JPH01820A - 抵抗/コンデンサの変化を補償した集積化デュアルスロープ形アナログ−デジタル変換器 - Google Patents

抵抗/コンデンサの変化を補償した集積化デュアルスロープ形アナログ−デジタル変換器

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JPH01820A
JPH01820A JP63-69190A JP6919088A JPH01820A JP H01820 A JPH01820 A JP H01820A JP 6919088 A JP6919088 A JP 6919088A JP H01820 A JPH01820 A JP H01820A
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integrator
resistor
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ウィリアム ロバート クレニク
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は一般にアナログ−デジタル変換器に関し、特
に集積化デュアルスロープ形アナログ−デジタル変換器
に関する。
(従来の技術) アナログ−デジタル(A/D)変換器は、入力電圧の数
値表示を生じるように動作する。一つの種類のA/D変
換器は、“デュアルスロープ(二重傾斜)”形A/D変
換器として知られている。
一般に、デュアルスロープ形A/D変換器は入力電圧を
所定の開始電圧レベルからピーク電圧レベルまで所定の
時間にわたって積分した後、標準電圧をピーク電圧レベ
ルから開始電圧レベルへと逆積分する。反対に、デュア
ルスロープ形A/D変換器では、標準電圧を所定の期間
にわたって積分した後、入力電圧を逆積分してもよい。
逆積分に必要だった時間が上記所定の時間と比較され、
標準電圧の入力電圧に対する比を求める。
デュアルスロープ形アナログーデジタル変換器は、デジ
タル弐のパネルメータ、電圧計、その他の計測及び制御
の用途で用いるため多量に市販されている。これらのA
/D変換器はバイポーラ又はM OS技術で容易に実施
化でき、15ビツトを充分に越えた分解能が可能なため
、低速、高精度゛A/D変換器が業界基準となってきて
いる。最大の分解能及び信顧性とするには、最大許容入
力電圧に対応したピーク電圧レベルを最適なレベルに設
定することが望ましい。残念ながら、従来開発されたデ
ュアルスロープ形A/D変換器は高精度の抵抗とコンデ
ンサを必要とし、これらはA/D回路の残りと一緒に集
積回路上に正確に実施化できない。
(発明が解決しようとする課題) 抵抗及び容量値の変化は積分速度を左右するので、積分
時に得られるピーク電圧レベルに悪影響を及ぼす。外部
の抵抗とコンデンサを使うことも、コストの増大、寄生
リーク、ノイズの増加及び温度に関連した変化を含む幾
つの問題を伴う。これらの問題は、低分解能(10ビツ
ツ以下)°の用途における“逐次比較形”A/D変換器
の能力を減少させるばかりか、デュアルスロープ形A/
D変換器しか選択の余地がない高精度の用途においても
システムコストの増加と性能の低下という結果をもたら
す。
このため当業界においては、製造プロセスによって生じ
る抵抗及び容量値の固有な変化に基づく精度の減少を伴
わずに、単一チップ上に集積可能なデュアルスロープ形
A/D変換器が必要とされている。
(課題を解決するための手段と作用) こ\に開示し請求する本発明は、従来のデュアルスロー
プ形アナログーデジタル変換器に伴う問題を実質上取り
除いて、集積チップ上でデュアルスロープ形のアナログ
−デジタル変換を行う方法及び装置を提供する。
本発明の一特徴では、デュアルスロープ形アナログーデ
ジタル変換器がタイミング情報を発生する発振器と、入
力電圧を所定の発振回数にわたって積分する積分器とを
有する。発振器は、その周波数が積分の速度に比例して
変化し、積分速度の所望値からのずれを相殺するように
構成される。
本発明のこの特徴による利点は、実際の積分速度または
実際の発振速度における精度誤差にも拘らず安定なピー
ク積分レベルが維持されることにある。別の利点として
、積分器に対する温度の影響も同様に相殺される。
本発明の別の特徴では、完全に集積化されたデュアルス
ロープ形アナログーデジタル変換器が、電圧の数値への
変換のためにアナログ電圧を受け取る入力と、タイミン
グ情報を発生する発振器と、所定の時間間隔にわたって
入力電圧を積分し、測定される時間間隔にわたって標準
電圧を積分する積分器とを有する。発振器は、その抵抗
とコンデンサの値を乗算することによって決まるRC時
定数に反比例した速度でタイミング情報を発生する。
積分の速度は、積分器の抵抗とコンデンサの値に反比例
する。積分器の抵抗を発振器の抵抗と実質上同時に且つ
近接して作製し、また積分器のコンデンサを発振器のコ
ンデンサと近接して作製することによって、抵抗及び容
量要素の値における比例した変化の関係を、積分器と発
振器の両方において実質上等しくすることができる。本
発明のこの特徴は、抵抗及び容量両値の設計レベルから
のかなり大きな変化にも拘らず、フルスケール入力電圧
に対して最適なピーク電圧レベルが達成可能であるとい
う利点を有する。重要な漏れノードは全て集積回路内に
あるので、寄生効果はそれを考慮に入れて制御できる。
また、漏れノードは内部にあるので、プリント回路板の
特別な洗浄及び被覆は必要ない。
本発明とその利点のより完全な理解のため、添付の図面
と共に以下の説明を参照されたい。
(実施例) 本発明の好ましい実施例は、添付図面の第1〜5図を参
照することによって最良に理解されよう。
尚各図中、同様の及び対応した部分には同じ番号が使わ
れている。
デュアルスロープ形アナログーデジタル変換器10 (
以後“A/D”10と表わす)を実施するための回路が
、第1図に示しである。抵抗R014とコンデンサ00
16を有する発振器I2が、制御及びカウンタ部18に
接続されている。制御及びカウンタ部18は、入力電圧
22と基準電圧24を入力として有するマルチプレクサ
(M U X)20に信号を出力する。マルチプレクサ
20の出力は、抵抗R928とコンデンサC130を有
する積分器26に接続されている。積分器26の出力3
1は比較器32の入力に接続されている。比較器32の
出力は制御ロジック及びカウンタ部18に接続されてい
る。
A/D 10の動作を第2図のグラフを参照して論じる
。比較器32は、積分器26から比較器32への電圧入
力が予じめ設定されたスタート電圧34に等しくなると
信号を出力する。すなわち積分器26の出力31の電圧
が事前設定スタート電圧34に等しくなると、論理値1
等の信号が比較xq3zから制御ロジック及びカウンタ
部18に出力される。積分器26はその入力の電圧を積
分する。積分の速度は、R+28とCl30によって決
まる。
まず、積分器26の出力31が事前設定スタート電圧レ
ベル34に設定され、つまり好ましい実施例では、基準
電圧24が積分器26の入力に通過可能となるようにマ
ルチプレクサ20が設定される。基準電圧24は負電圧
で、積分器26の出力31に存在する電圧の連続的減少
を可能とする。
出力31が事前設定スタートレベル34に達すると、比
較器32が信号を制御ロジック及びカウンタ部18に出
力する。これは、初期状態に達し、アナログ−デジタル
変換が開始可能になったことを意味する。
尚、本発明は、出力31を現レベルに設定する“オート
ゼロ”段階を用いている変形も含むことが理解されよう
。この変形では、事前設定スタート電圧レベル34に達
するために、比較器32の出力が積分器26の入力にル
ープバックされる。
比較器32からの信号を受け取った後、制御ロジック及
びカウンタ部18は信号をマルチプレクサ20に出力し
、入力電圧22が積分器26に導かれるべきことを指示
する。同時に、制御ロジック及びカウンタ部18内のカ
ウンタが、発振器12からの発振出力をカウントし始め
る。入力電圧22が所定の発振回数にわたって積分され
る。
第1図の図示例では、各発振の時間周期が、発振器12
で使われているRo14とC016の特定値に伴うRC
時定数によって決まる、あるいは−部の発振器では、各
発振の時間周期を決めるのに水晶クロックを用いている
。第2図にTf36として示した所定の時間は、各発振
の時間周期に、積分期間中にカウントされた所定の発振
回数を掛けることによって求められる。
更に第2図を参照すると、入力電圧の積分が示しである
。スタート時点38 (つまり初期の事前設定電圧34
に達した時点)から始まって、入力電圧22は一定の時
間T、36の間積分される。
Te36の終りまでに、積分器26の出力31はV□、
に40の値に達している。発振速度と積分速度が共に一
定とすれば、VDiskは入力電圧22に比例して変化
する。
所定の発振回数がカウントされると、制御ロジック及び
カウンタ部18はマルチプレクサ20への信号を反転さ
せ、今度は標準電圧24を積分器26の入力に導く。標
準電圧24は、事前設定スタート電圧34に達するまで
積分される。この積分中発振回数がカウントされ、■、
。1に40を“逆積分”するのに必要な時間を求める。
この測定時間は7.42として示されている。初期の事
前設定スタート電圧34に達すると、比較器32が制御
ロジック及びカウンタ部18に信号を出力し、出力31
が事前設定電圧に等しくなったことを指示する。
図示の実施例tよ標準電圧が一つのデュアルスロープ形
A/Dを示しているが、正と負両方の標準電圧を用意す
るのが望ましいこともある;この場合、負の標準電圧は
正の入力電圧を逆積分するのに使われ、正の標準電圧は
負の入力電圧を逆積分するのに使われる。入力信号の極
性は、入力信号の積分後比較器を用いて判定で゛きる。
入力電圧220レベルは次式によって求めることができ
る: (1)入力電圧=基準電圧X (T r* / T t
 )同じく入力電圧22は、積分中にカウントされた発
振回数を用いて次式から求めることもできる:(2)入
力電圧=基準電圧X (N、/Nr)だしN、は入力電
圧の積分中にカウントされた所定の発振回数に等しく、
N、は基準電圧の積分中にカウントされた発振回数に等
しい。
従って式(2)から、デュアルスロープ形A/D変換器
は、積分の速度または発振の時間周期と独立に入力電圧
を求められることが明らかであろう。
しかし、最大の分解能を与えるためには、V pesk
が最大許容入力電圧22(以下“フルスケール入力”と
称する)で最適値に近付くことが重要である。■、。3
がフルスケール入力で理想電圧を大巾に越えると、■、
。っの実際値に達する前に、積分器26の出力31が飽
和してしまい、入力電圧22の誤った計算をもたらす。
一方、vp、、に4゜がフルスケール入力で理想電圧よ
り大巾に低いと、分解能のビット数に関連する増分電圧
が最適の増分電圧より小さくなる。増分電圧が小さ過ぎ
ると、特に低い入力電圧22において、積分器26と比
較器32への入力ノイズが読取値に影響を及ぼす。
また低い増分電圧では、電源やアースビンにおける誘導
電圧スパイク等の電源フィードスルーノイズが、首尾一
貫しない読取値を生じることもある。
このため、V p*a*を理想ピーク電圧にまたはその
近(に安定化することが望ましい。フルスケール入力に
おける理想ピーク電圧(以下“■9゜1.18”)はA
/D変換器を実施するのに用いる技術に依存するが、A
/Dのノイズ排除性を最適とするため、正の供給レール
の数百ミリボルト以内に設定されるべきである。またV
、。k、、□は温度の変化に対しても安定であることが
重要である。
つまり、発振の時間周期と積分の速度は、フルスケール
入力で理想的なり2.工、Xが得られる。よに調整され
ねばならない。理想的なV□m工、Xを達成するのに、
ある程度具なる発振速度と積分速度を使うこともできる
。例えば、より長い発振周期はより遅い積分速度で補償
し得る。また、Tf期間36中にカウントされる発振回
数を変えて、異なる発振速度を許容することもできる。
しかし、長いT7期間36はその分遅い応答時間をもた
らす一方、Tf期間36中にカウントされる発振回数の
減少は、入力電圧22の値計算における精度の低下をも
たらす。
積分速度と発振速度が決定されたら、発振器12と積分
器26両方の抵抗とコンデンサの組合せが、所望の各速
度を実現するように求められねばならない。Ro 14
、C016、R128及びCl30の値を求める場合、
回路で使われる抵抗及び容量値は所望の値と合致するこ
とが重要である;さもないと、積分速度及び/又は発振
速度がvp、lI工□の所望値に影響を及ぼすことがあ
る。
従来、抵抗及び容量両値をA/D変換器10に用いると
きに高精度を求める必要性が、これらの部品をA/D回
路の残りと一緒に集積化することを妨げてきた。酸化物
及び酸化物/窒化物コンデンサは高品質のコンデンサを
与え、ポリシリコン及び薄膜抵抗は高品質の抵抗を与え
るが、抵抗及び容量の両値を製造中に制御できる精度は
比較的低い。パラメータ変化の一般的範囲は、所定の所
望値から15〜35%も変化する。
Tfが正確に制御できると仮定すれば、V penkm
mxは次式によりR+C+積の逆数に比例するものとし
て示される。
(3)■□3工、X=フルスケール入力x(’rr)(
R+C+) 当業界で一般的な値を使えば、R,C,積は一40%か
ら+80%まで変化し得る。従って、Vl>6akff
imXも一40%から+80%まで変化する。
製造後におけるA/Dの微調整が許されないと、V 9
118kllfiXの公称設計値は最適値の約50%に
設定されねばならず、最悪ケースの装置では最適設計レ
ベルよりはソ゛80%も低く設定される。従って、この
変動は変換器の精度を2〜3ビア)犠牲にし、完全集積
化のデュアルスロープ形A/Dを、高精度の用途におい
て、実質上実現不可能としている。また、このような変
換器が製作されると、その性能は製造ロフト毎に太き(
変化してしまう。
これはどの分解能レベルにおいても好ましくない。
次に第3図を参照すると、発振器回路44の好ましい実
施例が示しである。この発振器回路44をA/DIOの
他の構成要素と組合せて集積チップ上に実現することに
よって、抵抗及び容量要素の精度の変化で実質上影響さ
れないA/D変換器を得ることができる。
発振器回路44は、第1比較器50と第2比較器52に
それぞれ入力される第1供給電圧46と第2供給電圧4
8を有する。比較、器50と52の入力50aと52a
は、抵抗R014とコンデンサC816の間のノード5
3に接続されている。
第1比較器50の出力はRSフリ・ノブフロップ54の
“リセット”入力に接続され、第2比較器52の出力は
RSフリップフロップ54の“セット”入力に接続され
ている。RSSフリップ出力は第1インバータ56に接
続されている。第1インバータ56の出力は、第2イン
バータ58の入力に接続されている。第2インバータ5
8の出力は、抵抗R614の一端に接続されている。抵
抗Ro14の他端は、コンデンサC016の一方の極板
にも接続されたノード53に接続されている。
コンデンサ0016の他方の極板はアースに接続されて
いる。
動作時、第1供給電圧46は第2供給電圧48より高い
値に設定されている。ノード53が初期の出力電圧にあ
るとすれば、第2比較器52が動作してRSフリップフ
ロップ54をセットする。
すなわちRSフリップフロップ54の出力を高とする。
2つのインバータ56と58を通過した後、高信号はR
o 14に現われ、コンデンサco16を充電する。ノ
ード53の電圧は、それが第1供給電圧46に等しい値
に達するまで増加し続け、等しくなった時点で第1比較
器50が動作し、RSフリップフロップ54をリセット
する。RSフリップフロップの出力が低信号になると、
ノード53の電圧はそれが第2供給電圧48に等しくな
る時点まで減少し、その後上記のサイクルを繰り返す。
従って、ノード53はR014とC816によって決ま
る速度で、電圧振動する。
好ましい実施例においては、第1及び第2供給電圧46
と48は電源から抵抗分圧器を介して得られる。例えば
、第1及び第2供給電圧46と48は、電源電圧の2/
3と173にそれぞれ設定可能である。この実施例は、
発振周波数が電源電圧と独立になるという利点を有する
発振器回路44の利点は、発振器の周波数が変化する抵
抗及び容量値による積分速度のズレを補償するように、
集積回路上の実現可能な点にある。
Tr=(a)(RoCo ) 、但しくa)は定数であ
るから、式(3)は次のように書き直せる: (4)  V p*mi+*sx = (a) (Ro
 Co) Xフルスケール入力X (1/RICI) = (a) xフルスケール入力× (Ro/R+)(Co/C+) (a)とフルスケーノし入力は一定なので、V Paa
k+aixはR0対R1の一定比とC6対C1の一定比
を維持することによって制御できる。すなわち、Roが
同じ比率で変化する限り、R1は理想値から変化可能で
ある。同じく、C0が対応して変化すれば、CI も理
想値から変化可能である。この手法を使えば、V pe
akffimxはその最適レベルの数%以内に安定化で
き、A/D 10の一貫した高い性能を可能とする。
好ましい実施例では、第3図に示したような弛張振動形
光振器が使われる。しかし、発振器の周波数がRC時定
数と反比例して変化する限り、位相シフト形発振器等そ
の他の種類の発振器も使用し得る。
次に第4図を参照すると、積分器及び発振器の抵抗とコ
ンデンサが製造上の精度誤差に拘わらず所定の比を維持
可能とする集積回路の平面図が示しである。集積回路6
0は、積分器抵抗R028に対応した積分器抵抗64の
一端に接続された入力電子回路62(マルチプレクサ2
0、基準電圧源24、及び入力電圧22用の入力電子回
路を含む)入力電子回路62を有する。積分器抵抗64
の他端は、積分器増幅器66の一方の入力と積分器コン
デンサ68の頂部極板68bに接続されている。積分器
増幅器66の他方の入力は、アナログ共通ラインに接続
されている。積分器増幅器66の出力は、積分器コンデ
ンサ68の底部極板68aと比較器32の一方の入力に
接続されている。発振器12の集積化に関連しては、発
振器抵抗70と底部及び頂部極板72a、72bを有す
る発振器コンデンサ72とが、発振器能動回路74に接
続されている。発振器能動回路74の出力は制御ロン。
ツタ及びカウンタ部18に接続されている。
好ましい実施例では、積分器及び発振器の抵抗64と7
0を実現するのに注入ポリシリコン抵抗が使われる。こ
の実施例では、ポリシリコン層が形成され、注入されて
そのシート抵抗を減少する。
別の実施例では、両抵抗を実現するのに薄膜技術が使え
る。好ましさでは劣るが、拡散抵抗も使える。
図示の実施例では、ラセン状の抵抗が使われている。あ
るいは、ポリシリコンをストライプ状に形成し、金属接
点で相互接続して抵抗路を作成することもできる。
集積回路の処理において、ポリシリコン抵抗のシート抵
抗は主にその注入量と注入エネルギーに依存する。2つ
の抵抗を集積回路上に接近して配置することによって、
注入量と注入エネルギーは両方の抵抗で同じになる。従
って、一方の抵抗を他方の抵抗より物理的に長く形成す
ることで抵抗比が設定される。例えば、あるチップ上で
積分器抵抗が25%高いと、発振器抵抗も同じくほり2
5%高くなる。つまり、あるチップ上で積分器抵抗64
が発振器抵抗70に接近していれば、両抵抗値の比は理
想的な抵抗比の値の数%以内で変化し、■9.□、−の
値に著しい影響を及ぼさない。
積分器抵抗64と発振器抵抗70の特定抵抗値はロフト
毎に大きく変化するかもしれないが、両抵抗のシート抵
抗値の比は比較的一定に留まる。
好ましい実施例では、両抵抗を同一方向に向けることに
よって、すなわち各抵抗ストライプを平行に形成するこ
とによって、抵抗値の一定化はいっそう高められる。こ
の実施例の利点は、注入強度、厚さ、エツチング、ドー
ピング等の方向成分が各抵抗について同一になる点にあ
る。
また好ましい実施例では、両抵抗64と70の各ストラ
イプが−様な巾を有し、抵抗率はトランジスタを長くす
ることによって増大される。この実施例は、エツチング
バイアスを減少させるという利点を有する。
同じくコンデンサも、ポリシリコン(またはその他の使
用物質)がコンデンサの各極板で実質上同一の密度を有
するように、相互に近接して配置される。好ましい実施
例において、コンデンサの各極板は同一レベルに配置さ
れる、すなわち両コンデンサの底部極板68aと?2a
は同一の層上に形成され、また両コンデンサの頂部極板
68bと72bは同一の層上に形成されるべきである。
この場合も、コンデンサの容量値間の比は数%以内での
み変化し、■、。、に、、の値に著しい影響を及ぼさな
い。
抵抗とコンデンサを近づけて配置することにより、対応
する対がチップ上で同様な温度変化をうけ、その温度変
化の影響を実質的に無視できるという効果もある。
デュアルスロープ形A/Dコンバータを集積回路上に実
現することは、小サイズ、低コスト及び゛高性能を与え
る他、チップの設計者がチップ外部の回路の未知な影響
を懸念することなく、寄生電圧及び電流の効果を補償で
きるようにするという利点を有する。また、重要な漏れ
リークノードは全てチップ内にあるので、プリント回路
板の特別な浄化及び被覆は必要ない。
次に第5図を参照すると、第4図のA−A線に沿った集
積回路60の断面図が示しである。P−基板76がN−
ウェル領域78を有する。N゛接点領域80が、N−ウ
ェル領域を金属接点82に接続している。金属接点82
はアナログ共通ラインに接続されている。厚い酸化物層
84がN−ウェル領域78上に施されている。酸化物層
84はN゛接点領域80上の領域でエッチ除去され、金
属接点82との接続を可能としている。酸化物層84の
上に、ポリシリコン抵抗層(積分器抵抗64として示す
)が被着され、エッチ除去されて抵抗を形成している。
ポリシリコン層は、その抵抗率を所望のレベルに設定す
るため、軽く注入されている。また、積分器コンデンサ
・68の底部極板68aも酸化物層84の上に被着され
ている。
別の酸化物層86が、底部極板68a上に成長または被
着されている。この別の酸化物層86上に、コンデンサ
68の頂部極板68aが被着されている。
N−ウェル領域78は、N−ウェル領域78とP−基板
76の間に逆バイアスのpn接合を形成する。この構成
は、基板ノイズがコンデンサの底部極板68aと72a
と容量的に結合されないという技術的利点を有する。
好ましい実施例では、コンデンサ68と72を作製する
のにポリシリコン−ポリシリコン技術が使われる。この
技術を用いると、コンデンサの極板がポリシリコン層と
して形成され、その後抵抗率を減少させるために注入さ
れる。
好ましさは劣るが、ポリシリコン−金属、金属−拡散、
または金属−ポリシリコン等地の技術もコンデンサを実
現するのに使える。
尚、第5図はN−ウェルCMO3,P−ウェルCMO3
,及びツウインウェルCMO3への適用例であるが、上
述の発明概念を実施化するのに、標準的なMOS及びバ
イポーラ技術等その他のプロセスによる上記以外の方法
も使える。
本発明の好ましい実施例について説明したけれども、本
発明の思想から逸脱せずに種々の変更、置換及び改変が
可能であることを理解されたい。
以上の記載に関連して、以下の各項を開示する。
1、アナログ電圧に対応した数値への変換のためにアナ
ログ電圧を受け取る入力; 所望に近い値を持つ第1抵抗と第1コンデンサを有する
発振器で、該発振器の発振周波数が該第1抵抗と第1コ
ンデンサの値の積に反比例する; 所望に近い値を持つ第2抵抗と第2コンデンサを有し、
前記アナログ電圧を第1の時間間隔にわたって積分し、
また標準電圧を第2の時間間隔にわたって積分する積分
器で、該積分器の積分速度が該第2抵抗と第2コンデン
サの値の積に反比例する; 前記第1及び第2抵抗が、各々それぞれの所望値から同
じ割合でずれ、第1及び第2抵抗の比が一定となるよう
に形成される;及び前記第1及び第2コンデンサが、各
々それぞれの所望値から同じ割合でずれ、第1及び第2
コンデンサの比が一定となるように形成され、前記2つ
の一定比が前記積分器の所定の最大出力電圧をもたらす
; を備えた集積化デュアルスロープ形アナログ−デジタル
変換器。
2、前記第1及び第2抵抗が抵抗材料のストライプから
なる第1項の変換器。
3、前記第1及び第2抵抗のストライプが相互に平行に
配列されている第2項の変換器。
4、前記第1及び第2抵抗のストライプが−様な巾を有
する第2項の変換器。
5、基板と、前記第1及び第2抵抗並びに前記第1及び
第2コンデンサを基板ノイズとの容量結合から分離する
シールド領域とを更に備えた第1項の変換器。
6、前記第1及び第2抵抗が温度のずれに比例して変化
する第1項の変換器。
7、前記第1及び第2コンデンサが温度のずれに比例し
て変化する第1項の変換器。
8、寄生効果を打ち消す回路を更に含む第1項の変換器
9、前記コンデンサがポリシリコンの極板領域を有する
第1項の変換器二 10、前記抵抗がラセン形状を有する第1項の変換器。
11、前記積分器が、最大許容アナログ電圧を前記発振
器から生じる所定の発振回数にわたって積分することで
所定の最大出力を発生するように動作可能で、該所定の
要人出力が前記第1抵抗及び第2コンデンサの実際値に
よって影響されない第1項の変換器。
12、前記第1の時間間隔が所定の発振回数を含み、前
記第2の時間間隔が測定される発振回数を含む第1項の
変換器。
13、前記第1及び第2抵抗が所定の距離内に形成され
、両抵抗がそれぞれの所望値から同じ比率だけずれるよ
うにした第1項の変換器。
14、前記所定の距離が30xlO−’インチである第
13項の変換器。
15、前記第1及び第2コンデンサが同一層上に形成さ
れた対応する極板を有する第1項の変換器。
16、アナログ電圧に対応した数値への変換のためにア
ナログ電圧を受け取る入力; 所望に近い値を持つ第1抵抗と第1コンデンサを有する
発振器で、該発振器の発振周波数が該第1抵抗と第1コ
ンデンサの値の積に反比例する; 所望に近い値を持つ第2抵抗と第2コンデンサを有し、
前記アナログ電圧を第1の時間間隔にわたって積分し、
また標準電圧を第2の時間間隔にわたって積分する積分
器で、該積分器の積分速度が該第2抵抗と第2コンデン
サの値の積に反比例する; 前記第1及び第2抵抗が1、製造上の精度誤差が両方の
抵抗値に比例関係を保ちながら影響を及ぼすように、接
近して且つ実質上同時に形成される; 前記第1及び第2抵抗がストライプから成り、該ストラ
イプが平行に整列され且つ実質上−様な巾を有する; 前記第1及び第2コンデンサが、製造上の精度誤差が両
方のコンデンサの容量値に比例関係を保ちながら影響を
及ぼすように、接近して形成される; 前記第1及び第2抵抗が、各々それぞれの所望値から同
じ割合でずれ、第1及び第2抵抗の比が一定となるよう
に形成される;及び前記第1及び第2コンデンサが、各
々それぞれの所望値から同じ割合でずれ、第1及び第2
コンデンサの比が一定となるように形成され、製造上の
精度誤差が前記発振器の周波数と積分の速度に比例関係
を保ちながら影響を及ぼし、前記抵抗及びコンデンサの
実際値がそれぞれの所望値と異なっていても、所望の最
大積分ピーク値をもたらす; を備えた集積化デュアルスロープ形アナログ−デジタル
変換器。
17、アナログ電圧に対応した数値への変換のためにア
ナログ電圧を受け取る入力; 所望に近い値を持つ第1抵抗と第1コンデンサを有する
発振器で、該発振器の発振周波数が該第1抵抗と第1コ
ンデンサの値の積に反比例する; 所望に近い値を持つ第2抵抗と第2コンデンサを有し、
前記アナログ電圧を第1の時間間隔にわたって積分し、
また標準電圧を第2の時間間隔にわたって積分する積分
器で、該積分器の積分速度が該第2抵抗と第2コンデン
サの値の積に反比例する; 前記第1及び第2抵抗が、各々それぞれの所望値から同
じ割合でずれ、第1及び第2抵抗の比が一定となるよう
に形成される; 所定の導電型を有する基板領域; 前記基板領域の第1導電型と反対の第2導電型を有する
分A’I jiJf域;及び前記分離領域をアナログ共
通ラインに接続する接点領域; を備えた集積化デュアルスロープ形アナログ−デジタル
変換器。
18、前記基板がP”導電型で、前記分離領域がN−導
電型である第17項の変換器。
19、第1抵抗と第1コンデンサを有する積分器で、積
分速度が該第1抵抗と第1コンデンサの値の積に反比例
する; 第2抵抗と第2コンデンサを有する発振器で、該発振器
の発振周波数が該第1抵抗と第1コンデンサの値の積に
反比例する; 前記第1及び第2抵抗が、製造上の精度誤差によるそれ
ぞれの実際値の変化にも拘らず、両抵抗値の比が実質上
一定に留まるように形成される;及び 前記第1及び第2コンデンサが、製造上の精度誤差によ
るそれぞれの実際値の変化にも拘らず、両容量値の比が
実質上一定に留まるように形成される; を備えた電圧計。
20、前記発振器と積分器が集積回路上に形成される第
19項の電圧計。
21、前記第1及び第2抵抗が平行に整列された抵抗材
料のストライブから成る第20項の電圧計。
22、前記第1及び第2抵抗が相互に接近して位置する
第20項の電圧計。
23、前記コンデンサの各極板が実質上同時に形成され
る第20項の電圧計。
24、前記コンデンサの各極板が同一レベル上に形成さ
れる第20項の電圧計。
25、第1抵抗と第1コンデンサを有する積分器を形成
する段階; 第2抵抗と第2コンデンサを有する発振器を形成する段
階; 所望値からのずれが第1及び第2抵抗両値に比例関係を
保ちながら影響を及ぼし、第1及び第2抵抗の比が実質
上一定の限定比となるように前記第1及び第2抵抗を形
成する段階;所望値からのずれが第1及び第2コンデン
サ両値に比例関係を保ちながら影響を及ぼし、第1及び
第2コンデンサの比が実質上一定の限定比となり、前記
2つの一定の限定比が前記積分器の所定の最大出力電圧
をもたらすように前記第1及び第2コンデンサを形成す
る段階;を含む集積化アンミコグーデジタル変換器の製
造方法。
26、前記第1及び第2抵抗を、各抵抗が同−比の実際
値対所望値を有するように相互に30xlO−’インチ
以内に形成する段階を更に含む第25項の方法。
27、前記第1及び第2コンデンサを、各コンデンサが
同−比の実際値対所望値を有するように所定の距離内に
形成する段階を更に含む第25項の方法。
28、前記第1及び第2コンデンサの極板を、各コンデ
ンサの底部極板が第1層上に形成され、各コンデンサの
頂部極板が第2層上に形成されるように形成する段階を
更に含む第25項の方法。
29、デュアルスロープ形アナログーデジタル変換器で
、発振器抵抗(70)と発振器コンデンサ(72)の値
によってタイミング周波数が決まる発振器(工4)を有
する。積分器(26)が、積分器抵抗(64)と積分器
コンデンサ(68)によって決まる速度で入力電圧を積
分する。発振器抵抗(70)と積分器抵抗(64)は、
製造上の精度誤差にる実際値の変化にも拘らず、それら
の比が一定のままであるように形成される。発振器コン
デンサ(72)と積分器コンデンサ(68)も同様に形
成される。従って、実際の抵抗及び容量値の変化にも拘
らず、フルスケール入力で最適のピーク積分値が得られ
る。
4、図面の簡単な説明   ′ 第1図はデュアルスロープ形A/D変換器を示す図;第
2図は第1図の回路の積分器出力を示す図;第3図は発
振器回路を示す図;第4図は集積化デュアルスロープ形
A/D変換器の積分器及び発振器部分の平面図を示す図
;及び第5図は第4図の集積回路の抵抗及び容量部分の
断面図である。
10・・・・・・アナログ−デジタル(A/D)変換器
、12・・・・・・発振器、14.70・・・・・・発
振器抵抗、16.72・・・・・・発振器コンデンサ、
22・・・・・・アナログ入力電圧、24・・・・・・
標準電圧、26・・・・・・積分器、28.64・・・
・・・積分器抵抗、30.68・・・・・・積分器コン
デンサ、36・・・・・・第1の時間間隔、42・・・
・・・第2の時間間隔、68a、b・・・・・・コンデ
ンサ極板、76・・・・・・基板、78・・・・・・シ
ールド(分離)領域、82・・・・・・接点領域。
手続補正書(方式) 63.7.13 昭和  年  月  日 1、事件の表示   昭和63年特許願第69190号
3、補正をする者 事件との関係  出願人 4、代理人 (同容Iし夛ヒメ己7よ(−1

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 アナログ電圧に対応した数値への変換のためにアナログ
    電圧を受け取る入力: 所望に近い値を持つ第1抵抗と第1コンデンサを有する
    発振器で、該発振器の周波数が該第1抵抗と第1コンデ
    ンサの値の積に反比例する;所望に近い値を持つ第2抵
    抗と第2コンデンサを有し、前記アナログ電圧を第1の
    時間間隔にわたって積分し、また標準電圧を第2の時間
    間隔にわたって積分する積分器で、該積分器の積分速度
    が該第2抵抗と第2コンデンサの値の積に反比例する; 前記第1及び第2抵抗が、各々それぞれの所望値から同
    じ割合でずれ、第1及び第2抵抗の比が一定となるよう
    に形成される;及び 前記第1及び第2コンデンサが、各々それぞれの所望値
    から同じ割合でずれ、第1及び第2コンデンサの比が一
    定となるように形成され、前記2つの一定比が前記積分
    器の所定の最大出力電圧をもたらす; を備えた集積化デュアルスロープ形アナログ−デジタル
    変換器。
JP63069190A 1987-03-25 1988-03-23 Integrated dual slope type analog/digital converter compensating change in resistance/capacitance Pending JPS64820A (en)

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US07/030,198 US4849757A (en) 1987-03-25 1987-03-25 Integrated dual-slope analog to digital converter with r/c variance compensation
US030198 1987-03-25

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JPH01820A true JPH01820A (ja) 1989-01-05
JPS64820A JPS64820A (en) 1989-01-05

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ID=21853030

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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1990012459A1 (en) * 1989-03-31 1990-10-18 Digital Appliance Controls, Inc. Analog to digital converter
US5099239A (en) * 1989-09-21 1992-03-24 Xerox Corporation Multi-channel analogue to digital convertor
US5140327A (en) * 1989-09-21 1992-08-18 Xerox Corporation Analog to digital converter utilizing a semiconductor capicitor array
DE19936327C2 (de) * 1999-08-02 2003-04-24 Infineon Technologies Ag Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung von ratiometrischen Messungen unter Verwendung eines Analog/Digital- oder eines Digital/Analog-Umsetzers, Analog/Digital- oder Digital/Analog-Umsetzer, und Verfahren zum Betreiben eines Analog/Digital- oder Digital/Analog-Umsetzers
US6377108B1 (en) * 2000-08-28 2002-04-23 Intel Corporation Low jitter differential amplifier with negative hysteresis
US6919835B2 (en) * 2002-12-16 2005-07-19 General Electric Company Infinite electronic integrator
US7414553B1 (en) 2006-11-17 2008-08-19 Zilog, Inc. Microcontroller having in-situ autocalibrated integrating analog-to-digital converter (IADC)
TWI426712B (zh) * 2010-05-25 2014-02-11 Sitronix Technology Corp Analog - to - digital conversion circuit
JP2013239876A (ja) * 2012-05-15 2013-11-28 Seiko Npc Corp 電荷増幅回路

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3402372A (en) * 1962-04-11 1968-09-17 Tesla Np Passive electric network
US3316547A (en) * 1964-07-15 1967-04-25 Fairchild Camera Instr Co Integrating analog-to-digital converter
DE2429434B2 (de) * 1974-06-19 1979-10-04 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Verfahren zur Herstellung von Widerständen und Kondensatoren in Dunnschichtschaltungen
US4063210A (en) * 1976-02-17 1977-12-13 General Motors Corporation Temperature independent semiconductor resistor and method of making same
US4704625A (en) * 1982-08-05 1987-11-03 Motorola, Inc. Capacitor with reduced voltage variability
JPS59161774A (ja) * 1983-03-04 1984-09-12 Hitachi Ltd 乗算型a/d変換器
US4502894A (en) * 1983-08-12 1985-03-05 Fairchild Camera & Instrument Corporation Method of fabricating polycrystalline silicon resistors in integrated circuit structures using outdiffusion
DE3482564D1 (de) * 1983-09-27 1990-07-26 Filtronics Components Ltd Temperaturkompensierter kondensator.

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