JPH02198365A - 光電圧センサ - Google Patents

光電圧センサ

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JPH02198365A
JPH02198365A JP1833789A JP1833789A JPH02198365A JP H02198365 A JPH02198365 A JP H02198365A JP 1833789 A JP1833789 A JP 1833789A JP 1833789 A JP1833789 A JP 1833789A JP H02198365 A JPH02198365 A JP H02198365A
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JP
Japan
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liquid crystal
voltage
optical
crystal element
light
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JP1833789A
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English (en)
Inventor
Eiji Shiramatsu
白松 栄二
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THREE TEC DEIBISU KK
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
THREE TEC DEIBISU KK
Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 r産業上の利用分野」 本発明は、印加電圧により液晶の光学的特性が変化する
ことを応用して、電圧印加の有無、電圧の変化などを検
知するための光電圧センサに関する。
r従来の技術J 一般に、光を応用して電圧を検知するとき、光電圧セン
サが用いられる。
かかる光電圧センサの一例として、偏光子と、ポッケル
ス効果を宥する電気光学素子と、174λ板と、検光子
とが光学的に結合されたものが公知であり、その光電圧
センサの電気光学素子に電圧が印加されるようになって
いる。
上記光電圧センサの場合、偏光子には発光素子(例えば
LED)を有する光送信機が、検光子には受光素子CP
IN−PD)を有する光受信機が、それぞれ光ファイバ
を介して接続され、かつ、光受信機には演算器が接続さ
れる。
光電圧センサの上記電気光学素子(ポッケルス効果素子
)は、主として、Bi+ 2si02o (BSO)、
B112GeOpo (BGO)、LiNbO3、Li
Ta0zなどの結晶が用いられる。
さらに、低分子液晶(特にTN型液晶)を用いて電界強
度を測定し、電圧を評価するようにした電界−電圧セン
サが、#開閉58−96258号公報、特開昭59−9
4073号公報などに開示されている。
その他、低分子液晶を用いて課電状態を表示する課電表
示器もみられ、これは、空間電極と大地との浮遊容量に
より分圧を行ない、液晶の駆動電圧以上になるよう、液
晶素子の両極端子に電圧を誘起して液晶を駆動させ、課
電表示するようにしている。
「発明が解決しようとする課題j 上述した先行技術のうち、ポッケルス効果のある電気光
学素子を用いる光電圧センサは、その電気光学素子の主
体である結晶の加工精度に依存して、動作特性が定まる
したがって、電気光学素子の製造に際し、結晶軸に対す
る切出面の角度を高精度に選定するとか、切出面を高精
度に研磨するといった加工難度が要求されるとともに、
有機系の透明接着剤を介して上記結晶を他の光学部品と
接続した際、その接着剤の光学的特性の経時的劣化によ
り、センサ全体の特性が低下してしまう。
しかも、このような光電圧センサの感度調整では、光の
透過距離を変えることになるが、かかる調整にてセンサ
の高感度を得ようとするとき、光の透過損失により受光
強度が低下する。
その他、電圧センサの電気光学素子(結晶)が電気光学
定数の比較的大きいLiNbO3、L 1Tao3から
なるときは、これら結晶における複屈折特性の温度依存
性が大きく、その屈折率の温度変化を補償するために、
光電圧センサの構成が複雑化し、さらに、高電圧を加え
ることから、超高圧に対する技術的配慮も要求される。
上述した先行技術のうち、低分子液晶を用いる電界−電
圧センサの場合は、その液晶材料の流動性が大きいこと
、酸化劣化、熱劣化を受けやすいことが問題である上、
電界、電圧を加えて光透過レベルを検知するためには、
最適かつ−様な厚さを有していること、最適な電極間隔
を保持していることが必要であるので、精密なガラスセ
ルが要求される。
それ以外にも、光の濃淡の検出のために、偏光板が必要
であるので、電界−電圧検出素子、表示素子の構造とし
ては、複雑で高価なものになる。
本発明はこのような課題に鑑み、構成が簡潔で低電圧に
おいても安定して動作する光電圧センサを安価に提供し
ようとするものである。
1課題を解決するための手段」 本発明は所期の目的を達成するため、電圧および/また
は電界に対応して光の透過率および/または反射率が変
化する液晶素子と、その液晶素子に光を入射するための
光入射系と、その液晶素子からの光強度を検出するため
の受光検出系とを備えた光電圧センサにおいて、当該液
晶素子が、マイクロカプセル化された液晶物質の分散し
た面状液晶体と、該面状液晶体を挟む透明電極とで構成
されていることを特徴とする。
「作用」 本発明に係る光電圧センサの場合、その液晶素子におけ
るマイクロカプセル小滴中の液晶分子がマイクロカプセ
ル材料の壁面に沿い、単一軸方向に並んでいるが、各小
滴の軸は無秩序に配向しているので、当該液晶素子に入
射した光は、これらの小滴により散乱される。
その結果、液晶素子の面状液晶体は不透明になり、乳白
色にみえる。
ただし、これにゲストとなる染料を含有させた場合は、
面状液晶体は灰色または黒色にみえる。
このようにしてパネル化された液晶素子は、これに電界
、電圧を印加すると、液晶分子がパネル面に配向し、光
が透過して透明にみえる。
したがって、本発明に係る光電圧センサにおいて、その
液晶素子には、従来例のごとき、低分子液晶を用いた表
示素子にみちれる偏光板が不要である。
しかも1本発明に係る光電圧センサの場合、液晶素子の
液晶に流動性がなく硬いので、その液晶素子のスペーサ
としても、たとえば、ガラスピーズのごとき簡単なもの
でよくなり、従来の低分子液晶を用いた素子のように、
精密なガラスセルにて封止する必要もない。
その他1本発明に係る光電圧センサにおいて。
液晶素子が、たとえば、ポリエステル(PET)フィル
ムからなる透明体に透明電極が設けられたものであると
き、その液晶素子には、曲げなどの変形が可能な柔軟性
が得られ、切断、開孔、シールなどが容易に行なえる。
ゆえに、本発明に係る光電圧センサの場合、構造が簡単
で安価な当該液晶素子に依存して、低電圧でも安定して
動作するようになる。
r実 施 例J 本発明に係る光電圧センサの実施例につき、図面を参照
して説明する。
第1図において、液晶素子11は、面状液晶体12と、
透明体14に張り付けられた透明電極13とを備えてお
り、透明電極13には、電源15が接続されている。
本発明において、マイクロカプセル化される液晶物質は
、ネマティック相を有する液晶物質、あるいは、スメク
ティック相を有する液晶物質である。
マイクロカプセル化後の液晶の小滴は、たとえlf、直
径約2〜25鉢層φである。
マイクロカプセル化後の液晶の小滴は、これら小滴の粒
間が1〜10g麿程度となるように、たとえば、ポリビ
ニールアルコールエポキシ(以下PVAと略す)等から
なるポリマー中に分散されて厚さ10〜50JLm程度
の面状液晶体12となる。
かかる面状液晶体12が、透明電極13を張り合わせた
PETフィルム、ガラスなどの透明体14に挟まれ、こ
れらと一体化されて液晶素子11となる。
透明電極13については、PETなどの透明フィルム(
透明体14)にインジュウムをドープした酸化スズ(I
TO)を蒸着または焼き付けたもの、あるいは、ガラス
基板に同様のITO等を蒸着または焼き付けたものが用
いられる。
上述した液晶素子11は、USP372G823.44
35047.455G2139,4579423.45
91233,4598445.4805284 。
411108811などの米国特許明細書のほか、臀0
85104262、特開昭58−501831号公報、
特開昭82−48789号公報などに開示されており、
マイクロカプセル用の材料も、これらの公知文献に開示
されている。
第1図において、光導波路1B、17としては、代表的
な光ファイバが採用される。
一方の先導波路1Bには、その一端にロッドレンズかか
らなるコリメータ18が接続され、その他端にLII、
LEDなどの発光素子20が接続される。
発光素子20は、光送信Ja22に備えられている。
他方の光導波路17にも、その一端にロッドレンズから
なるコリメータ18がta続され、その他端にPIN−
FDなどの受光素子21が接続される。
受光素子21は、光受信a23に備えられている。
第1図において、液晶素子1!は、ケース24の中央に
支持され、そのケース24の両側には、互いに光軸を一
致させた状態にて、コリメータ18.13が支持されて
いる。
この場合、光導波路1B、コリメータ18、発光素子2
0を含む光送信機22などが、液晶素子11に光を入射
するための光入射系を構成しており、光導波路17.コ
リメータ19.受光素子21を含む光受信機23などが
、液晶素子11からの光の強度を検出するための受光検
出系を構成している。
第1図の実施例において、光送信a22の発光素子20
から出射された光信号は、先導波路!6、コリメータ1
8を通って液晶素子11に入射され、当該液晶素子11
を透過した光信号がコリメータ13、光導波路17を通
って光受信機23の受光素子21に入射される。
このとき、電源15.透明電極13による電圧印加(電
界印加)の有無ないし変化により、液晶素子11の光透
過量が変化するので、受光素子21による受光レベル(
光パワー)が変化する。
したがって、光受信機23側において、受光素子21の
受光レベルを検出することにより、電圧印加(電界印加
)の有無ないし変化を知ることができる。
第1図の変形例として、第2図(A)(B)(C)のご
とく、プリズム25.26.27を介して液晶素子11
、光導波路16.17を光学的に接続することができる
これら第2図(A) (B) (C)の実施例でも、上
記とほぼ同様にして、電圧印加(電界印加)の有無ない
し変化を検出することができる。
なお、第2図(A) (B) (C)におけるプリズム
25.28、27は、光入射系、受光検出系の一部を構
成する光学部品である。
第3図は、ピックアッププルーブ型を構成した場合の実
施例である。
この場合、液晶素子11の片面に1反射膜28が張り付
けられている。
光導波路29は、一端側が入射端部29a、出射端52
9bのごとく分岐され、その分岐点にビームスプリッタ
30が備えられ、他端側にコリメータ31を宥している
コリメータ31は、液晶素子11の入射面側と対向して
いる。
第3図の実施例では、発光素子20からの光信号が、入
射端部29a→ビームスプリツタ30→光導波路29→
コリメータ31→液晶素子11のごとく伝送され、液晶
素子11の反射膜28により反射された光信号が、液晶
素子11→コリメ一タ31→光導波路29→ビームスプ
リツタ30→出射端部29b→受光素子21のごとく入
射される。
第3図の実施例でも、液晶素子11への電圧印加(電界
印加)の有無、変化に基づく受光素子21の受光レベル
変化により、これら電圧印加(電界印加)の有無、変化
を検出することができる。
なお、第3図の実施例では、反射M28.コリメータ3
1のほか、入射端部29a、出射端部29b。
ビームスプリッタ30を有する光導波路29が、光入射
系、受光検出系を構成している。
つぎに1本発明に係る光電圧センサのより具体的な実施
例を、その特性評価とともに説明する。
[実施例1] マイクロカプセル化したネマティック液晶がPVA中に
分散された厚さ20ル鳳の面状液晶体12を、PETフ
ィルム製透明体14に張り付けられたITO透明電極1
3間に挟んで、液晶素子11を構成した。
かかる液晶素子11につき、第4図に示す測定手段を介
して、電圧:光パワーならびに周波数の依存性をそれぞ
れ評価するとき、各部をつざのようにセットした。
第4図において、液晶素子11は、これを光軸合わせ用
ケース(箱形)24の中央に配置して支持した。
先導波路18.17としては、コア/クラッドの外径比
が100/140(gmφ)の多成分ガラス系からなる
長さ2mのものを用い、これらの一端にはロッドレンズ
からなるコリメータta、 19を接続し、これらの他
端にはFCコネクタを備えた。
ロッドレンズ、 FCコネクタ付の上記光ファイバは、
日本板ガ5スf11J(1)製品(oPCL−1oH−
1oO/FC) テある。
第4図において、光導波路16.17の一端にあるコリ
メータ18.19は、これらの光軸を一致させた状態で
上記ケース24の両側に互いに対向させて取りつけ、先
導波路18.17の他端は、FCコネクタを介して光パ
ワーテスタ41に接続した。
光パワーテスタ41としては、発光素子(LED) 。
受光素子(PIN−PD)を内蔵したセイコー電子■の
製品(SX−101)を用いた。
第4図において、液晶素子11の透明電極13には、パ
ワーアンプ43を備えた周波数発振機42を接続し、そ
の配線系に電圧計44を備えた。
周波数発振機42としては、NF CIRCUI↑DE
SIGNBLOCK GO,LTDの製品(E−120
50SILLATOR)を用い、パワーアンプ43とし
ては、同社の製品(4005HIG)I 5PEED)
を用いた。
第4図において、液晶素子11の電圧:光パワーならび
に周波数の依存性を評価するとき、液晶素子11への印
加電圧は、それぞれ0〜30Vの交流電圧および直流電
圧とし、液晶素子11の周波数依存性は1周波数50H
z〜900Hzの範囲で評価した。
この際、周波数発振a42にて規定周波数を発振し、こ
れをパワーアンプ43にて増幅することにより規定電圧
とした後、その電圧を電圧計44によりチエツクしつつ
透明電極13に印加した。
第5図は、液晶素子11に直流電圧θ〜30Vを印加し
た場合の光パワー(dB層)の変化を示し、第6図は、
液晶素子11に交流電圧0〜30Vを印加した場合の光
パワー(dB厘)の変化を示している。
つぎに、マイクロカプセル化したスメクティック液晶が
PVA中に分散された厚さ20ル諺の面状液晶体12を
、PETフィルム製透明体14に張り付けられたITO
透明電極13間に挟んで、液晶素子11を構成した。
かかる液晶素子11の特性についても、上記と同様に測
定し、その結果を第7図に示した。
第8図は、既述の測定において、液晶素子11への電圧
上昇〜電圧降下を4サイクルで繰り返した際の縁り返し
特性のデータを示している。
さらに、第9図は、既述の測定において、液晶素子11
の周波数依存性に関するデータを示している。
これらの結果は、第1図〜第3図の液晶素子11が、光
電圧センサとして電圧測定できることを実証している。
〔実施例2〕 ゲストホスト染料を添加した液晶をマイクロカプセル化
し、以下は実施例1と同様にして液晶素子11を構成し
た。
かかる液晶素子11についても、実施例1と同様の測定
を行ない、その結果を第10図、第11図に示した。
第10図、第11図から明らかなように、実施例2の場
合は、電圧に対する光パワーの変化が実施例1の場合よ
りも大きく、シたがって、実施例2の場合は、電圧変化
による光信号の変化が大きくとれる。
r発明の効果」 以上説明した通り、本発明に係る光電圧センサの場合、
電圧および/または電界に対応して、光の透過率および
/または反射率が変化する液晶素子が、マイクロカプセ
ル化された液晶物質が分散している面状液晶体と、その
面状液晶体を挟む透明電極とで構成されているから、つ
ぎのような効果が得られる。
■ 従来のボケッルス効果を有する電気光学材料液晶素
子を用いたものと比べて製造が容易であり、かつ、低電
圧で応答する光電圧センサを安価に製作することができ
る。
■ 化学プラントのごとき防爆対策が要求される分野に
適しているほか、高電圧回路の電圧を高絶縁、高インピ
ーダンスにおいて安全に測定することができる。
■ t8i誘導ノイズの影響を受けないので、既製の光
電圧センサと同様、安定して使用することができる。
■ 光電圧センサが高感度であるので、これを数kV以
下の配電線に適用した場合でも、活線、非活線の状態を
容易に測定することができる。
■ 液晶素子の構成に嵩張りがなく、光電圧センサを小
型化することができるので、狭いスペースでも所要の測
定を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は本発明に係る光電圧センサの各種実施
例を略示した説明図、第4図は本発明に係る光電圧セン
サの特性を測定する手段を示した説明図、第5図〜第1
1図は本発明に係る各種光電圧センサの特性を示した説
明図である。 11・・・・・・液晶素子 12・・・・・・面状液晶体 13・・・・・・透明電極 14・・・・・・透明体 15・・・・・・電源 1B・・・・・・光導波路 17・・・・・・光導波路 18・・・・・・コリメータ 19・・・・・・コリメータ 20・・・・・・発光素子 21・・・・・・受光素子 22・・・・・・光送信機 23・・・・・・光受信機 24・・・・・・ケース 25・・・・・・プリズム 26・・・・・・プリズム 27・・・・・・プリズム 28・・・・・・反射膜 29・・・・・・光導波路 30・・・・・・ビームスプリッタ 31・・・φ・・コリメータ 代理人 弁理士 斎 藤 義 雄 第 関 第 悶 第 図 DC宅灰 (V) 第 図 第 図 O aCt圧〔7〕 d 60 HX 第 図 AC電圧 (V) 160Hz 第 図 ACt灰【7〕 d !;D Hz

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 電圧および/または電界に対応して光の透過率および/
    または反射率が変化する液晶素子と、その液晶素子に光
    を入射するための光入射系と、その液晶素子からの光強
    度を検出するための受光検出系とを備えた光電圧センサ
    において、当該液晶素子が、マイクロカプセル化された
    液晶物質の分散した面状液晶体と、該面状液晶体を挟む
    透明電極とで構成されていることを特徴とする光電圧セ
    ンサ。
JP1833789A 1989-01-27 1989-01-27 光電圧センサ Pending JPH02198365A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04198763A (ja) * 1990-11-28 1992-07-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 絶縁形電圧検出器
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