JPH02212808A - カメラの測距装置 - Google Patents

カメラの測距装置

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JPH02212808A
JPH02212808A JP3470889A JP3470889A JPH02212808A JP H02212808 A JPH02212808 A JP H02212808A JP 3470889 A JP3470889 A JP 3470889A JP 3470889 A JP3470889 A JP 3470889A JP H02212808 A JPH02212808 A JP H02212808A
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JP
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distance measurement
light receiving
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JP3470889A
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English (en)
Inventor
Yasuhiko Shiomi
泰彦 塩見
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Canon Inc
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Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の利用分野) 改良するものである。
(発明の背景) 従来のアクティブタイプの測距装置は、例えば投光素子
より一定の光出力を被写体に向けて投射し、この被写体
での反射光を三角測量の原理に基づいて受光素子上に結
像し、その結像した位置を検出することにより、被写体
迄の距離を算出する方式が一般的であり、その為前記受
光素子としては被写体からの反射光が入射した位置に応
じて出力が変化する享受光素子やPSDなどが用いられ
ている。
しかしながら、従来の三角測量の原理を用いたアクティ
ブタイプの測距装置では、例えば遠近被写体にまたがっ
て投光像が入射した場合やコントラストの大きな白黒パ
ターンをもつ被写体に投光像が入射した様な場合、被写
体からの受光素子面上の反射像は明暗の輝度ムラを生じ
、その結果像の重心位置が変わってくる為に誤測距を生
じてしまうという致命的な欠点があった。
(発明の目的) 本発明の目的は、上述した問題点を解決し、適正な測距
結果が得られないような場合にはその事を撮影者に知ら
せ、ピントの合わない撮影を事前に防止させることので
きるカメラの測距装置を提供することである。
(発明の特徴) 上記目的を達成するために、本発明は、縦横比が異なり
、中心軸が基線長方向と平行、垂直いずれの方向とも異
なる向きになるような形状の投光像を被写体へ向けて投
射する投光手段と、前記被写体での投光反射像の入射位
置を2次元的に検出する受光手段と、該受光手段の基線
長方向と平行方向の出力より被写体距離情報を算出する
被写体情報算出手段と、受光手段の基線長方向と垂直方
向の出力より投光反射像の基線長方向と垂直方向の重心
の変位量を算出する変位量算出手段と、該変位量算出手
段の出力よりこの時の被写体が誤測距を招く測距対象で
あるか否かの判別を行う判別手段とを備え、また、判別
手段によりこの時の被写体が誤測距を招く測距対象であ
る事が判別された場合に、その警告を行う警告手段と、
判別手段により誤測距を招く測距対象でない事が判別さ
れた場合に、情報算出手段よりの情報を被写体距離情報
として出力する被写体距離情報出力手段とを備え、以て
、受光手段の基線長方向と垂直方向の出力を得、該出力
からこの時の被写体が誤測距を招く測距対象であるか否
かの判別を行い、警告を行うようにしたことを特徴とす
る。
(発明の実施例) 以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
第1図は本発明の一実施例を示すものであり、2次元の
半導体装置検出器であるところの受光素子1の各出力は
演算回路3.4でそれぞれ演算が行われる。第2図(a
)〜(ci)は受光素子l上に結像された各種コントラ
ストパターンをもつ反射像2を示したものであり、第3
図は本実施例における制御及び演算を司る測距装置の電
気システムで、第4図はそのタイミングチャートを示し
たものであり、第5図は受光素子1からのそれぞれの情
報に基づいてレンズ位置を制御する方法を示したフロー
チャートである。
以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
第1図の受光素子1はカメラの基線長方向に平行な方向
の結像位置、及び垂直な方向の結像位置を検出するため
の2次元の半導体装置検出器であり、カメラ本体に配置
された投光素子から投射された赤外光の被写体上での反
射像2が第1図に示した様に受光素子1上のある位置に
結像する様、これら投受光素子は配置されている。不図
示の一般的三角測量の原理に依れば、ある所定の基線長
距離を隔て投光素子と受光素子が配置されている場合、
被写体距離が変化すると、投光素子から発せられた信号
光の被写体面上での反射像2は第1図受光素子1上を左
右に移動した位置に結像する為、位置検出器としての受
光素子1の基線長方向に対して平行な方向の受光出力A
I、Blの値は被写体距離に応じて変化する。
今、第1図に示すように受光素子1の基線長方向の長さ
をρ、結像した像(反射像)2の重心位置から出力Bを
出す端子までの距離をXとすれば、A 1/ (A 1
 +B 1 ) =X/Q(D関係が成り立つので、A
I/(A1十B1)の比を演算回路364にて検出すれ
ば、受光素子1への結像位置、即ち被写体距離を算出す
ることができる。
次に、第3図及び第4図に基づいて測距演算等について
説明していく、受光素子1の基線長方”向に対して平行
な方向の受光出力と、垂直な方向の受光出力の演算は基
本的に全く同一であり、第3図の様な演算系を別々に持
っていても、又】つの演算系で時系列的に切換えて行う
構成であってもどちらでもよい。
まず初めに、測距演算動作の開始時点ではAPコントロ
ールロジック81の5HORT出力はHレベルとなって
いて、この為アナログスイッチ73はON状態となり、
キャパシタ72の両端を短絡することになり、OPアン
プ71.抵抗68.70、キャパシタ72で構成される
積分回路が初期化される。キャパシタ72の電荷が充分
放電される時間を経過した時点で5IIORT出力はH
レベルからLレベルとなり、同時にAFコントロールロ
ジック81の1RON出力が第4図に示した様に一定周
期でHレベル、Lレベルを繰り返すようになる。
ここで、1RON出力がHレベルとなるとインバータ7
7、抵抗76を介してトランジスタ75がOFFとなる
為、OPアンプ74.トランジスタ78、抵抗80で構
成される1REDドライバが動作状態となり、投光素子
であるところの1RED79が点灯を開始する。またf
ROM出力がLレベルとなると1RED79は消灯する
ことになる。このように1RED79はjRON出力に
同期して、一定周期で点滅し、被写体51へ向かって赤
外光を投射することになる。前述した様に被写体51へ
投射された赤外光は該被写体51面で反射され、その一
部が受光素子52 (1)上に結像される。結像した像
の重心位置は被写体距離に1対1で対応するわけである
が、その結像した位置に応じて受光素子52の光電流出
力IA、iBが発生する。この光電流はOPアンプ53
.抵抗54で構成される電流電圧変換回路、及びOPア
ンプ55.抵抗56で構成される電流電圧変換回路でそ
れぞれ電圧出力に変換され、更にA側の出力電圧はOP
アンプ57.キャパシタ58.抵抗59.60で構成さ
れる交流反転増幅回路によって、外光による直流分を取
り除いた信号出力VAとして取り出され、又OPアンプ
61.キャパシタ62.64.抵抗63,65.66で
構成される交流加算回路によって信号成分のみ和信号出
力(VA +VB )として取り出される。ここで第4
図に示した様に1RON出力に同期して、APコントロ
ールロジック81の5PL1出力が一定周期でHレベル
、Lレベルを繰り返しており、その為アナログスイッチ
67がその信号によってオン、オフとなる為、QPアン
プ71、抵抗68.キャパシタ72によって積分動作が
開始され、積分回路の出力1NTOIITはGNDレベ
ルから上昇していく、積分開始から所定時間Tを経過す
ると、今度は5PLIの代りに5PL2の出力が1RO
Nに同期して一定周期でHレベル、Lレベルを繰り返す
ようになり、今度はアナログスイッチ69.抵抗70を
介して積分動作が開始されるようになるが、5PL2は
5PLIに比べて1RON出力に対する位相が180°
反転されているので、積分回路の出力tNTOυTは次
第に下降していく、積分動作が進んで1NTOUTの出
力が初めのGNDレベルに達すると、コンパレータ82
のAFOtlT出力がLレベルとなり、AFコントロー
ルロジック81はこの出力を検出して積分動作を終了す
る。
ここで下降積分の開始からAFOIIT出力が再びLレ
ベルになる迄の時間なtとすると、VA XT=(VA
 +VB )xtの関係が成り立つ為、tの値によって
VA / (V^+VB)の値を求めることができる。
あらかじめAPコントロールロジック81内に被写体距
離との換算データを記憶しておけば、tの値から被写体
距離情報を算出することができる。
第2図(a)〜(e)は、種々のコントラストパターン
をもつ反射像2が受光素子1上に結像された時の様子を
示したもので、第2図(a)は通常の均一反射平面で反
射された場合で、この時反射像2の形状はほぼ楕円状、
しかもその中心軸がカメラの基線長と平行、垂直いずれ
とも異なるある一定の角度αを持って結像しており、簡
単の為、該反射像2の輝度は全範囲にわたって均一、形
状は完全な楕円であると考えると、その輝度分布から決
まる重心位置は図示した様に基線長方向に対して垂直方
向の基準線10(点線で示しである)上に来る。第2図
(b) 、 (c)はカメラの基線長方向に対して垂直
な方向にコントラストがある場合を示したもので、反射
像2の形状からその像の重心位置は基準線10に対して
、第2図(b)の場合は上側にシフトし、第2図(C)
の場合は下側にシフトしてくる。又、第2図(d)、(
e)はカメラの基線長方向に平行な方向にコントラスト
がある場合を示したもので、当然のことながら、その像
の重心位置は基準線10に対して、第2図(d、)の場
合は下側にシフトし、第2図(e)の場合は上側にシフ
トする。
第5図は、受光素子1のそれぞれの出力の演算結果から
実際のAP副制御行う為のレンズ駆動動作を示すフロー
チャートである。
まず#100で基線長方向に平行な方向の受光素子出力
(Al、Bl)から、前述した演算動作により被写体距
離情報d1を算出し、続いて#101で基線長方向に対
して垂直な方向の受光素子出力(A2.82)から、同
様の演算動作によりシフト量d2を算出する0次に、#
102でシフト量d2の値がある基準レベルδ1より大
きいか小さいかの判定をするが、これは第2図のコント
ラストパターンで輝度分布の重心位置が基準線1Oより
上側に来ているかどうかを判定しているもので、シフト
量d2がδ1より大きい場合はこの時の被写体は誤測距
を招く測距対象であると判別して#104へ進み、例え
ば第3図のLED83を点灯してこの事の警告を行う、
またシフト量d2が61より小さい場合は#103へ進
んで該シフトJld2の値がもう1つの基準レベルδ2
より大きいか小さいかの判定を行うが、これは第2図の
コントラストパターンで輝度分布の重心位置が基準線1
oより下側に来ているかどうかを判定しているもので、
該シフト量d2が基準レベルδ2より小さい場合はこの
時の被写体は誤測距を招く測距対象であると判別して#
104へ進んで前述と同様の警告を行うが、シフト量d
2が基準レベルδ2より大きい場合は、#105へ進ん
で前記被写体距離d1の値を内部メモリMに記憶する。
更に、#1o6ではカメラのレリーズスイッチSW2が
オンしているかどうかを判定し、オンしている場合には
内部メモリMの値に応じてレンズ駆動を開始する。
第6図は本発明の他の実施例を示すものであり、カメラ
の基線長方向と垂直な方向に1次元の位置検出器である
受光素子5.6を並置して前記受光素子1に対応する受
光素子を成しており、後述の投光素子から発せられた信
号光の被写体での反射像7は、受光素子5.6上にまた
がって結像しており、その結像の中心軸は受光素子5と
6の境介線に対しである一定の角度aを為している。
この場合には被写体距離d1を求めるのに演算回路8を
用い、この時の被写体が誤測距を招く測距対象であるか
否かの判別は演算回路9よりのシフト量d2を用いてい
る。
第7図は第6図実施例を具体化した場合の回路構成を示
したもので、基本的な制御は第3図、第4図を使って説
明したものと同じである。
1RED247より投射された信号光は被写体253で
反射され受光素子5.6上に結像される。受光素子5の
出力電流IAはOPアンプ200.抵抗201で構成さ
れる電流電圧変換回路で、出力電流IBはOPアンプ2
02.抵抗203で構成される電流電圧変換回路で、そ
れぞれ電圧出力に変換され、同様に受光素子6の出力電
流IAはOPアンプ204.抵抗205で構成される電
流電圧変換回路で、出力電流IBはOPアンプ206、
抵抗207で構成される電流電圧変換回路で、それぞれ
電圧出力に変換されろ、一方、OPアンプ208.キャ
パシタ209,211.抵抗210、.212−213
で構成される交流加算増幅回路によって受光素子5.6
の各出力電圧VAが加算され、OPアンプ214.キャ
パシタ215.217,255,220.抵抗216,
218.219,221,222で構成される交流加算
増幅回路によって受光素子5.6の各出力電圧VA、V
Bが加算され、opアンプ223゜キャパシタ224,
226.抵抗225,227.228で構成される交流
加算増幅回路によって受光素子5の出力電圧V^、VB
が加算されている。
ここでOPアンプ208,214の出力は、それぞれア
ナログスイッチ229,231を介してoPアンプ23
7.抵抗230,232.キャパシタ238で構成され
る積分回路への入力となり、前述したのと同様に1RE
Dの点滅に同期して5PLL、5PL2のタイミングで
二重積分が行われ、結果として(A I +A2) /
 (A 1 +A2+81 +82)の演算がなされる
ことになる。この値は被写体距離d1に相当する。一方
、OPアンプ214,223の出力は、それぞれアナロ
グスイッチ233,235を介して、opアンプ240
、抵抗234,236.キャパシタ241で構成される
積分回路の入力となり、1REDに同期してSPL”、
5PL2’のタイミング信号により二重積分が行われ、
(AI+81)/(AI+A2+81 +82)の演算
がなされる。これはシフト1id2に相当し、この場合
は誤測距を招く測距対象であるか否かの判別は受光素子
5と6へ結像している像の割合から検出している。
本実施例によれば、カメラの基線長方向と垂直な方向の
反射像の重心の変位を検出する様にしているため、誤測
距を招く測距対象であるか否かの判別、つまりは適正な
測距結果が得られたか否かの判別を行い、適正な測距結
果でない場合にはその警告を行うようにしているので、
撮影者にそのことが分かり、その結果誤測距情報に基づ
いた撮影がなされてしまうといった不都合がなくなる6
尚前記警告の他に、ある種の補正を加えて撮影に耐え得
る被写体距離情報として出力できる構成にも発展可能と
なる。
(発明と実施例の対応) 本実施例において、1RED79.247が本発明の投
光手段に、受光素子1又は5.6が受光手段に、演算回
路3又は8が情報算出手段に、演算回路4又は9が変位
量算出手段に、AFコントロールロジック81又は24
5内の第5図#102゜#103.#104の動作を行
う部分が判別手段に、LED83又は254が警告手段
に、AFコントロールロジック81又は245内の第5
図#105の動作を行う部分が被写体情報出力手段に、
それぞれ相当する。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、受光手段の基線
長方向と垂直方向の出力を得、該出力からこの時の被写
体が誤測距を招く測距対象であるか否かの判別を行い、
警告を行うようにしたから、適正な測距結果が得られな
いような場合にはその事を撮影者に知らせることができ
、ピントの合わない撮影を事前に防止させることが可能
となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図(
a)〜(e)は第1図の受光素子上に結像された各種コ
ントラストパターンを持つ反射像を示した図、第3図は
第1図の受光素子を用いて測距演算及びその制御を行う
ための構成例を示す回路図、第4図はそのタイミングチ
ャート、第5図は第1図の受光素子からの距離情報に基
づいてレンズ位置を制御する場合の動作を示したフロー
チャート、第6図は本発明の他の実施例を示すブロック
図、第7図はその具体的な構成を示す回路図である。 l・・・・・・受光素子、3,4・・・・・・演算回路
、5゜6・・・・・・受光素子、8.9・・・・・・演
算回路、52・・・・・・受光素子、79・・・・・・
1RED、 81・・・・・−AFコントロールロジッ
ク、82・・・・・・LED、245・・・・・・AF
コントロールロジック、247・・・・・・1RED、
254・・・・・・LED。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)縦横比が異なり、中心軸が基線長方向と平行、垂
    直いずれの方向とも異なる向きになるような形状の投光
    像を被写体へ向けて投射する投光手段と、前記被写体で
    の投光反射像の入射位置を2次元的に検出する受光手段
    と、該受光手段の基線長方向と平行方向の出力より被写
    体距離に対応する情報を算出する情報算出手段と、受光
    手段の基線長方向と垂直方向の出力より投光反射像の基
    線長方向と垂直方向の重心の変位量を算出する変位量算
    出手段と、該変位量算出手段の出力よりこの時の被写体
    が誤測距を招く測距対象であるか否かの判別を行う判別
    手段とを備えたカメラの測距装置。
  2. (2)判別手段によりこの時の被写体が誤測距を招く測
    距対象である事が判別された場合に、その警告を行う警
    告手段と、判別手段により誤測距を招く測距対象でない
    事が判別された場合に、情報算出手段よりの情報を被写
    体距離情報として出力する被写体距離情報出力手段とを
    備えた請求項1記載のカメラの測距装置。
JP3470889A 1989-02-14 1989-02-14 カメラの測距装置 Pending JPH02212808A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5337116A (en) * 1991-12-26 1994-08-09 Olympus Optical Co., Ltd. Light projection type measurement apparatus effectively utilizing a post of a one-chip microcomputer
US5361117A (en) * 1991-12-16 1994-11-01 Olympus Optical Co., Ltd. Distance-measuring device which detects which detects and corrects projection errors of distance-measuring light beams

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