JPH0213900A - 密封高ビーム束中性子管 - Google Patents
密封高ビーム束中性子管Info
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- JPH0213900A JPH0213900A JP1104775A JP10477589A JPH0213900A JP H0213900 A JPH0213900 A JP H0213900A JP 1104775 A JP1104775 A JP 1104775A JP 10477589 A JP10477589 A JP 10477589A JP H0213900 A JPH0213900 A JP H0213900A
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- 230000004907 flux Effects 0.000 title claims abstract description 11
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract description 24
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims abstract description 9
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 42
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 8
- 229910052722 tritium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 6
- 230000004927 fusion Effects 0.000 claims description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 17
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 5
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 5
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 5
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 4
- YZCKVEUIGOORGS-NJFSPNSNSA-N Tritium Chemical compound [3H] YZCKVEUIGOORGS-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 3
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 2
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000012809 cooling fluid Substances 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000001730 gamma-ray spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000005865 ionizing radiation Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H3/00—Production or acceleration of neutral particle beams, e.g. molecular or atomic beams
- H05H3/06—Generating neutron beams
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、ガス状重水素−三重水素混合物を含み、その
イオンにより高エネルギービームを発生し、このビーム
をターゲットに照射してこれに中性子を放出する核融合
反応を生ぜしめるようにした密封高ビーム束中性子管に
関するものである。
イオンにより高エネルギービームを発生し、このビーム
をターゲットに照射してこれに中性子を放出する核融合
反応を生ぜしめるようにした密封高ビーム束中性子管に
関するものである。
(従来の技術)
密封高束中性子管は高速中性子、熱中性子、エビサーマ
ル中性子、または冷(低温)中性子によって材料の検査
を行うために用いられている。
ル中性子、または冷(低温)中性子によって材料の検査
を行うために用いられている。
現在用いられているこの種の中性子管の有効寿命は種々
の核技術、即ち、中性子学、放射線分析、中性子の非弾
性分布またはラジイオアクティブ捕獲、分布のγスペク
トルによる分析、で全効率を達成するに要する放出のレ
ベルにおいて不適当である。
の核技術、即ち、中性子学、放射線分析、中性子の非弾
性分布またはラジイオアクティブ捕獲、分布のγスペク
トルによる分析、で全効率を達成するに要する放出のレ
ベルにおいて不適当である。
通常、14MeYの中性子を放出する反応T (cl
n) ’Heはその比較的低い中性子エネルギーの高効
率断面のために、主として用いられるが、他の適当な断
面も用いられる。
n) ’Heはその比較的低い中性子エネルギーの高効
率断面のために、主として用いられるが、他の適当な断
面も用いられる。
しかし、反応の型に関係無く、ビームの変化の単位当た
りに得られる中性子の数は厚いターゲットに向かうイオ
ンのエネルギーが増大するにつれて増大し、この現象は
、現在得られ、高電圧(THT)が給電される密封管に
得られるイオンエネルギーを著しく越えるようになる。
りに得られる中性子の数は厚いターゲットに向かうイオ
ンのエネルギーが増大するにつれて増大し、この現象は
、現在得られ、高電圧(THT)が給電される密封管に
得られるイオンエネルギーを著しく越えるようになる。
この高電圧は密封管の規格の理由で、または高電圧発生
器および接続部材の信頼性の理由でほぼ200kV以上
となる。
器および接続部材の信頼性の理由でほぼ200kV以上
となる。
中性子管の有効寿命を制限する最も重要な現象は入射イ
オンおよび中性子管の絶縁壁の金属化によってターゲッ
トへの照射が失敗することである。
オンおよび中性子管の絶縁壁の金属化によってターゲッ
トへの照射が失敗することである。
ビーム自体の強度が高くなるにつれてこれら2つの現象
が一層著しくなるため、このパラメータを最大値に制限
すること、従って、所定の中性子放出に対し高い加速電
圧を用いるのが重要である。
が一層著しくなるため、このパラメータを最大値に制限
すること、従って、所定の中性子放出に対し高い加速電
圧を用いるのが重要である。
従来の密封中性子管における真空管(例えば、X線管)
に対しては、実際上真空管の直径を増大させることはで
きない。その理由は中性子の収量を低くし、低圧範囲に
おけるパッシェンの法則に従って放電点弧を生ぜしめる
ようになるからである。
に対しては、実際上真空管の直径を増大させることはで
きない。その理由は中性子の収量を低くし、低圧範囲に
おけるパッシェンの法則に従って放電点弧を生ぜしめる
ようになるからである。
ガス中における放電点弧の他の危険性は、高電界に曝さ
れる電極の表面効果に依存する。この効果は、正電位を
搬送する陽極として作用する真空管の他の部分に対向し
、負電位を搬送すると共に陰極として作用する真空管の
一部分によって放出する電気粒子によって生じるように
なる。これは、イオン源の例えば陽極および陰極のよう
な同一の種類のものを支持する真空管の部分とは矛盾す
る。
れる電極の表面効果に依存する。この効果は、正電位を
搬送する陽極として作用する真空管の他の部分に対向し
、負電位を搬送すると共に陰極として作用する真空管の
一部分によって放出する電気粒子によって生じるように
なる。これは、イオン源の例えば陽極および陰極のよう
な同一の種類のものを支持する真空管の部分とは矛盾す
る。
これらの粒子はガス内または電極上の材料の他の分子を
衝撃して2次放出により放出を所定に増倍し従って真空
管の絶縁部分の表面または真空管自体のガススペースを
横切る周囲の誘電体質を妨害することによりブレークダ
ウンを生せしめるに充分な大きさの電流を徐々に形成し
得るようにする。
衝撃して2次放出により放出を所定に増倍し従って真空
管の絶縁部分の表面または真空管自体のガススペースを
横切る周囲の誘電体質を妨害することによりブレークダ
ウンを生せしめるに充分な大きさの電流を徐々に形成し
得るようにする。
上述した反応T(d、 n) ’Heを用いる場合には
、三重水素のエミッタβ−が存在することにより、核反
応(x、α、γ+ n )に関連し、また、その結果(
真空管自体またはその周囲の中性子放射化により誘起さ
れる放射線)に関連する種々のイオン化放射線のような
この危険を更に増大するようになる。
、三重水素のエミッタβ−が存在することにより、核反
応(x、α、γ+ n )に関連し、また、その結果(
真空管自体またはその周囲の中性子放射化により誘起さ
れる放射線)に関連する種々のイオン化放射線のような
この危険を更に増大するようになる。
例えば、X−線管のような真空管においては、絶縁体の
表面のブレークダウン特性は、電極の間隔を増大すると
共に真空管を夫々陽極および陰極を構成する2部分に細
分割して真空管の各部分の平均電位を減少し得るように
し、かつ、電界の方向に適合された絶縁部分に傾斜を与
えるようにして改善し得るようにする(例えば、フィリ
ップステクニカルレビュー第41巻、第1号、1983
/1984年、第24−29頁、W、ハース等が発表し
た論文“金属/セラミックX−線管の非破壊試験”参照
)。
表面のブレークダウン特性は、電極の間隔を増大すると
共に真空管を夫々陽極および陰極を構成する2部分に細
分割して真空管の各部分の平均電位を減少し得るように
し、かつ、電界の方向に適合された絶縁部分に傾斜を与
えるようにして改善し得るようにする(例えば、フィリ
ップステクニカルレビュー第41巻、第1号、1983
/1984年、第24−29頁、W、ハース等が発表し
た論文“金属/セラミックX−線管の非破壊試験”参照
)。
電極間隔との積Pdがパッシェンの曲線の左側にあるよ
うなガス入り管である。この場合放電現象はタウンゼン
トアバランシェ型のものが発生し得るがこれは電極間隔
を減少することによって防止できる。しかし、これはフ
ォウレルーフルドハイムの法則(F−N)に従って電子
の強い冷陰極放出の発生スレシホルドによって制限され
るようになる。
うなガス入り管である。この場合放電現象はタウンゼン
トアバランシェ型のものが発生し得るがこれは電極間隔
を減少することによって防止できる。しかし、これはフ
ォウレルーフルドハイムの法則(F−N)に従って電子
の強い冷陰極放出の発生スレシホルドによって制限され
るようになる。
(発明が解決しようとする課題)
所定の電位差に対し、フォウレルーノルド/%イムの式
により計算された冷陰極放出電流密度値によって電極の
表面状態に応じて所定電位差に対するこの電流密度の高
い増幅率を発生し得るようになる。これがため僅かな電
圧変化によってこの変化の方向に依存して電流を強く増
大または減少し得るようになる。質的には、電流対電圧
のかかる強い感度は電極間に電流を生ぜしめる寄生現象
の全部に対し見られるようになる。
により計算された冷陰極放出電流密度値によって電極の
表面状態に応じて所定電位差に対するこの電流密度の高
い増幅率を発生し得るようになる。これがため僅かな電
圧変化によってこの変化の方向に依存して電流を強く増
大または減少し得るようになる。質的には、電流対電圧
のかかる強い感度は電極間に電流を生ぜしめる寄生現象
の全部に対し見られるようになる。
これがため、所定電圧スレシホルドを越えると、高電界
に曝される電極の表面効果によっておよび電界を減少す
るために絶縁距離を増大する際、ガス分子とイオンとの
衝突によってガスの点弧を防止するのが困難になってく
る。
に曝される電極の表面効果によっておよび電界を減少す
るために絶縁距離を増大する際、ガス分子とイオンとの
衝突によってガスの点弧を防止するのが困難になってく
る。
本発明は、200kVよりも著しく高い電圧で給電する
と共に上述した有効寿命を増大し、しかも満足し得る信
頼性を保持し得るようにした上述した種類の密封高ビー
ム束中性子管を提供することを目的とするものである。
と共に上述した有効寿命を増大し、しかも満足し得る信
頼性を保持し得るようにした上述した種類の密封高ビー
ム束中性子管を提供することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明はガス状重水素−三重水素混合物を含み、そのイ
オンにより高エネルギービームを発生し、このビームを
ターゲットに照射してこれに中性子を放出する核融合反
応を生ぜしめるようにしてを効寿命および信頼性を改善
するようにした密封高ビーム束中性子管において、前記
中性子管は加速電極によって互いに分離された第1部分
および第2部分を具え、該加速電極は前記第1部分およ
び第2部分間に遮蔽部材を形成し、前記第1部分は可調
整正電位点に接続されイオン源を含み、前記第2部分は
、一体に構成された中性子管の導電性材料より成る外匣
を経て接地された前記加速電極の電位の零値に対し調整
可能な電位点に接続されたターゲットを含むようにした
ことを特徴とする。
オンにより高エネルギービームを発生し、このビームを
ターゲットに照射してこれに中性子を放出する核融合反
応を生ぜしめるようにしてを効寿命および信頼性を改善
するようにした密封高ビーム束中性子管において、前記
中性子管は加速電極によって互いに分離された第1部分
および第2部分を具え、該加速電極は前記第1部分およ
び第2部分間に遮蔽部材を形成し、前記第1部分は可調
整正電位点に接続されイオン源を含み、前記第2部分は
、一体に構成された中性子管の導電性材料より成る外匣
を経て接地された前記加速電極の電位の零値に対し調整
可能な電位点に接続されたターゲットを含むようにした
ことを特徴とする。
従って、同一の中性子放出レベルに対してイオンビーム
の強度は、イオンおよびガス分子の衝突によって重水素
−三重水素混合物の点弧の危険性を増大することな(、
イオン源およびターゲット間の電位差を2倍にし得るよ
うにして減少させることができる。その理由は前記遮蔽
部材による中性子管の2部分への細分割によってイオン
により移動すべき距離を前記第1部分および第2部分の
各々内に保持するからである。かかる配置とすることに
よって電極に隣接する電気力線に沿って前記積Pdの臨
界値を著しく減少させることができることは明らかであ
る。
の強度は、イオンおよびガス分子の衝突によって重水素
−三重水素混合物の点弧の危険性を増大することな(、
イオン源およびターゲット間の電位差を2倍にし得るよ
うにして減少させることができる。その理由は前記遮蔽
部材による中性子管の2部分への細分割によってイオン
により移動すべき距離を前記第1部分および第2部分の
各々内に保持するからである。かかる配置とすることに
よって電極に隣接する電気力線に沿って前記積Pdの臨
界値を著しく減少させることができることは明らかであ
る。
中性子管の冷陰極放出電流の形成処理中、前記外匣およ
びイオン源によって中性子管の第1部分の陰極および陽
極を夫々形成し、かつ、前記ターゲットおよび外匣によ
って中性子管の第2部分の陰極および陽極を夫々形成す
る。中性子管の前記第1部分および第2部分の各々の対
向電極の表面効果により生じる冷陰極放出電流を電極の
特性および表面状態に依存して著しく 、10”程度減
少する。
びイオン源によって中性子管の第1部分の陰極および陽
極を夫々形成し、かつ、前記ターゲットおよび外匣によ
って中性子管の第2部分の陰極および陽極を夫々形成す
る。中性子管の前記第1部分および第2部分の各々の対
向電極の表面効果により生じる冷陰極放出電流を電極の
特性および表面状態に依存して著しく 、10”程度減
少する。
その理由はイオンビームを加速するに要する電位差が前
記中性子管の前記第1部分および第2部分間で1/2と
なるからである。
記中性子管の前記第1部分および第2部分間で1/2と
なるからである。
中性子管の全電位差のこの分布は、供給電圧および電極
を分離する幾何学的距離により中性子管の2部分間で非
対称となり、これにより分離電極およびイオン源間およ
び同一電極およびターゲット間で加速スペースを変化さ
せ、かくしてイオンビームの収束制御を改善し、中性子
管の有効寿命を増大し得るようにする。
を分離する幾何学的距離により中性子管の2部分間で非
対称となり、これにより分離電極およびイオン源間およ
び同一電極およびターゲット間で加速スペースを変化さ
せ、かくしてイオンビームの収束制御を改善し、中性子
管の有効寿命を増大し得るようにする。
(実施例)
図面につき本発明を説明する。
第1図に示す既知の中性子管の第1例では、中性子管は
リザーバ2から生ずる重水素および三重水素のガス混合
物を含む外匣1を具える。このガス混合物は接地されて
いるイオン源3でイオン化される。このイオン源からタ
ーゲット6と一体に構成され負の極めて高い電圧点(−
THT)に接続された加速電極5によって取出す。加速
スペースと対向する壁部7は絶縁材料で造る必要がある
。イオン源からの金属粉雪流の通路によって金属化され
た壁部の領域8を画成し、これが第1例の主な欠点を示
す。
リザーバ2から生ずる重水素および三重水素のガス混合
物を含む外匣1を具える。このガス混合物は接地されて
いるイオン源3でイオン化される。このイオン源からタ
ーゲット6と一体に構成され負の極めて高い電圧点(−
THT)に接続された加速電極5によって取出す。加速
スペースと対向する壁部7は絶縁材料で造る必要がある
。イオン源からの金属粉雪流の通路によって金属化され
た壁部の領域8を画成し、これが第1例の主な欠点を示
す。
第2図に示す既知の中性子管の第2例では、イオン源9
はケーブル10を経て正の極めて高い電圧源+TITに
接続し、このケーブルIOの一端を絶縁スリーブ11お
よび12によって囲み、これらスリーブ間に絶縁冷却流
体を循環させるスペースを形成する。加速電極13は領
域14で冷却系によって冷却すると共に接地点に接続し
て金属壁部15と一体に形成し得るようにする。この配
置によって中性子管の絶縁部分での金属粉雪流を防止し
得るようにすると共にことにより従来技術の最新の状態
を表わし得るようにする。
はケーブル10を経て正の極めて高い電圧源+TITに
接続し、このケーブルIOの一端を絶縁スリーブ11お
よび12によって囲み、これらスリーブ間に絶縁冷却流
体を循環させるスペースを形成する。加速電極13は領
域14で冷却系によって冷却すると共に接地点に接続し
て金属壁部15と一体に形成し得るようにする。この配
置によって中性子管の絶縁部分での金属粉雪流を防止し
得るようにすると共にことにより従来技術の最新の状態
を表わし得るようにする。
重水素および三重水素のガス混合物を圧力調整器16を
経て供給する。この場合のガス圧はイオン化マノメータ
17によって制御する。この例ではイオン源9は、ペニ
ング型(しかし、本発明による型とは相違する)とし、
電圧子THTを供給する陽極18とこの陽極に対し5k
Vの同一の負の電位点に接続された2つの陰極19およ
び20と、軸線方向の磁界を発生し、その磁気回路がイ
オン源9を囲む強磁性外匣22によって囲まれた永久磁
石21とを具える。
経て供給する。この場合のガス圧はイオン化マノメータ
17によって制御する。この例ではイオン源9は、ペニ
ング型(しかし、本発明による型とは相違する)とし、
電圧子THTを供給する陽極18とこの陽極に対し5k
Vの同一の負の電位点に接続された2つの陰極19およ
び20と、軸線方向の磁界を発生し、その磁気回路がイ
オン源9を囲む強磁性外匣22によって囲まれた永久磁
石21とを具える。
イオン源から取出したイオンビーム23は抑圧電極24
を通過し、領域2Gで液体流により冷却されたターゲッ
ト25に衝突する。これと同種類の中性子発生器は、フ
ランス国特許第2.438.153号明細書に詳細に記
載されている。
を通過し、領域2Gで液体流により冷却されたターゲッ
ト25に衝突する。これと同種類の中性子発生器は、フ
ランス国特許第2.438.153号明細書に詳細に記
載されている。
ブレークダウン現象は電極間に供給される高電圧の影響
の下でガス入り管ないに発生する。第2図に示す中性子
管の初期作動は次の通りである。
の下でガス入り管ないに発生する。第2図に示す中性子
管の初期作動は次の通りである。
磁気回路22により形成されるイオン源9の外匣は零、
即ち、接地電位にある中性子管の外匣15の電位に対し
正の極めて高い電位を有する。これがため、イオン源の
外匣は陽極として作動し、中性子管の外匣は巨視的電界
が発生する陰極として作動する。
即ち、接地電位にある中性子管の外匣15の電位に対し
正の極めて高い電位を有する。これがため、イオン源の
外匣は陽極として作動し、中性子管の外匣は巨視的電界
が発生する陰極として作動する。
この陽極の表面の微視的凹凸面によってその幾何学的形
状に従ってこの電界値を微視的に増幅する。
状に従ってこの電界値を微視的に増幅する。
これがため、冷陰極電子放出が可能となる。この電流に
よっても中性子管に含まれるガス分子をイオン化する。
よっても中性子管に含まれるガス分子をイオン化する。
従って、不慮の短絡を生じ、電極間をブレークダウンす
るアバランシェ効果が生じるようになる。
るアバランシェ効果が生じるようになる。
前記フォウレルーノルドハイムの式を簡単化することに
よって冷陰極放出電流密度を決めることができる。この
式はガスの存在により何等増幅率を考慮することなく、
真空中で得ると次式で表わすことができる。
よって冷陰極放出電流密度を決めることができる。この
式はガスの存在により何等増幅率を考慮することなく、
真空中で得ると次式で表わすことができる。
ここにEは微視的電界(V/am)。
E、は巨視的電界(V/cm)。
βは微視的凹凸性の幾何学的形状に依存する増幅率。
Wは固体(仕事関数)の表面から除去するために電子が
必要とするエネルギー。この量は電極の材料の特性およ
び表面不純物にのみ依存する。
必要とするエネルギー。この量は電極の材料の特性およ
び表面不純物にのみ依存する。
Jは冷陰極放出電流密度(A/cmす。
増幅率βは微視的凹凸(球面、楕円面)の端部の形状お
よび電極の表面上の高さhに起因し、曲線に基づいて推
測することができる。この増幅率は、比h/r=1(1
”に対しβ#103となる。ここにrは端部が球面状と
なる微視的凹凸の半径である。
よび電極の表面上の高さhに起因し、曲線に基づいて推
測することができる。この増幅率は、比h/r=1(1
”に対しβ#103となる。ここにrは端部が球面状と
なる微視的凹凸の半径である。
冷陰極放出電流密度Jは、1.6〜5eV変化する仕事
関数Wの種々の値に対し微視的電界Eの関数として与え
られる。
関数Wの種々の値に対し微視的電界Eの関数として与え
られる。
表面にアルカリ金属不純物を有する電極に対しては、仕
事関数は2.5eVとなる。通常の中性子管では巨視的
電界は2・105程度となる。微視的凹凸が存在するこ
とにより生じる10”程度の利得が得られる場合には、
冷陰極放出電流密度は4・103μA/μm2となる。
事関数は2.5eVとなる。通常の中性子管では巨視的
電界は2・105程度となる。微視的凹凸が存在するこ
とにより生じる10”程度の利得が得られる場合には、
冷陰極放出電流密度は4・103μA/μm2となる。
fQ’V/cm、即ち、1/2に減少した巨視的電界に
対し、冷陰極放出電流密度はほぼ3・10−3μA/μ
ff+1となり、従って、これはほぼ10@に減少する
。
対し、冷陰極放出電流密度はほぼ3・10−3μA/μ
ff+1となり、従って、これはほぼ10@に減少する
。
実際、この著しい減少によって電極間のF−Nオリジン
のブレークダウンの危険性を除去することができ、従っ
て中性子管の信頼性を高めることができる。
のブレークダウンの危険性を除去することができ、従っ
て中性子管の信頼性を高めることができる。
しかし、イオンビームの強度を減少することにより中性
子管の有効寿命を長(゛する場合にはイオン源およびタ
ーゲット間に供給される電位差を増大させる必要があり
、従って、はぼ200kVの極めて高い電圧を越えてブ
レークダウンの危険性が著しく増大するようになる。絶
縁距離を増大させて電界を減少させるようにするた場合
には、ガスのイオンおよび分子の衝突によりガスの点弧
する確率が極めて大きくなる。
子管の有効寿命を長(゛する場合にはイオン源およびタ
ーゲット間に供給される電位差を増大させる必要があり
、従って、はぼ200kVの極めて高い電圧を越えてブ
レークダウンの危険性が著しく増大するようになる。絶
縁距離を増大させて電界を減少させるようにするた場合
には、ガスのイオンおよび分子の衝突によりガスの点弧
する確率が極めて大きくなる。
本発明装置によれば、イオンビームに対し加速電圧を増
大し、しかも、中性子管の電極間の電界を許容値に保持
しながら中性子管の有効寿命および信頼性をできるだけ
良好に折衷することができる。
大し、しかも、中性子管の電極間の電界を許容値に保持
しながら中性子管の有効寿命および信頼性をできるだけ
良好に折衷することができる。
第3図は加速電極13および極めて高電圧の給電ケーブ
ル10間に位置する第2図に示す中性子管の部分に類似
する2部分よりなるかかる装置の第1例を示す。これら
の部分のうちの一方の部分は常時外匣15内にイオン源
18.19.20.21を含み、他方の部分は外匣15
′内に抑圧電極27およびターゲット28を含む。これ
ら2部分は互いに膠着し、その対向面によってこれらが
共通に有する加速電極を表わすようにし、従って、これ
ら部分は電極の中央面に対し対称に配列されるようにな
る。
ル10間に位置する第2図に示す中性子管の部分に類似
する2部分よりなるかかる装置の第1例を示す。これら
の部分のうちの一方の部分は常時外匣15内にイオン源
18.19.20.21を含み、他方の部分は外匣15
′内に抑圧電極27およびターゲット28を含む。これ
ら2部分は互いに膠着し、その対向面によってこれらが
共通に有する加速電極を表わすようにし、従って、これ
ら部分は電極の中央面に対し対称に配列されるようにな
る。
第3図において第2図に示すものと同一部分には同一符
号を付して示す。又、第1部分の素子に対し対称をなす
中性子管の第2部分の素子には同一符号にダッシュを付
して示す。即ち、ケーブルに対しては符号10および1
0′、強磁性外匣に対しては22および22′を付して
示す。本例では圧力調整器16およびイオン化マノメー
タ17はターゲットを具える中性子管の第2部分の端部
に配列する。
号を付して示す。又、第1部分の素子に対し対称をなす
中性子管の第2部分の素子には同一符号にダッシュを付
して示す。即ち、ケーブルに対しては符号10および1
0′、強磁性外匣に対しては22および22′を付して
示す。本例では圧力調整器16およびイオン化マノメー
タ17はターゲットを具える中性子管の第2部分の端部
に配列する。
第2図に示す配置によって中性子管に単一の正極性、即
ち、+■の電圧を給電し得るようにしている。
ち、+■の電圧を給電し得るようにしている。
しかし、第3図に示す配置によって2つの極性、即ち、
ケーブルIOを経てイオン源に供給される+Vの電圧お
よびケーブル10′を経てターゲットに供給される一■
の電圧を発生する電圧発生器を用いることができる。こ
れら2つの極性は接地点に対して規定され、これに前記
外匣15および15’と一体の加速電極13を接続する
。これがため、加速を制御する電位差を2vとして前述
したようにターゲット電流を減少して中性子管の表面寿
命を増大し得るも、中性子管の第1部分の陰極15のレ
ベルの電界および中性子管の第2部分の陰極22′のレ
ベルの電界を許容し得る信頼性で折衷可能な値に保持す
る。
ケーブルIOを経てイオン源に供給される+Vの電圧お
よびケーブル10′を経てターゲットに供給される一■
の電圧を発生する電圧発生器を用いることができる。こ
れら2つの極性は接地点に対して規定され、これに前記
外匣15および15’と一体の加速電極13を接続する
。これがため、加速を制御する電位差を2vとして前述
したようにターゲット電流を減少して中性子管の表面寿
命を増大し得るも、中性子管の第1部分の陰極15のレ
ベルの電界および中性子管の第2部分の陰極22′のレ
ベルの電界を許容し得る信頼性で折衷可能な値に保持す
る。
中性子管を給電するかかるモードによってイオンビーム
を2倍に加速する電位差が得られ、かくしてターゲット
電流のみを減少することによって生じる中性子放出の減
少を補償することができる。
を2倍に加速する電位差が得られ、かくしてターゲット
電流のみを減少することによって生じる中性子放出の減
少を補償することができる。
本発明装置によれば信頼性の観点から追加の利点を提供
することができる。その理由はターゲット電流の減少が
動作圧力の減少によるイオン源の電流の相関的な減少に
より達成し得るからである。
することができる。その理由はターゲット電流の減少が
動作圧力の減少によるイオン源の電流の相関的な減少に
より達成し得るからである。
この装置によってもイオン源から発生する金属粉雪原を
減少させると共にビーム通路における寄生イオン化によ
り生じる金属粉雪原をも減少させることができる。
減少させると共にビーム通路における寄生イオン化によ
り生じる金属粉雪原をも減少させることができる。
更に、加速電極13はイオン源およびターゲット間の“
遮蔽部材”として作用し、従って、ガス中のイオンの可
能な通路を著しく減少し、ブレークダウンの危険性を充
分減少し、信頼性を更に改善することができる。
遮蔽部材”として作用し、従って、ガス中のイオンの可
能な通路を著しく減少し、ブレークダウンの危険性を充
分減少し、信頼性を更に改善することができる。
中性子管を対称給電することにより他の有利な利点があ
る。即ち、中性子管の2つの部分間の加速スペースを変
化させ、これによりビームの集束を良好に制御し得るイ
オン光学系を得ることができる。これは、実際上、中性
子管の各部分の電界の値への応答に相当する。
る。即ち、中性子管の2つの部分間の加速スペースを変
化させ、これによりビームの集束を良好に制御し得るイ
オン光学系を得ることができる。これは、実際上、中性
子管の各部分の電界の値への応答に相当する。
これがため、中性子管の第1部分では陰極を外匣1によ
って形成する。この外匣は中性子管の外壁を形成すると
共にその曲率半径は大きく、電界E、はこの外匣と陽極
として作動するイオン源の外匣11との間に発生する。
って形成する。この外匣は中性子管の外壁を形成すると
共にその曲率半径は大きく、電界E、はこの外匣と陽極
として作動するイオン源の外匣11との間に発生する。
中性子管の第2部分では、ターゲットの外匣11′は陰
極を構成する。この外匣の曲率半径を壁部の曲率半径よ
りも充分に小さ(する。その理由はこれが中性子管の内
側に位置するからであり、電界E、がこの外匣と陽極と
して作動する中性子管の外匣1′との間に発生するから
である。
極を構成する。この外匣の曲率半径を壁部の曲率半径よ
りも充分に小さ(する。その理由はこれが中性子管の内
側に位置するからであり、電界E、がこの外匣と陽極と
して作動する中性子管の外匣1′との間に発生するから
である。
イオン源およびターゲットを対称給電する場合上記電界
には不等式Et>E、が存在するようになる。
には不等式Et>E、が存在するようになる。
その理由は2つの電極のレベルでの曲率半径間の差が中
性子管の各部分において陰極として作用するからである
。
性子管の各部分において陰極として作用するからである
。
中性子管の各部分における作動を等価とするためには、
ターゲットに供給する電圧TIITの値を再調整して電
界(E、−B、)を再調整する必要がある。
ターゲットに供給する電圧TIITの値を再調整して電
界(E、−B、)を再調整する必要がある。
本発明装置の他の例を第4図に示す。本例では中性子管
の絶縁壁の幾何学的形状を規定してこの絶縁壁に沿う“
フラッシュオーバ効果をできるだけ減少し得るようにす
る。このフラッシュオーバ効果は、絶縁体の表面に当た
る粒子の衝撃によりその表面に生じる連続2次電子放出
として明らかである。絶縁体に対しては表面損傷効果が
生じるが、これは絶縁体の表面を傾斜させて電界に対し
所定角度で囲み、リバウンドが防止されるようにして軽
減することができる。絶縁体の幾何学的形状は極性に従
って相違する。
の絶縁壁の幾何学的形状を規定してこの絶縁壁に沿う“
フラッシュオーバ効果をできるだけ減少し得るようにす
る。このフラッシュオーバ効果は、絶縁体の表面に当た
る粒子の衝撃によりその表面に生じる連続2次電子放出
として明らかである。絶縁体に対しては表面損傷効果が
生じるが、これは絶縁体の表面を傾斜させて電界に対し
所定角度で囲み、リバウンドが防止されるようにして軽
減することができる。絶縁体の幾何学的形状は極性に従
って相違する。
第4図において、ターゲットを含む中性子管の第2部分
は第3図に示すものと同一である。イオン源を含む中性
子管の第1部分において、強磁性外匣11の内容も第3
図に示すものと同一である。
は第3図に示すものと同一である。イオン源を含む中性
子管の第1部分において、強磁性外匣11の内容も第3
図に示すものと同一である。
しかし、中性子管の能動領域に相当する絶縁スリーブ1
2′および12′の表面は矢印29で示すイオンビーム
束の方向に対し所定角度で囲むように傾斜させることが
できる。
2′および12′の表面は矢印29で示すイオンビーム
束の方向に対し所定角度で囲むように傾斜させることが
できる。
電圧TITで陽極を給電するケーブル10′のスリーブ
11’の設計は、この配置に適合させることができる。
11’の設計は、この配置に適合させることができる。
第1および2図は従来の中性子管の夫々第1例および第
2例を示す縦断面図、 第3および4図は本発明による中性子管の第1例および
第2例を夫々示す縦断面図である。 ■ ・・・ 外匣、 2 ・・・ リザーバ3 ・・・
イオン源、 4 ・・・ イオンビーム5 ・・・
加速電極、 6 ・・・ ターゲット7 ・・・ 壁部
、 8 ・・・ 領域9 ・・・ イオン源、 10
・・・ ケーブル11、+2 ・・・ 絶縁スリー
ブ 13 ・・・ 加速電極、 14 ・・・ 領域1
5 ・・・ 金属壁部、 16 ・・・ 圧力調整
器17 ・・・ イオン化マノメータ 18 ・・・ 陽極、 19.20 ・・・ 陰極
21 ・・・ 永久磁石、 22 ・・・ 強磁性
外匣z3 ・・・ イオンビーム 24.27 ・・・ 抑圧電極 25.28 ・・・ ターゲット、26 ・・・
領域FIG、2
2例を示す縦断面図、 第3および4図は本発明による中性子管の第1例および
第2例を夫々示す縦断面図である。 ■ ・・・ 外匣、 2 ・・・ リザーバ3 ・・・
イオン源、 4 ・・・ イオンビーム5 ・・・
加速電極、 6 ・・・ ターゲット7 ・・・ 壁部
、 8 ・・・ 領域9 ・・・ イオン源、 10
・・・ ケーブル11、+2 ・・・ 絶縁スリー
ブ 13 ・・・ 加速電極、 14 ・・・ 領域1
5 ・・・ 金属壁部、 16 ・・・ 圧力調整
器17 ・・・ イオン化マノメータ 18 ・・・ 陽極、 19.20 ・・・ 陰極
21 ・・・ 永久磁石、 22 ・・・ 強磁性
外匣z3 ・・・ イオンビーム 24.27 ・・・ 抑圧電極 25.28 ・・・ ターゲット、26 ・・・
領域FIG、2
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ガス状重水素−三重水素混合物を含み、そのイオン
により高エネルギービームを発生し、このビームをター
ゲットに照射してこれに中性子を放出する核融合反応を
生ぜしめるようにして有効寿命および信頼性を改善する
ようにした密封高束中性子管において、前記中性子管は
加速電極によって互いに分離された第1部分および第2
部分を具え、該加速電極は前記第1部分および第2部分
間に遮蔽部材を形成し、前記第1部分は可調整正電位点
に接続されイオン源を含み、前記第2部分は、一体に構
成された中性子管の導電性材料より成る外匣を経て接地
された前記加速電極の電位の零値に対し調整可能な電位
点に接続されたターゲットを含むようにしたことを特徴
とする密封高ビーム束中性子管。 2、前記イオン源および前記ターゲット間の電位差を2
倍にし得るようにして、中性子放射レベルを一定に保持
しながら、イオンビームの強度を減少し、従って、前記
中性子管の前記遮蔽部材による2部分への分離により前
記第1部分および第2部分の各々におけるイオンの移動
距離の減少に起因してイオンおよびガス分子の衝突によ
る前記重水素−三重水素混合物の点弧の危険性を増大す
る事なく中性子管の有効寿命を増大するようにしたこと
を特徴とする請求項1に記載の密封高ビーム束中性子管
。 3、前記外匣およびイオン源によって中性子管の第1部
分の陰極および陽極を夫々形成し、前記ターゲットおよ
び外匣によって中性子管の第2部分の陰極および陽極を
夫々形成し、中性子管の前記第1部分および第2部分の
各々の対向電極の表面効果の影響の下で生じる冷陰極放
出電流を著しく減少し、これによりイオンビームを加速
するに要する電位差が前記中性子管の前記第1部分およ
び第2部分間で1/2となることにより信頼性を増大す
るようにしたことを特徴とする請求項1に記載の密封高
ビーム束中性子管。 4、前記中性子管の第1部分および第2部分の電界は、
加速スペースを適宜調整して前記各部分におけるイオン
ビームおよび/または前記冷陰極放出電流の収束を良好
に制御し得るようにする場合、印加電位のため、または
電極を分離する幾何学的距離のため、非対称に分布させ
るようにしたことを特徴とする請求項1〜3の何れかの
項に記載の密封高ビーム束中性子管。 5、前記中性子管の第1部分および第2部分は、前記遮
蔽部分を形成する加速電極を通る2等分面に対し対称に
配列するようにしたことを特徴とする請求項1〜4の何
れかの項に記載の密封高ビーム束中性子管。 6、前記中性子管の第1部分および第2部分に互いに対
応する絶縁壁の表面をイオンビームの方向に対し同一方
向に傾斜させるようにしたことを特徴とする請求項1〜
4の何れかの項に記載の密封高ビーム束中性子管。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8805510 | 1988-04-26 | ||
FR8805510A FR2630576B1 (fr) | 1988-04-26 | 1988-04-26 | Dispositif d'amelioration de la duree de vie et de la fiabilite d'un tube neutronique scelle a haut flux |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0213900A true JPH0213900A (ja) | 1990-01-18 |
Family
ID=9365678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1104775A Pending JPH0213900A (ja) | 1988-04-26 | 1989-04-26 | 密封高ビーム束中性子管 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5053184A (ja) |
EP (1) | EP0340832B1 (ja) |
JP (1) | JPH0213900A (ja) |
DE (1) | DE68911741T2 (ja) |
FR (1) | FR2630576B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102226406A (zh) * | 2011-05-10 | 2011-10-26 | 中铁十二局集团第一工程有限公司 | 超长超前锚杆施工方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9825402D0 (en) | 1998-11-19 | 1999-01-13 | Pfizer Ltd | Antiparasitic formulations |
US6441569B1 (en) | 1998-12-09 | 2002-08-27 | Edward F. Janzow | Particle accelerator for inducing contained particle collisions |
KR20040045440A (ko) | 2001-09-17 | 2004-06-01 | 일라이 릴리 앤드 캄파니 | 농약 배합물 |
US7176469B2 (en) * | 2002-05-22 | 2007-02-13 | The Regents Of The University Of California | Negative ion source with external RF antenna |
US6975072B2 (en) * | 2002-05-22 | 2005-12-13 | The Regents Of The University Of California | Ion source with external RF antenna |
CA2723224C (en) | 2008-05-02 | 2018-09-25 | Phoenix Nuclear Labs Llc | Device and method for producing medical isotopes |
US10978214B2 (en) | 2010-01-28 | 2021-04-13 | SHINE Medical Technologies, LLC | Segmented reaction chamber for radioisotope production |
US10734126B2 (en) | 2011-04-28 | 2020-08-04 | SHINE Medical Technologies, LLC | Methods of separating medical isotopes from uranium solutions |
RU2649662C2 (ru) | 2012-04-05 | 2018-04-05 | Шайн Медикал Текнолоджиз, Инк. | Водная сборка и способ управления |
CN111739674B (zh) * | 2020-05-26 | 2022-08-05 | 中国原子能科学研究院 | 一种用于负高压加速的小型中子发生器的靶电极 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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NL274922A (ja) * | 1955-06-14 | |||
US2985760A (en) * | 1958-09-12 | 1961-05-23 | High Voltage Engineering Corp | Compact neutron source |
DE1233068B (de) * | 1963-11-27 | 1967-01-26 | Kernforschung Gmbh Ges Fuer | Neutronengenerator |
NL289180A (ja) * | 1965-03-11 | |||
US3581093A (en) * | 1968-04-23 | 1971-05-25 | Kaman Sciences Corp | Dc operated positive ion accelerator and neutron generator having an externally available ground potential target |
DE1816459B1 (de) * | 1968-12-21 | 1970-06-25 | Kernforschung Gmbh Ges Fuer | Neutronengenerator |
US3746859A (en) * | 1970-04-22 | 1973-07-17 | Atomic Energy Commission | High intensity neutron source |
NL7200001A (ja) * | 1972-01-03 | 1973-07-05 | ||
US3760225A (en) * | 1972-06-06 | 1973-09-18 | Atomic Energy Commission | High current plasma source |
US4119858A (en) * | 1976-08-11 | 1978-10-10 | Lawrence Cranberg | Compact long-lived neutron source |
NL7707357A (en) * | 1977-07-04 | 1979-01-08 | Philips Nv | Anode for neutron generator ion source - has holes aligned to outlets in cathode converging beams on target |
NL7810299A (nl) * | 1978-10-13 | 1980-04-15 | Philips Nv | Neutronengenerator met een trefplaat. |
-
1988
- 1988-04-26 FR FR8805510A patent/FR2630576B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-04-20 DE DE68911741T patent/DE68911741T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-04-20 EP EP89201010A patent/EP0340832B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1989-04-25 US US07/343,115 patent/US5053184A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-04-26 JP JP1104775A patent/JPH0213900A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102226406A (zh) * | 2011-05-10 | 2011-10-26 | 中铁十二局集团第一工程有限公司 | 超长超前锚杆施工方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0340832B1 (fr) | 1993-12-29 |
FR2630576A1 (fr) | 1989-10-27 |
DE68911741D1 (de) | 1994-02-10 |
FR2630576B1 (fr) | 1990-08-17 |
EP0340832A1 (fr) | 1989-11-08 |
DE68911741T2 (de) | 1994-06-30 |
US5053184A (en) | 1991-10-01 |
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