JPH0192972A - ディフェクト検出回路 - Google Patents
ディフェクト検出回路Info
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- JPH0192972A JPH0192972A JP25026587A JP25026587A JPH0192972A JP H0192972 A JPH0192972 A JP H0192972A JP 25026587 A JP25026587 A JP 25026587A JP 25026587 A JP25026587 A JP 25026587A JP H0192972 A JPH0192972 A JP H0192972A
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- Japan
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- low frequency
- signal
- frequency component
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 62
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 56
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 10
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光ディスクの表面上に生じた傷や指紋など
のディフェクト(defect)によって高周波信号上
に現れる不要な信号成分からディフェクトを検出するデ
ィフェクト検出回路に関する。
のディフェクト(defect)によって高周波信号上
に現れる不要な信号成分からディフェクトを検出するデ
ィフェクト検出回路に関する。
第4図は、CD(コンパクトディスク)などの光ディス
クに記録されている音楽情報などを再生する光デイスク
再生装置におけるピックアップ部およびトラッキング制
御部を示す。
クに記録されている音楽情報などを再生する光デイスク
再生装置におけるピックアップ部およびトラッキング制
御部を示す。
光ディスク(以下CDという)2は、モータ4で回転さ
せ、モータ4は、図示していない線速度(CLV)サー
ボの制御出力D CLVで一定の線速度に制御される。
せ、モータ4は、図示していない線速度(CLV)サー
ボの制御出力D CLVで一定の線速度に制御される。
ピックアップ6は、送りモータ8の回転によりアーム1
0を通してCD2の直径方向の任意の位置に移動させる
ことができ、レーザー光源12で発射させた検出媒体と
してのレーザー光14を、ハーフミラ−16や対物レン
ズ18などからなる光学系を通過させて集束させること
によりCD2に照射し、CD2からの反射光20を受光
素子22.24.26で受光し、電気信号に変換する。
0を通してCD2の直径方向の任意の位置に移動させる
ことができ、レーザー光源12で発射させた検出媒体と
してのレーザー光14を、ハーフミラ−16や対物レン
ズ18などからなる光学系を通過させて集束させること
によりCD2に照射し、CD2からの反射光20を受光
素子22.24.26で受光し、電気信号に変換する。
そして、光学系は、フォーカスコイル28によってレー
ザー光14の焦点を調整し、トラッキングコイル30に
よってトラック上にレーザー光14の焦点を結ばせる。
ザー光14の焦点を調整し、トラッキングコイル30に
よってトラック上にレーザー光14の焦点を結ばせる。
受光素子22はレーザー光14のメインビーム、受光素
子24.26はレーザー光14のサブビームの反射光2
0を電気信号に変換するものであり、受光素子22によ
ってメインビームによる高周波(RF)信号が得られる
。
子24.26はレーザー光14のサブビームの反射光2
0を電気信号に変換するものであり、受光素子22によ
ってメインビームによる高周波(RF)信号が得られる
。
そして、受光素子22を通して電気信号に変換されて前
置増幅器32を通して得られたRF倍信号、第5図のA
に示すように、高周波成分Hfと、低周波成分(高周波
成分Hfのエンベロープ)Lfを以て構成され之その上
限レベル側に、CD2上に付けられた傷や指紋などによ
って不要なディフェクト(スクラッチ)信号成分D3を
生じるのである。
置増幅器32を通して得られたRF倍信号、第5図のA
に示すように、高周波成分Hfと、低周波成分(高周波
成分Hfのエンベロープ)Lfを以て構成され之その上
限レベル側に、CD2上に付けられた傷や指紋などによ
って不要なディフェクト(スクラッチ)信号成分D3を
生じるのである。
ところで、受光素子24.26によって得られた電気信
号は、トラッキングエラー検出手段である比較器34に
加えられて両者間のレベル比較が行われ、トラッキング
エラー信号TEが得られる。
号は、トラッキングエラー検出手段である比較器34に
加えられて両者間のレベル比較が行われ、トラッキング
エラー信号TEが得られる。
このトラッキングエラー信号TEは、トラッキングサー
ボを行う制御部36に加えられ、その制御出力が駆動部
38で駆動信号としてトラッキングコイル30に加えら
れ、メインビームがCD2のトラック上に制御されるの
である。
ボを行う制御部36に加えられ、その制御出力が駆動部
38で駆動信号としてトラッキングコイル30に加えら
れ、メインビームがCD2のトラック上に制御されるの
である。
そして、このようなトラッキングサーボにおいて、CD
2のトラック上に傷や指紋などのディフェクトが、トラ
ッキングサーボに影響を与えて誤動作を生じさせるので
、この誤動作を防止するためにトラッキングサーボを緩
やかに制御することが行われている。そこで、このよう
なミュート制御を行うため、その制御情報としてのディ
フェクトを検出するディフェクト検出回路40が設置さ
れている。
2のトラック上に傷や指紋などのディフェクトが、トラ
ッキングサーボに影響を与えて誤動作を生じさせるので
、この誤動作を防止するためにトラッキングサーボを緩
やかに制御することが行われている。そこで、このよう
なミュート制御を行うため、その制御情報としてのディ
フェクトを検出するディフェクト検出回路40が設置さ
れている。
このディフェクト検出回路40では、レベル設定回路4
2を以て、第5図のAに示すように、RF倍信号上限レ
ベルであるピーク(Peak)レベルV、を検出して検
出レベルv、、を設定する。レベル設定回路42は、n
pn型トランジスタ46、定電流源48およびキャパシ
タ50を以て、RF倍信号ピークレベルVPを、キャパ
シタ50でピークレベルVPに対応して設定された長い
時定数τ、によって検出する。検出されたピークレベル
VPは、抵抗52.54の直列回路の一方に加えられ、
その他方にバイアス回路から加えられた基準電圧■3を
基準にして検出レベル■、が設定される。
2を以て、第5図のAに示すように、RF倍信号上限レ
ベルであるピーク(Peak)レベルV、を検出して検
出レベルv、、を設定する。レベル設定回路42は、n
pn型トランジスタ46、定電流源48およびキャパシ
タ50を以て、RF倍信号ピークレベルVPを、キャパ
シタ50でピークレベルVPに対応して設定された長い
時定数τ、によって検出する。検出されたピークレベル
VPは、抵抗52.54の直列回路の一方に加えられ、
その他方にバイアス回路から加えられた基準電圧■3を
基準にして検出レベル■、が設定される。
一方、RF倍信号らディフェクト信号成分り。
を含む低周波成分Lfを検出するために低周波成分検出
回路44が設置されている。ディフェクト信号成分D3
は、第5図のAに示すように、RF倍信号ピークレベル
VPに到達するレベルを以て連続した成分を持つもので
ある。低周波成分検出回路44は、npn型トランジス
タ56、定電流源58およびキャパシタ60を以て構成
され、キャパシタ60を用いて、ディフェクト信号成分
り、の降下に応じて減少するレベルを生じるようニ時定
数τ。(ピークレベル■、に対応する時定数τ、より小
さい)を設定する。この結果、時定数τ。に応じてディ
フェクトを表す低周波成分Lfが検出される。
回路44が設置されている。ディフェクト信号成分D3
は、第5図のAに示すように、RF倍信号ピークレベル
VPに到達するレベルを以て連続した成分を持つもので
ある。低周波成分検出回路44は、npn型トランジス
タ56、定電流源58およびキャパシタ60を以て構成
され、キャパシタ60を用いて、ディフェクト信号成分
り、の降下に応じて減少するレベルを生じるようニ時定
数τ。(ピークレベル■、に対応する時定数τ、より小
さい)を設定する。この結果、時定数τ。に応じてディ
フェクトを表す低周波成分Lfが検出される。
このようにして得られた低周波成分Lfおよび検出レベ
ルV1は、比較器62に加えられて比較されることによ
り、第5図のBに示すディフェクト検出信号DPがディ
フェクト情報として得られる。
ルV1は、比較器62に加えられて比較されることによ
り、第5図のBに示すディフェクト検出信号DPがディ
フェクト情報として得られる。
このディフェクト検出信号DPは、制御部36にミュー
ト制御信号として加えられ、トラッキングサーボに対し
てミュート制御を行うことにより、トラッキングの誤動
作を防止するのである。
ト制御信号として加えられ、トラッキングサーボに対し
てミュート制御を行うことにより、トラッキングの誤動
作を防止するのである。
ところで、このようなディフェクト検出回路では、第5
図のAおよびBに示すように、傷や指紋などによってデ
ィフェクト検出信号DPが得られるが、ディフェクト区
間が長い場合、そのディフェクト検出信号DPをトラッ
キングサーボのミュート制御に用いると、ミュート制御
区間ではトラッキングサーボが解除されるため、そのデ
ィフェクト区間に応じてミュート時間が長いなり、トラ
ッキングが乱れ、暴走してしまうおそれがあった。
図のAおよびBに示すように、傷や指紋などによってデ
ィフェクト検出信号DPが得られるが、ディフェクト区
間が長い場合、そのディフェクト検出信号DPをトラッ
キングサーボのミュート制御に用いると、ミュート制御
区間ではトラッキングサーボが解除されるため、そのデ
ィフェクト区間に応じてミュート時間が長いなり、トラ
ッキングが乱れ、暴走してしまうおそれがあった。
そこで、この発明は、ディフェクトの検出について、そ
の検出信号が連続した信号となるのを防止したものであ
る。
の検出信号が連続した信号となるのを防止したものであ
る。
この発明のディフェクト検出回路は、第1図の(A)に
示すように、光ディスク2から光(レーザー光14)を
媒体として検出された高周波信号(RF倍信号の上限レ
ベル■2を検出し、この上限レベル■、と基準電圧(■
、)との間に検出レベル■、を設定するレベル設定手段
(レベル設定回路42)と、高周波信号の上限レベルV
Pを基準にして特定の時定数(τ。)を以て低周波成分
Lfを得る低周波成分検出手段(低周波成分検出回路4
4)と、低周波成分検出手段で得られた低周波成分Lf
と検出レベル■、とを比較する比較手段(比較器62)
とを備えてディフェクトを検出するディフェクト検出回
路40において、低周波成分検出手段の出力側に、特定
のレベルで連続した低周波成分Lfを変動成分(変動低
周波成分MLf)に変換する信号変換手段(高域通過フ
ィルタ64)を設置したものである。
示すように、光ディスク2から光(レーザー光14)を
媒体として検出された高周波信号(RF倍信号の上限レ
ベル■2を検出し、この上限レベル■、と基準電圧(■
、)との間に検出レベル■、を設定するレベル設定手段
(レベル設定回路42)と、高周波信号の上限レベルV
Pを基準にして特定の時定数(τ。)を以て低周波成分
Lfを得る低周波成分検出手段(低周波成分検出回路4
4)と、低周波成分検出手段で得られた低周波成分Lf
と検出レベル■、とを比較する比較手段(比較器62)
とを備えてディフェクトを検出するディフェクト検出回
路40において、低周波成分検出手段の出力側に、特定
のレベルで連続した低周波成分Lfを変動成分(変動低
周波成分MLf)に変換する信号変換手段(高域通過フ
ィルタ64)を設置したものである。
低周波成分検出手段(低周波成分検出回路44)は、光
デイスク2上の傷や指紋などのディフェクトによって生
じた低周波成分Lfに連続した信号成分を生じるが、こ
の成分は、信号変換手段(高域通過フィルタ64)によ
って変動成分(変動低周波成分MLf)に変換されるの
で、比較手段(比較器62)から特定レベルで連続する
信号部分を解消したディフェクト検出信号DP、を得る
ことができ、このようなディフェクト検出信号DP、を
用いてトラッキングサーボにミュート制御を施した場合
、トラッキングサーボの暴走を確実に防止することがで
きる。
デイスク2上の傷や指紋などのディフェクトによって生
じた低周波成分Lfに連続した信号成分を生じるが、こ
の成分は、信号変換手段(高域通過フィルタ64)によ
って変動成分(変動低周波成分MLf)に変換されるの
で、比較手段(比較器62)から特定レベルで連続する
信号部分を解消したディフェクト検出信号DP、を得る
ことができ、このようなディフェクト検出信号DP、を
用いてトラッキングサーボにミュート制御を施した場合
、トラッキングサーボの暴走を確実に防止することがで
きる。
第1図の(A)は、この発明のディフェクト検出回路の
実施例を示す。
実施例を示す。
前置増幅器32は、受光素子22で得られた電気信号で
ある第2図のAに示すRF倍信号増幅し、このRF倍信
号ディフェクト検出回路40のレベル設定回路42およ
び低周波成分検出回路44に加える。
ある第2図のAに示すRF倍信号増幅し、このRF倍信
号ディフェクト検出回路40のレベル設定回路42およ
び低周波成分検出回路44に加える。
レベル設定回路42は、npn型トランジスタ46、定
電流源48およびキャパシタ50で構成され、第2図の
Aに示すように、RF倍信号上限レベルであるピーク(
Peak)レベル■2を検出し、このピークレベル■、
を、基準電圧■、を基準とする抵抗52.54の直列回
路に加え、その分圧点で検出レベルvrを設定する。こ
の場合、ピークレベル■、は、キャパシタ50で設定さ
れた長い時定数で、によって検出される。
電流源48およびキャパシタ50で構成され、第2図の
Aに示すように、RF倍信号上限レベルであるピーク(
Peak)レベル■2を検出し、このピークレベル■、
を、基準電圧■、を基準とする抵抗52.54の直列回
路に加え、その分圧点で検出レベルvrを設定する。こ
の場合、ピークレベル■、は、キャパシタ50で設定さ
れた長い時定数で、によって検出される。
また、低周波成分検出回路44は、CD2上の傷や指紋
などのディフェクトによって生じたディフェクト信号成
分D3を含む低周波成分Lfを、npn型トランジスタ
56、定電流源58およびキャパシタ60を以て検出す
る。この場合、キャパシタ60は、ディフェクト信号成
分り、の降下に応じて減少するレベルを生じるように時
定数τ。(ピークレベル■、に対応する時定数τ、より
小さい)を設定する。換言すれば、低周波成分検出回路
44は、積分回路を成し、ピークレベルv2から降下す
る信号に応じて緩やかに降下する低周波成分Lfである
ディフェクト信号成分り。
などのディフェクトによって生じたディフェクト信号成
分D3を含む低周波成分Lfを、npn型トランジスタ
56、定電流源58およびキャパシタ60を以て検出す
る。この場合、キャパシタ60は、ディフェクト信号成
分り、の降下に応じて減少するレベルを生じるように時
定数τ。(ピークレベル■、に対応する時定数τ、より
小さい)を設定する。換言すれば、低周波成分検出回路
44は、積分回路を成し、ピークレベルv2から降下す
る信号に応じて緩やかに降下する低周波成分Lfである
ディフェクト信号成分り。
の降下部分の検出を行う。
第2図のBは、低周波成分検出回路44によって検出さ
れた低周波成分Lfを示しており、この変動レベルの中
央にレベル設定回路42によって検出レベル■、が設定
されている。
れた低周波成分Lfを示しており、この変動レベルの中
央にレベル設定回路42によって検出レベル■、が設定
されている。
そして、低周波成分検出回路44の出力側には、その出
力に現れる低周波信号中の連続した低周波成分Lfを変
動成分に変換するための信号変換手段として高域通過フ
ィルタ(HPF)64が設置されている。信号変換手段
としては、HPF64の他、微分回路などで構成でき、
特定レベルで連続する連続成分を変動成分に変換するの
である。
力に現れる低周波信号中の連続した低周波成分Lfを変
動成分に変換するための信号変換手段として高域通過フ
ィルタ(HPF)64が設置されている。信号変換手段
としては、HPF64の他、微分回路などで構成でき、
特定レベルで連続する連続成分を変動成分に変換するの
である。
したがって、アナログ処理を基調とする場合、このHP
F64は、たとえば、第1図の(B)に示すように、キ
ャパシタ66および抵抗68で構成し、第2図のCに示
すように、低周波成分Lfから高域側成分である変動成
分からなる変動低周波成分MLfのみを取り出している
。
F64は、たとえば、第1図の(B)に示すように、キ
ャパシタ66および抵抗68で構成し、第2図のCに示
すように、低周波成分Lfから高域側成分である変動成
分からなる変動低周波成分MLfのみを取り出している
。
このようにして得られた変動低周波成分MLfと、レベ
ル設定回路42によって設定された検出レベル■7とを
信号比較手段である比較器62に加えて比較し、第2図
のDに示すディフェクト(スクラッチ)検出信号DP、
をディフェクト情報として得るのである。
ル設定回路42によって設定された検出レベル■7とを
信号比較手段である比較器62に加えて比較し、第2図
のDに示すディフェクト(スクラッチ)検出信号DP、
をディフェクト情報として得るのである。
このようにすれば、第2図のDおよび第5図のBを比較
すれば明らかなように、等しいディフェクトを表す信号
成分に対して全く異なる時間幅を持つディフェクト検出
信号が得られる。したがって、このようなディフェクト
検出信号DP、を以てトラッキングサーボに対してミュ
ート制御を行えば、ミュート制御の行き過ぎによるトラ
ッキングの暴走はなく、安定したトラッキング動作を得
ることができる。
すれば明らかなように、等しいディフェクトを表す信号
成分に対して全く異なる時間幅を持つディフェクト検出
信号が得られる。したがって、このようなディフェクト
検出信号DP、を以てトラッキングサーボに対してミュ
ート制御を行えば、ミュート制御の行き過ぎによるトラ
ッキングの暴走はなく、安定したトラッキング動作を得
ることができる。
そして、第1図に示したディフェクト検出回路の低周波
成分検出回路44に対して、第3図に示すように、トラ
ンジスタ56のベース・エミッタ間電圧vFを補償する
ためのレベルシフター70を設置してもよい。
成分検出回路44に対して、第3図に示すように、トラ
ンジスタ56のベース・エミッタ間電圧vFを補償する
ためのレベルシフター70を設置してもよい。
レベルシフター70は、トランジスタ72.74.76
.78および定電流源80からなる差動段82を設置し
、トランジスタ720ベースにトランジスタ56のエミ
ッタ出力を加え、トランジスタ74のベース側にトラン
ジスタ56と同等なトランジスタ84を設置し、このト
ランジスタ84に対して定電流源58と等しい定電流源
86を以て定電流を流す。そして、出力回路を成すトラ
ンジスタ88および定電流源90を設置してトランジス
タ88のエミッタとトランジスタ840ベースを接続す
ることによって全帰還増幅器を構成し、トランジスタ8
8のエミッタ側からトランジスタ56のベース・エミッ
タ間電圧■、のレベルシフトを相殺させた低周波成分L
fを得ることができる。この場合、レベル設定回路42
側にもレベルシフター70を設定してもよく、トランジ
スタ84は、トランジスタ46と同等なもので構成する
。
.78および定電流源80からなる差動段82を設置し
、トランジスタ720ベースにトランジスタ56のエミ
ッタ出力を加え、トランジスタ74のベース側にトラン
ジスタ56と同等なトランジスタ84を設置し、このト
ランジスタ84に対して定電流源58と等しい定電流源
86を以て定電流を流す。そして、出力回路を成すトラ
ンジスタ88および定電流源90を設置してトランジス
タ88のエミッタとトランジスタ840ベースを接続す
ることによって全帰還増幅器を構成し、トランジスタ8
8のエミッタ側からトランジスタ56のベース・エミッ
タ間電圧■、のレベルシフトを相殺させた低周波成分L
fを得ることができる。この場合、レベル設定回路42
側にもレベルシフター70を設定してもよく、トランジ
スタ84は、トランジスタ46と同等なもので構成する
。
したがって、このようなレベルシフター70の設置によ
って、トランジスタ56のベース・エミッタ間電圧VF
の影響を受けない低周波成分LfをHPF64に加える
ことができ、精度の高いディフェクト検出を実現するこ
とできる。
って、トランジスタ56のベース・エミッタ間電圧VF
の影響を受けない低周波成分LfをHPF64に加える
ことができ、精度の高いディフェクト検出を実現するこ
とできる。
この発明によれば、光デイスク上に生じた傷や指紋など
のディフェクトによって生じた信号を検出してトラッキ
ングサーボに対してミュート制御を施す場合、ディフェ
クト検出信号に特定レベルで長時間に亘って連続する信
号成分を除くことができ、トラッキングの暴走を防止で
き、安定したトラッキング動作を実現できる。
のディフェクトによって生じた信号を検出してトラッキ
ングサーボに対してミュート制御を施す場合、ディフェ
クト検出信号に特定レベルで長時間に亘って連続する信
号成分を除くことができ、トラッキングの暴走を防止で
き、安定したトラッキング動作を実現できる。
第1図はこの発明のディフェクト検出回路の実施例を示
す回路図であって、(A)はディフェクト検出回路、(
B)はその高域通過フィルタの具体的な回路構成例、第
2図は第1図に示したディフェクト検出回路の動作を示
す図、第3図はこの発明のディフェクト検出回路の他の
実施例を示す回路図、第4図は従来の光デイスク再生装
置におけるピックアップ部およびトラッキング制御部を
示す回路図、第5図は第4図に示した従来の光デイスク
再生装置におけるミュート制御のためのディフェクト検
出回路の動作を示す図である。 2・・・光ディスク 14・・・レーザー光(光) 40・・・ディフェクト検出回路 42・・・レベル設定回路(レベル設定手段)44・・
・低周波成分検出回路(低周波成分検出手段) 62・・・比較器(比較手段)
す回路図であって、(A)はディフェクト検出回路、(
B)はその高域通過フィルタの具体的な回路構成例、第
2図は第1図に示したディフェクト検出回路の動作を示
す図、第3図はこの発明のディフェクト検出回路の他の
実施例を示す回路図、第4図は従来の光デイスク再生装
置におけるピックアップ部およびトラッキング制御部を
示す回路図、第5図は第4図に示した従来の光デイスク
再生装置におけるミュート制御のためのディフェクト検
出回路の動作を示す図である。 2・・・光ディスク 14・・・レーザー光(光) 40・・・ディフェクト検出回路 42・・・レベル設定回路(レベル設定手段)44・・
・低周波成分検出回路(低周波成分検出手段) 62・・・比較器(比較手段)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光ディスクから光を媒体として検出された高周波信号の
上限レベルを検出し、この上限レベルと基準電圧との間
に検出レベルを設定するレベル設定手段と、 前記高周波信号の上限レベルを基準にして特定の時定数
を以て低周波成分を得る低周波成分検出手段と、 低周波成分検出手段で得られた低周波成分と前記検出レ
ベルとを比較する比較手段とを備えてディフェクトを検
出するディフェクト検出回路において、 前記低周波成分検出手段の出力側に、特定のレベルで連
続した低周波成分を変動成分に変換する信号変換手段を
設置したディフェクト検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62250265A JP2615078B2 (ja) | 1987-10-03 | 1987-10-03 | ディフェクト検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62250265A JP2615078B2 (ja) | 1987-10-03 | 1987-10-03 | ディフェクト検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0192972A true JPH0192972A (ja) | 1989-04-12 |
JP2615078B2 JP2615078B2 (ja) | 1997-05-28 |
Family
ID=17205318
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62250265A Expired - Lifetime JP2615078B2 (ja) | 1987-10-03 | 1987-10-03 | ディフェクト検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2615078B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0814462A2 (en) * | 1996-05-22 | 1997-12-29 | Sony Corporation | Signal recovery and error detection means for an information recording medium |
EP1237154A2 (en) * | 2001-03-02 | 2002-09-04 | Texas Instruments Incorporated | Mirror detection signal generator |
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JP2615078B2 (ja) | 1997-05-28 |
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