JPH025615Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は漏電しや断器に関するものであり、
特にそのテスト回路の保護に関するものである。

〔従来の技術〕

第２図は従来の漏電しや断器を示す電気結線図
である。第２図において、テストスイツチ１２を
閉成すると、負荷側の端子Ｕ→抵抗１３→テスト
スイツチ１２→テスト巻線１１→負荷側の端子Ｗ
の閉回路が形成され、零相変流器３はその二次巻
線４に所定値以上の出力を生じる。この出力は増
幅器５で増幅され、例えばサイリスタであるスイ
ツチング素子６を導通させる。このスイツチング
素子６が導通すると、負荷側のＵ端子→トリツプ
コイル８→整流器９→スイツチング素子６→整流
器９→負荷側のＷ端子の閉回路が形成され、トリ
ツプコイル８を励磁して主接点１を開放し、漏電
しや断器を引外す。このようにして主接点１が開
放すると、負荷側端子Ｕ，Ｗが無電圧となるた
め、テスト巻線１１とテストスイツチ１２と抵抗
１３との直列回路からなるテスト回路１０は自動
的に無電圧となる。

このように、テスト回路１０は、テストスイツ
チ１２を閉成して漏電しや断器が引外されると、
自動的に無電圧となるので、テスト回路１０を含
めた漏電しや断器の消費電力は、漏電しや断器の
動作時間（0.1秒以内）に必要な消費電力で計算
され、連続定格となつておらず、短時間定格とな
つている。

〔考案が解決しようとする問題点〕

上記のように、漏電しや断器の消費電力は、漏
電しや断器の動作時間（0.1秒以内）を考慮して
設定されているため、次のような問題点があつ
た。(イ)故障等によつて漏電しや断器が不動作の場
合、テストスイツチ１２を閉成し続けると、抵抗
１３は過熱し断線に至ることがある。(ロ)例えば需
要家において主接点１を誤接続して、第２図にお
いてテスト回路１０の主回路２への接続位置より
負荷側に挿入すると、テストスイツチ１２を閉成
して主接点１が開放しても、テスト回路１０は無
電圧とならない。このためテストスイツチ１２を
閉成している時間だけ、漏電しや断器の動作時間
（0.1秒以内）以上にテスト回路１０に電流が流
れ、定格動作時間以上に通電するため抵抗１３を
劣化させ、かつテストスイツチ１２の操作頻度等
によつて断線に至ることがある。

この考案はかかる問題点を解決するためになさ
れたもので、テストスイツチを閉成し続けても、
抵抗の劣化やテスト回路の断線が生じないように
して、テスト回路の保護を目的とした漏電しや断
器を提供するものである。

〔問題点を解決するための手段〕

この考案に係る漏電しや断器は、導通時にトリ
ツプコイルを励磁するスイツチング素子とテスト
回路とを並列に、かつこの並列回路をトリツプコ
イルに直列に接続したものである。

〔作用〕

この考案においては、スイツチング素子とテス
ト回路とを並列接続し、この並列回路をトリツプ
コイルに直列接続することにより、スイツチング
素子の不導通時にはトリツプコイルとテスト回路
とを直列に接続し、スイツチング素子の導通時に
はテスト回路への電流の流入を防止する。

〔実施例〕

第１図はこの考案に係る漏電しや断器の一実施
例を示す電気結線図である。第１図において、主
接点１は主回路２に挿入されており、主回路２は
零相変流器３の中空部に一次巻線として貫通挿入
されている。零相変流器３の二次巻線４は主回路
２の漏電発生時に出力を生じ、増幅器５において
増幅される。スイツチング素子６は例えばサイリ
スタであり、増幅器５の出力が所定値以上のとき
に導通状態となり、コンデンサ７の充電電荷によ
り導通状態が保持される。トリツプコイル８は、
スイツチング素子６の導通時に形成される、負荷
側のＵ端子→トリツプコイル８→整流器９→スイ
ツチング素子６→整流器９→負荷側のＷ端子の閉
回路を流れる電流によつて励磁され、主接点１を
開放し、漏電しや断器を引外す。テスト回路１０
は零相変流器３に施されたテスト巻線１１とテス
トスイツチ１２と抵抗１３との直列回路で構成さ
れ、その一端はトリツプコイル８と整流器９との
間に、その他端は負荷側のＷ端子に接続されてい
る。

即ち、スイツチング素子６の不導通時には、テ
スト回路１０はトリツプコイル８に直列に負荷側
端子Ｕ，Ｗ間に接続され、テストスイツチ１２の
閉成により、負荷側のＵ端子→トリツプコイル８
→テスト巻線１１→テストスイツチ１２→抵抗１
３→負荷側のＷ端子の閉回路が形成される。この
場合、トリツプコイル８の抵抗値（約100Ω）に
比較して、抵抗１３の抵抗値（約2.7ΚΩ）は十分
に大きいため、電圧は殆んど抵抗１３に加わり、
テストスイツチ１２を閉成した瞬時の突入電流に
よつてもトリツプコイル８は動作しない。この状
態でテストスイツチ１２を閉成し続けると、やが
て二次巻線４の誘起出力が所定値以上となり、ス
イツチング素子６が導通する。スイツチング素子
６が導通すると、負荷側のＵ端子→トリツプコイ
ル８→整流器９→スイツチング素子６→整流器９
→負荷側のＷ端子の閉回路が形成されて、トリツ
プコイル８は励磁されて主接点１を開放する。こ
の場合、テスト回路１０は整流器９を介してスイ
ツチング素子６に並列接続され、テストスイツチ
１２を閉成し続けてもテスト回路１０には電流は
流れない。

〔考案の効果〕

この考案は以上説明したとおり、スイツチング
素子の導通時に、テスト回路はスイツチング素子
に並列接続されるため、テストスイツチを閉成し
続けてもテスト回路が劣化、焼損しない効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案に係る漏電しや断器の一実施
例を示す電気結線図、第２図は従来の漏電しや断
器を示す電気結線図である。 図において、３は零相変流器、６はスイツチン
グ素子、８はトリツプコイル、１０はテスト回
路、１１はテスト巻線、１２はテストスイツチ、
１３は抵抗である。なお、各図中同一符号は同一
または相当部分を示す。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 漏電電流を検出する零相変流器、前記零相変流
   器の出力が所定値以上になると導通するスイツチ
   ング素子、前記スイツチング素子の導通時に励磁
   されしや断器を引外すトリツプコイル、及び前記
   零相変流器に施されたテスト巻線とテストボタン
   と抵抗との直列回路を具えた回路に前記テストス
   イツチの閉成時に前記零相変流器に前記所定値以
   上の出力を生じさせるテスト回路を備え、前記テ
   スト回路を前記スイツチング素子に並列に、かつ
   前記スイツチング素子と前記テスト回路との並列
   回路が前記トリツプコイルに直列になるよう接続
   したことを特徴とする漏電しや断器。