JPH02181124A - 光ビームスキャン装置 - Google Patents

光ビームスキャン装置

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Publication number
JPH02181124A
JPH02181124A JP15689A JP15689A JPH02181124A JP H02181124 A JPH02181124 A JP H02181124A JP 15689 A JP15689 A JP 15689A JP 15689 A JP15689 A JP 15689A JP H02181124 A JPH02181124 A JP H02181124A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light beam
scanning device
diffraction grating
grooves
beam scanning
Prior art date
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Pending
Application number
JP15689A
Other languages
English (en)
Inventor
Takaya Watanabe
隆彌 渡邊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH02181124A publication Critical patent/JPH02181124A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は光ビームを目的物の表面上を所定方向にスキャ
ンさせる光ビームスキャン装置に関する。
[従来の技術] この種の光ビームスキャン装置は、例えば、レザプリン
タに用いられる。レーザプリンタは、半導体レーザを使
用して文字、図形等を高速で紙面に記録する情報記録装
置である。
近年、ファックス、コピー機などの高速情報記録装置と
してのレーザ・プリンタか実用化され、OA機器として
広く使用されるようになってきている。
[発明が解決しようとする課題] このようなレーザ・プリンタにおける従来の光ビームス
キャン装置では、半導体レーザやHeNeレーザなどの
光ビームをポリゴンミラーなどを用いて水平走査すると
ともに、記録紙の駆動による垂直走査による文字、図形
等を印字記録している。
しかしながら、このような光ビームスキャン装置におい
ては、光偏向用の光学系として、ポリコン・ミラーを機
械的に高速回転させ使用している為、高価でかつ空間的
占有面積か大きくなる。
本発明の課題は、」二連の欠点を除去し、安価でコンパ
クトな光ビームスキャン装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明によれば、光ビームを目的物の表面上を所定方向
にスキャンさせる装置において、主表面に互いに平行な
多数の溝を有し、該多数の溝間のピッチが、該多数の溝
のうちの最も外側に位置する二つの最外側溝に一方から
他方に向かうにつれ、広くなっている回折格子を備え、
前記光ビームを前記回折格子の前記最外側溝の前記一方
から前記他方にスキャンさせ、その結果得られる反射ビ
ムを前記目的物の前記表面上を前記所定方向にスキャン
させることを特徴とする光ビームスキャン装置が得られ
る。
[実施例] 次に、本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
第1図を参照すると、本発明の一実施例による光ビーム
スキャン装置は、光ビーム12を目的物24に表面上を
所定方向DIにスキャンさせる装置である。前記光ビー
ムスキャン装置は、主表向に互いに平行な多数の溝14
を有し、多数の溝14間のピッチが、多数の溝14のう
ちの最も外側に位置する二つの最外側溝の一方141か
ら他方]42に向かうにつれ、広くなっている回折格子
]1を備えている。前記光ビームスキャン装置は、前記
光ビーム12を回折格子1]の前記最外側溝の前記一方
141から前記他方142にスキャンさせ、その結果得
られる反射ビーム]3を目的物24の前記表面上を前記
所定方向にスキャンさせるものである。
次に第2図を参照して、回折格子]]の作用を説明する
入射光12と回折光]3とのなす角θは回折格子のピッ
チをdとすると 可視光半導体レーザを光源として使い、光分散特性を有
する回折格子の溝ピッチをm=1で形成した時、d =
 0.67μmで偏向角θは90°となり、また、d=
[i、7μmのとき、θ−5.7°となり、約84°の
光偏向角が得られる。この回折格子の作り方は、ホトリ
ソグラフィ技術、またはプラスチック金型成形で量産化
可能である。
再び、第1図を参照して、この光ビームスキャン装置は
、レーザプリンタ用のものである。このため、可視光子
導体レーザ21と、超音波光変調器22とを、さらに、
有している。可視光半導体レーザ21からのレーザ光2
5か超音波光変調器22に入射すると、超音波光変調器
22の結晶内に超音波により形成される位相格子により
、約数度の光偏向を発生ずる。このビーム角を上に述べ
た回折格子23で偏向拡大することにより感光ドラム上
に光ビームを形成できる。
なお、第1図において、D2は感光ドラム24を移動さ
せる副走査方向を示している。
以」二のように、本実施例によれば、偏向ビームを制御
する系として、超音波光変調器22と、光分散特性を何
する回折格子1]を有し、かつ回折格子]1をプラステ
ィク金型成形等で量産化できるため、非常に安価で、コ
ンパクトなレーザ・プリンタを提供できる効果がある。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、多数の溝間ピッ
チが最外側溝の一方から他方に向かうにつれ、広くなっ
ている回折格子を用いることによって、光ビームを小さ
い角度たけふらせることによって大きなスキャン角度を
得ることができ、安価でコンパクトな光ビームスキャン
装置か得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による光ビームスキャン装置
の構成図、第2図は第1図の回折格子の作用を説明する
ための図である。 ]]・・・回折格子、]2・・・入射光(光ビーム)、
]3・・回折光(反射ビーム)、]4・・・溝、21・
・・半導体レーザ、 2・・・超音波光変調器、 24 ・ 感 光ドラム (目的物) ・・レ サ光。 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.光ビームを目的物の表面上を所定方向にスキャンさ
    せる装置において、主表面に互いに平行な多数の溝を有
    し、該多数の溝間のピッチが、該多数の溝のうちの最も
    外側に位置する二つの最外側溝の一方から他方に向かう
    につれ、広くなっている回折格子を備え、前記光ビーム
    を前記回折格子の前記最外側溝の前記一方から前記他方
    にスキャンさせ、その結果得られる反射ビームを前記目
    的物の前記表面上を前記所定方向にスキャンさせること
    を特徴とする光ビームスキャン装置。
JP15689A 1989-01-05 1989-01-05 光ビームスキャン装置 Pending JPH02181124A (ja)

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