JPH02184776A - 模擬送電線試験装置 - Google Patents
模擬送電線試験装置Info
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- JPH02184776A JPH02184776A JP1002726A JP272689A JPH02184776A JP H02184776 A JPH02184776 A JP H02184776A JP 1002726 A JP1002726 A JP 1002726A JP 272689 A JP272689 A JP 272689A JP H02184776 A JPH02184776 A JP H02184776A
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- switching
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims abstract description 16
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 3
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- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
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- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は系統保護継電装置の試験装置に係り、特に被保
護系統内のPCTの二次回路から浸入する遮断器の開閉
サージを擬似的に発生させて被試験品のサージ耐量を確
認する試験装置に関する。
護系統内のPCTの二次回路から浸入する遮断器の開閉
サージを擬似的に発生させて被試験品のサージ耐量を確
認する試験装置に関する。
従来の装置は、昭63.電気学会全国大会「電力システ
ム シミュレータの開発」に記載のように、被保護系統
(77KV 〜550KV)を、20Vの主回路に置き
換えて模擬の発電機、送電線等を接続した電力システム
シミュレータの出力を被試験盤(系統保護継電装置)に
加える試験法としていた。
ム シミュレータの開発」に記載のように、被保護系統
(77KV 〜550KV)を、20Vの主回路に置き
換えて模擬の発電機、送電線等を接続した電力システム
シミュレータの出力を被試験盤(系統保護継電装置)に
加える試験法としていた。
上記従来技術は系統の遮断器をモデル化して、遮断器の
種別による開閉時間遅れのほか、投入位相の設定機能を
持たせているが、開閉サージの発生模擬は不可能であっ
た。その結果、開閉サージが変流器、あるいは、電圧変
成器の一次/二次コイルを通して被試験盤に浸入した時
、被試験盤が誤動作、あるいは、誤不動作することなく
正常に動作出来るか否かのサージ影響確認試験が工場で
出来ず、現地で実機で確認せざるを得ないという問題が
あった。
種別による開閉時間遅れのほか、投入位相の設定機能を
持たせているが、開閉サージの発生模擬は不可能であっ
た。その結果、開閉サージが変流器、あるいは、電圧変
成器の一次/二次コイルを通して被試験盤に浸入した時
、被試験盤が誤動作、あるいは、誤不動作することなく
正常に動作出来るか否かのサージ影響確認試験が工場で
出来ず、現地で実機で確認せざるを得ないという問題が
あった。
本発明は遮断器の開閉に応じて変流器あるいは電圧変成
器の二次回路に、あらかじめEMTPで算出した波形、
あるいは、実測波形に従って自動的に開閉サージを注入
させ被試験盤のサージ耐量を検証することにある。
器の二次回路に、あらかじめEMTPで算出した波形、
あるいは、実測波形に従って自動的に開閉サージを注入
させ被試験盤のサージ耐量を検証することにある。
上記目的は系統模擬送電線装置に系統の回路定数、回路
電圧、遮断電流、遮断器の開閉位相、遮断器の種別等に
より異なる開閉サージのEMTPにより算出した波形、
あるいは、実測波形を記憶する回路を設け、記憶された
波形を遮断器の開閉に同期させて被試験盤に印加させる
ことにより達成される。
電圧、遮断電流、遮断器の開閉位相、遮断器の種別等に
より異なる開閉サージのEMTPにより算出した波形、
あるいは、実測波形を記憶する回路を設け、記憶された
波形を遮断器の開閉に同期させて被試験盤に印加させる
ことにより達成される。
系統模擬送電線装置は被試験盤が実使用される系統構成
、インピーダンスマツプ等を、より近似させて模擬した
上で、保護区間内部、あるいは、外部で、地絡、あるい
は、短絡事故を実際に発生させて、模擬送電線回路に地
絡、あるいは、短絡電流を流しているが、その時の電圧
、電流を変流器、あるいは、電圧変成器を通して被試験
盤に入力した時、被試験盤が故障種別、故障発生地点、
故障の大きさ等を短時間に所定の判定基準に従い動作し
たか否かを検証する設備として使用されている。模擬送
電線装置では模擬遮断器を使用しているが、模擬遮断器
が開閉したのに同期させて、あらかじめ記憶回路に記憶
させておいた模似開閉サージを、変流器、ならびに、電
圧変成器二次回路に重畳させて被試験盤に加えて、その
サージ耐量を検証する方式を採用しているため、現有の
模擬送電線装置が誤動作するようなことはない。
、インピーダンスマツプ等を、より近似させて模擬した
上で、保護区間内部、あるいは、外部で、地絡、あるい
は、短絡事故を実際に発生させて、模擬送電線回路に地
絡、あるいは、短絡電流を流しているが、その時の電圧
、電流を変流器、あるいは、電圧変成器を通して被試験
盤に入力した時、被試験盤が故障種別、故障発生地点、
故障の大きさ等を短時間に所定の判定基準に従い動作し
たか否かを検証する設備として使用されている。模擬送
電線装置では模擬遮断器を使用しているが、模擬遮断器
が開閉したのに同期させて、あらかじめ記憶回路に記憶
させておいた模似開閉サージを、変流器、ならびに、電
圧変成器二次回路に重畳させて被試験盤に加えて、その
サージ耐量を検証する方式を採用しているため、現有の
模擬送電線装置が誤動作するようなことはない。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図は模擬送電線装置を被試験盤を示す。
図は模擬送電線装置を被試験盤を示す。
発電所、あるいは、変電所を想定した電源1と1′間と
を、遮断器2ならびに2′と、送電m3とを介して連結
させ、電源1と1′間との電力流通を行う送電線系統に
おいて、遮断器2と2′間で送電線が地絡、あるいは、
短絡したのを保護区間内故障として遮断器2と2′とを
開放して系統から切離したり、外地点での故障は保護区
間外故障として隣接する他の保護継電システムによる検
知に委ねるが、所定時間経過しても未処置の場合には、
バックアップ的に遮断器2、ならびに、2′を開放させ
るという動心機能をもっている。
を、遮断器2ならびに2′と、送電m3とを介して連結
させ、電源1と1′間との電力流通を行う送電線系統に
おいて、遮断器2と2′間で送電線が地絡、あるいは、
短絡したのを保護区間内故障として遮断器2と2′とを
開放して系統から切離したり、外地点での故障は保護区
間外故障として隣接する他の保護継電システムによる検
知に委ねるが、所定時間経過しても未処置の場合には、
バックアップ的に遮断器2、ならびに、2′を開放させ
るという動心機能をもっている。
送電線3の地絡、短絡故障等は、変流器4と電圧変成器
5とで電圧電流を検出し、各々、被試験盤の入力部6に
与えている。入力部6に入力された電圧、電流は補助変
成器11.フィルタ12を通してサンプルホールド13
で一時記憶される。サンプルホールド13は複数個(三
相分)あるので、マルチプレクサ14で、順次、選択し
、次にAD変換器15とインタフェイス16を経由して
RAM19に取込まれる。主処理ユニット18は。
5とで電圧電流を検出し、各々、被試験盤の入力部6に
与えている。入力部6に入力された電圧、電流は補助変
成器11.フィルタ12を通してサンプルホールド13
で一時記憶される。サンプルホールド13は複数個(三
相分)あるので、マルチプレクサ14で、順次、選択し
、次にAD変換器15とインタフェイス16を経由して
RAM19に取込まれる。主処理ユニット18は。
あらかじめROM20に記憶している判定基準に基づい
てRAM19に取込まれたデータを評価し、必要に応じ
て出力インタフェース21、遮断器引外し回路22、そ
して、遮断器引外し信号ケーブル23を経由して、遮断
器2を開放させる。この時、遮断器2の開閉信号を開閉
サージ擬似発生制御部28に取込み、あら、かじめEM
TPにより算出していた開閉゛サージ、あるいは、過去
に実系統で実測していたサージ波形データ29をサージ
発生部27に記憶させたものを、増巾器26で電力増巾
させた後、補助変流器24.補助電圧変成器25で変流
器4と、電圧変成器5の二次回路に注入してやるが、被
試験盤のサージ耐量が少くないと遮断器2に誤った開閉
信号を送出したり、主処理ユニット19が暴走したりす
ることがある。注入するサージ波形を種々、変化させる
ことによりサージ耐量不足点のローカライズも容易にや
れる。
てRAM19に取込まれたデータを評価し、必要に応じ
て出力インタフェース21、遮断器引外し回路22、そ
して、遮断器引外し信号ケーブル23を経由して、遮断
器2を開放させる。この時、遮断器2の開閉信号を開閉
サージ擬似発生制御部28に取込み、あら、かじめEM
TPにより算出していた開閉゛サージ、あるいは、過去
に実系統で実測していたサージ波形データ29をサージ
発生部27に記憶させたものを、増巾器26で電力増巾
させた後、補助変流器24.補助電圧変成器25で変流
器4と、電圧変成器5の二次回路に注入してやるが、被
試験盤のサージ耐量が少くないと遮断器2に誤った開閉
信号を送出したり、主処理ユニット19が暴走したりす
ることがある。注入するサージ波形を種々、変化させる
ことによりサージ耐量不足点のローカライズも容易にや
れる。
本実施例によれば、遮断器の開閉サージにより被試験盤
が誤動作、あるいは、誤不動作することがないか否か、
現地で顧客管理の実系統を実験台にすることなく工場内
試験で、系統の規模、構成に関係なく確実に検証出来る
。
が誤動作、あるいは、誤不動作することがないか否か、
現地で顧客管理の実系統を実験台にすることなく工場内
試験で、系統の規模、構成に関係なく確実に検証出来る
。
また、遮断器の開閉サージのみならず雷雲電圧電流の模
擬、アレスタの動作模擬等についても容易に波形注入が
可能となり、被試験器の評価が非常に容易になる。
擬、アレスタの動作模擬等についても容易に波形注入が
可能となり、被試験器の評価が非常に容易になる。
さらに自回線の送電線だけでなく、他回線への影響につ
いての検証に関して使用することにより、その利用範囲
は拡がる。
いての検証に関して使用することにより、その利用範囲
は拡がる。
本発明によれば、系統模擬送電線試験装置に遮断器の開
閉サージを擬似的に発生させる部位のみを追加するだけ
で、被試験盤の開閉サージ耐量が確実に評価出来るため
、高価な実系統模擬なしでも実系統と同一レベル以上の
極めて安価な信頼度の高い試験装置が得られる。
閉サージを擬似的に発生させる部位のみを追加するだけ
で、被試験盤の開閉サージ耐量が確実に評価出来るため
、高価な実系統模擬なしでも実系統と同一レベル以上の
極めて安価な信頼度の高い試験装置が得られる。
第1図は、本発明の一実施例の模擬送電線装置のブロッ
ク図を示す。 24・・・補助変流器、25・・・補助電圧変成器、2
7・・・サージ発生部、28・・・開閉サージ擬似発生
制御部、29・・・サージデータ、30・・・模擬送電
線装置、第 1
ク図を示す。 24・・・補助変流器、25・・・補助電圧変成器、2
7・・・サージ発生部、28・・・開閉サージ擬似発生
制御部、29・・・サージデータ、30・・・模擬送電
線装置、第 1
Claims (1)
- 1、電気系統ならびに各部のインピーダンス値を擬似的
に模擬した模擬送電線試験装置において、あらかじめ設
定した実遮断器の開閉サージを、模擬遮断器の開閉に同
期させて被試験盤に印加したことを特徴とする模擬送電
線試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1002726A JP2892667B2 (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 模擬送電線試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1002726A JP2892667B2 (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 模擬送電線試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02184776A true JPH02184776A (ja) | 1990-07-19 |
JP2892667B2 JP2892667B2 (ja) | 1999-05-17 |
Family
ID=11537317
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1002726A Expired - Lifetime JP2892667B2 (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 模擬送電線試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2892667B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014206523A (ja) * | 2013-04-15 | 2014-10-30 | 韓国産業銀行The Korea Development Bank | サージ保護装置のマルチモードtov試験システム |
CN109283424A (zh) * | 2018-11-16 | 2019-01-29 | 上海工程技术大学 | 一种带led的四端口传感器信号分线器的测试装置及方法 |
KR20210005089A (ko) * | 2018-05-30 | 2021-01-13 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템 |
CN114720748A (zh) * | 2022-04-12 | 2022-07-08 | 上海晶岳电子有限公司 | 一种浪涌电流防护测试方法、电子设备、存储介质和*** |
-
1989
- 1989-01-11 JP JP1002726A patent/JP2892667B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014206523A (ja) * | 2013-04-15 | 2014-10-30 | 韓国産業銀行The Korea Development Bank | サージ保護装置のマルチモードtov試験システム |
KR20210005089A (ko) * | 2018-05-30 | 2021-01-13 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템 |
CN109283424A (zh) * | 2018-11-16 | 2019-01-29 | 上海工程技术大学 | 一种带led的四端口传感器信号分线器的测试装置及方法 |
CN109283424B (zh) * | 2018-11-16 | 2023-11-24 | 上海工程技术大学 | 一种带led的四端口传感器信号分线器的测试装置及方法 |
CN114720748A (zh) * | 2022-04-12 | 2022-07-08 | 上海晶岳电子有限公司 | 一种浪涌电流防护测试方法、电子设备、存储介质和*** |
CN114720748B (zh) * | 2022-04-12 | 2023-08-22 | 上海晶岳电子有限公司 | 一种浪涌电流防护测试方法、电子设备、存储介质和*** |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2892667B2 (ja) | 1999-05-17 |
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