JPH02257553A - Driving method for image forming device - Google Patents

Driving method for image forming device

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JPH02257553A
JPH02257553A JP7660789A JP7660789A JPH02257553A JP H02257553 A JPH02257553 A JP H02257553A JP 7660789 A JP7660789 A JP 7660789A JP 7660789 A JP7660789 A JP 7660789A JP H02257553 A JPH02257553 A JP H02257553A
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electron
voltage
image forming
forming apparatus
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英俊 鱸
Tetsuya Kaneko
哲也 金子
Haruto Ono
治人 小野
Ichiro Nomura
一郎 野村
Kiyoshi Takimoto
瀧本 清
Takeo Tsukamoto
健夫 塚本
Yoshimi Uda
宇田 芳巳
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Abstract

PURPOSE:To reduce unevenness of the brightness on an image by furnishing modulating grids for controlling passage and shutoff of an electron beam emitted from an electron emitting element, and varying the width of impressed voltage pulses grid by grid. CONSTITUTION:Drive pulses having an amplitude VEV are emitted by an element raw driver circuit 2 and impressed on positive electrode side wiring terminal DP1, DP2-DPl in the sequence as listed. In synchronization therewith modulation signals VG(ON) or VG(OFF) are given by a modulating grid driver circuit 3 and impressed on grid electrode terminals G1-GN. Therein the width of impressed pulses is greatest at the central grid GN/2, reducing as approaching the grids G1 and GN at the ends. This change of the pulse width for impression of VG(ON) potential grid by grid provides good display without unevenness of the brightness over the whole surface of a screen.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、多数の電子放出素子と、前記多数の電子放出
素子から放出される電子ビーム群を変調するためのグリ
ッド電極とを備えた画像形成装置の駆動方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention provides an image forming apparatus comprising a large number of electron-emitting devices and a grid electrode for modulating a group of electron beams emitted from the large number of electron-emitting devices. The present invention relates to a method of driving a forming apparatus.

[従来の技術] 従来、簡単な構造で電子の放出が得られる素子として、
例えば、エム アイ エリンソン(M、 I。
[Prior Art] Conventionally, as an element that can emit electrons with a simple structure,
For example, M.I. Ellingson (M, I.

Elinson)等によって発表された冷陰極素子が知
られている。[ラジオ エンジニアリング エレクトロ
ンフィジ4−) ス(Rad(o Eng、 EIec
trar+。
A cold cathode device announced by John Elinson et al. is known. [Radio Engineering Electron Physics 4-) Rad(o Eng, EIec
trar+.

Ph2s、)第1O巻、1290〜129B頁、196
5年]この種の電子放出素子としては、前記エリンンン
等により開発されたSn0?(Sb)薄膜を用いたもの
、Au薄膜によるもの[ジー・ディトマー“スインソリ
ド 74 )IしJAス゛’ (G、 Dittmer
:“Th1nSolid Films ” ) 、 9
巻、317頁、  (1972年月、ITO9膜による
もの[エム ハートウェル アンド シー ジー フォ
ンスタッド“アイ イーイー イー トランス”イー 
デイ−コンク(M、 Hartwell and C,
G、  Fonstad:  IEEETrans、 
ED Conf、 ” ) 519頁、  (1975
年)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久他:“真空”
Ph2s, ) Volume 1O, pp. 1290-129B, 196
5 years] As an electron-emitting device of this type, the Sn0? developed by Erinne et al. (Sb) Thin film, Au thin film [G. Dittmer "Sinsolid 74"]
:“Th1nSolid Films”), 9
Volume, 317 pages, (Monday 1972, ITO9 film [M. Hartwell and C.G.
De-Conch (M, Hartwell and C,
G, Fonstad: IEEE Trans;
ED Conf, ”) 519 pages, (1975
)], by carbon thin film [Hisashi Araki et al.: “Vacuum”
.

@28巻、第1 号、 223I 、 (1983年)
]ナトカ報告されている。
@Volume 28, No. 1, 223I, (1983)
] Natka has been reported.

また、上記以外にも、薄膜熱カソードやMIX形放出素
子等の有望な電子放出素子が数多く報告されている。
In addition to the above, many promising electron-emitting devices such as thin-film thermal cathodes and MIX-type emitting devices have been reported.

これらは、成膜技術やフォトリソグラフィー技術の急速
な進歩とあいまって、基板上に多数の素子を形成するこ
とが可能となりつつあり、マルチ電子ビーム源として、
蛍光表示管、平板型CRT 。
Combined with rapid advances in film-forming technology and photolithography technology, it is becoming possible to form a large number of elements on a substrate, and as a multi-electron beam source,
Fluorescent display tube, flat CRT.

電子ビー、ム描画装置等の各種画像形成装置への応用が
期待されるところである。
Applications to various image forming apparatuses such as electron beam and beam lithography apparatuses are expected.

[発明が解決しようとする課題] ところで、これらの素子を画像形成装置に応用する場合
、一般には、X板上に多数の素子を配列形成し、各素子
間を薄膜もしくは厚膜の電極で電気的に配線し、マルチ
電子ビーム源として用いるが、配線抵抗で生じる電圧降
下のために、各素子毎に印加される電圧がばらついてし
まうという現象が起きる。その結果、各放出素子から放
出される電子ビームの電流量にばらつきが生じ、形成さ
れる画像に輝度(濃度)むらが起きるという問題が発生
していた。
[Problem to be Solved by the Invention] By the way, when applying these elements to an image forming apparatus, generally a large number of elements are arranged and formed on an X-plate, and electricity is connected between each element using thin film or thick film electrodes. However, due to the voltage drop caused by the wiring resistance, the voltage applied to each element varies. As a result, the amount of current of the electron beam emitted from each emitting element varies, causing a problem of uneven brightness (density) in the formed image.

第11図及び第12図は、この問題をより詳しく説明す
るための図で、両図とも(a)は電子放出素子と配線抵
抗及び電源を含む等価回路図であり、(b)は各電子放
出素子の正極と負極の電位を示す図、また(C)は各素
子の正負極間に印加される電圧を示す図である。第11
図(a)は、並列接続されたN個の電子放出素子DI 
−DHと電源VEとを接続した回路を示すもので、電源
の正極と素子D1の正極を、また電源の負極と素子ON
の負極を接続したものである。また、各素子を並列に結
ぶ共通配線は、図に示すように隣接する素子間でrの抵
抗値を有するものとする。(画像形成装置では、電子ビ
ームのターゲットとなる画素は、通常等ピツチで配列さ
れている。従って、電子放出素子も空間的に等間隔をも
って配列されており、これらを結ぶ配線は幅や膜厚が製
造上ばらつかない限り、素子間で等しい抵抗値を有する
。) また、全ての電子放出素子D1〜DHは、はぼ等しい抵
抗値Rdを各々有するものとする。
Figures 11 and 12 are diagrams to explain this problem in more detail. In both figures, (a) is an equivalent circuit diagram including an electron-emitting element, wiring resistance, and power supply, and (b) is an equivalent circuit diagram of each electron. A diagram showing the potentials of the positive and negative electrodes of the emitting element, and (C) a diagram showing the voltage applied between the positive and negative electrodes of each element. 11th
Figure (a) shows N electron-emitting devices DI connected in parallel.
This shows a circuit in which -DH and power supply VE are connected, and the positive pole of the power supply and the positive pole of element D1 are connected, and the negative pole of the power supply and element ON
The negative electrode of Further, it is assumed that the common wiring connecting each element in parallel has a resistance value of r between adjacent elements as shown in the figure. (In image forming devices, the pixels that are the targets of the electron beam are usually arranged at equal pitches. Therefore, the electron-emitting elements are also arranged at equal intervals in space, and the wiring that connects them has a width and film thickness. The elements have the same resistance value as long as there is no manufacturing variation.) Furthermore, it is assumed that all the electron-emitting elements D1 to DH have approximately the same resistance value Rd.

前記第11図(a)の回路図に於て、各素子の正極及び
負極の電位を示したのが第11図(b)である。
In the circuit diagram of FIG. 11(a), FIG. 11(b) shows the potentials of the positive and negative electrodes of each element.

図の横軸は、DI−ONの素子番号を示し、縦軸は電位
を示す、・印は各素子の正極電位、■印は負極電位を表
わしており、電位分布の傾向を見易くするため1便宜的
に拳印(l印)を実線で結んでいる。
The horizontal axis of the figure shows the element number of the DI-ON, and the vertical axis shows the potential. The * mark shows the positive electrode potential of each element, and the ■ mark shows the negative electrode potential. For convenience, the fist seals (l marks) are connected with solid lines.

本図から明らかなように、配線抵抗rによる電圧降下は
、−様に起こるわけではなく、正極側の場合は、素子D
Iに近い程急峻であり、逆に負極側では、素子D11に
近い程急峻になっている。これは、正極側では口1に近
い程、配線抵抗rを流れる電流が大きく、また負極側で
はDNに近い程、大きな電流が流れるためである。
As is clear from this figure, the voltage drop due to the wiring resistance r does not occur in a negative manner; in the case of the positive electrode side, the voltage drop due to the wiring resistance r
The closer it is to I, the steeper it is; conversely, on the negative electrode side, the closer it is to element D11, the steeper it is. This is because on the positive electrode side, the closer to the port 1, the larger the current flows through the wiring resistance r, and on the negative electrode side, the closer to DN, the larger the current flows.

これから、各素子の正負極間に印加される電圧をプロッ
トしたのが第11図(C)である0図の横軸は、Ill
〜DNの素子番号、縦軸は印加電圧を各々示し、第11
図(b)と同様傾向を見易くするために便宜的に0を実
線で結んでいる。
From this, the horizontal axis of Figure 11 (C), which plots the voltage applied between the positive and negative electrodes of each element, is Ill
~DN element numbers, the vertical axis represents the applied voltage, and the 11th
As in Figure (b), 0 is connected with a solid line for convenience in order to make the trend easier to see.

本図から明らかなように、第11図(a)のような回路
の場合には、両端の素子(DI及びON)に近い程大き
な電圧が印加され、中央部付近の素子では印加電圧が小
さくなる。
As is clear from this figure, in the case of the circuit shown in Figure 11(a), a larger voltage is applied closer to the elements at both ends (DI and ON), and a smaller voltage is applied to the elements near the center. Become.

従って、各電子放出素子から放出される電子ビームは、
両端の素子程ビーム電流が大きくなり、画像形成装置に
応用した場合、極めて不都合である、(例えば、両端に
近い部分の画像は濃度が濃く、中央部付近の濃度は淡く
なってしまう。) 一方、第12図に示すのは、並列接続された素子列の片
側(本図では゛素子DI側)に電源の正負極を接続した
場合である。この様な回路の場合には。
Therefore, the electron beam emitted from each electron-emitting device is
The beam current becomes larger for the elements at both ends, which is extremely inconvenient when applied to an image forming device (for example, the image near the ends has a high density, and the density near the center becomes low). What is shown in FIG. 12 is a case where the positive and negative poles of the power supply are connected to one side (the "element DI side" in this figure) of the element rows connected in parallel. In the case of a circuit like this.

同図(b)に示すように、正極側、負極側ともDlに近
い程配線抵抗rによる電圧降下が大きくなる。
As shown in FIG. 6(b), the voltage drop due to the wiring resistance r increases as the voltage drops closer to Dl on both the positive and negative sides.

従って、各素子に印加される電圧は、同図(C)に示す
ように、D、に近い程大きなものとなり1画像形成装置
として応用するには極めて不都合である。
Therefore, as shown in FIG. 2C, the voltage applied to each element becomes larger as it approaches D, which is extremely inconvenient for application as an image forming apparatus.

以上、二つの例で示したような素子毎の印加電圧のばら
つきの程度は、並列接続される素子の総数Nや、素子抵
抗Rdと配線抵抗rの比(= Rd/r)、あるいは電
源の接続位置により異なるが、一般にはNが大きい程、
 Rd/rが小さい程、ばらつきは顕著となり、また荊
記第11図よりも第12図の接続方法のほうが、素子に
印加される電圧のばらつきが大きい。例えば、第11図
の接続法で素子抵抗Rd=1にΩ、r=10mΩの場合
、N=100テあれば印加電圧の最も大きな素子と最も
小さな素子を比較すると、Vsax : Vmin= 
102:100程度であるが、N = 1000であれ
ば、Vsax : Vsin= 472:100 とば
らつきの割合は大きくなる。
As shown in the above two examples, the degree of variation in the applied voltage for each element depends on the total number of elements connected in parallel N, the ratio of element resistance Rd to wiring resistance r (= Rd/r), or the power supply It varies depending on the connection position, but in general, the larger N is, the
The smaller Rd/r is, the more significant the variation becomes, and the connection method shown in FIG. 12 has a larger variation in the voltage applied to the element than the connection method shown in FIG. 11. For example, in the connection method shown in Fig. 11, when the element resistance Rd = 1 Ω and r = 10 mΩ, if N = 100, comparing the element with the largest applied voltage and the element with the smallest applied voltage, Vsax: Vmin=
The ratio is approximately 102:100, but if N = 1000, the ratio of variation increases to Vsax:Vsin = 472:100.

また、N = 1000. Rd= l kΩ、r=1
mΩの配線抵抗の場合には、Vsax : Vmin=
 127:100程度であるが、配線抵抗をr = 1
0mΩとすると、v@aX:Vsin= 472:10
0程度というようにばらつきの程度は大きくなる。
Also, N = 1000. Rd=l kΩ, r=1
In the case of a wiring resistance of mΩ, Vsax: Vmin=
127:100, but if the wiring resistance is r = 1
If 0mΩ, v@aX:Vsin= 472:10
The degree of variation becomes large, such as about 0.

以上説明したように、特性の等しい電子放出素子を複数
個並列に接続した場合には、配線抵抗により生ずる電圧
降下のため、各素子に実効的に印加される電圧は、素子
毎にばらついてしまい、電子ビームの放出量が不均一と
なり、画像形成装置として応用する場合に不都合であっ
た。
As explained above, when multiple electron-emitting devices with the same characteristics are connected in parallel, the effective voltage applied to each device varies due to the voltage drop caused by wiring resistance. , the amount of emitted electron beam becomes non-uniform, which is inconvenient when applied as an image forming apparatus.

特に、画素数の多い(Nの大きい)大容量表示装置を実
現しようとする場合には、上記ばらつきの割合は顕著と
なり、画像の濃度むらが大きな問題となっていた。
In particular, when attempting to realize a large-capacity display device with a large number of pixels (a large number of N), the above-mentioned rate of variation becomes significant, and uneven density of images becomes a major problem.

[課題を解決するための手段及び作用1以上の問題点解
決のため本発明は、各電子放出素子から放出される電子
ビームの通過と遮断を制御するための変調グリッドを設
け、各変調グリッド毎に、印加する電圧パルスのパルス
幅を変えることにより、どの素子からも等しい量の電子
がターゲットに照射されるようにしたものである。
[Means and Effects for Solving the Problems] In order to solve one or more problems, the present invention provides a modulation grid for controlling passage and blocking of the electron beam emitted from each electron-emitting device, and a modulation grid for each modulation grid. In addition, by changing the pulse width of the applied voltage pulse, the target is irradiated with the same amount of electrons from all elements.

すなわち、電子放出素子が前記第11図のような配線の
場合には、両端よりも中央のグリッドのパルス幅を長く
し、また、前記第12図のような配線の場合には、素子
の給電側から遠いグリッド程パルス幅を長くするもので
ある。
In other words, if the electron-emitting device has wiring as shown in FIG. 11, the pulse width of the central grid is longer than that of both ends, and if the electron-emitting device has wiring as shown in FIG. The farther the grid is from the side, the longer the pulse width is.

[実施例] 以下、本発明を実施例にて説明する。[Example] The present invention will be explained below with reference to Examples.

第1図〜第7図は、本発明の一実施例を表わすものであ
る。
1 to 7 depict one embodiment of the present invention.

以下、本実施例での装置の動作を、順を追って説明する
Hereinafter, the operation of the apparatus in this embodiment will be explained in order.

第1図は表示パネルの構造を示しており、図中VCはガ
ラス製の真空容器で、その一部であるFPは、表示面側
のフェースプレートを示している。
FIG. 1 shows the structure of a display panel. In the figure, VC is a glass vacuum container, and FP, which is a part of the vacuum container, is a face plate on the display surface side.

フェースプレートFPの内面には、例えばITOを材料
とする透明電極が形成され、さらにその内側には、赤、
緑、青の蛍光体がモザイク状に塗り分けられ、CRTの
分野では公知のメタルバック処理が施されている。(透
明電極、蛍光体、メタルバックは図示せず。)また、前
記透明電極は、加速電圧を印加するために、端子EVを
通じて真空容器外と電気的に接続されている。
A transparent electrode made of, for example, ITO is formed on the inner surface of the face plate FP, and a red,
Green and blue phosphors are painted separately in a mosaic pattern, and a metal back treatment known in the CRT field is applied. (The transparent electrode, phosphor, and metal back are not shown.) Furthermore, the transparent electrode is electrically connected to the outside of the vacuum vessel through a terminal EV in order to apply an accelerating voltage.

また、Sは前記真空容器VCの底面に固定されたガラス
基板で、その上面には、電子放出素子がN個×β列にわ
たり配列形成されている。該電子放出素子群は、列毎に
電気的に並列接続されており、各列の正極側配線(負極
側配線)は、端子Dp、 −D、j  (端子D1〜D
−1)によって真空容器外と電気的に接続されている。
Further, S is a glass substrate fixed to the bottom surface of the vacuum container VC, and on the top surface thereof, electron-emitting devices are arranged in N×β rows. The electron-emitting device groups are electrically connected in parallel in each column, and the positive electrode side wiring (negative electrode side wiring) of each column is connected to terminals Dp, -D, j (terminals D1 to D
-1) is electrically connected to the outside of the vacuum vessel.

すなわち本装置では、第11図(a)の接続法による素
子列が4列にわたり、基板S上に形成されている。(1
列あたりの素子数はN mである。) また、基板Sとフェースプレー)FPの中間には、スト
ライプ状のグリッド電極GRが設けられている。グリッ
ド電極GRは、前記素子列と直交してN本設けられてお
り、各電極には電子ビームを透過するための空孔Ghが
設けられている。空孔Ghは、第1図の例のように各電
子放出素子に対応して1個づつ設けてもよいし、あるい
は微小な孔をメツシュ状に多数設けてもよい、各グリッ
ド電極は、端子G1〜GNによって真空容器外と電気的
に接続されている。
That is, in this device, four rows of elements are formed on the substrate S using the connection method shown in FIG. 11(a). (1
The number of elements per column is N m. ) Also, a striped grid electrode GR is provided between the substrate S and the face plate (FP). N grid electrodes GR are provided perpendicularly to the element array, and each electrode is provided with a hole Gh for transmitting an electron beam. One hole Gh may be provided corresponding to each electron-emitting device as in the example shown in FIG. 1, or a large number of fine holes may be provided in a mesh shape. It is electrically connected to the outside of the vacuum container by G1 to GN.

本パネルでは、交情の電子放出素子列と8個のグリッド
電極列により、 XYマトリクスが構成されている。電
子放出列を一列づつ順次駆動(走査)するのと同期して
グリッド電極列に画像1947分の変調信号を同時に印
加することにより、各電子ビームの蛍光体への照射を制
御し1画像を1ラインづつ表示していくものである。
In this panel, an XY matrix is composed of a row of electron-emitting devices and eight grid electrode rows. By sequentially driving (scanning) the electron emission rows one by one and simultaneously applying modulation signals for 1947 images to the grid electrode row, the irradiation of each electron beam to the phosphor is controlled and one image is converted into one image. It is displayed line by line.

第2図に示すのは、前記第1図の表示パネルを駆動する
ための電気回路をブロック図で示したもので、lは第1
図で示した表示パネル、2は素子列駆動回路、3は変調
グリッド駆動回路、4は高電圧電源である0表示パネル
lの電極端子EVは、高電圧電源4から、例えば10K
V程度の加速電圧を供給される。また、電子放出素子列
の負極側配線端子(0,1〜ロー1)はグランドレベル
(OV)に接地され、正極側の配線端子(Dp+〜Dp
l)は素子列駆動回路ブロック2と接続されている。ま
たグリッド電極は、端子Gl −GNを通じて変調グリ
ッド駆動回路3と接続されている。
What is shown in FIG. 2 is a block diagram of an electric circuit for driving the display panel shown in FIG.
In the display panel shown in the figure, 2 is an element column drive circuit, 3 is a modulation grid drive circuit, and 4 is a high voltage power supply.The electrode terminal EV of the display panel 1 is connected to the high voltage power supply 4, for example, at 10K.
An acceleration voltage of about V is supplied. Further, the negative electrode side wiring terminals (0, 1 to low 1) of the electron-emitting device array are grounded to the ground level (OV), and the positive electrode side wiring terminals (Dp+ to Dp
1) is connected to the element column drive circuit block 2. Further, the grid electrode is connected to a modulation grid drive circuit 3 through terminals Gl-GN.

素子列駆動回路2及び変調グリッド駆動回路3からは、
第3図の駆動タイムチャートに示すタイミングで信号電
圧が出力される。第3図中(a)〜(d)は、素子列駆
動回路2からパネルlのDI)InDp2.Dp3+及
びDp7端子に印加される信号を示すが、図から分かる
通り、not + DP2 + 0113・・・(D、
4”’DIl(j−1)は図中路) Dpr (7)順
に、順次振幅VEVの駆動パルスが印加される。これと
同期して変調グリッド駆動回路3からは、端子Gl−G
Nに対し第3図(e)、(f)に示すタイミングで変調
信号(VG (ON)又はVG(OFF))>(印加す
J’L 6 、 各端子ニ対して、Ve (ON)レベ
ルが印加されるかVe (OFF)レベルが印加される
かは、表示画像のパターンにより決まるものである。た
だし、ここで注意すべきは、端子毎にVG(ON)を印
加するパルス幅が異なることである。(同図では、図面
を簡明にするためG+ (パルス幅はPL(1))とG
N/2 (パルス幅はPL(N/2))の2つの例のみ
示しである。)これをより詳しく説明するために、各グ
リッド電極に印加する電圧のパルス幅を第4図に示す。
From the element array drive circuit 2 and the modulation grid drive circuit 3,
A signal voltage is output at the timing shown in the drive time chart of FIG. In FIG. 3, (a) to (d) show DI)InDp2. of panel I from the element array drive circuit 2. The signals applied to the Dp3+ and Dp7 terminals are shown, but as can be seen from the figure, not + DP2 + 0113...(D,
4'''DIl (j-1) is the path in the figure) Dpr (7) Drive pulses of amplitude VEV are sequentially applied in order. In synchronization with this, the modulation grid drive circuit 3 outputs terminals Gl-G.
At the timing shown in Fig. 3(e) and (f) for N, the modulation signal (VG (ON) or VG (OFF)) >(J'L 6 applied, Ve (ON) level for each terminal. Whether VG (OFF) level or Ve (OFF) level is applied is determined by the pattern of the displayed image.However, it should be noted here that the pulse width for applying VG (ON) differs for each terminal. (In the same figure, to simplify the drawing, G+ (pulse width is PL(1)) and G
Only two examples of N/2 (pulse width is PL(N/2)) are shown. ) To explain this in more detail, FIG. 4 shows the pulse width of the voltage applied to each grid electrode.

図に於て、横軸は各グリッド電極を、縦軸は印加する電
圧のパルス幅を示す0図から明らかなように1本装置で
は、印加パルスの幅は中央のグリッド(GN/2)が最
も大きく、両端CG+及びGM)に近づく程小さくなっ
ている。この最大値をPL(N/2)、最小値をPL(
1)とする0本装置では、このようにVG(ON)電位
を印加するパルス幅をグリッドごとに変えることにより
、画面の全面にわたり輝度(濃度)むらのない良好な表
示が得られる。それは。
In the figure, the horizontal axis indicates each grid electrode, and the vertical axis indicates the pulse width of the applied voltage. It is the largest and becomes smaller as it approaches both ends (CG+ and GM). This maximum value is PL (N/2), and the minimum value is PL (
1), by changing the pulse width for applying the VG (ON) potential for each grid, a good display without uneven brightness (density) can be obtained over the entire screen. it is.

以下に説明するような原理による。This is based on the principle explained below.

すなわち、本装置で用いられる電子放出素子の印加電圧
マS出力電流特性例を第5図に示すが、従来問題点の項
で述べたように(第11図(c)参照)、並列接続され
た素子に於ては、素子毎に印加電圧にばらつきが生じる
ので、出力ビーム電流も素子毎に異なった値となってし
まう0例えば第11図(C)に於て、印加電圧の最大値
をV■ax、最小値をVainとすると、第5図の特性
から出力ビーム電流は、素子によってEB@ i n以
上EBsax以下のいずれかの値をとることになる。 
 。
That is, an example of the applied voltage vs. output current characteristics of the electron-emitting device used in this device is shown in FIG. In the case of a device that has been applied, the applied voltage varies from device to device, so the output beam current also has a different value for each device.For example, in Figure 11 (C), when the maximum value of the applied voltage is Assuming that V.sub.ax and the minimum value are Vain, the output beam current will take any value from [email protected] to EBsax depending on the element, based on the characteristics shown in FIG.
.

しかし、第6図に示すように、素子の出力ビーム電流が
異なっても、変調グリッドに印加する電圧のパルス幅を
適当な長さとすることにより、蛍光面に到達するlパル
ス当たりの電子の量を等しくすることが可能である。す
なわち、最も出力ビーム電流の大きな素子に対しては、
グリッド印加電圧のパルス幅をPL(1)とし、最も出
力ビーム電流の小さな素子に対しては幅がPL(N/2
)のパルスの電圧を印加すれば、蛍光面に到達する1パ
ルス当たりの電子の量を等しくすることができる。
However, as shown in Figure 6, even if the output beam current of the device is different, by setting the pulse width of the voltage applied to the modulation grid to an appropriate length, the amount of electrons per 1 pulse that reaches the phosphor screen can be adjusted. It is possible to make them equal. In other words, for the element with the largest output beam current,
Let the pulse width of the voltage applied to the grid be PL(1), and for the element with the smallest output beam current, the width will be PL(N/2).
) can equalize the amount of electrons per pulse that reach the phosphor screen.

第6図では、EBsax とEBsinの2例のみ説明
したが、全ての素子について、蛍光面に到達する電子の
量を等しくするようなパルス幅を示すと、前記の第4図
のようになる。
In FIG. 6, only two examples, EBsax and EBsin, are explained, but if the pulse width is shown to equalize the amount of electrons reaching the phosphor screen for all elements, the result will be as shown in FIG. 4.

第4図に示したような異なる幅のパルスを各グリッドに
印加するためには、変調グリッド駆動回路として、例え
ば第7図に示すような回路を用いればよい。
In order to apply pulses of different widths as shown in FIG. 4 to each grid, a circuit as shown in FIG. 7, for example, may be used as a modulation grid drive circuit.

第7図に於て、5はシリアル・パラレル変換器、6はイ
ンバータ、7及び8はスイッチングトランジスタ、9.
10.11は各々パルス発生器である。シリアル・パラ
レル変換器5は、外部からシリアルに送られてくる画像
データを1ライン分(N個)蓄積し、所定のタイミング
でPI −PMから並列に出力する。 PI〜PNから
は1表示画像のデータによって各々個別にHレベル(高
いレベル)もしくはLレベル(低いレベル)が出力され
るが、Hレベルが出力された場合には、接続されたパル
ス発生器から前記第4図で説明した長さのパルスが出力
される。パルスが出力されている間、トランジスタ7が
゛オン、トランジスタ8がオフとなり、グリッド電極の
端子に、vc (ON)の波高値をもつ電圧パルスが出
力される。また、シリアル・パラレル変換器5の出力が
Lレベルであった場合には、パルス発生器からパルスは
出力されないため、トランジスタ7はオフ、トランジス
タ8はオンとなり、グリッド電極の端子にはVc(OF
F)の−定電位が印加される。
In FIG. 7, 5 is a serial-to-parallel converter, 6 is an inverter, 7 and 8 are switching transistors, and 9.
10 and 11 are pulse generators, respectively. The serial/parallel converter 5 accumulates one line (N pieces) of image data serially sent from the outside, and outputs it in parallel from the PI-PM at a predetermined timing. PI to PN individually output H level (high level) or L level (low level) depending on the data of one display image, but when H level is output, the connected pulse generator A pulse having the length explained in FIG. 4 above is output. While the pulse is being output, the transistor 7 is turned on and the transistor 8 is turned off, and a voltage pulse having a peak value of vc (ON) is output to the terminal of the grid electrode. Further, when the output of the serial-parallel converter 5 is at L level, no pulse is output from the pulse generator, so the transistor 7 is turned off and the transistor 8 is turned on, and the terminal of the grid electrode is connected to Vc (OF
F) - constant potential is applied.

尚、上記回路中に用いられるパルス発生器としては、例
えば、ワンショットマルチバイブレータのようなもので
よく、その場合には、適当なRCを選ぶことにより、各
発生器のパルス幅を設定することができる。
Note that the pulse generator used in the above circuit may be, for example, a one-shot multivibrator, and in that case, the pulse width of each generator can be set by selecting an appropriate RC. I can do it.

また、ワンショットマルチバイブレータ以外でも、発振
器、カウンタ、コンパレータといったデジタル回路を組
み合わせれば、所定のパルス幅を出力するパルス発生器
を容易に構成することが可能である。
In addition to the one-shot multivibrator, by combining digital circuits such as an oscillator, counter, and comparator, it is possible to easily configure a pulse generator that outputs a predetermined pulse width.

以上本発明を適用した画像形成装置の実施例を説明した
が、グリッド電極に印加する電圧のパルス幅は前記第4
図に示した例に限定されるものではない0例えば、第8
図に示すように、両端(G+及びGN)に近いグリッド
電極は、前記第4図と同様個別に異なるパルス幅で駆動
し、中央部(GN/2)付近のグリッド電極は、数本に
わたり、同一のパルス幅を用いてもよい、これは、中央
部が周辺部に比べて輝度(e度)むらの割合が小さい場
合に適する方法である。また応用、用途により、輝度の
均一性がそれ程厳密に要求されない場合には、例えば第
9図に示すように、複数のグリッドに対して同一のパル
ス幅で駆動してもよい、前記第8図あるいは第9図の方
法は、前記第4図の例と比較して、使用するパルス幅の
種類が減らせるため、パルス発生器の数を減少できるメ
リットがある。
Although the embodiments of the image forming apparatus to which the present invention is applied have been described above, the pulse width of the voltage applied to the grid electrode is
For example, the 8th
As shown in the figure, the grid electrodes near both ends (G+ and GN) are individually driven with different pulse widths as in FIG. The same pulse width may be used. This is a method suitable when the rate of uneven brightness (e degrees) in the central area is smaller than in the peripheral area. Depending on the application and use, if the uniformity of brightness is not so strictly required, for example, as shown in FIG. 9, it is possible to drive a plurality of grids with the same pulse width. Alternatively, compared to the example shown in FIG. 4, the method shown in FIG. 9 has the advantage of reducing the number of pulse generators because the number of pulse widths used can be reduced.

また、以上の実施例では、電子放出素子の配線方法が、
従来例で説明した第11図の場合についての方法である
が、電子放出素子の配線方法が異なる場合には1本発明
のグリッド印加電圧も異なることはいうまでもない0例
えば、従来例第12図のような配線方法が行われた場合
には、第1θ図に示すようにONに近い程、パルス幅を
長くするのが適する。
Furthermore, in the above embodiments, the wiring method for the electron-emitting device is
This is the method for the case of FIG. 11 explained in the conventional example, but it goes without saying that if the wiring method of the electron-emitting device is different, the grid applied voltage of the present invention will also be different. When the wiring method as shown in the figure is used, it is suitable to make the pulse width longer as it is closer to ON as shown in Fig. 1θ.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明では、グリッドに印加する
電圧のパルス幅を、電子放出素子から放出される電子ビ
ーム電流のばらつきに応じて、異なった長さとすること
により、蛍光面に到達するlパルス当たりの電子の量を
素子によらず均一にすることが可能である。これにより
、従来問題となっていた画像の輝度(濃度)むらを解消
でき。
[Effects of the Invention] As explained above, in the present invention, the pulse width of the voltage applied to the grid is set to different lengths depending on the variation in the electron beam current emitted from the electron-emitting device, thereby improving fluorescence. It is possible to make the amount of electrons per pulse reaching the surface uniform regardless of the element. This eliminates the uneven brightness (density) of images, which was a problem in the past.

薄形で大面積の大容量表示装置の実用性ス克を大幅に向
上することができた。
The practicality of a thin, large-area, large-capacity display device has been significantly improved.

本発明の適用は、実施例で示したような平板型表示装置
以外に、電子放出素子を多数個並列接続した電子源部を
有する画像形成装置の殆どに適用が可能で、例えば電子
ビーム描画装置や画像記録装置の分野にも極めて有効な
ものである。
The present invention can be applied to most image forming apparatuses having an electron source section in which a large number of electron-emitting devices are connected in parallel, in addition to flat panel display devices as shown in the embodiments, such as electron beam lithography apparatuses. It is also extremely effective in the field of image recording devices.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明を適用した画像形成装置の表示パネル
部分の斜視図、第2図は本発明を適用した画像形成装置
の駆動回路のブロック図、第3図は本発明を適用した画
像形成装置の駆動タイムチャート、第4図は本発明を適
用した画像形成装置のグリッド電極駆動電圧のパルス幅
を示す図、第5図は実施例で用いた電子放出素子の特性
を示す図、第6図は本発明における変調グリッドの動作
特性を示す図、第7図は変調グリッド駆動回路を示す図
、第8図、第9図、第10図は他の例としてのグリッド
電極の駆動電圧のパルス幅を示す図である。 第11図、第12図は、本発明の等価回路図及びその構
成要素の電位・電圧を示す図である。 l・・・表示パネル   2・・・素子列駆動回路3・
・・変調グリッド駆動回路 4・・・高電圧電源 5・・・シリアル・パラレル変換器 6・・・インバータ 7.8・・・スイッチングトランジスタ9、10.11
・・・パルス発生器
FIG. 1 is a perspective view of a display panel portion of an image forming apparatus to which the present invention is applied, FIG. 2 is a block diagram of a drive circuit of the image forming apparatus to which the present invention is applied, and FIG. 3 is an image forming apparatus to which the present invention is applied. 4 is a diagram showing the pulse width of the grid electrode driving voltage of the image forming apparatus to which the present invention is applied; FIG. 5 is a diagram showing the characteristics of the electron-emitting device used in the examples; FIG. FIG. 6 is a diagram showing the operating characteristics of the modulation grid in the present invention, FIG. 7 is a diagram showing the modulation grid drive circuit, and FIGS. 8, 9, and 10 are diagrams showing the driving voltage of the grid electrode as other examples. It is a figure showing pulse width. FIG. 11 and FIG. 12 are diagrams showing an equivalent circuit diagram of the present invention and potentials and voltages of its constituent elements. l... Display panel 2... Element column drive circuit 3.
... Modulation grid drive circuit 4 ... High voltage power supply 5 ... Serial-parallel converter 6 ... Inverter 7.8 ... Switching transistors 9, 10.11
...Pulse generator

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)複数の電子放出素子を電気的に並列接続したマル
チ電子ビーム源と、前記電子放出素子から放出される電
子ビームの通過と遮断を行なう複数の変調グリッド電極
と、該電子ビームの照射により画像を形成するためのタ
ーゲットとを具備した画像形成装置の変調グリッド電極
各々に印加する電圧パルスのパルス幅が前記複数の電子
放出素子に印加される電圧のばらつきに応じて、異なる
長さとなることを特徴とする画像形成装置の駆動方法。
(1) A multi-electron beam source in which a plurality of electron-emitting devices are electrically connected in parallel, a plurality of modulation grid electrodes that pass and block the electron beams emitted from the electron-emitting devices, and irradiation of the electron beams. The pulse width of a voltage pulse applied to each modulation grid electrode of an image forming apparatus equipped with a target for forming an image has a different length depending on variations in the voltage applied to the plurality of electron-emitting devices. A method for driving an image forming apparatus, characterized in that:
(2)前記並列接続された電子放出素子列の一端から正
電圧、他端から負電圧を印加し得る給電手段及び前記電
圧パルスの調整手段を有した請求項1記載の画像形成装
置の変調グリッド電極に印加される電圧のパルス幅が、
両端の素子に対して中央付近の素子の方が長くなること
を特徴とする画像形成装置の駆動方法。
(2) A modulation grid of an image forming apparatus according to claim 1, further comprising a power supply means capable of applying a positive voltage from one end of the parallel-connected electron-emitting device array and a negative voltage from the other end, and a means for adjusting the voltage pulse. The pulse width of the voltage applied to the electrode is
A method for driving an image forming apparatus, wherein an element near the center is longer than an element at both ends.
(3)前記並列接続された電子放出素子列の一端に正電
圧と負電圧を印加し得る給電手段及び前記電圧パルスの
調整手段を有した請求項1記載の画像形成装置の変調グ
リッド電極に印加される電圧のパルス幅が、係る一端に
近い素子に対して遠い素子の方が長くなることを特徴と
する画像形成装置の駆動方法。
(3) Application to the modulation grid electrode of the image forming apparatus according to claim 1, further comprising a power supply means capable of applying a positive voltage and a negative voltage to one end of the row of electron-emitting devices connected in parallel, and a means for adjusting the voltage pulse. A method for driving an image forming apparatus, characterized in that the pulse width of a voltage applied to an element closer to one end is longer than that of an element farthest from the other end.
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