JPH02125482A - レーザ周波数安定化装置 - Google Patents

レーザ周波数安定化装置

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Publication number
JPH02125482A
JPH02125482A JP27861788A JP27861788A JPH02125482A JP H02125482 A JPH02125482 A JP H02125482A JP 27861788 A JP27861788 A JP 27861788A JP 27861788 A JP27861788 A JP 27861788A JP H02125482 A JPH02125482 A JP H02125482A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
laser
light
output
semiconductor laser
Prior art date
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Pending
Application number
JP27861788A
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English (en)
Inventor
Kenji Kudome
賢治 久留
Masami Kihara
雅巳 木原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP27861788A priority Critical patent/JPH02125482A/ja
Publication of JPH02125482A publication Critical patent/JPH02125482A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/0687Stabilising the frequency of the laser

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は高い周波数安定度を有するレーザ光源を実現す
るための、レーザ周波数安定化装置に関するものである
〔従来の技術・発明が解決しようとする課題〕近年、半
導体レーザのスペクトル純度や周波数回変度の向上に伴
い、光波通信システムや各種のコヒーレント光ファイバ
計測装置の研究開発が盛んに行われている。これらを構
築する際には、長波長帯(1,3〜1.6ui)におい
て高い周波数安定度を有する周波数基準となるレーザ光
源が必要である。
第2図に従来の長波長帯半導体レーザを用いたレーザ周
波数安定化装置の構成を示す。長波長帯半導体レーザl
から放射された光の一部を分子セル2に入射する。・長
波長帯半導体レーザlの周波数が分子セル2に封入され
ている分子の共鳴周波数に一致しているならば、分子セ
ル2に入射された光は吸収される。ここで、長波長帯半
導体レーザ1の注入電流を光変調用発振器5を用いて変
調すると、長波長帯半導体レーザlの周波数は変調され
るので、分子セル2における吸収光量も変調を受ける。
分子セル2の透過光は光検出器3で電気信号に変換され
た後、光変調用発振器5の出力を参照信号として同期検
波器4で同期検波される。
この時、同期検波器4の出力は長波長帯半導体レーザ1
の周波数と分子セル2に封入されている分子の共鳴周波
数の差に比例する。この同期検波器4の出力に基づいて
、注入電流制御器6が長波長帯半導体レーザlの周波数
を制御することにより、長波長帯半導体レーザlの周波
数を分子セル2に封入されている分子の共鳴周波数に安
定化することができる。
一般に、光周波数基準として用いる分子若しくは原子の
吸収スペクトルの線幅が狭いほど、その光周波数基準の
周波数弁別感度が大きくなり、周波数安定度は向上する
。また、分子若しくは原子の遷移確率の値はその分子若
しくは原子の振動子強度と入射光子束の積に比例するの
で、移動子強度の大きい分子若しくは原子を用いれば、
吸収光量が増大して、共鳴信号のSN比が大きくなり周
波数安定度が向上する。
長波長帯における吸収媒質としては通常アンモニア分子
等が用いられる。しかし、アンモニア分子等は振動子強
度があまり大きくなく、吸収スペクトルはドプラ広がり
を有しているので、あまり高い周波数安定度は得られな
い。
これに対し、ルビジウムやセシウム等のアルカリ金属原
子は振動子強度が大きく、また飽和吸収や原子ビーム等
の方法を使えば、ドプラ広がりのない吸収スペクトルが
得られる。しかし、ルビジウムは0.78μ肩、セシウ
ムは0.85itx付近に吸収線を有しているので、そ
のままでは長波長帯におけるレーザ周波数安定化装置に
は使えない。
そこで、第3図に示すようなレーザ周波数安定化装置が
考えられる。長波長帯半導体レーザ1 (波長1.56
μm)から放射された光の一部をKDP等の非線形光学
結晶を用いた第2高調波発生器7で高調波(波長0.7
8μ、w)に変換する。この高調波はルビジウムセル8
に入射される。高調波の周波数がルビジウム原子の共鳴
周波数に一致しているならば、ルビジウムセル8に入射
された高調波は吸収される。ここで、長波長帯半導体レ
ーザIの注入電流を光変調用発振器5を用いて変調する
と、長波長帯半導体レーザ1の周波数は変調されるので
、ルビジウムセル8における吸収光量も変調を受ける。
ルビジウムセル8の透過光は光検出器3で電気信号に変
換された後、光変調用発振器5の出力を参照信号として
同期検波器4で同期検波される。この時、同期検波器4
の出力は長波長帯半導体レーザlの周波数とルビジウム
原子の共鳴周波数÷2の差に比例する。この同期検波器
4の出力に基づいて、注入電流制御器6が長波長帯半導
体レーザlの周波数を制御することにより、長波長帯半
導体レーザlの周波数をルビジウム原子の共鳴周波数の
2倍に安定化することができる。
しかしながら、現在の非線形光学結晶は非線形感受率が
小さいので、高調波への変換効率も非常に低い。従って
、ルビジウム原子の振動子強度は大きいのにもかかわら
ず、入射光子束が小さいので共鳴信号のSN比も小さく
、あまり高い周波数安定度は得られない。
本発明は従来の非線形光学結晶とアルカリ金属原子を用
いたレーザ周波数安定化装置における上記の問題を解決
し、1.5ux帯において高い周波数安定度を有するレ
ーザ周波数安定化装置を実現することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、レーザと、前記レーザの出力光から高調波を
発生させる光高調波発生手段と、前記光高調波発生手段
の出力に位相同期した光を発生させる注入同期発振器と
、光周波数基準と、レーザ周波数制御手段とを有し、前
記レーザの出力光の一部を、前記光高調波発生手段に入
射して高調波を発生させ、前記高調波の全部若しくは一
部を前記注入同期発振器に注入して前記高調波に位相同
期した光を発生させ、前記高調波に位相同期した光の全
部若しくは一部を前記光周波数基準に入力し、前記光周
波数基準の出力に基づいて前記レーザ周波数制御手段に
より前記レーザの周波数を安定化することを特徴とする
ものである。
本発明では、短波長帯半導体レーザを注入同期発振器と
して長波長帯半導体レーザの第2高調波をその周波数・
位相に忠実に増幅した後、例えばアルカリ金属蒸気のセ
ルを使って周波数安定化を行う。セルに入射される光強
度は十分大きいので、共鳴信号検出の際のSN比が非常
に大きくなる。
また、飽和吸収法を用いることも可能であるので、非常
に高い周波数安定度が得られる。
〔実施例〕
第1図に請求範囲で述べたレーザ周波数安定化装置の構
成例を示す。長波長帯半導体レーザ1 (波長1.56
μ肩、請求範囲におけるレーザ)から放射された光の一
部をKDP等の非線形光学結晶を用いた第2高調波発生
器7(請求範囲における光高調波発生手段)で高調波(
波長0.78μR)に変換する。この高調波を短波長帯
半導体レーザ9(波長0.78μ肩、請求範囲における
注入同期発振器)に注入する。高調波の周波数と短波長
帯半導体レーザ9の自走周波数が十分近いならば、短波
長帯半導体レーザ9は高調波に位相同期して発振する。
この短波長帯半導体レーザ9の周波数は高調波の周波数
と同一で、かつその強度は高調波よりはるかに大きい。
この短波長帯半導体レーザ9の出力の一部(飽和光)を
ルビジウムセル8(請求範囲における光周波数基準)に
入射して、短波長帯半導体レーザ9の出力の他方(プロ
ーブ光)に対する吸収を飽和させる。即ち、短波長帯半
導体レーザの周波数がルビジウム原子の共鳴周波数に十
分近い(自然幅程度)ならば、プローブ光に対する吸収
光量が減少する。ここで、長波長帯半導体レーザ1の注
入電流を光変調用発振器5を用いて変調すると、長波長
帯半導体レーザ1の周波数は変調されるので、ルビジウ
ムセル8における吸収光量も変調を受ける。ルビジウム
セルを透過したプローブ光は光検出器3で電気信号に変
換された後、光変調用発振器5の出力を参照信号として
同期検波器4で同期検波される。この時、同期検波器4
の出力は長波長帯半導体レーザlの周波数とルビジウム
原子の共鳴周波数÷2の差に比例する。この同期検波器
4の出力に基づいて、注入電流制御器6(請求範囲にお
けるレーザ周波数制御手段)が長波長帯半導体レーザl
の周波数を制御することにより、長波長帯半導体レーザ
lの周波数をルビジウム原子の共鳴周波数の2倍に安定
化することができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、光周波数基準に入射させる光強度が十
分大きいので、共鳴信号検出の際のSN比か大きく、高
い周波数安定度が得られる。したがって、本発明は、光
波通信システムやコヒーレント光ファイバ計測装置を構
築する際の、光周波数標準器として利用することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例として示したレーザ周波数安
定化装置のブロック図、第2図は分子セルを用いた従来
のレーザ周波数安定化装置のブロック図、第3図は非線
形光学結晶とルビジウムセルを用いた従来のレーザ周波
数安定化装置のブロック図である。 ■・・・・・・レーザ(長波長帯半導体レーザ)、3・
・・・・・光検出器、 4・・・・・・同期検波器、 5・・・・・・光変調用発振器、 6・・・・・・レーザ周波数制御手段(注入電流制御器
)7・・・・・・光高調波発生手段(第2高調波発生器
)、8・・・・・・光周波数基準(ルビジウムセル)、
9・・・・・・注入同期発振器(短波長帯半導体レーザ
)出願人  日本電信電話株式会社 代理人  弁理士 志 賀 正武

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 レーザと、 前記レーザの出力光から高調波を発生させる光高調波発
    生手段と、 前記光高調波発生手段の出力に位相同期した光を発生さ
    せる注入同期発振器と、 光周波数基準と、 レーザ周波数制御手段とを有し、 前記レーザの出力光の一部を、前記光高調波発生手段に
    入射して高調波を発生させ、 前記高調波の全部若しくは一部を前記注入同期発振器に
    注入して前記高調波に位相同期した光を発生させ、 前記高調波に位相同期した光の全部若しくは一部を前記
    光周波数基準に入力し、 前記光周波数基準の出力に基づいて前記レーザ周波数制
    御手段により前記レーザの周波数を安定化すること を特徴とするレーザ周波数安定化装置。
JP27861788A 1988-11-04 1988-11-04 レーザ周波数安定化装置 Pending JPH02125482A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03238885A (ja) * 1990-02-15 1991-10-24 Nec Corp レーザ装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03238885A (ja) * 1990-02-15 1991-10-24 Nec Corp レーザ装置

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