JPH0277636A - 粒子測定装置 - Google Patents

粒子測定装置

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JPH0277636A
JPH0277636A JP63229566A JP22956688A JPH0277636A JP H0277636 A JPH0277636 A JP H0277636A JP 63229566 A JP63229566 A JP 63229566A JP 22956688 A JP22956688 A JP 22956688A JP H0277636 A JPH0277636 A JP H0277636A
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JP
Japan
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light
aperture
particle
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measuring device
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JP63229566A
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English (en)
Inventor
Moritoshi Miyamoto
守敏 宮本
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は例えばフローセル内を通過する検体粒子にレー
ザ光等を照射し、該検体粒子によって放射される散乱光
や透過光、又は蛍光を検出して検体粒子の性質、構造等
を解析したり、免疫検査等を行なう粒子測定装置に関す
る。
[従来の技術] 従来の粒子解析装置、例えばフローサイトメータでは、
フローセルの中央部の200μmx200μm程度の微
小な矩形断面を有する流通部内をシース液に包まれて通
過する血球細胞や感作ラテツクス粒子等のサンプル液に
照射光を照射し、その結果束ずる前方散乱光及び側方散
乱光、更には蛍光により粒子解析を行なう。前方散乱光
からは粒子サイズを表わす情報が得られ、側方散乱光か
らは粒子の構造的な情報が得られ、蛍光からはDNAや
RNA量等の粒子の化学的性質が得られる。従来、前方
散乱光の検出強度は検体粒子の粒子径と1対1で対応す
ると考えられ、該前方散乱光の検出強度により粒子径を
演算していた。
[発明が解決しようとしている問題点]しかしながら、
従来のように照射光にレーザ光等の単色光を用いたもの
は、検体粒子が透光性である場合、第6図に示す如く散
乱光検出強度と粒子径の関数は単調増加関数とならず、
ある粒子径付近ではりニアリテイが崩れてしまい、その
付近の粒子径が算出できないという問題点があった。
この問題点を解決するための1手段として本願出願人が
先に出願した特願昭62−58301では、前方散乱光
の受光光学系の光路中に同心円状に透過率の異なる光学
フィルタを配置し、散乱角度毎に透過率を調節すること
によって、散乱光検出強度と粒子径との関係をリニアに
し、正確な粒子径を求める実施例を開示している。
本発明はより簡便な方法で、検体粒子のサイズに拘わら
ず正確な粒子径を求めることができる粒子解析装置の提
供を目的とする。
[目的を達成するための手段] 上述した目的を達成するため、検体粒子に光ビームを照
射する照射系と、前記光ビームが検体粒子によって放射
される光を検出する検出系を備える粒子測定装置におい
て、前記検出系の光路内にアパーチャを備え、該アパー
チャは前記散乱光の検出強度が粒子径の単調関数となる
ように散乱角度に応じて開口面積の割合が異なる開口形
状を備える。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
第1図(a)は実施例の構成図であり、レーザ光源3か
ら発射されたレーザ光りは、シリンドリカルレンズ等の
結像レンズ4によりフローセル1内の流通部2の被検部
に結像される。流通部2には、例えば血球細胞やラテッ
クス凝集体等の検体粒子Sがシースフロ一方式によって
図面垂直方向に1個あるいは1塊ずつ流される。
被検部を検体粒子が通過し、検体粒子への光照射によっ
て放射される散乱光の内、光吸収部材から成るアパーチ
ャ6によって、光路前方方向に放射される前方散乱光の
所定角度成分が通過し、それ以外は遮断される。アパー
チャ6を通過した光は集光レンズ7で集光されて光検出
器8にて光強度が検出され、光検出器8の出力を基に不
図示の演算回路にて粒子径の算出がなさ、れる。また図
示していないが、フローセル1の側方方向には側方散乱
光及び蛍光の測光光学系が配置され、これらの光の測光
出力も演算回路に入力されて粒子解析の演算がなされる
。ここで前記光検出器8で検出された前方散乱光強度は
、第5図に示すように検体粒子の粒子径とリニアな関係
にあるため正確な粒子径を求めることができる。理由に
ついで以下に説明する。
本願出願人は先の特願昭62−58301でも述べたよ
うに、第4図に示すごとく散乱角度成分に応じて散乱光
検出強度■と粒子径の関係が異なることを見出した。こ
れを前提に同心円状に光透過率の異なるフィルタを用い
て、角度θ工〜θ2の範囲では光量I(01〜θ2)を
半減させ、角度02〜θ、の範囲は100%の光量!(
02〜θ3)を透過させる。よって光検出器で検出され
る光量は34I (θl〜θ2)+I(02〜θ、)と
なり、これは第5図に示すように単調増加な関数となり
正確な粒子径を求めることが可能となった0本発明はフ
ィルタを用いる代りに、同心円状に各角度成分の開口の
大きさの割合が異なるアパーチャを用いてフィルタと同
様の効果を得るものである。
第1図(b)はアパーチャ6の形状の一例を示すもので
あり、内側の遮光部と外側の遮光部が細い梁によって接
続されている。このアパーチャ6は検体粒子Sが通過す
る被検部から所定距離をもって配置され、検体粒子Sか
ら放射される散乱光は角度O〜θ、までの範囲は、全円
状の遮光部で100%遮断される。なおこの部分におい
ては、照射レーザ光の直接光を遮断するストッパの役割
も兼ねている。その周りの角度01〜θ、の範囲では半
円状の遮光部により50%の光を通過させる。さらにそ
の周りの角度02〜θ3の範囲は、梁の投影面積は非常
に微小であるので、はぼ100%の光を通過させる。0
3以上の角度はすべて通過しないように遮断される。本
実施例では、θ、は8度、θ2は13度、θ3は32度
であり、この数字はシミュレーションによって求められ
た値である。
アパーチャの形状が第1図(b)・の形状に限られるも
のではないことは言うまでもない。角度θ。
〜θ2の範囲の散乱光を50%通過させることができれ
ば、遮光部の形状はいとわない。例えば第2図(a)や
第2図(b)に示すような変形例も考えられる。第2図
(a)は角度01〜θ2の範囲の遮光部を4分の1の円
状の遮光部を2つ設けることにより50%の光を遮断さ
せる。また第2 F (c)では角度θ、〜θ2の範囲
を透過率50%のメツシュ状部材を用いて遮光する。
さらに理論的には、角度01〜θ2範囲の通過光量が5
0%、角度θ、〜θ、が100%でなくとも、通過光量
が1対2の割合であれば同様の効果が得られる。よって
第2図(C)のような開口形状でも可能である。この例
においては、角度01〜θ、の範囲では33%透過、0
2〜θ3の範囲では66%透過となる。しかしながら、
粒子解析装置の測定感度を向上させるには、なるべく大
きな散乱光強度を検出できる形態の方が良く、光量ロス
の少ない前者の例の方が好ましいであろう。
なお別の変形例としては、板ガレス等の透明部材に前述
と同一形状の光吸収性の遮光パターンを張り付けること
により、梁を用いて支える必要がなくなる。より拡張し
た変形例としては、板ガラスを用いずに、フローセル1
の前方散乱光の出射面や、集光レンズ7に直接遮光パタ
ーンを張り付けることも可能である。これらの場合、検
体粒子Sからの放射角度θ11θ2、θ、が変わらない
ように検体粒子Sからの距離に応じて、遮光パターンの
サイズを決定する。
さらにはアパーチャの各角度成分の遮光部は同一平面内
にある必要はなく、被検部と光検出器8の間の光路中で
あれば分離して配置しても良い。
この場合も放射角度成分を考慮して各アパーチャサイズ
を決定する。
[他の実施例] 第3図(a)は本発明の別の実施例の構成図であり、第
1図と同一の符号は同一の部材を表わす。
また第3図(b)は使用するアパーチャの形状である。
本実施例はアパーチャ9を光路直進方向に対して斜めに
傾けて配置したことを特徴とする。使用するアパーチャ
9の材質は光吸収性でなくても良い。また形状は、斜め
に傾けたときの投影形状が先の実施例の開ロバターンと
同一となるように楕円形状となっている。これにより光
路直進方向から見たアパーチャの開口形状は真円となる
検体粒子Sから放射された前方散乱光は、斜めに傾けて
配置されたアパーチャ9によって、開口部では光路を直
進し、アパーチャの遮光部では光路から別の方向へ反射
される。反射された先には不図示の光吸収手段を設けで
ある。よって先の実施例のようにアパーチャに光吸収性
の部材を使う必要が無く同様の効果が得られる。
なお、本実施例においても先の実施例と同様な数々の変
形例が考えられるのは言うまでもない。
以上説明してきた本発明の実施例では、50%と100
%の透過率の2段階の角度成分の補正を行なったが、さ
らに多段階の角度成分を補正する形状のアパーチャを用
いて、より精度を向上させることも可能である。また、
測定する検体粒子の種類によって、例えばターレットを
回転させて、検体粒子の特性に応じた最適形状のアパー
チャを選択して光路中に配置する方法も、精度向上に効
果があるであろう。これらのアパーチャの形状の設計は
コンピュータシミュレーション等によって求めることが
できる。
[発明の効果] 以上本発明によれば、被検部の前方に所定形状の開口を
備えるアパーチャを配置することによって、検体粒子の
正確な粒子径を求めることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の実施例の構成図、第1図(b)
はアパーチャの形状、 第2図(a) 、 (b) 、 (c)はアパーチャの
形状の変形例、 第3図(a)は別の実施例の構成図、 第3図(b)は別の実施例におけるアパーチャの形状、 第4図、第5図は本発明による散乱光強度■と粒子径の
関数を示す図、 第6図は従来例による散乱光検出強度■と粒子径の関数
を示す図、 であり、図中の主な符号は、 1・・・・フローセル、2・・・・tb il 部、3
・・・・レーザ光源、4・・・・結像レンズ、6.9・
・・・アパーチャ、7・・・・集光レンズ、8・・・・
光検出器、 幻1雁

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、検体粒子に光ビームを照射する照射系と、前記光ビ
    ームが検体粒子によって放射される光を検出する検出系
    を備える粒子測定装置において、前記検出系の光路内に
    アパーチャを備え、該アパーチャは前記散乱光の検出強
    度が粒子径の単調関数となるように散乱角度に応じて開
    口面積の割合が異なる開口形状を備えること特徴とする
    粒子測定装置。 2、前記アパーチャの中心部は直接光除去用の遮光部で
    ある請求項1記載の粒子測定装置。
JP63229566A 1988-09-13 1988-09-13 粒子測定装置 Pending JPH0277636A (ja)

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