JPH02202066A - 半導体圧力センサ - Google Patents

半導体圧力センサ

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JPH02202066A
JPH02202066A JP2169089A JP2169089A JPH02202066A JP H02202066 A JPH02202066 A JP H02202066A JP 2169089 A JP2169089 A JP 2169089A JP 2169089 A JP2169089 A JP 2169089A JP H02202066 A JPH02202066 A JP H02202066A
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JP
Japan
Prior art keywords
pressure sensor
gauge
island
islands
resistor
Prior art date
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Pending
Application number
JP2169089A
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English (en)
Inventor
Kiyoshi Ishibashi
清志 石橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH02202066A publication Critical patent/JPH02202066A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体圧力センサに関し、さらに詳しくは、
圧力を感知するゲージ抵抗の対を2組用いてブリッジ回
路が構成された圧力センサ部および前記圧力センサ部か
らの信号を増幅する増幅回路を半導体基板上に集積化し
てなる半導体圧力センサに関する。
[従来の技術] 第2図は、従来例のこの種の半導体圧力センサの圧力セ
ンサ部1゜の断面図であり、同図において、2はP形で
結晶面が(100)のシリコン単結晶の半導体基板、3
oは寄生トランジスタの発生を防止するためのフローテ
ィングコレクタとしてのN+形の埋め込み拡散層、5は
N−形のエピタキシャル成長層、12.13はP形の分
離拡散層、10oはこの分離拡散層12.13によって
分離形成された、例えば、1〜211II口の大きさの
N−形のアイランド、4oはこの矩形のアイランドlO
0の周辺部に拡散形成された4つのP形のゲージ抵抗(
図では2つのみが示されている)、11゜はアイランド
10.の電位をこの系の最高電位(−般には、電源電圧
VCc )に吊って、すなわち、各ゲージ抵抗4゜とア
イランド10oとの間に逆バイアス電圧を印加してゲー
ジ抵抗4゜を電気的に絶縁するためのA1配線引き出し
用のN十形の拡散層である。
この圧力センサ部1゜の周辺には、該圧力センサ部l。
からの信号を増幅する増幅回路などが、通常のバイポー
ラICの製造技術によって形成される。さらに、この半
導体圧力センサは、裏面側がエツチングによって薄肉化
されてダイヤフラムとなっており、ゲージ抵抗4゜の形
成面と反対側の面で受圧する裏面受圧形となっている。
このような半導体圧力センサでは、圧力に感応して抵抗
値変化を示す前記ゲージ抵抗4Illの対を2組用いて
ブリッジ回路(ホイートストンブリッジ)を構成してお
り、このブリッジ回路においては、ゲージ抵抗4゜の温
度変化が4つの各ゲージ抵抗4゜について全く同一であ
れば、原理的には、オフセット電圧の温度変化量、すな
わち、オフセットドリフトは零になる。
[発明が解決しようとする課題] ところが、第2図に示される従来例の半導体圧力センサ
においては、4つのゲージ抵抗4゜に対して、N″″形
のアイランド10゜が共通に1つだけであり、このアイ
ランド10.の電位を系の最高電位に吊るためのAl配
線引き出し用のN十形の拡散層11.も1つのゲージ抵
抗4゜の近傍に1つ形成されているだけであり、非対称
な構造となっている。したがって、ゲージ抵抗4゜とN
−形のアイランド10oとの間に逆バイアス電圧が印加
されたときに、4つのゲージ抵抗4゜の、いわゆる、空
乏層の延びが不均一となって、温度特性が、N1形の拡
散層の近傍のゲージ抵抗4゜と他のゲージ抵抗4゜とで
異なることになり、オフセットドリフトが大きくなると
いう難点がある。
本発明は、上述の点に鑑みて為されたものであって、圧
力センサ部および信号増幅回路を一体に集積化してなる
半導体圧力センサにおけるオフセットドリフトを低減す
ることを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明では、上述の目的を達成するために、圧力を感知
するゲージ抵抗の対を2組用いてブリッジ回路が構成さ
れた圧力センサ部および前記圧力センサ部からの信号を
増幅する増幅回路を半導体基板上に集積化してなる半導
体圧力センサにおいて、エピタキシャル層が形成された
前記半導体基板上に、分離拡散によって前記各ゲージ抵
抗に個別的に対応するアイランドがそれぞれ分離形成さ
れ、この各アイランドには、前記各ゲージ抵抗がそれぞ
れ形成されるととしに、各ゲージ抵抗との間で逆バイア
ス電圧を印加するための配線引き出し用の拡散層がそれ
ぞれ形成されている。
[作用] 上記構成によれば、アイランドは、各ゲージ抵抗に個別
的に対応するように分離形成されるとともに、各アイラ
ンドには、逆バイアスを印加するための配線引き出し用
の拡散層がそれぞれ形成されているので、ゲージ抵抗と
アイランドとの間に逆バイアス電圧が印加されたときの
各ゲージ抵抗の空乏層の延びが均一となってゲージ抵抗
の位置による温度特性の差異がなくなり、これによって
、オフセットドリフトが減少することになる。
[実施例コ 以下、図面によって本発明の実施例について、詳細に説
明する。
第1図は、本発明の一実施例の圧力センサ部1の断面図
であり、第2図の従来例に対応する部分には、同一の参
照符を付す。
この半導体圧力センサも、第2図の従来例と同様に、圧
力を感知するゲージ抵抗の対を2組用いてブリッジ回路
(ホイートストンブリッジ)が構成された圧力センサ部
1および前記圧力センサ部1からの信号を増幅する増幅
回路を半導体基板上に集積化して構成されている。
そして、この実施例では、オフセットドリフトを低減す
るために、圧力センサ部!を次のように構成している。
すなわち、比抵抗が数Ω〜数十ΩのP形で結晶面が(1
00)のシリコン単結晶の半導体基板2上に、寄生トラ
ンジスタの発生を防止するために、フローティングコレ
クタとしてのN十形の埋め込み拡散層3を形成する。こ
の埋め込み拡散層3は、後述のゲージ抵抗4が形成され
る領域に対応する領域に形成される。次に、比抵抗が数
ΩCIIIのN形のエピタキシャル層5が5〜15μm
の厚さで形成される。
続いて、分離拡散によって埋め込み拡散層3を取り囲む
ようにP形の分離拡散層6〜9を形成し、これによって
、各ゲージ抵抗4に個別的に対応するように、N−形の
アイランドIOを、例えば、200μ1口程度の大きさ
に分離形成する。
次に、ゲージ抵抗4に個別的に対応する4つのアイラン
ド10(図では2つのアイランドのみか示されている)
に、P形のボロンを拡散してゲージ抵抗4をそれぞれ形
成する。すなわち、従来では、各ゲージ抵抗4゜は、1
〜2a++a口の大きさの共通のN−形のアイランドt
O,に形成されたけれども、この実施例では、200μ
m口程度の大きさのN−形の個別のアイランド10にそ
れぞれ形成される。さらに、ゲージ抵抗4が形成された
各アイランドIOには、ゲージ抵抗4とアイランドlO
との間に逆バイアス電圧を印加してゲージ抵抗4を電気
的に絶縁するためのAt配線引き出し用のN+形の拡散
層11がそれぞれ形成される。
このように、各ゲージ抵抗4に個別的に対応するように
N−形のアイランド10を分離形成するとともに、この
各アイランドIOには、At配線引き出し用のN+形の
拡散層11がそれぞれ形成されており、従来例に比べて
対称性が高く、各ゲージ抵抗4と各アイランド10との
間に逆バイアス電圧が印加されたときの各ゲージ抵抗4
の空乏層の延びが均一なものとなり、ゲージ抵抗4の位
置による温度特性の差異がなくなり、これによって、オ
フセットドリフトが減少することになる。
さらに、この実施例では、フローティングコレクタとし
ての埋め込み拡散層3は、第2図の従来例に比べてその
面積を小さくしているので、従来例に比べて、エピタキ
シャル成長前の酸化膜除去工程などにおける、いわゆる
、スティン膜の発生が抑制されることになる。
なお、この実施例の圧力センサ部1の周辺には、該圧力
センサ部lからの信号を増幅する増幅回路などが、通常
のバイポーラtCの製造技術によって形成されている。
また、圧力センサ部1は、裏面側がエツチングによって
薄肉化されてダイヤフラムとされ、ゲージ抵抗4の形成
面と反対側の面で受圧するようになっている。
[発明の効果] 以上のように本発明によれば、ゲージ抵抗に個別的に対
応するようにアイランドを形成するとともに、各アイラ
ンドに、各ゲージ抵抗との間で逆バイアス電圧を印加す
るための配線引き出し用の拡散層を形成しているので、
従来例に比へて各ゲージ抵抗の温度特性が均一となり、
これによって、オフセットドリフトが低減されることに
なり、半導体圧力センサの零点補償を容易に行なうこと
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の圧力センサ部の断面図、第
2図は従来例の圧力センサ部の断面図である。 1、to・・・圧力センサ部、2・・・半導体基板、I
O+0.・・・アイランド、4,4o・・・ゲージ抵抗
、11゜1io・・・A1配線引き出し用拡散層。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)圧力を感知するゲージ抵抗の対を2組用いてブリ
    ッジ回路が構成された圧力センサ部および前記圧力セン
    サ部からの信号を増幅する増幅回路を半導体基板上に集
    積化してなる半導体圧力センサにおいて、 エピタキシャル層が形成された前記半導体基板上に、分
    離拡散によって前記各ゲージ抵抗に個別的に対応するア
    イランドがそれぞれ分離形成され、この各アイランドに
    は、前記各ゲージ抵抗がそれぞれ形成されるとともに、
    各ゲージ抵抗との間で逆バイアス電圧を印加するための
    配線引き出し用の拡散層がそれぞれ形成されてなる半導
    体圧力センサ。
JP2169089A 1989-01-31 1989-01-31 半導体圧力センサ Pending JPH02202066A (ja)

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5827949B2 (ja) * 1980-07-12 1983-06-13 寿雄 谷角 パチンコ玉自動販売機用玉通路構成
JPS59150480A (ja) * 1983-02-04 1984-08-28 Toshiba Corp 半導体圧力変換装置
JPS61185959A (ja) * 1985-02-13 1986-08-19 Pioneer Electronic Corp 半導体抵抗装置
JPS6398156A (ja) * 1986-10-15 1988-04-28 Fuji Electric Co Ltd 半導体圧力センサの製造方法

Patent Citations (4)

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