JPH02130480A - Testing apparatus of printed circuit board - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To make it possible to share a test module of the same function even with a different testing method by a method wherein a control means takes out a test sequence table for realizing a specified testing method from printed circuit board parameters in a memory means, which correspond to a printed circuit board to be tested. CONSTITUTION:While making a memory (RAM) 12 store temporarily the data on a printed circuit board to be tested, which are inputted from an operation terminal 13, CPU 10 selects, based on said data, one of printed circuit board parameters 1131 to 113n in a printed circuit board parameter table 114, which corresponds to the printed circuit board to be tested, and executes a schedule program 117. In order to realize a testing method specified on the basis of the selected printed circuit board parameter, in other words, the CPU drives a test sequence table takeout routine 115 and a test module number takeout and test module execution routine 116 and executes test modules 1111, 111n,... on the basis of test sequence tables 1121 to 112n, thereby conducting a test of a printed circuit board.

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、回路部品を実装したプリント基板の電気的
動作を監視し、良否の判別を行うプリント基板の試験装
置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a printed circuit board testing device that monitors the electrical operation of a printed circuit board on which circuit components are mounted and determines whether it is good or bad.

［従来の技術］ 第３図は、従来のプリント基板試験装置の試験順序を示
す試験プログラムの説明図である。[Prior Art] FIG. 3 is an explanatory diagram of a test program showing the test order of a conventional printed circuit board testing device.

図において、１はプリント基板の１つの試験方法を実現
すべく作成された試験プログラムであり、順番に実行さ
れる複数の試験ブロック２から構成されている。この試
験ブロックは、ある試験機能、例えば「メモリにデータ
を書き込む」とか、「メモリからあるデータを探す」と
いった単純機能だけをもつソフトウェア処理である。In the figure, 1 is a test program created to implement one test method for printed circuit boards, and is composed of a plurality of test blocks 2 that are executed in sequence. This test block is software processing that has only a certain test function, for example, a simple function such as ``writing data to memory'' or ``searching for certain data from memory.''

従来におけるプリント基板の１つの試験方法は、これに
該当する上記構成の試験プログラム１の試験ブロック２
を左端から１つ１つ順番に実行することにより実現され
る。One of the conventional testing methods for printed circuit boards is the test block 2 of the test program 1 having the above configuration.
This is achieved by executing the following one by one starting from the left end.

従って、１つの試験を実現するためには、上記構成の試
験プログラムが少なくとも１つ必要となる。そのため、
試験方法の変更があった場合には、次に述べる２つの方
法のいずれかが採用されていた。Therefore, in order to implement one test, at least one test program with the above configuration is required. Therefore,
When there was a change in the test method, one of the following two methods was adopted.

その１つは、第４図に示すように変更の生じている試験
プログラム１の変更個所の試験ブロック２１を修正する
方法であり、もう１つは、第５図に示すように変更の生
じている試験プログラム１の変更個所の試験ブロック２
１を修正し、修正された試験ブロック２１を含む試験プ
ログラムを新たな試験プログラム３として登録する方法
である。One method is to modify the test block 21 at the changed part of the test program 1, as shown in FIG. Test block 2 of the changed part of test program 1
In this method, the test program 1 is modified and the test program including the modified test block 21 is registered as a new test program 3.

［発明が解決しようとする課Ｍｌ！］ 上述のような従来のプリント基板試験方法において、前
者の方法では、ｌ試験方法：ｌ試験プログラムの関係が
固定であるため、複数種類ある被試験用プリント基板の
うち、ある種のプリント基板に対して試験方法の変更が
あると、変更修正された試験プログラムは、他のプリン
ト基板の試験に適合しなくなってしまうという問題があ
る。[The problem that the invention is trying to solve! ] In the conventional printed circuit board testing method as described above, in the former method, the relationship between l test method and l test program is fixed, so that it is difficult to On the other hand, if there is a change in the test method, there is a problem that the modified test program is no longer suitable for testing other printed circuit boards.

また、前記後者の方法では、前者の問題が解消し得るも
のの、試験方法が変更される都度、新たな試験プログラ
ム３が追加されることになるため、試験プログラムのメ
モリに占める割合が増加し、最後にはメモリ不足という
問題が生じてしまうことになる。In addition, although the latter method can solve the former problem, each time the test method is changed, a new test program 3 is added, which increases the proportion of the test program memory. Eventually, you will run into the problem of running out of memory.

この発明は、上述のような問題を解決するためになされ
たもので、プリント基板に対する試験方法の変更があっ
ても、これに容易に対応できると共に、試験プログラム
のメモリ容量を極力小さくできるプリント基板の試験装
置を提供することを目的とする。This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and it provides a printed circuit board that can easily respond to changes in the test method for printed circuit boards and that can minimize the memory capacity of the test program. The purpose is to provide testing equipment for

［課題を解決するための手段］ この発明のプリント基板の試験装置は、被試験プリント
基板の試験方法を機能別に分けてモジュール化した試験
モジュールが登録されていると共に各被試験プリント基
板に対する試験モジュールの呼び出し順序を記述した複
数の試験順序テーブルを有するプリント基板パラメータ
を被試験プリント基板の種類毎に設けたメモリ手段と、
人力指令に従い被試験プリント基板に該当する前記プリ
ント基板パラメータのうち指定された試験方法の試験順
序テーブルを取り出すと共に該試験順序テーブルに従っ
て前記試験モジュール群から試験モジュールを呼び出し
実行する制御手段とを備えてなるものである。[Means for Solving the Problems] The printed circuit board testing device of the present invention has registered test modules in which test methods for printed circuit boards under test are divided into modules according to functions, and a test module for each printed circuit board under test. memory means provided with printed circuit board parameters for each type of printed circuit board to be tested, each having a plurality of test order tables that describe the order in which they are called;
control means for extracting a test order table of a specified test method among the printed circuit board parameters applicable to the printed circuit board under test in accordance with a manual instruction, and for calling and executing a test module from the test module group according to the test order table; It is what it is.

［作　用１ この発明においては、制御手段がメモリ手段の中の被試
験プリント基板に該当するプリント基板パラメータから
指定した試験方法を実現するための試験順序テーブルを
取り出し、この試験順序テーブルに従ってメモリ手段の
試験モジュール群から必要とする試験モジュールを順次
呼び出し実行することでプリント基板を試験することに
なる。[Function 1] In the present invention, the control means extracts a test order table for implementing a specified test method from the printed circuit board parameters corresponding to the printed circuit board under test in the memory means, and executes the test order in the memory means according to this test order table. The printed circuit board is tested by sequentially calling and executing the required test modules from the test module group.

従って、この発明にあっては、異なる試験方法でも同一
機能の試験モジュールを共通化でき、メモリの歩容量化
が可能になると共に、試験方法の変更に対しても容易に
かつ即座に対応し得る。Therefore, according to the present invention, test modules with the same function can be used in common for different test methods, making it possible to increase the memory capacity, and also making it possible to easily and immediately respond to changes in test methods. .

［実施例］ 以下、この発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail based on the drawings.

第１図は、この発明によるプリント基板の試験装置の一
例を示す全体の構成図である。FIG. 1 is an overall configuration diagram showing an example of a printed circuit board testing apparatus according to the present invention.

図において、プリント基板試験装置は、全体を制御する
中央処理装置（以下ＣＰＵと略称する）１０と、試験用
のプログラムやデータを格納するメモリ（ＲＯＭ）１１
と、プログラム変数、被試ＣＲＴ及びキーボードを含む
操作ターミナル１３とから構成され、これらはバス１４
を介してＣＰＵｌ０に接続されている。In the figure, the printed circuit board testing equipment includes a central processing unit (hereinafter referred to as CPU) 10 that controls the entire system, and a memory (ROM) 11 that stores test programs and data.
and an operation terminal 13 including program variables, a CRT under test, and a keyboard, which are connected to a bus 14.
It is connected to CPU10 via.

前記メモリ（ＲＯＭ）１１には、試験ブロックをサブル
ーチン化した試験モジュール１１１．。The memory (ROM) 11 includes a test module 111. which is a subroutine of test blocks. .

１１１ｇ　、　、、、、を複数登録した試験モジュール
群１１１と、１つの被試験プリント基板に対し複数の試
験方法が実現できるように試験モジュール１１１＋、１
１１ｇ、、、、、の呼び出し順序を記述した複数の試験
順序テーブル１１２．〜１１２７を有するプリント基板
パラメータ１１３．〜１１３１を被試験プリント基板の
種類毎に登録したプリント基板パラメータテーブル１１
４と、試験順序テーブル取り出しルーチン１１５と試験
モジュール番号取り出し及び試験モジュール実行ルーチ
ン１１６を有し、これらルーチンを実行することにより
試験順序テーブルに沿って試験モジュールを実行するス
ケジュールプログラム１１７がそれぞれ格納され、さら
に試験装置のソフトウェア及びハードウェアを初期化す
るための初期化ルーチン１１８が格納されている。A test module group 111 in which multiple test modules 111g, , , , are registered, and a test module group 111+, 1 to enable multiple test methods to be implemented for one printed circuit board under test.
A plurality of test order tables 112.11g, . PCB parameters 113. to 1127. -1131 are registered for each type of printed circuit board under test.Printed circuit board parameter table 11
4, a test order table retrieval routine 115, a test module number retrieval and test module execution routine 116, and a schedule program 117 that executes the test modules according to the test order table by executing these routines. Furthermore, an initialization routine 118 for initializing the software and hardware of the test device is stored.

次に、上記のように構成された本実施例の動作を第２図
のフローチャー１・に基づいて説明する。Next, the operation of this embodiment configured as described above will be explained based on flowchart 1 in FIG.

プリント基板の試験に際しては、まず、電源を投入する
ことにより、第２図に示すプログラムをスタートさせ、
ステップＳ１において、自動的あるいは操作ターミナル
１３から指令を与えて初期化ルーチン１１８を実行し、
装置のソフトウェア及びハードウェアを初期化する。When testing a printed circuit board, first turn on the power and start the program shown in Figure 2.
In step S1, an initialization routine 118 is executed automatically or by giving a command from the operation terminal 13,
Initialize the device software and hardware.

次のステップＳ２においては、操作ターミナル１３から
被試験プリント基板の名称を入力する。In the next step S2, the name of the printed circuit board to be tested is input from the operation terminal 13.

これに伴い、ＣＰＵｌ０は、操作ターミナル１３から入
力された被試験プリント基゛板のデータをメモリ（ＲＡ
Ｍ）１２に一時記憶されると共に、これを基にしてプリ
ント基板パラメータテーブル１１４の中の被試験プリン
ト基板に該当するプリント基板パラメータ１１３．〜１
１３．の１つを選択し、そして、スケジュールプログラ
ム１１７を実行する。即ち、選択されたプリント基板パ
ラメータのうち指定した試験方法を実現するために、試
験順序テーブル取り出しルーチン１１５．試験モジュー
ル番号取り出し及び試験モジュール実行ルーチン１１６
を駆使し、かつ試験順序テーブル１１２、〜１１２，１
に基づいて試験モジュール１１１１．１ｌｌｔ、、、、
、を実行することでプリント基板の試験を行う。Along with this, the CPU 10 stores the data of the printed circuit board under test inputted from the operation terminal 13 in the memory (RA
M) 12 and, based on this, the printed circuit board parameters 113.M) corresponding to the printed circuit board under test in the printed circuit board parameter table 114. ~1
13. Then, the schedule program 117 is executed. That is, in order to implement the specified test method among the selected printed circuit board parameters, the test order table retrieval routine 115. Test module number retrieval and test module execution routine 116
and test order table 112, ~112,1
Test module 1111.1llt based on
, to test the printed circuit board.

即ち、まずステップＳ３において、選択されたプリント
基板パラメータの全ての試験順序について実行したかを
判定する。ここで、ｒＹｅ　ＳＪＯ時はステップＳ８に
移行して試験結果を操作ターミナル１３のＣＲＴに表示
する。また、「ＮＯ」の時はステップＳ４に進み、選択
されたプリント基板パラメータのうちの指定された１つ
の試験順序テーブルに従って試験モジュール群１１１か
ら試験モジュールの１つをさがし出す、そして、次のス
テップＳ５において、さがし当てた試験モジュールを試
験モジュール群１１１から呼び出し、これを実行する０
次のステップＳ６では、試験モジュールがエラーを出し
たかを判定する。ここで、エラーが生じたことが判定さ
・れると、ステップＳ８に移行して、その結果をＣＲＴ
に表示する。また、エラーが発生しない場合は、ステッ
プＳ７に進み、指定された試験順序テーブルの全ての項
目について試験モジュールが実行されたかを判定する。That is, first, in step S3, it is determined whether all test orders of the selected printed circuit board parameters have been performed. Here, when it is rYe SJO, the process moves to step S8 and the test result is displayed on the CRT of the operation terminal 13. If "NO", the process advances to step S4, in which one of the test modules is searched from the test module group 111 according to the test order table specified by one of the selected printed circuit board parameters, and the next step is performed. In S5, the found test module is called from the test module group 111 and executed.
In the next step S6, it is determined whether the test module has issued an error. Here, if it is determined that an error has occurred, the process moves to step S8, and the result is transferred to the CRT.
to be displayed. If no error occurs, the process proceeds to step S7, and it is determined whether the test module has been executed for all items in the specified test order table.

ここで、「ＮＯ」の時は、ステップＳ４に戻り、指定さ
れた試験順序テーブルの次の項目に対応する試験モジュ
ールをさがし出す、また、「Ｙｅｓ」の場合は、ステッ
プＳ３に戻り、選択されたプリント基板パラメータの全
ての試験順序テーブルについて実行したかを判定する。Here, if "NO", the process returns to step S4, and the test module corresponding to the next item in the specified test order table is searched. It is determined whether all test order tables of printed circuit board parameters have been executed.

以下、同様にして、１つの被試験プリント基板に対する
試験は、これに該当するプリント基板パラメータの試験
順序テーブルに基づいて試験モジュールを呼び出すこと
で行われることになる。Thereafter, similarly, a test on one printed circuit board to be tested is performed by calling a test module based on the test order table of the corresponding printed circuit board parameters.

次に、プリント基板の具体的な試験方法について述べる
。Next, a specific test method for printed circuit boards will be described.

例えば、メモリに試験データ（例えば、乱数）を書き込
み、その後メモリの内容を読み出して試験データの比較
を行い、正常にメモリを読み書きできるのかを調べる。For example, test data (for example, random numbers) is written into the memory, and then the contents of the memory are read out and the test data is compared to see if the memory can be read and written normally.

メモリ・リード／ライト試験を登録してみる。この試験
を機能的に骨柄すると、メモリの指定した領域に試験デ
ータを書き込むモジュール、メモリの指定した領域を試
験データで比較するモジュールの２つになる。これらを
作成し、前者を１．後者を２というようにモジュール番
号をつけ、試験モジュール群１１１に登録する。メモリ
・リード／ライト試験を行うときには、モジュール番号
を、ｌ、２と順番に呼び出せばよい。従って、試験モジ
ュール順序テーブルには、１．２と記述する。こうして
得られた試験順序テーブルは、試験プリント基板の一連
の試験をするためのプリント基板パラメータとして登録
し、これをプリント基板パラメータテーブル１１４とし
て登録しておく。Try registering a memory read/write test. Functionally, this test consists of two modules: a module that writes test data into a specified area of memory, and a module that compares the specified area of memory with test data. Create these and set the former to 1. The latter is given a module number such as 2 and registered in the test module group 111. When performing a memory read/write test, it is sufficient to call the module numbers 1 and 2 in order. Therefore, it is written as 1.2 in the test module order table. The test order table obtained in this way is registered as a printed circuit board parameter for performing a series of tests on the test printed circuit board, and is registered as the printed circuit board parameter table 114.

また、他の試験を追加するときは、例えば、メモリに試
験データを書き込み、一定時間プリント基板をバッテリ
で駆動し、その後、メモリの内容を読み出して試験デー
タの比較を行い、正常にバッテリバックアップ回路が動
作しているかを調べる。バッテリバックアップ試験を追
加する。この機能を機能別に骨柄すると、メモリの指定
した領域に試験データを書き込むモジュール、プリント
基板を一定時間ハッテリで駆動させるモジュール。When adding other tests, for example, write test data to memory, drive the printed circuit board with a battery for a certain period of time, then read the contents of the memory and compare the test data to successfully test the battery backup circuit. Check whether it is working. Add battery backup test. Breaking down this function by function, there is a module that writes test data to a specified area of memory, and a module that drives a printed circuit board for a certain period of time.

メモリの指定した領域を試験データで比較するモジュー
ルの３つになる。このうち、書き込むモジュールと比較
するモジュールは前例で登録済みであるから、一定時間
バッテリ駆動させるモジュールを作成し、モジュール番
号を３として試験モジュール群１１１に登録する。バッ
テリバックアップ試験を行うときにはモジュール番号を
、■、３゜２の順序に呼び出せばよい。こうして、再び
試験順序テーブル、プリント基板パラメータ、パラメー
タテーブルに登録することによって簡単に行える。There are three modules that compare specified areas of memory with test data. Among these, the module to be compared with the module to be written has already been registered in the previous example, so a module that is powered by battery for a certain period of time is created and registered in the test module group 111 with the module number 3. When performing a battery backup test, the module numbers can be called out in the order of ■, 3°2. In this way, it can be easily performed by registering the test order table, printed circuit board parameters, and parameter table again.

このように異なる試験方法でも、その一部の処理が同じ
であれば、試験モジュールを共通化することができる。Even with these different test methods, if some of the processing is the same, the test module can be shared.

このことは、試験プログラムのメモリサイズを小さくす
ることにつながり、また、プリント基板試験装置の被試
験プリント基板に対する適合性を向上させ、プリント基
板試験装置の信頼性も高くなる。This leads to a reduction in the memory size of the test program, improves the suitability of the printed circuit board testing device to the printed circuit board under test, and increases the reliability of the printed circuit board testing device.

更に、被試験プリント基板毎に試験を行うためのテーブ
ル（プリント基板パラメータテーブル１１４）が設けで
あるので、ある一種類の被試験プリント基板の試験方法
が変更になったときでも、他の被試験プリント基板の試
験方法には一切影舌が及ぶことはない。Furthermore, since a table (printed circuit board parameter table 114) is provided for testing each type of printed circuit board under test, even if the test method for one type of printed circuit board is changed, the test method for another type of printed circuit board under test is changed. The test method for printed circuit boards will not be affected in any way.

なお、上記実施例では、メモリプリント基板の試験装置
の場合について説明したが、パラレルやシリアル、機械
接点などの入出力用プリント基板などにおいても同様に
適応することが可能である。In the above embodiment, the case of a test device for memory printed circuit boards has been described, but the present invention can be similarly applied to input/output printed circuit boards such as parallel, serial, and mechanical contacts.

［発明の効果］ 以上のように、この発明によれば、電子部品を実装した
プリント基板の試験方法を機能別に分はモジュール化し
てメモリに登録する方式としたので、異なる試験方法で
も処理の同じ試験モジュールを共通化でき、試験プログ
ラムのメモリ容量を小さくできる。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the method for testing printed circuit boards on which electronic components are mounted is modularized by function and registered in memory, so different testing methods can perform the same processing. Test modules can be shared, and the memory capacity of the test program can be reduced.

また、各被試験プリント基板に対する試験モジュールの
呼び出し順序を記述した複数の試験順序テーブルを有す
るプリント基板パラメータを被試験プリント基板の種類
毎に設け、これに基づいて試験を行う方式になっている
ため、ある一種類の被試験プリント基板の試験方法が変
更になっても、他の被試験プリント基板の試験方法に影
響を与えることなく容易に、かつ即座に対応できるとい
う効果がある。In addition, the system provides a printed circuit board parameter for each type of printed circuit board under test, which has multiple test order tables that describe the calling order of test modules for each printed circuit board under test, and tests are performed based on this. Even if the test method for one type of printed circuit board to be tested is changed, it can be easily and immediately handled without affecting the test method for other printed circuit boards to be tested.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１図はこの発明によるプリント基板試験装置の一例を
示す構成図、第２図は本実施例における動作説明用のフ
ローチャート、第３図は従来のプリント基板試験プログ
ラムの説明図、第４図及び第５図は従来における試験方
法の変更方法を示す説明図である。 １０・・・ＣＰＵ、ＩＩ・・・メモリ　（ＲＯＭ）、１
２・・・メモリ（ＲＡＭ）　、１３・・・操作ターミナ
ル、１１１・・・試験モジュール群、１１１＋、ｌ１１
ｇ・・・試験モジュール、１１２．〜１１２１・・・試
験順序テーブル、１１３１−１１３．・・・プリント基
板パラメータ、１１４・・・プリント基板パラメータテ
ーブル、１１７・・・スケジュールプログラム。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。FIG. 1 is a configuration diagram showing an example of a printed circuit board testing device according to the present invention, FIG. 2 is a flowchart for explaining the operation in this embodiment, FIG. 3 is an explanatory diagram of a conventional printed circuit board testing program, and FIGS. FIG. 5 is an explanatory diagram showing a method of changing the conventional test method. 10...CPU, II...Memory (ROM), 1
2...Memory (RAM), 13...Operation terminal, 111...Test module group, 111+, l11
g...Test module, 112. ~1121...Test order table, 1131-113. . . . Printed circuit board parameters, 114 . . . Printed circuit board parameter table, 117 . . . Schedule program. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 電子部品を実装したプリント基板の電気的動作を監視し
、かつ良否を判別するプリント基板試験装置において、 被試験プリント基板の試験方法を機能別に分けてモジュ
ール化した試験モジュールが登録されていると共に各被
試験プリント基板に対する試験モジュールの呼び出し順
序を記述した複数の試験順序テーブルを有するプリント
基板パラメータを被試験プリント基板の種類毎に設けた
メモリ手段と、入力指令に従い被試験プリント基板に該
当する前記プリント基板パラメータのうち指定された試
験方法の試験順序テーブルを取り出すと共に該試験順序
テーブルに従って前記試験モジュール群から試験モジュ
ールを呼び出し実行する制御手段とを備えてなるプリン
ト基板試験装置。[Claims] In a printed circuit board testing device that monitors the electrical operation of a printed circuit board on which electronic components are mounted and determines whether it is pass or fail, there is provided a test module in which a test method for a printed circuit board under test is divided into modules according to function. Memory means is provided with printed circuit board parameters registered for each type of printed circuit board under test, each having a plurality of test order tables that describe the calling order of test modules for each printed circuit board under test, and a memory means that stores printed circuit board parameters for each type of printed circuit board under test. A printed circuit board testing apparatus comprising: a control means for extracting a test order table of a specified test method among the printed circuit board parameters corresponding to the board, and for calling and executing a test module from the test module group according to the test order table.