JPH0192972A

JPH0192972A - ディフェクト検出回路

Info

Publication number: JPH0192972A
Application number: JP25026587A
Authority: JP
Inventors: Kimihisa Tsuji; 公壽辻
Original assignee: Rohm Co Ltd
Current assignee: Rohm Co Ltd
Priority date: 1987-10-03
Filing date: 1987-10-03
Publication date: 1989-04-12
Anticipated expiration: 2012-05-28
Also published as: JP2615078B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕この発明は、光ディスクの表面上に生じた傷や指紋など
のディフェクト（ｄｅｆｅｃｔ）によって高周波信号上
に現れる不要な信号成分からディフェクトを検出するデ
ィフェクト検出回路に関する。

〔従来の技術〕

第４図は、ＣＤ（コンパクトディスク）などの光ディス
クに記録されている音楽情報などを再生する光デイスク
再生装置におけるピックアップ部およびトラッキング制
御部を示す。

光ディスク（以下ＣＤという）２は、モータ４で回転さ
せ、モータ４は、図示していない線速度（ＣＬＶ）サー
ボの制御出力Ｄ　ＣＬＶで一定の線速度に制御される。

ピックアップ６は、送りモータ８の回転によりアーム１
０を通してＣＤ２の直径方向の任意の位置に移動させる
ことができ、レーザー光源１２で発射させた検出媒体と
してのレーザー光１４を、ハーフミラ−１６や対物レン
ズ１８などからなる光学系を通過させて集束させること
によりＣＤ２に照射し、ＣＤ２からの反射光２０を受光
素子２２．２４．２６で受光し、電気信号に変換する。

そして、光学系は、フォーカスコイル２８によってレー
ザー光１４の焦点を調整し、トラッキングコイル３０に
よってトラック上にレーザー光１４の焦点を結ばせる。

受光素子２２はレーザー光１４のメインビーム、受光素
子２４．２６はレーザー光１４のサブビームの反射光２
０を電気信号に変換するものであり、受光素子２２によ
ってメインビームによる高周波（ＲＦ）信号が得られる
。

そして、受光素子２２を通して電気信号に変換されて前
置増幅器３２を通して得られたＲＦ倍信号、第５図のＡ
に示すように、高周波成分Ｈｆと、低周波成分（高周波
成分Ｈｆのエンベロープ）Ｌｆを以て構成され之その上
限レベル側に、ＣＤ２上に付けられた傷や指紋などによ
って不要なディフェクト（スクラッチ）信号成分Ｄ３を
生じるのである。

ところで、受光素子２４．２６によって得られた電気信
号は、トラッキングエラー検出手段である比較器３４に
加えられて両者間のレベル比較が行われ、トラッキング
エラー信号ＴＥが得られる。

このトラッキングエラー信号ＴＥは、トラッキングサー
ボを行う制御部３６に加えられ、その制御出力が駆動部
３８で駆動信号としてトラッキングコイル３０に加えら
れ、メインビームがＣＤ２のトラック上に制御されるの
である。

そして、このようなトラッキングサーボにおいて、ＣＤ
２のトラック上に傷や指紋などのディフェクトが、トラ
ッキングサーボに影響を与えて誤動作を生じさせるので
、この誤動作を防止するためにトラッキングサーボを緩
やかに制御することが行われている。そこで、このよう
なミュート制御を行うため、その制御情報としてのディ
フェクトを検出するディフェクト検出回路４０が設置さ
れている。

このディフェクト検出回路４０では、レベル設定回路４
２を以て、第５図のＡに示すように、ＲＦ倍信号上限レ
ベルであるピーク（Ｐｅａｋ）レベルＶ、を検出して検
出レベルｖ、、を設定する。レベル設定回路４２は、ｎ
ｐｎ型トランジスタ４６、定電流源４８およびキャパシ
タ５０を以て、ＲＦ倍信号ピークレベルＶＰを、キャパ
シタ５０でピークレベルＶＰに対応して設定された長い
時定数τ、によって検出する。検出されたピークレベル
ＶＰは、抵抗５２．５４の直列回路の一方に加えられ、
その他方にバイアス回路から加えられた基準電圧■３を
基準にして検出レベル■、が設定される。

一方、ＲＦ倍信号らディフェクト信号成分り。

を含む低周波成分Ｌｆを検出するために低周波成分検出
回路４４が設置されている。ディフェクト信号成分Ｄ３
は、第５図のＡに示すように、ＲＦ倍信号ピークレベル
ＶＰに到達するレベルを以て連続した成分を持つもので
ある。低周波成分検出回路４４は、ｎｐｎ型トランジス
タ５６、定電流源５８およびキャパシタ６０を以て構成
され、キャパシタ６０を用いて、ディフェクト信号成分
り、の降下に応じて減少するレベルを生じるようニ時定
数τ。（ピークレベル■、に対応する時定数τ、より小
さい）を設定する。この結果、時定数τ。に応じてディ
フェクトを表す低周波成分Ｌｆが検出される。

このようにして得られた低周波成分Ｌｆおよび検出レベ
ルＶ１は、比較器６２に加えられて比較されることによ
り、第５図のＢに示すディフェクト検出信号ＤＰがディ
フェクト情報として得られる。

このディフェクト検出信号ＤＰは、制御部３６にミュー
ト制御信号として加えられ、トラッキングサーボに対し
てミュート制御を行うことにより、トラッキングの誤動
作を防止するのである。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところで、このようなディフェクト検出回路では、第５
図のＡおよびＢに示すように、傷や指紋などによってデ
ィフェクト検出信号ＤＰが得られるが、ディフェクト区
間が長い場合、そのディフェクト検出信号ＤＰをトラッ
キングサーボのミュート制御に用いると、ミュート制御
区間ではトラッキングサーボが解除されるため、そのデ
ィフェクト区間に応じてミュート時間が長いなり、トラ
ッキングが乱れ、暴走してしまうおそれがあった。

そこで、この発明は、ディフェクトの検出について、そ
の検出信号が連続した信号となるのを防止したものであ
る。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明のディフェクト検出回路は、第１図の（Ａ）に
示すように、光ディスク２から光（レーザー光１４）を
媒体として検出された高周波信号（ＲＦ倍信号の上限レ
ベル■２を検出し、この上限レベル■、と基準電圧（■
、）との間に検出レベル■、を設定するレベル設定手段
（レベル設定回路４２）と、高周波信号の上限レベルＶ
Ｐを基準にして特定の時定数（τ。）を以て低周波成分
Ｌｆを得る低周波成分検出手段（低周波成分検出回路４
４）と、低周波成分検出手段で得られた低周波成分Ｌｆ
と検出レベル■、とを比較する比較手段（比較器６２）
とを備えてディフェクトを検出するディフェクト検出回
路４０において、低周波成分検出手段の出力側に、特定
のレベルで連続した低周波成分Ｌｆを変動成分（変動低
周波成分ＭＬｆ）に変換する信号変換手段（高域通過フ
ィルタ６４）を設置したものである。

〔作　　用〕

低周波成分検出手段（低周波成分検出回路４４）は、光
デイスク２上の傷や指紋などのディフェクトによって生
じた低周波成分Ｌｆに連続した信号成分を生じるが、こ
の成分は、信号変換手段（高域通過フィルタ６４）によ
って変動成分（変動低周波成分ＭＬｆ）に変換されるの
で、比較手段（比較器６２）から特定レベルで連続する
信号部分を解消したディフェクト検出信号ＤＰ、を得る
ことができ、このようなディフェクト検出信号ＤＰ、を
用いてトラッキングサーボにミュート制御を施した場合
、トラッキングサーボの暴走を確実に防止することがで
きる。

〔実　施　例〕

第１図の（Ａ）は、この発明のディフェクト検出回路の
実施例を示す。

前置増幅器３２は、受光素子２２で得られた電気信号で
ある第２図のＡに示すＲＦ倍信号増幅し、このＲＦ倍信
号ディフェクト検出回路４０のレベル設定回路４２およ
び低周波成分検出回路４４に加える。

レベル設定回路４２は、ｎｐｎ型トランジスタ４６、定
電流源４８およびキャパシタ５０で構成され、第２図の
Ａに示すように、ＲＦ倍信号上限レベルであるピーク（
Ｐｅａｋ）レベル■２を検出し、このピークレベル■、
を、基準電圧■、を基準とする抵抗５２．５４の直列回
路に加え、その分圧点で検出レベルｖｒを設定する。こ
の場合、ピークレベル■、は、キャパシタ５０で設定さ
れた長い時定数で、によって検出される。

また、低周波成分検出回路４４は、ＣＤ２上の傷や指紋
などのディフェクトによって生じたディフェクト信号成
分Ｄ３を含む低周波成分Ｌｆを、ｎｐｎ型トランジスタ
５６、定電流源５８およびキャパシタ６０を以て検出す
る。この場合、キャパシタ６０は、ディフェクト信号成
分り、の降下に応じて減少するレベルを生じるように時
定数τ。（ピークレベル■、に対応する時定数τ、より
小さい）を設定する。換言すれば、低周波成分検出回路
４４は、積分回路を成し、ピークレベルｖ２から降下す
る信号に応じて緩やかに降下する低周波成分Ｌｆである
ディフェクト信号成分り。

の降下部分の検出を行う。

第２図のＢは、低周波成分検出回路４４によって検出さ
れた低周波成分Ｌｆを示しており、この変動レベルの中
央にレベル設定回路４２によって検出レベル■、が設定
されている。

そして、低周波成分検出回路４４の出力側には、その出
力に現れる低周波信号中の連続した低周波成分Ｌｆを変
動成分に変換するための信号変換手段として高域通過フ
ィルタ（ＨＰＦ）６４が設置されている。信号変換手段
としては、ＨＰＦ６４の他、微分回路などで構成でき、
特定レベルで連続する連続成分を変動成分に変換するの
である。

したがって、アナログ処理を基調とする場合、このＨＰ
Ｆ６４は、たとえば、第１図の（Ｂ）に示すように、キ
ャパシタ６６および抵抗６８で構成し、第２図のＣに示
すように、低周波成分Ｌｆから高域側成分である変動成
分からなる変動低周波成分ＭＬｆのみを取り出している
。

このようにして得られた変動低周波成分ＭＬｆと、レベ
ル設定回路４２によって設定された検出レベル■７とを
信号比較手段である比較器６２に加えて比較し、第２図
のＤに示すディフェクト（スクラッチ）検出信号ＤＰ、
をディフェクト情報として得るのである。

このようにすれば、第２図のＤおよび第５図のＢを比較
すれば明らかなように、等しいディフェクトを表す信号
成分に対して全く異なる時間幅を持つディフェクト検出
信号が得られる。したがって、このようなディフェクト
検出信号ＤＰ、を以てトラッキングサーボに対してミュ
ート制御を行えば、ミュート制御の行き過ぎによるトラ
ッキングの暴走はなく、安定したトラッキング動作を得
ることができる。

そして、第１図に示したディフェクト検出回路の低周波
成分検出回路４４に対して、第３図に示すように、トラ
ンジスタ５６のベース・エミッタ間電圧ｖＦを補償する
ためのレベルシフター７０を設置してもよい。

レベルシフター７０は、トランジスタ７２．７４．７６
．７８および定電流源８０からなる差動段８２を設置し
、トランジスタ７２０ベースにトランジスタ５６のエミ
ッタ出力を加え、トランジスタ７４のベース側にトラン
ジスタ５６と同等なトランジスタ８４を設置し、このト
ランジスタ８４に対して定電流源５８と等しい定電流源
８６を以て定電流を流す。そして、出力回路を成すトラ
ンジスタ８８および定電流源９０を設置してトランジス
タ８８のエミッタとトランジスタ８４０ベースを接続す
ることによって全帰還増幅器を構成し、トランジスタ８
８のエミッタ側からトランジスタ５６のベース・エミッ
タ間電圧■、のレベルシフトを相殺させた低周波成分Ｌ
ｆを得ることができる。この場合、レベル設定回路４２
側にもレベルシフター７０を設定してもよく、トランジ
スタ８４は、トランジスタ４６と同等なもので構成する
。

したがって、このようなレベルシフター７０の設置によ
って、トランジスタ５６のベース・エミッタ間電圧ＶＦ
の影響を受けない低周波成分ＬｆをＨＰＦ６４に加える
ことができ、精度の高いディフェクト検出を実現するこ
とできる。

〔発明の効果〕

この発明によれば、光デイスク上に生じた傷や指紋など
のディフェクトによって生じた信号を検出してトラッキ
ングサーボに対してミュート制御を施す場合、ディフェ
クト検出信号に特定レベルで長時間に亘って連続する信
号成分を除くことができ、トラッキングの暴走を防止で
き、安定したトラッキング動作を実現できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明のディフェクト検出回路の実施例を示
す回路図であって、（Ａ）はディフェクト検出回路、（
Ｂ）はその高域通過フィルタの具体的な回路構成例、第
２図は第１図に示したディフェクト検出回路の動作を示
す図、第３図はこの発明のディフェクト検出回路の他の
実施例を示す回路図、第４図は従来の光デイスク再生装
置におけるピックアップ部およびトラッキング制御部を
示す回路図、第５図は第４図に示した従来の光デイスク
再生装置におけるミュート制御のためのディフェクト検
出回路の動作を示す図である。２・・・光ディスク１４・・・レーザー光（光）４０・・・ディフェクト検出回路４２・・・レベル設定回路（レベル設定手段）４４・・
・低周波成分検出回路（低周波成分検出手段）６２・・・比較器（比較手段）

Claims

【特許請求の範囲】光ディスクから光を媒体として検出された高周波信号の
上限レベルを検出し、この上限レベルと基準電圧との間
に検出レベルを設定するレベル設定手段と、前記高周波信号の上限レベルを基準にして特定の時定数
を以て低周波成分を得る低周波成分検出手段と、低周波成分検出手段で得られた低周波成分と前記検出レ
ベルとを比較する比較手段とを備えてディフェクトを検
出するディフェクト検出回路において、前記低周波成分検出手段の出力側に、特定のレベルで連
続した低周波成分を変動成分に変換する信号変換手段を
設置したディフェクト検出回路。