JPH02157641A - 光記録媒体の反射率測定方法 - Google Patents
光記録媒体の反射率測定方法Info
- Publication number
- JPH02157641A JPH02157641A JP63311241A JP31124188A JPH02157641A JP H02157641 A JPH02157641 A JP H02157641A JP 63311241 A JP63311241 A JP 63311241A JP 31124188 A JP31124188 A JP 31124188A JP H02157641 A JPH02157641 A JP H02157641A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light beam
- recording medium
- photodetector
- optical recording
- recording layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 93
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 47
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 241000134884 Ericales Species 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、光記録媒体として用いられる光カードや光テ
ープ等の記録層の反射率を測定する方法に関する。
ープ等の記録層の反射率を測定する方法に関する。
B2 発明の概要
本発明は、光記録媒体として用いられる光カードや光テ
ープ等の記録層の反射率を測定する場合に、記録層上に
配された透明基板の表面部分から光検出器に導かれる光
ビームのスポットを記録層から上記光検出器に導かれる
光ビームのスポットよりも大きくして上記各光ビームの
全光量を上記光検出器にて測定し、その測定値により上
記記録層の反射率を算出するようにしたことによって、
光記録媒体の記録層の反射率を正確且つ容易に測定する
ことができるようにしたものである。
ープ等の記録層の反射率を測定する場合に、記録層上に
配された透明基板の表面部分から光検出器に導かれる光
ビームのスポットを記録層から上記光検出器に導かれる
光ビームのスポットよりも大きくして上記各光ビームの
全光量を上記光検出器にて測定し、その測定値により上
記記録層の反射率を算出するようにしたことによって、
光記録媒体の記録層の反射率を正確且つ容易に測定する
ことができるようにしたものである。
C6従来の技術
一般に、光ディスクや光カードのような光記録媒体にお
いては、光学的に情報が書き込まれる記録層上に保1l
llIとしての透明基板を設けた構造となっている。そ
して、このような光記録媒体から情報を再生するために
は、上記透明基板側から光ビームを入射して、この光ビ
ームを上記記録層にて反射させるようにする。
いては、光学的に情報が書き込まれる記録層上に保1l
llIとしての透明基板を設けた構造となっている。そ
して、このような光記録媒体から情報を再生するために
は、上記透明基板側から光ビームを入射して、この光ビ
ームを上記記録層にて反射させるようにする。
ところで、従来、この種の光記録媒体の研究開発や検査
等には、例えば第6図に示すような装置60により次の
ような方法で光記録媒体50の記録層52の反射率の測
定をしていた。
等には、例えば第6図に示すような装置60により次の
ような方法で光記録媒体50の記録層52の反射率の測
定をしていた。
すなわち、半導体レーザ等のレーザ光[62からの光ビ
ームをコリメータ63にて平行光線束にした後、ハーフ
ミラ−64を介して対物レンズ65を通過させて光記録
媒体50の透明基板51側から垂直に入射し、上記光記
録媒体50の記録層52に集束させる。この集束された
光ビームは、上記光記録媒体50の記録N52にて反射
し、再び上記対物レンズ65を通過して上記ハーフミラ
−64に導かれ、このハーフミラ−64にて反射してレ
ンズ66を介して光量測定のための光検出器67に導か
れる。したがって、この測定方法によれば、上記レーザ
光a62から出射された光ビームの光量に対する上記光
検出器67に導かれた光ビームの光量の割合を上記光記
録媒体50の記録層52の反射率とすることができる。
ームをコリメータ63にて平行光線束にした後、ハーフ
ミラ−64を介して対物レンズ65を通過させて光記録
媒体50の透明基板51側から垂直に入射し、上記光記
録媒体50の記録層52に集束させる。この集束された
光ビームは、上記光記録媒体50の記録N52にて反射
し、再び上記対物レンズ65を通過して上記ハーフミラ
−64に導かれ、このハーフミラ−64にて反射してレ
ンズ66を介して光量測定のための光検出器67に導か
れる。したがって、この測定方法によれば、上記レーザ
光a62から出射された光ビームの光量に対する上記光
検出器67に導かれた光ビームの光量の割合を上記光記
録媒体50の記録層52の反射率とすることができる。
ところが、このような測定方法では、上記レーザ光11
162からの光ビームが上記光記録媒体50の透明基板
51表面部分でも反射して上記光検出器67に導かれる
ために、測定誤差が生しる虞れがある。そこで、この測
定方法においては、上記装置60の上記対物レンズ65
の開口数(NANua+erical Apertur
e)を0.4〜0.5と大きくすることによって、第6
図中にθ1にて示す光ビームの広がり角を大きくし、上
記レーザ光源62からの光ビームが上記光記録媒体50
の記録層52に1μm〜2μmφの微小スポットとして
集束して上記光検出器67に導かれるとともに、上記透
明基板51表面部分での集束スポットを大きくするよう
にして、上記透明基板51表面部分で反射した光ビーム
が上記レンズ66を通過後、発散光となって上記光検出
器67に微小量しか導かれないようにし、測定値に余り
影響を与えないようにしている。
162からの光ビームが上記光記録媒体50の透明基板
51表面部分でも反射して上記光検出器67に導かれる
ために、測定誤差が生しる虞れがある。そこで、この測
定方法においては、上記装置60の上記対物レンズ65
の開口数(NANua+erical Apertur
e)を0.4〜0.5と大きくすることによって、第6
図中にθ1にて示す光ビームの広がり角を大きくし、上
記レーザ光源62からの光ビームが上記光記録媒体50
の記録層52に1μm〜2μmφの微小スポットとして
集束して上記光検出器67に導かれるとともに、上記透
明基板51表面部分での集束スポットを大きくするよう
にして、上記透明基板51表面部分で反射した光ビーム
が上記レンズ66を通過後、発散光となって上記光検出
器67に微小量しか導かれないようにし、測定値に余り
影響を与えないようにしている。
しかしながら、このような測定方法では、上記レーザ光
源62からの光ビームの広がり角を大きくしたために上
記光ビームを上記光記録媒体50の記録N52に球面波
で入射させることになり、上記記録層52の反射率を垂
直入射光に対するものでははなく上記対物レンズ65の
開口数で定まる角度の斜め入射光に対する平均で測定す
ることになってしまうという欠点がある。
源62からの光ビームの広がり角を大きくしたために上
記光ビームを上記光記録媒体50の記録N52に球面波
で入射させることになり、上記記録層52の反射率を垂
直入射光に対するものでははなく上記対物レンズ65の
開口数で定まる角度の斜め入射光に対する平均で測定す
ることになってしまうという欠点がある。
また、このような測定方法では、上述のように開口数の
大きな対物レンズ65で上記記録層52に光ビームを集
束させるので、焦点深度が非常に浅くなり、例えば上記
レンズ66から上記光検出器67に導かれる光ビームを
ハーフミラ−68にて分光しフォーカスサーボ用の光検
出器69に導いてフォーカスサーボを施す等の必要があ
り、このため、作業性や再現性が悪くなってしまうとい
う欠点もある。
大きな対物レンズ65で上記記録層52に光ビームを集
束させるので、焦点深度が非常に浅くなり、例えば上記
レンズ66から上記光検出器67に導かれる光ビームを
ハーフミラ−68にて分光しフォーカスサーボ用の光検
出器69に導いてフォーカスサーボを施す等の必要があ
り、このため、作業性や再現性が悪くなってしまうとい
う欠点もある。
さらに、このような測定方法では、光ディスク等の透明
基板51の厚いものを上記光記録媒体50として用いた
場合には、上記透明基板51表面部分にて反射した光ビ
ームが上記レンズ66を通過後、上述のように測定値に
影響を与えない程度に発散するが、光カードや光テープ
等の透明基板51が薄いものでは、上記透明基板51表
面部分と上記記録F!52との距離が近いために、上記
透明基板51表面部分にて反射した光ビームが上記レン
ズ66にて充分に発散せずに、測定誤差が大きくなって
しまうという欠点もある。
基板51の厚いものを上記光記録媒体50として用いた
場合には、上記透明基板51表面部分にて反射した光ビ
ームが上記レンズ66を通過後、上述のように測定値に
影響を与えない程度に発散するが、光カードや光テープ
等の透明基板51が薄いものでは、上記透明基板51表
面部分と上記記録F!52との距離が近いために、上記
透明基板51表面部分にて反射した光ビームが上記レン
ズ66にて充分に発散せずに、測定誤差が大きくなって
しまうという欠点もある。
このように上記測定方法には多くの欠点があるために、
例えば第7図に示すような装置70により次のようにし
て光記録媒体50の記録層52の反射率を測定する方法
も知られている。
例えば第7図に示すような装置70により次のようにし
て光記録媒体50の記録層52の反射率を測定する方法
も知られている。
すなわち、半導体レーザ等のレーザ光源72からの光ビ
ームをコリメータ73にて平行光線束にしてハーフミラ
−74を通過させ、上記光ビームを平行光線束のまま上
記光記録媒体50に垂直に入射して、上記光記録媒体5
0の記録N52にて反射した光ビームを上記ハーフミラ
−74からレンズ76を介して光検出器77に導き、こ
の光検出器77による測定値により上記記録層52の反
射率を求める。
ームをコリメータ73にて平行光線束にしてハーフミラ
−74を通過させ、上記光ビームを平行光線束のまま上
記光記録媒体50に垂直に入射して、上記光記録媒体5
0の記録N52にて反射した光ビームを上記ハーフミラ
−74からレンズ76を介して光検出器77に導き、こ
の光検出器77による測定値により上記記録層52の反
射率を求める。
ところが、このような測定方法では、上述の装置60に
よる測定方法のような欠点は生じないが、上記光学記録
媒体50に平行光線束の光ビームを入射させるので、上
記記録層52にて反射した光ビームと上記透明基板51
表面部分にて反射した光ビームとが上記光検出器77に
導かれる際に互いに干渉し合い、上記記録M52や上記
透明基板51に厚みむらがあると測定結果に多大な誤差
を生じてしまうという欠点がある。
よる測定方法のような欠点は生じないが、上記光学記録
媒体50に平行光線束の光ビームを入射させるので、上
記記録層52にて反射した光ビームと上記透明基板51
表面部分にて反射した光ビームとが上記光検出器77に
導かれる際に互いに干渉し合い、上記記録M52や上記
透明基板51に厚みむらがあると測定結果に多大な誤差
を生じてしまうという欠点がある。
D1発明が解決しようとする課題
上述のように、従来の測定方法では、光記録媒体50の
透明基板51表面部分にて反射する光ビームが影響する
ので、記録層520反射率を正確且つ容易に測定するこ
とが困難であった。特に、光カードや光テープ等の透明
基板51が薄い光記録媒体50の記録層52の反射率を
良好に測定することは従来困難とされていた。
透明基板51表面部分にて反射する光ビームが影響する
ので、記録層520反射率を正確且つ容易に測定するこ
とが困難であった。特に、光カードや光テープ等の透明
基板51が薄い光記録媒体50の記録層52の反射率を
良好に測定することは従来困難とされていた。
本発明は上述の如き実情に鑑みて提案されたものであり
、その目的とするところは、光記録媒体の記84の反射
率を正確且つ容易に測定する方法を提供することである
。
、その目的とするところは、光記録媒体の記84の反射
率を正確且つ容易に測定する方法を提供することである
。
81課題を解決するための手段
本発明方法では、上述の目的を達成するために、光記録
媒体の記録層の反射率を測定する場合に、記録層上に所
定反射率R,の透明基板を配してなる光記録媒体へ透明
基板側から光ビームを入射して、上記光記録媒体の透明
基板表面部分と記録層とで反射した光ビームの光量を光
検出器で測定するに際し、上記透明基板表面部分から上
記光検出器に導かれる光ビームのスポットを上記記録層
から上記光検出器に導かれる光ビームのスポットよりも
太き(して上記各光ビームの全光量を上記光検出器にて
測定し、その測定値により上記光記録媒体の全反射率R
を求めて、次式 により上記記録層の反射率R2を算出するようにする。
媒体の記録層の反射率を測定する場合に、記録層上に所
定反射率R,の透明基板を配してなる光記録媒体へ透明
基板側から光ビームを入射して、上記光記録媒体の透明
基板表面部分と記録層とで反射した光ビームの光量を光
検出器で測定するに際し、上記透明基板表面部分から上
記光検出器に導かれる光ビームのスポットを上記記録層
から上記光検出器に導かれる光ビームのスポットよりも
太き(して上記各光ビームの全光量を上記光検出器にて
測定し、その測定値により上記光記録媒体の全反射率R
を求めて、次式 により上記記録層の反射率R2を算出するようにする。
ここで、上記光記録媒体の全反射率Rと上記透明基板の
反射率R,および上記記録層の反射率R2とは、上記各
光ビームの干渉が無いものとして、次式 %式% の関係がある。
反射率R,および上記記録層の反射率R2とは、上記各
光ビームの干渉が無いものとして、次式 %式% の関係がある。
したがって、上記光記録媒体の記録層の反射率R1は上
記(0式により算出される。
記(0式により算出される。
上記光検出器に導かれる各光ビームの干渉が少ない。
また、本発明方法では、上記各光ビームの全光量を上記
光検出器にて測定するようにしているので、上記光学記
録媒体に導かれる光ビームの広がり角が小さくなるとと
もに、上記光学記録媒体の記録層に合焦させるための対
物レンズの焦点深度が深くなる。
光検出器にて測定するようにしているので、上記光学記
録媒体に導かれる光ビームの広がり角が小さくなるとと
もに、上記光学記録媒体の記録層に合焦させるための対
物レンズの焦点深度が深くなる。
さらに、本発明方法では、上記光検出器による測定値に
より上記光記録媒体の全反射率Rを求めて、上記記録層
の反射率R2を算出するようにしているので、上記光記
録媒体の透明基板表面部分にて反射する光ビームの影響
が数式により除かれる。
より上記光記録媒体の全反射率Rを求めて、上記記録層
の反射率R2を算出するようにしているので、上記光記
録媒体の透明基板表面部分にて反射する光ビームの影響
が数式により除かれる。
F0作用
本発明方法では、光学記録媒体の透明基板表面部分から
光検出器に導かれる光ビームのスポットが、記録層から
上記光検出器に導かれる光ビームのスポットよりも大き
くなるようにしているので、G、実施例 以下、本発明方法の実施例を詳細に説明する。
光検出器に導かれる光ビームのスポットが、記録層から
上記光検出器に導かれる光ビームのスポットよりも大き
くなるようにしているので、G、実施例 以下、本発明方法の実施例を詳細に説明する。
第1図は、本発明方法を実施するための装置1を示すも
のである。
のである。
本実施例において記録層12の反射率R2を測定される
光記録媒体10は、光学的に情報が書き込まれる上記記
録層12上に保iJI’!としての透明基Fi11を設
けた構造となっており、上記記録層12と上記透明基板
11との境界部分には光ビームを反射する反射膜が形成
されている。この光記録媒体10の透明7!仮11表面
部分の空気界面に向かっての反射率R,は、材料により
所定の値となるものであり、あるいは実測すること等に
より既知であるものとする。具体的には上記光記録媒体
10は光ディスクや光カード、光テープ等のようなもの
である。
光記録媒体10は、光学的に情報が書き込まれる上記記
録層12上に保iJI’!としての透明基Fi11を設
けた構造となっており、上記記録層12と上記透明基板
11との境界部分には光ビームを反射する反射膜が形成
されている。この光記録媒体10の透明7!仮11表面
部分の空気界面に向かっての反射率R,は、材料により
所定の値となるものであり、あるいは実測すること等に
より既知であるものとする。具体的には上記光記録媒体
10は光ディスクや光カード、光テープ等のようなもの
である。
本実施例の測定方法においては、第1図に示す装置1を
用いて、半導体レーザ等のレーザ光源2からの光ビーム
をコリメータ3にて平行光線束にした後、ハーフミラ−
4を介して対物レンズ5を通過させて上記光記録媒体1
0の透明基板11側から垂直に入射する。
用いて、半導体レーザ等のレーザ光源2からの光ビーム
をコリメータ3にて平行光線束にした後、ハーフミラ−
4を介して対物レンズ5を通過させて上記光記録媒体1
0の透明基板11側から垂直に入射する。
上記光ビームが上記光記録媒体10に対してやや傾いて
入射するものとして、その軌跡を第2図に模式的に示す
。上記対物レンズ5等を介して上記光記録媒体10に入
射した光ビームLl)Iは、その一部が上記光記録媒体
lOの透明基板11表面部分にて上記反射率R1で反射
し光ビームL+ となる、また、上記光ビームLINの
大部分が上記記録層12に到達し、上記透明基板11と
記録層12との境、赤部分の反射膜にて反射率R2で反
射し光ビームL2となる。これら光ビームL、と光ビー
ムL、とは、ともに光ビームL。U7として再び上記対
物レンズ5を通過して上記ハーフミラ−4に導かれ、こ
のハーフミラ−4にて反射してレンズ6を介して光量測
定のための光検出器7の受光面7aに導かれる。
入射するものとして、その軌跡を第2図に模式的に示す
。上記対物レンズ5等を介して上記光記録媒体10に入
射した光ビームLl)Iは、その一部が上記光記録媒体
lOの透明基板11表面部分にて上記反射率R1で反射
し光ビームL+ となる、また、上記光ビームLINの
大部分が上記記録層12に到達し、上記透明基板11と
記録層12との境、赤部分の反射膜にて反射率R2で反
射し光ビームL2となる。これら光ビームL、と光ビー
ムL、とは、ともに光ビームL。U7として再び上記対
物レンズ5を通過して上記ハーフミラ−4に導かれ、こ
のハーフミラ−4にて反射してレンズ6を介して光量測
定のための光検出器7の受光面7aに導かれる。
上記光検出器7の受光面7aに導かれる各光ビームLL
、LZは、第3図に模式的に示すように各スポットSL
、、SL、を形成する。すなわち、上記光検出器7の受
光面7aに導かれる各光ビームL+、Lxは、上記透明
基板11表面部分からの光ビームL、のスポットSL1
が上記記録層12からの光ビームL2のスポットSLz
よりも大きく形成されて、上記光記録媒体10にて反射
した光ビームL。Uアの全量が上記光検出器7の受光面
7aに導かれる。
、LZは、第3図に模式的に示すように各スポットSL
、、SL、を形成する。すなわち、上記光検出器7の受
光面7aに導かれる各光ビームL+、Lxは、上記透明
基板11表面部分からの光ビームL、のスポットSL1
が上記記録層12からの光ビームL2のスポットSLz
よりも大きく形成されて、上記光記録媒体10にて反射
した光ビームL。Uアの全量が上記光検出器7の受光面
7aに導かれる。
このように、上記光学記録媒体10の透明基板11表面
部分から上記光検出器7の受光面7aに導かれる光ビー
ムL、のスポラ)SL、が、上記記録層12から上記光
検出器7の受光面7aに導かれる光ビームL2のスポッ
トSL、よりも大きくなるようにすることにより、上記
光検出器7の受光面7aに形成される各スポットSL1
.SL1が異なるように上記各光ビームL、、Ltが導
かれるので、上記各光ビームt、t、Liの干渉を少な
くすることができる。
部分から上記光検出器7の受光面7aに導かれる光ビー
ムL、のスポラ)SL、が、上記記録層12から上記光
検出器7の受光面7aに導かれる光ビームL2のスポッ
トSL、よりも大きくなるようにすることにより、上記
光検出器7の受光面7aに形成される各スポットSL1
.SL1が異なるように上記各光ビームL、、Ltが導
かれるので、上記各光ビームt、t、Liの干渉を少な
くすることができる。
具体的には、上記透明基板11表面部分からの光ビーム
L1のスポットSL、に対する上記記録層12からの光
ビームL2のスポットSL!の面積比率が、例えば3;
1程度以上あれば本発明方法を良好に実施することが可
能であり、さらに例えば5:lとした場合には上記光ビ
ームL、と上記光ビームL2との干渉が4%以下となる
ので、その影響をほぼ無視することができる。
L1のスポットSL、に対する上記記録層12からの光
ビームL2のスポットSL!の面積比率が、例えば3;
1程度以上あれば本発明方法を良好に実施することが可
能であり、さらに例えば5:lとした場合には上記光ビ
ームL、と上記光ビームL2との干渉が4%以下となる
ので、その影響をほぼ無視することができる。
このため、上記各光ビームL、、L2の干渉により測定
結果に多大な誤差を生じることがなく、上記記録1’i
12の反射率R2を正確に測定することができる。
結果に多大な誤差を生じることがなく、上記記録1’i
12の反射率R2を正確に測定することができる。
また、上記光記録媒体10にて反射した光ビームL。U
、の全量を上記光検出器7の受光面7aに導くようにす
ることにより、上記対物レンズ5から上記光記録媒体l
Oへ導かれる光ビームの広がり角を、第1図中にθ2に
て示すように、小さくすることができる。
、の全量を上記光検出器7の受光面7aに導くようにす
ることにより、上記対物レンズ5から上記光記録媒体l
Oへ導かれる光ビームの広がり角を、第1図中にθ2に
て示すように、小さくすることができる。
このため、上記装置1の対物レンズ5には、開口数が0
.1〜0.2程度のものを用いることができ、上述のよ
うに上記光記録媒体10への光ビームの広がり角θ2を
例えば従来方法に用いた装置60のものよりも充分に小
さくして、上記記録Jli12に5μmm−107zφ
のスポットとして集束させることができる0例えば、上
記対物レンズ5として開口数がO3lのものを用いた場
合には、上記光学記録媒体10に最も斜めに入射する光
ビームでも5.7度程度となり、はぼ垂直入射とみなす
ことができる。
.1〜0.2程度のものを用いることができ、上述のよ
うに上記光記録媒体10への光ビームの広がり角θ2を
例えば従来方法に用いた装置60のものよりも充分に小
さくして、上記記録Jli12に5μmm−107zφ
のスポットとして集束させることができる0例えば、上
記対物レンズ5として開口数がO3lのものを用いた場
合には、上記光学記録媒体10に最も斜めに入射する光
ビームでも5.7度程度となり、はぼ垂直入射とみなす
ことができる。
したがって、上記記録層12に垂直に光ビームを入射さ
せたときの反射率R1を正確に測定することができる。
せたときの反射率R1を正確に測定することができる。
特に、上述の装置lを用いた従来の測定方法のように上
記対物レンズ5から上記光記録媒体10へ導かれる光ビ
ームの広がり角を大きくして、上記透明基板11表面部
分からの光ビームL、を上記対物レンズ6にて広く発散
させる必要がなく、上記光ビームL1も上記光検出器7
の受光面7aに導くようにしているので、光カードや光
テープ等の上記透明基板11の薄い光記録媒体10でも
、上記記録層12の反射率R2を良好に測定することが
できる。
記対物レンズ5から上記光記録媒体10へ導かれる光ビ
ームの広がり角を大きくして、上記透明基板11表面部
分からの光ビームL、を上記対物レンズ6にて広く発散
させる必要がなく、上記光ビームL1も上記光検出器7
の受光面7aに導くようにしているので、光カードや光
テープ等の上記透明基板11の薄い光記録媒体10でも
、上記記録層12の反射率R2を良好に測定することが
できる。
さらに、上述のように開口数の大きな対物レン?:5で
上記記録層12に光ビームを集束させるので、焦点深度
が例えば±50μm以上と深くなりフォーカスサーボを
施さなくとも容易に合焦させることができる。このため
、作業性や再現性を非常によ(することができる。
上記記録層12に光ビームを集束させるので、焦点深度
が例えば±50μm以上と深くなりフォーカスサーボを
施さなくとも容易に合焦させることができる。このため
、作業性や再現性を非常によ(することができる。
そして、本実施例の測定方法においては、上記光学記録
媒体lOにて反射した光ビームL。U、の全光量を上記
光検出器7により測定し、上記レーザ光源2から上記光
学記録媒体10に入射する光ビームLll+の全光量に
対する上記測定により得られる光ビームL 0LITの
全光量から上記光記録媒体lOの全反射率Rを求める。
媒体lOにて反射した光ビームL。U、の全光量を上記
光検出器7により測定し、上記レーザ光源2から上記光
学記録媒体10に入射する光ビームLll+の全光量に
対する上記測定により得られる光ビームL 0LITの
全光量から上記光記録媒体lOの全反射率Rを求める。
ここで、上記光記録媒体lOの全反射率Rと上記透明基
板の反射率R3および上記記録層の反射率R2とは、上
記各光ビームL、、L2の干渉が無いもの(インコンヒ
ーレント)として、次式%式% の関係がある。
板の反射率R3および上記記録層の反射率R2とは、上
記各光ビームL、、L2の干渉が無いもの(インコンヒ
ーレント)として、次式%式% の関係がある。
したがって、上記光記録媒体10の記録層12の反射率
Rつは、次式 により算出することができる。
Rつは、次式 により算出することができる。
このように、上記光検出器7による測定値により上記光
記録媒体10の全反射率Rを求めて、上記透明基板11
表面部分にて反射する光ビームの影響を上述の数式によ
り除いて上記記録1i12の反射率R2を算出するよう
にしているので、上記反射率R2を正確に測定すること
ができる。
記録媒体10の全反射率Rを求めて、上記透明基板11
表面部分にて反射する光ビームの影響を上述の数式によ
り除いて上記記録1i12の反射率R2を算出するよう
にしているので、上記反射率R2を正確に測定すること
ができる。
第4図は、本発明方法を実施するための他の装置40を
示すものである。
示すものである。
この第4図に示す装置40を用いた測定方法においては
、半導体レーザ等のレーザ光源42からの光ビームをコ
リメータ43にて平行光線束にした後、対物レンズ45
を通過させるときに光ビームの光軸を垂直方向に対して
同図中にθ、にて示すように数度傾け、上記光記録媒体
lOの透明基板11側から入射する。上記光記録媒体1
0からは、入射角度に応じて上記光ビームの光軸が傾い
て反射し、この光ビームが再び上記対物レンズ45を通
過してミラー44にて全反射してレンズ46を介して光
量測定のための光検出器47の受光面47aに導かれる
。
、半導体レーザ等のレーザ光源42からの光ビームをコ
リメータ43にて平行光線束にした後、対物レンズ45
を通過させるときに光ビームの光軸を垂直方向に対して
同図中にθ、にて示すように数度傾け、上記光記録媒体
lOの透明基板11側から入射する。上記光記録媒体1
0からは、入射角度に応じて上記光ビームの光軸が傾い
て反射し、この光ビームが再び上記対物レンズ45を通
過してミラー44にて全反射してレンズ46を介して光
量測定のための光検出器47の受光面47aに導かれる
。
このように上記光記録媒体10に対する光ビームの入射
角度を垂直方向に対して数度傾けることにより、上記光
検出器47の受光面47aには、第5図に示すように、
透明基板11表面部分からの光ビームL1のスポットS
L、と上記記録層12からの光ビームL2のスポットS
Lzとが重なり合う面積が少なくなる。したがって、上
記各光ビームL+、Lxの干渉による測定誤差を非常に
少なくすることができ、上記光記録媒体10の記録層1
2の反射率R2をさらに正確に測定することができる。
角度を垂直方向に対して数度傾けることにより、上記光
検出器47の受光面47aには、第5図に示すように、
透明基板11表面部分からの光ビームL1のスポットS
L、と上記記録層12からの光ビームL2のスポットS
Lzとが重なり合う面積が少なくなる。したがって、上
記各光ビームL+、Lxの干渉による測定誤差を非常に
少なくすることができ、上記光記録媒体10の記録層1
2の反射率R2をさらに正確に測定することができる。
1(、発明の効果
本発明方法では、光学記録媒体の透明基板表面部分から
光検出器に導かれる光ビームのスポットが、記録層から
上記光検出器に導かれる光ビームのスポットよりも大き
くなるようにしているので、上記光検出器に導かれる各
光ビームの干渉を少なくすることができる。このため、
上記各光ビームの干渉により測定結果に多大な誤差を生
しることがなく、上記光記録媒体の記録層の反射率R2
を正確に測定することができる。
光検出器に導かれる光ビームのスポットが、記録層から
上記光検出器に導かれる光ビームのスポットよりも大き
くなるようにしているので、上記光検出器に導かれる各
光ビームの干渉を少なくすることができる。このため、
上記各光ビームの干渉により測定結果に多大な誤差を生
しることがなく、上記光記録媒体の記録層の反射率R2
を正確に測定することができる。
また、本発明方法では、上記各光ビームの全光量を上記
光検出器にて測定するようにしているので、上記光学記
録媒体に導かれる光ビームの広がり角を小さくすること
ができる。このため、上記記録層に垂直に光ビームを入
射させたときの反射率R2を正確に測定することができ
る。
光検出器にて測定するようにしているので、上記光学記
録媒体に導かれる光ビームの広がり角を小さくすること
ができる。このため、上記記録層に垂直に光ビームを入
射させたときの反射率R2を正確に測定することができ
る。
その上、上記各光ビームの全光量を上記光検出器にて測
定するようにしているので、上記光学記録媒体の記録層
に合焦させるための対物レンズの焦点深度を深くするこ
とができる。このため、上記記録層に光ビームを容易に
合焦させることができ、作業性や再現性を非常によくす
ることができる。
定するようにしているので、上記光学記録媒体の記録層
に合焦させるための対物レンズの焦点深度を深くするこ
とができる。このため、上記記録層に光ビームを容易に
合焦させることができ、作業性や再現性を非常によくす
ることができる。
特に、本発明方法によれば、光記録媒体の透明基板表面
部分にて反射した光ビームも上記光検出器に導くように
しているので、光カードや光テープ等の透明基板の薄い
光記録媒体でも、記録層の反射率R2を良好に測定する
ことができる。
部分にて反射した光ビームも上記光検出器に導くように
しているので、光カードや光テープ等の透明基板の薄い
光記録媒体でも、記録層の反射率R2を良好に測定する
ことができる。
さらに、本発明方法では、上記光検出器による測定値に
より上記光記録媒体の全反射率Rを求めて、上記記録層
の反射率R2を算出するようにしているので、上記光記
録媒体の透明基板表面部分にて反射する光ビームの影響
を数式により除くことができる。このため、上記反射率
R2を正確に測定することができる。
より上記光記録媒体の全反射率Rを求めて、上記記録層
の反射率R2を算出するようにしているので、上記光記
録媒体の透明基板表面部分にて反射する光ビームの影響
を数式により除くことができる。このため、上記反射率
R2を正確に測定することができる。
第1図は本発明方法を実施するための一装置を示す図、
第2図は上記装置において光記録媒体に入射して反射す
る光ビームの軌跡を示す模式図、第3図は上記装置を構
成する光検出器の受光面に導かれる光ビームのスポット
を示す模式図である。 第4図は本発明方法を実施するための他の装置を示す図
、第5図は上記装置を構成する光検出器の受光面に導か
れる光ビームのスポットを示す模式図である。 第6図および第7図は光記録媒体の反射率を測定するた
めの従来の各方法を実施するためのそれぞれの装置を示
す図である。 1.40−・本発明方法を実施するための装置2.42
・レーザ光源 3.43・−コリメータ 4 ハーフミラ− 5,45対物レンズ 6.46−−レンズ 7.47・光検出器 10−光記録媒体 11〜透明基板 12・−記録層 44− ミラー しl+L2’−各光ビーム
第2図は上記装置において光記録媒体に入射して反射す
る光ビームの軌跡を示す模式図、第3図は上記装置を構
成する光検出器の受光面に導かれる光ビームのスポット
を示す模式図である。 第4図は本発明方法を実施するための他の装置を示す図
、第5図は上記装置を構成する光検出器の受光面に導か
れる光ビームのスポットを示す模式図である。 第6図および第7図は光記録媒体の反射率を測定するた
めの従来の各方法を実施するためのそれぞれの装置を示
す図である。 1.40−・本発明方法を実施するための装置2.42
・レーザ光源 3.43・−コリメータ 4 ハーフミラ− 5,45対物レンズ 6.46−−レンズ 7.47・光検出器 10−光記録媒体 11〜透明基板 12・−記録層 44− ミラー しl+L2’−各光ビーム
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 記録層上に所定反射率R_1の透明基板を配してなる光
記録媒体へ透明基板側から光ビームを入射して、上記光
記録媒体の透明基板表面部分と記録層とで反射した光ビ
ームの光量を光検出器で測定するに際し、上記透明基板
表面部分から上記光検出器に導かれる光ビームのスポッ
トを上記記録層から上記光検出器に導かれる光ビームの
スポットよりも大きくして上記各光ビームの全光量を上
記光検出器にて測定し、その測定値により上記光記録媒
体の全反射率Rを求めて、次式 R_2=(R−R_1)/〔1−(2−R)R_1〕に
より上記記録層の反射率R_2を算出する光記録媒体の
反射率測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63311241A JPH02157641A (ja) | 1988-12-09 | 1988-12-09 | 光記録媒体の反射率測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63311241A JPH02157641A (ja) | 1988-12-09 | 1988-12-09 | 光記録媒体の反射率測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02157641A true JPH02157641A (ja) | 1990-06-18 |
Family
ID=18014792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63311241A Pending JPH02157641A (ja) | 1988-12-09 | 1988-12-09 | 光記録媒体の反射率測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02157641A (ja) |
-
1988
- 1988-12-09 JP JP63311241A patent/JPH02157641A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1091966A (en) | Apparatus for reading signals recorded on a record carrier | |
US4800547A (en) | Optical record carrier scanning apparatus with scanning beam focus error detection | |
JP2000171346A (ja) | 収差検出装置および光ピックアップ装置 | |
JPH07192297A (ja) | 超解像光ヘッド装置 | |
JPH11176019A (ja) | 光学的情報記憶装置 | |
US7038978B2 (en) | Optical information recording and reproducing apparatus for recording information bits into an optical disk in a three dimensional arrangement | |
JPH02157641A (ja) | 光記録媒体の反射率測定方法 | |
JPS57191837A (en) | Optical recording and reproducing device | |
JP2000266636A (ja) | レンズ検査システム及びレンズ検査装置 | |
EP1394787A2 (en) | Optical disc and optical disc apparatus | |
JP4491177B2 (ja) | 光学情報記録再生装置 | |
JPS62174638A (ja) | 光記録媒体製造検査装置 | |
JPH11203711A (ja) | 高開口数光学系及びそれを用いた光学的情報記録再生装置 | |
JPH05250694A (ja) | 光ヘッド装置 | |
JPH01250905A (ja) | 偏光光学素子 | |
JPH10261231A (ja) | フォーカシング状態の認識のための記録又は再生装置 | |
JP2861073B2 (ja) | 現像装置 | |
JPS58137141A (ja) | 焦点検出方法 | |
JPS637950Y2 (ja) | ||
JPS61258339A (ja) | 光学的記録再生装置 | |
JPS60205839A (ja) | 光学ヘツド | |
JPS63153734A (ja) | 光検出器 | |
JPH0362326A (ja) | 光記録/再生装置 | |
JPS606017B2 (ja) | 光学的記録再生装置 | |
JPS59124041A (ja) | 焦点制御装置 |