JPH0210117A - 赤外線検知素子 - Google Patents

赤外線検知素子

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JPH0210117A
JPH0210117A JP63160272A JP16027288A JPH0210117A JP H0210117 A JPH0210117 A JP H0210117A JP 63160272 A JP63160272 A JP 63160272A JP 16027288 A JP16027288 A JP 16027288A JP H0210117 A JPH0210117 A JP H0210117A
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JP
Japan
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semiconductor layer
infrared rays
semiconductor layers
bands
infrared
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Yasuaki Yoshida
保明 吉田
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は赤外線検知素子に関し、特に複数の波長、た
とえば3〜5μm帯および10μm帯に感度を有する光
導電型の赤外線検知素子に関するものである。
〔従来の技術〕
第4図fa)は従来の光導電型赤外線検知素子の構造を
示す平面図、第4図(b)はその断面図である。
又、第5図(a)は従来の2つの波長域に感度を有する
赤外線探知素子の平面図、第5図(b)はその断面図で
ある。
図において1はCdTeよりなる高抵抗の基板、2はC
dXHg、□Teよりなる半導体層、3は電極、4は反
射防止膜、5は受光面である。また6は波長3〜5μm
帯に感度を有する赤外線検知素子、7は波長10μm帯
に感度を有する赤外線検知素子、8は冷却用基板である
次に第4図、第5図を用いて従来の赤外線検知素子につ
いて説明する。
CdXHg1−x TeはIT−Vl族の化合物半導体
で、組成比Xにより禁制帯幅が変化し、特にx−0,2
のものは波長10μm帯の、X =0.3のものは波長
3〜5μm帯の赤外線検知素子材料として広く利用され
ている。CdXHg1−XTeを用いた赤外線検知素子
の構造としでは第4図のような光導電型のものが公知で
ある。光導電型赤外線検知素子は、赤外線入射による半
導体層2の抵抗値変化により赤外線を検知する素子であ
る。このような赤外線検知素子は、空間を機械的に走査
する光学系と組み合わせ、目標を画像認識するための装
置に用いられる。第6図は目標を画像認識するための装
置を示す模式図で、9は光学系の視野、10は瞬時視野
、11は光学系、12は走査装置、13は赤外線検知素
子、14は信号処理装置、15は表示装置である。走査
装置12によって瞬時視野10の位置を変えることによ
り、単一の素子でも画像認識が可能となる。
以上のような装置に用いられる赤外線検知素子13は通
常、10μm帯あるいは3〜5μm帯のどちらか一方の
波長域にのみ感度を有するものであったが、識別能力向
上のため、二つの波長域に感度を有することが望ましか
った。
このため従来は、その各々に光学系、及び冷却系を備え
た2つの異なる波長域の赤外線検知素子を併用する方法
、或いは第5図に示すように波長域の異なる素子を並列
に並べ、1つの光学系と冷却系で済ませる方法がとられ
ていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の赤外線検知素子においては二つの波長域に感度を
有するようにするために以上のような方法がとられてい
るので、2つの異なる波長域の赤外線検知素子を併用す
る方法では光学系、冷却系が複数になり、装置が大型に
なるという問題点があり、波長域の異なる素子を並列に
並べる方法では光学系の焦点が2つになるため、素子を
非常に精度よく貼り付ける必要があるうえに、たとえ精
度良く貼り付けることができたとしても、木質的に感度
、分解能の低下が避けられないという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためなされた
もので、単体で複数の波長域に感度を有する赤外線検知
素子を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る赤外線検知素子は、第1の波長域の光を
吸収する第1の半導体層と第2の波長域の光を吸収する
上記第1の半導体層より禁制帯幅の広い第2の半導体層
を第2の半導体層より禁制帯幅の広い第3の半導体層を
介して接して形成し、上記第2の半導体層側から赤外線
が入射されるようにしたものである。
〔作用〕
この発明においては、第1の波長域の光を吸収する第1
の半導体層と第2の波長域の光を吸収する上記第1の半
導体層より禁制帯幅の広い第2の半導体層を第2の半導
体層より禁制帯幅の広い第3の半導体層を介して接して
形成し、これらを縦方向に重ねた構成としたから、光学
系の焦点が1点でよく、感度および分解能の低下を防ぐ
ことができる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図(alはこの発明の一実施例による赤外線検知素
子の構造を示す平面図、第1図山)はその断面図であり
、第2図はその斜視図である。
図において、1はCdTeよりなる高抵抗の基板、4は
反射防止膜、5は受光面、16はcdo。
z Hgo、a T eからなる第1の半導体層、17
はX >0.3のcdXHg、−+ Teからなる第3
の半導体層、18はCdo、3Hgo、7Teからなる
第2の半導体、19は第1の電極、20は第2の電極、
21は赤外線である。
次に本実施例素子の作製工程について説明する。
まず高抵抗の基板1上に例えば液相エピタキシャル成長
法により第1の半導体層16を10〜20μm程度、第
3の半導体層17を1〜3μm程度、第2の半導体層1
8を10〜20μm程度、順次形成し、続いて通常の写
真製版技術により反射防止膜4.第2の電極20を形成
し、第2の半導体層18及び第3の半導体層17の一部
を除去し、第1の半導体層16が露出した部分に第1の
電極19を形成することにより第1図に示す素子が完成
する。
次に動作について説明する。
上述のようにして作製された本実施例による赤外線検知
素子に赤外線21が入射すると波長3〜5μm帯の赤外
線は第2の半導体層18で吸収され、波長10μm帯の
赤外線は第2の半導体層18、第3の半導体層17を透
過し、第1の半導体層16で吸収される。第1の半導体
層16で発生したキャリアと第2の半導体層18で吸収
されたキャリアとは第3図に示すように第3の半導体層
17の形成により生じたポテンシャル障壁により分離さ
れているので、混ざり合うことはない。従って、第1の
半導体層16で吸収された赤外線は第1の電極19で検
出され、第2の半導体層18で吸収された赤外線は第2
の電極20で検出されるので、2つの異なる波長の赤外
線を独立に検出することが可能となる。
なお、上記実施例では10μm帯と3〜5μm帯の2つ
の波長域にのみ感度を有する赤外線検知素子について述
べたが、さらに多くの波長域を備えた赤外線検知素子に
も適用が可能である。
又、上記実施例は単素子の例を示したが、多素子の場合
にも適用できる。
又、上記実施例は表面入射型の例を示したが、第1の半
導体層16と第2の半導体層18を入れ替えれば裏面入
射型にもすることが可能である。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば赤外線検知素子におい
て、第1の波長域の光を吸収する第1の半導体層と第2
の波長域の光を吸収する上記第1の半導体層より禁制帯
幅の広い第2の半導体層を第2の半導体層より禁制帯幅
の広い第3の半導体層を介して接して形成し、これらを
縦方向に重ねた構成としたから、光学系焦点が1点でよ
く、高感度・高分解能の複数の波長域に感度を有する赤
外線検知素子が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図fa)はこの発明の一実施例による赤外線検知素
子の構造を示す平面図、第1図(blはその断面図、第
2図はその斜視図、第3図は第1図の実施例の動作を説
明するためのバンド図、第4図(alは従来の光導電型
赤外線検知素子の構造を示す平面図、第4図(blはそ
の断面図、第5図(alは従来の2つの波長域に感度を
有する赤外線検知素子の平面図、第5図(blはその断
面図、第6図は赤外線検知素子を用い目標を画像認識す
るための装置を示す模式図である。 図において、1は高抵抗の基板、4は反射防止膜、5は
受光面、16は第1の半導体層、17は第3の半導体層
、18は第2の半導体層、19は第1の電極、20は第
2の電極である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の波長域に感度を有する光導電型の赤外線検
    知素子において、 第1の波長域の光を吸収する第1の半導体層と、該第1
    の半導体層より広い禁制帯幅を有する第3の半導体層を
    介して上記第1の半導体層に積層された、第2の波長域
    の光を吸収する、上記第1の半導体層より禁制帯幅の狭
    い第2の半導体層とを備え、上記第1の半導体層側から
    赤外線が入射することを特徴とする赤外線検知素子。
JP63160272A 1988-06-28 1988-06-28 赤外線検知素子 Expired - Lifetime JPH0758224B2 (ja)

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JPH0210117A true JPH0210117A (ja) 1990-01-12
JPH0758224B2 JPH0758224B2 (ja) 1995-06-21

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