JPH0262178B2 - - Google Patents
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- JPH0262178B2 JPH0262178B2 JP59150641A JP15064184A JPH0262178B2 JP H0262178 B2 JPH0262178 B2 JP H0262178B2 JP 59150641 A JP59150641 A JP 59150641A JP 15064184 A JP15064184 A JP 15064184A JP H0262178 B2 JPH0262178 B2 JP H0262178B2
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- JP
- Japan
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- particle
- scattered light
- light
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 30
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000009652 hydrodynamic focusing Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000006285 cell suspension Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1456—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
- G01N15/1459—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals the analysis being performed on a sample stream
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/48—Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
- G01N33/50—Chemical analysis of biological material, e.g. blood, urine; Testing involving biospecific ligand binding methods; Immunological testing
- G01N33/53—Immunoassay; Biospecific binding assay; Materials therefor
- G01N33/5302—Apparatus specially adapted for immunological test procedures
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は粒子解析装置、特に高速で流れる細胞
浮遊溶液を流体力学的に集束させ該箇所にレーザ
光を照射し、前方散乱光及び、側方散乱光若しく
は側方での螢光散乱光を逐時検出して細胞粒子の
性質、構造を解析するようにした、いわゆるフロ
ーサイトメータに関する。
浮遊溶液を流体力学的に集束させ該箇所にレーザ
光を照射し、前方散乱光及び、側方散乱光若しく
は側方での螢光散乱光を逐時検出して細胞粒子の
性質、構造を解析するようにした、いわゆるフロ
ーサイトメータに関する。
（従来技術）
従来、第１図、第２図に示すようにフローサイ
トメータにおいては細胞浮遊溶液を、そのまわり
のシース液とともにフローセル１内のフロー部２
に流し、流体力学的に所定箇所３で集束させ、こ
こに入射するレーザ光４も該箇所で光学的に集束
させるようにしている。
トメータにおいては細胞浮遊溶液を、そのまわり
のシース液とともにフローセル１内のフロー部２
に流し、流体力学的に所定箇所３で集束させ、こ
こに入射するレーザ光４も該箇所で光学的に集束
させるようにしている。
そして前方散乱光及び、側方散乱光若しくは螢
光散乱光の受光系５乃至８は前記集束箇所が時間
的に変動しないものとして固定して設けられてい
る。なお５，６はレンズ、７，８は光検知器であ
る。しかし流体力学的な集束箇所は時間的に変動
する可能性が高く、レーザ入射方向と直交する方
向すなわち第２図で上下方向に流体力学的な集束
箇所が変位した場合、次のような問題を生ずる。
すなわちレーザ光強度は、厳密には第３図に示す
如く、レーザ入射方向と直交する方向でガウス状
分布を有するため流体力学的な集束箇所がレーザ
入射方向と直交する方向にａ〜ｃの如く変位した
場合、側方散乱光若しくは螢光散乱光の受光出力
更には前方散乱光の受光出力が変化することとな
る。
光散乱光の受光系５乃至８は前記集束箇所が時間
的に変動しないものとして固定して設けられてい
る。なお５，６はレンズ、７，８は光検知器であ
る。しかし流体力学的な集束箇所は時間的に変動
する可能性が高く、レーザ入射方向と直交する方
向すなわち第２図で上下方向に流体力学的な集束
箇所が変位した場合、次のような問題を生ずる。
すなわちレーザ光強度は、厳密には第３図に示す
如く、レーザ入射方向と直交する方向でガウス状
分布を有するため流体力学的な集束箇所がレーザ
入射方向と直交する方向にａ〜ｃの如く変位した
場合、側方散乱光若しくは螢光散乱光の受光出力
更には前方散乱光の受光出力が変化することとな
る。
なお流体力学的な集束箇所がレーザ入射方向に
変位する場合は、前方散乱光及び、側方散乱光若
しくは螢光散乱光の受光出力は殆んど変化しない
と考えて良い。
変位する場合は、前方散乱光及び、側方散乱光若
しくは螢光散乱光の受光出力は殆んど変化しない
と考えて良い。
（目 的）
本発明は従来例の欠点に鑑み例えばフローサイ
トメータにおいて、流体力学的な集束箇所がレー
ザ入射方向と直交する方向に変位しても側方散乱
光若しくは螢光散乱光、更には前方散乱光の受光
出力に該変位が影響を与えないような粒子解析装
置を提供することを目的とする。
トメータにおいて、流体力学的な集束箇所がレー
ザ入射方向と直交する方向に変位しても側方散乱
光若しくは螢光散乱光、更には前方散乱光の受光
出力に該変位が影響を与えないような粒子解析装
置を提供することを目的とする。
（実施例）
第４図は本発明の実施例を示す。ここで既述し
た符合と同一のものは同一部材を示す。
た符合と同一のものは同一部材を示す。
さて第４図で前方散乱光はビームスプリツター
９で分割され位置検出器１０に入り、流体力学的
な集束位置の位置ずれを検出する。後述するよう
に位置検出器１０の中心は予めレーザ入射中心位
置に設定されており流体力学的な集束位置は、出
力が最小となる位置として検出されレーザ入射中
心からの位置ずれ量がわかる。
９で分割され位置検出器１０に入り、流体力学的
な集束位置の位置ずれを検出する。後述するよう
に位置検出器１０の中心は予めレーザ入射中心位
置に設定されており流体力学的な集束位置は、出
力が最小となる位置として検出されレーザ入射中
心からの位置ずれ量がわかる。
本発明において、この検出された位置ずれ量に
応じて側方散乱光若しくは螢光散乱光の受光出力
更には前方散乱光の受光出力を補正する。
応じて側方散乱光若しくは螢光散乱光の受光出力
更には前方散乱光の受光出力を補正する。
前述の如く流体力学的な集束位置すなわち粒子
の位置によつて、粒子にあたる光強度はガウス分
布状に変化するから光検知器７，８から得られる
散乱光検出信号も第５図に示すようにガウス分布
状に変化する。
の位置によつて、粒子にあたる光強度はガウス分
布状に変化するから光検知器７，８から得られる
散乱光検出信号も第５図に示すようにガウス分布
状に変化する。
粒子が本来の位置にあるときに得られる散乱光
受光出力をI0、該位置からレーザ入射方向と直交
方向にｄだけずれたときに得られる散乱光受光出
力をIdとするとIdにI0／Idなる係数を掛けて補正
すれば変位に影響されない粒子解析ができる。こ
のI0／Idは第５図に示す如くガウス分布より予め
知り得る値である。なお側方散乱光若しくは螢光
散乱光の場合、前方散乱光を異なり光強度が弱く
このため受光レンズの開口数が大きいためにその
焦点深度が浅く、レーザ光強度が一定とした場合
にレーザ入射方向と直交方向にずれたときの受光
出力変化を補正するための係数を更に掛けると良
い。
受光出力をI0、該位置からレーザ入射方向と直交
方向にｄだけずれたときに得られる散乱光受光出
力をIdとするとIdにI0／Idなる係数を掛けて補正
すれば変位に影響されない粒子解析ができる。こ
のI0／Idは第５図に示す如くガウス分布より予め
知り得る値である。なお側方散乱光若しくは螢光
散乱光の場合、前方散乱光を異なり光強度が弱く
このため受光レンズの開口数が大きいためにその
焦点深度が浅く、レーザ光強度が一定とした場合
にレーザ入射方向と直交方向にずれたときの受光
出力変化を補正するための係数を更に掛けると良
い。
さて、位置検出器１０は例えばCCDの如き光
センサーであつて、フロー部の中心に粒子があれ
ば、丁度その像が位置検出器１０の中心に結ぶよ
うに配置されているため、位置検出器８上での光
強度分布は第６図に示す如くなる。
センサーであつて、フロー部の中心に粒子があれ
ば、丁度その像が位置検出器１０の中心に結ぶよ
うに配置されているため、位置検出器８上での光
強度分布は第６図に示す如くなる。
ａは第３図で粒子がａの位置すなわちフロー部
の中心にある時の光検出信号であり、ｂ，ｃは
各々第３図のｂ，ｃの位置にある時の光検出信号
である。
の中心にある時の光検出信号であり、ｂ，ｃは
各々第３図のｂ，ｃの位置にある時の光検出信号
である。
光検出信号は粒子の位置で最小出力となるから
粒子の位置のずれが検出できる。１１は補正部で
あり、補正部１１で粒子の位置に応じて光検知器
７，８のデータが補正され記憶部１２に逐時記憶
される。
粒子の位置のずれが検出できる。１１は補正部で
あり、補正部１１で粒子の位置に応じて光検知器
７，８のデータが補正され記憶部１２に逐時記憶
される。
そして記憶されたデータは最終的に例えばヒス
トグラムデータとして表示部１３に表示される。
トグラムデータとして表示部１３に表示される。
なお上記実施例においてはビームスプリツタ９
を光路中レンズ５と光検知器７の間に設けたがフ
ローセル１とレンズ５の間に設けても良い。
を光路中レンズ５と光検知器７の間に設けたがフ
ローセル１とレンズ５の間に設けても良い。
そしてこの場合ビームスプリツタとレンズ５の
間に前方散乱光受光用の開口を設け、光検知器７
と位置検出器１０への相互の受光画角を変えるこ
とが可能となる。
間に前方散乱光受光用の開口を設け、光検知器７
と位置検出器１０への相互の受光画角を変えるこ
とが可能となる。
（効 果）
以上、本発明によれば被検体粒子の位置の測定
を行なうことによりその情報から測光量の補正を
行なうことによつて精度の高い粒子解析を行なう
ことができる。
を行なうことによりその情報から測光量の補正を
行なうことによつて精度の高い粒子解析を行なう
ことができる。
第１図はフローセルの外観図、第２図は従来例
の説明図、第３図はフロー部内の被検粒子とレー
ザ光強度分布の関係を示した図、第４図は本発明
の実施例の図、第５図は光検知器の受光面上での
散乱光強度分布の図、第６図は位置検出器から得
られる信号波形の図。 図中、１はフローセル、２はフロー部、７，８
は光検知器、９はビームスプリツタ、１０は位置
検出器、１１は補正部、１２は記憶部、１３は表
示部である。
の説明図、第３図はフロー部内の被検粒子とレー
ザ光強度分布の関係を示した図、第４図は本発明
の実施例の図、第５図は光検知器の受光面上での
散乱光強度分布の図、第６図は位置検出器から得
られる信号波形の図。 図中、１はフローセル、２はフロー部、７，８
は光検知器、９はビームスプリツタ、１０は位置
検出器、１１は補正部、１２は記憶部、１３は表
示部である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検位置近傍の粒子に所定強度分布を持つた
光を照射し、その散乱光又は蛍光を受光して粒子
解析を行なう粒子解析装置において、 被検位置に対する粒子位置を検出する位置検出
部と、該位置検出部で検出される粒子位置に応じ
て前記受光される散乱光又は蛍光の出力を補正す
る補正部を備えることを特徴とする粒子解析装
置。 ２ 前記位置検出部は前方散乱光の光路を分岐し
た光路内に設けられる特許請求の範囲第１項記載
の粒子解析装置。 ３ 前記粒子は照射光方向と垂直方向に１粒ずつ
流れる特許請求の範囲第１項記載の粒子解析装
置。 ４ 前記位置検出部の検出方向は照射光方向と粒
子の流れ方向に垂直である特許請求の範囲第３項
記載の粒子解析装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15064184A JPS6129737A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 粒子解析装置 |
| US06/753,871 US4643566A (en) | 1984-07-20 | 1985-07-11 | Particle analyzing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15064184A JPS6129737A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 粒子解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6129737A JPS6129737A (ja) | 1986-02-10 |
| JPH0262178B2 true JPH0262178B2 (ja) | 1990-12-25 |
Family
ID=15501287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15064184A Granted JPS6129737A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6129737A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04129984U (ja) * | 1991-05-21 | 1992-11-30 | 本田技研工業株式会社 | 電磁作動装置 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2582797B2 (ja) * | 1987-08-18 | 1997-02-19 | 新技術事業団 | 粒子の識別・分離方法および装置 |
| US7772579B2 (en) | 2006-05-18 | 2010-08-10 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for simultaneously measuring a three dimensional position of a particle in a flow |
| US7821636B2 (en) | 2006-05-18 | 2010-10-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for measuring a position of a particle in a flow |
| JP4981569B2 (ja) * | 2007-07-24 | 2012-07-25 | リオン株式会社 | 粒子計数装置 |
| US7920261B2 (en) | 2008-02-11 | 2011-04-05 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for detecting and discriminating particles in a fluid |
| US9915935B2 (en) * | 2012-03-30 | 2018-03-13 | Sony Corporation | Microchip-type optical measuring apparatus and optical position adjusting method thereof |
| WO2017129390A1 (en) * | 2016-01-25 | 2017-08-03 | Plair Sa | Method and device for detection and/or morphologic analysis of individual fluid-borne particles |
-
1984
- 1984-07-20 JP JP15064184A patent/JPS6129737A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04129984U (ja) * | 1991-05-21 | 1992-11-30 | 本田技研工業株式会社 | 電磁作動装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6129737A (ja) | 1986-02-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |