FIG.

ここで、第2図(a)のバイアス設定レジスタ20には
、バッファ深さ設定値27として、数値「6」が設定さ
れている。従って、上記カラン1−アップ動作により、
第2図(b)のバッファ深さカウンタ32からのカラン
I・値34が「6」に等しくなった第3回のタイミング
い0において、比較回路33が第3図に示すようにイネ
ーブル信号EN−Aをハイレベルに立ち」二げる。そし
て、このハイレベル状態は、カウント値34が「6」か
ら「0」にクリアされるタイミングt6までの1フレー
ム分続く。すなわち、バッファ深さカウンタ32ば7進
カウンタである。
Here, a numerical value "6" is set as the buffer depth setting value 27 in the bias setting register 20 of FIG. 2(a). Therefore, by the above callan 1-up operation,
At the third timing 0 when the count I value 34 from the buffer depth counter 32 in FIG. - Raise A to a high level. This high level state continues for one frame from timing t6 when the count value 34 is cleared from "6" to "0". That is, the buffer depth counter 32 is a heptad counter.

従って、上記イネーブル信号EN−Aがハイレベルとな
っている間は、第2図(a)のケート回路24がオンと
なり、第3図のタイミングt11で出力される書込みフ
レームパルスWFP*が同図に示すようにライトリセッ
ト信号WR−A*とじて出力され、更に、セレクタ25
を介してライトリセット信号WR*として出力される。
Therefore, while the enable signal EN-A is at a high level, the gate circuit 24 in FIG. 2(a) is turned on, and the write frame pulse WFP* output at timing t11 in FIG. The write reset signal WR-A* is output as shown in FIG.
The write reset signal WR* is output via the write reset signal WR*.

この状態で、」二記うイトリセット信号WR*の負論理
パルスが出力されるタイミングt14.は、その前にラ
イトリセット信号WR*が出力されたタイミングL7か
ら7フレーム目である。そして、これ以後は、ライトリ
セット信号WR−Aの負論理パルスが7フレーム毎に上
記と同様に出力され、ライトリセット信号WR*となる
In this state, the negative logic pulse of the reset signal WR* described in ``2'' is output at timing t14. is the seventh frame from timing L7 when the write reset signal WR* was outputted before that. Thereafter, the negative logic pulse of the write reset signal WR-A is outputted every seven frames in the same manner as described above, and becomes the write reset signal WR*.

以上説明したように、システム立ち上げ時においては、
始めだけ第21F(a)のバイアス設定時書込みポイン
タ制御部19が働いて、リードリセット信号RR*の出
力タイミングの中間でライ1〜リセソI・信号WR−B
が出力されることて、ライトリセット信号WR*とリー
ドリセット信号RR*の位相差に最大余裕を与えること
ができ、それ以後は、書込みポインタ制御部21が働い
て、書込みフレームパルスWFP*に同期して7フレー
ム毎にライトリセット信号WR*が出力され、リート。
As explained above, when starting up the system,
Only at the beginning, the bias setting write pointer control unit 19 of No. 21F(a) operates, and the read reset signal WR-B is activated in the middle of the output timing of the read reset signal RR*.
is output, it is possible to give maximum margin to the phase difference between the write reset signal WR* and the read reset signal RR*, and from then on, the write pointer control unit 21 works to synchronize with the write frame pulse WFP*. Then, the write reset signal WR* is output every 7 frames, and the read is performed.

リセット信号RR*との間でほぼ第3図の最大位相差τ
2を保ちながら動作させることができる。
Approximately the maximum phase difference τ in Fig. 3 between the reset signal RR* and the reset signal RR*
It can be operated while maintaining 2.

ここで、第2図(a)の書込みクロック4は、読出しク
ロック5と同期していないため、書込みクロック4に基
づく書込みフレームパルスWFPに同期して出力される
ライトリセット信号WR*と、読出しクロック5に同期
して出力されるリードリセット信号RR*との位相差が
最大位相差でなくなってきて、次第に小さくなる場合が
ある。この場合、第2図(a)のリハイアス制御部28
がライトリセラ1〜信号WR*とリードリセット信号R
R*を監視しており、衝突が発生した場合(共にパルス
がぶつかって共にローレベルとなった場合)には、前記
と全く同様にして位相差すなわちバイアス値の再設定を
行うことにより、再び上記位相差を最大にすることがで
きる。
Here, since the write clock 4 in FIG. 2(a) is not synchronized with the read clock 5, the write reset signal WR* output in synchronization with the write frame pulse WFP based on the write clock 4 and the read clock There are cases where the phase difference with the read reset signal RR* output in synchronization with the read reset signal RR* is no longer the maximum phase difference and gradually becomes smaller. In this case, the rehearsing control section 28 in FIG. 2(a)
are write reseller 1 to signal WR* and read reset signal R
R* is monitored, and if a collision occurs (pulses collide and both become low level), the phase difference, that is, the bias value, is reset in exactly the same way as above, and the signal is reset again. The above phase difference can be maximized.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、システム立ち上げ時に、バイアス再設
定手段にバイアス設定動作を行わせることにより、同手
段が、読出し制御信号と書込み制御信号の出力タイミン
グのバイアス(位相差)に最大余裕をもたせた状態でバ
ッファメモリ手段の動作を開始させることが可能となる
According to the present invention, by causing the bias resetting means to perform the bias setting operation at the time of system startup, the same means can maximize the bias (phase difference) between the output timings of the read control signal and the write control signal. It becomes possible to start the operation of the buffer memory means in a state where

マタ、システム立ち上げ後のシステム運用時の任意のタ
イミング、例えば書込みデータが入力していないときの
定期点検時等において、上記と同様にバイアス再設定手
段を動作させることにより、バイアスの再設定を行うこ
とが可能となる。
The bias can be reset by operating the bias reset means in the same way as above at any time during system operation after system startup, such as during periodic inspection when no write data has been input. It becomes possible to do so.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明のブロック図、 第2図(a)、(b)は、本実施例の構成図、第3図は
、本実施例の動作タイミングチャート図、 第4図は、従来例の構成V、 第5図は、従来例の動作タイミングチャートロである。 10・ 11・ ハ ラフアメモリ 書込みデータ、 読出しデータ、 書込み制御手段、 読出し制御手段、 ・・書込み制御信号、 ・・読出し制御手段、 ・・バイアス再設定手段。
Fig. 1 is a block diagram of the present invention, Fig. 2 (a) and (b) are block diagrams of this embodiment, Fig. 3 is an operation timing chart of this embodiment, and Fig. 4 is a conventional EXAMPLE CONFIGURATION V FIG. 5 is an operation timing chart of a conventional example. 10. 11. Halahua memory write data, read data, write control means, read control means, ... write control signal, ... read control means, ... bias resetting means.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 書込みデータ(11)を記憶するバッファメモリ手段(
10)と、 該手段(10)に書込み制御信号(15)を与えて、第
1のデータ転送クロックに同期する書込みデータ(11
)を前記バッファメモリ手段(10)に書き込む書込み
制御手段(13)と、 前記バッファメモリ手段(10)に読出し制御信号(1
6)を与えて、前記バッファメモリ手段(10)に記憶
されている前記書込みデータ(11)を前記書込み動作
とは独立して第2のデータ転送クロックに同期する読出
しデータ(12)として読み出す読出し制御手段(14
)と、 バイアス設定時に、前記読出し制御信号(16)又は前
記書込み制御信号(15)のいずれか一方に基づいて前
記書込み制御手段(13)における書込み制御信号(1
5)又は前記読出し制御手段(14)における読出し制
御信号(16)のいずれか一方の出力タイミングを制御
して、該両信号間のバイアスが最大余裕を有するように
該バイアスの再設定を行うバイアス再設定手段(17)
とを有することを特徴とするバッファメモリのバイアス
設定装置。
[Claims] Buffer memory means (11) for storing write data (11)
10), and a write control signal (15) is given to the means (10) to write write data (11) in synchronization with the first data transfer clock.
) to the buffer memory means (10); and write control means (13) for writing a read control signal (1) to the buffer memory means (10).
6) reading out the write data (11) stored in the buffer memory means (10) as read data (12) that is synchronized with a second data transfer clock independently of the write operation; Control means (14
), and when setting the bias, the write control signal (1) in the write control means (13) is activated based on either the read control signal (16) or the write control signal (15).
5) Or a bias that controls the output timing of either one of the readout control signals (16) in the readout control means (14) and resets the bias so that the bias between the two signals has a maximum margin. Resetting means (17)
A bias setting device for a buffer memory, comprising:
JP63233511A 1988-09-20 1988-09-20 Bias setting device for buffer memory Pending JPH0282317A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63233511A JPH0282317A (en) 1988-09-20 1988-09-20 Bias setting device for buffer memory

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63233511A JPH0282317A (en) 1988-09-20 1988-09-20 Bias setting device for buffer memory

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0282317A true JPH0282317A (en) 1990-03-22

Family

ID=16956172

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63233511A Pending JPH0282317A (en) 1988-09-20 1988-09-20 Bias setting device for buffer memory

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0282317A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3013714B2 (en) Semiconductor storage device
EP1122734B1 (en) Burst interleaved memory with burst mode access in synchronous read phases wherein the two sub-arrays are independently readable with random access during asynchronous read phases
EP1040404B1 (en) Method and apparatus for coupling signals between two circuits operating in different clock domains
JP2000276877A (en) Synchronizing semiconductor memory device with posted cas latency function, and method for controlling cas latency
JP2001014847A (en) Clock synchronization circuit
CN100442394C (en) Semiconductor memory device and method for controlling semiconductor memory device
KR100372066B1 (en) Semiconductor storage device, and method for generating timing of signal for activating internal circuit thereof
JPH1127229A (en) Frame aligner circuit
JPH0282317A (en) Bias setting device for buffer memory
JP3832548B2 (en) Read-only memory device
US6356505B2 (en) Internal regeneration of the address latch enable (ALE) signal of a protocol of management of a burst interleaved memory and related circuit
JP2000029563A (en) System having operation timing control function
JP2702318B2 (en) Cell phase transfer circuit
JP2665188B2 (en) Buffer circuit
JP2617575B2 (en) Data rate conversion circuit
JPH01208791A (en) Semiconductor storage circuit
SU1501156A1 (en) Device for controlling dynamic memory
JPH05268201A (en) Clock changing circuit
JPH04311120A (en) Frame aligner circuit
JPH06275072A (en) Semiconductor storage
JPS6236933A (en) Frame phase correction circuit
JPS61280194A (en) Holding memory control system
JPH0332086B2 (en)
JPS5810993A (en) Control system for synchronizing memory
JPH0380643A (en) Delay insertion removing system for transmission line signal