JPH0243670U - - Google Patents

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JPH0243670U
JPH0243670U JP12241888U JP12241888U JPH0243670U JP H0243670 U JPH0243670 U JP H0243670U JP 12241888 U JP12241888 U JP 12241888U JP 12241888 U JP12241888 U JP 12241888U JP H0243670 U JPH0243670 U JP H0243670U
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semiconductor device
measuring
characteristic measuring
measuring device
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の実施例１を示す斜視図、第２
図は本考案の動作を示す斜視図、第３図は従来の
特性測定装置を示す斜視図、第４図は従来の特性
測定装置における不具合例を示す正面図、第５図
は従来の特性測定装置における不具合例を示す側
面図、第６図は本考案によりリード曲がりを矯正
した状態を示す正面図、第７図は本考案によりリ
ード曲がりを矯正した状態を示す側面図、第８図
は本考案の実施例２を示す斜視図である。 １……半導体装置、２……リード、３……測定
触子、４……ガイド、５……ピン、６……ピン保
持具。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体装置のリードに対し測定触子を接触させ
    て特性を測定する特性測定装置において、半導体
    装置のリード相互間に圧入し該リードの曲がりを
    矯正する治具を有することを特徴とする半導体装
    置の特性測定装置。
JP12241888U 1988-09-19 1988-09-19 Pending JPH0243670U (ja)

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JP12241888U JPH0243670U (ja) 1988-09-19 1988-09-19

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JPH0243670U true JPH0243670U (ja) 1990-03-26

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