JPH01320449A - 光学測定器 - Google Patents

光学測定器

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JPH01320449A
JPH01320449A JP63152235A JP15223588A JPH01320449A JP H01320449 A JPH01320449 A JP H01320449A JP 63152235 A JP63152235 A JP 63152235A JP 15223588 A JP15223588 A JP 15223588A JP H01320449 A JPH01320449 A JP H01320449A
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JP
Japan
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liquid
prism
oscillator
ultrasonic
case
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JP63152235A
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English (en)
Inventor
Shigeo Aoki
青木　茂夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08—CLEANING
    • B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B17/00—Methods preventing fouling
    • B08B17/02—Preventing deposition of fouling or of dust
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08—CLEANING
    • B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
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    • B08B3/10—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
    • B08B3/12—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration by sonic or ultrasonic vibrations
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光学的に液体の屈折率等を計測する光学計測器
の改良に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種のセンサは、液体の屈折率がその液体の特
徴２例えば種類やその溶液の濃度と密接に関係すること
を利用し、光学プリズムとの間において全反射の臨界角
を計測したり、光学プリズムと液体との境界面における
測定光の反射率を求める等によりて目的の計測を行なっ
てきた。
−例をあげると、第２図に示される様な液体識別センサ
では、プリズム１の被測定液体に接する面は、被測定液
体の屈折率に応じて９反射率が変わる。２は光源、３は
検出器、４はファイバ、５はレンズである。センサは、
測定面が空気中にある時の検出光パワーと、測定面が被
測定液体６に接している時の検出光パワーを検出器３で
検出すると共に、これらの比較して境界面の反射率を求
め、最終的には液体の屈折率を知る。
ところで、光学センサは表面の清浄度にょシ性能が影響
を受けることが多い。そのために、光学センサは測定の
度に、光学特性に関係する面を拭く等の処置を施すこと
が望ましい。
〔発明が解決しようとする課題〕
実験室内で非連続的に測定する場合は、センサヘッドの
洗浄９校正等がその都度性なえるため。
実際上、センサへ、ラドの汚れによる誤差の発生は避け
ることができる。
しかし、光学センサをプラントの液体配管や。
液体の貯蔵タンクに据付け、常時、計測するシステムを
構成する場合、光学センサヘッドの汚れを清浄すること
はプラントの動作停止を伴うこととなるので、実際上、
相当長期間に亘って不可能となる場合が多い。
本発明はこのような状況を考え、光学センサを設置箇所
から取りはずすことなく、ヘッド面の汚れを除去できる
ような光学測定器を提供しようとするものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明によれば、液体に接した状態でその屈折率等の光
学特性を測定する光学センサと、該光学センサと前記液
体との接触面に隣接した位置に配置され超音波発振部と
を含む光学測定器が得られる。
〔実施例〕
第１図は本発明の一実施例の構造を示す。
第１図において、第２図で説明した測定システムを水密
構造にてケース１０に収納すると共に。
プリズム１に隣接させて超音波発振器１１を並設してい
る。プリズム１はヘッド面が被測定液体６に接し得るよ
うにケース１０外に露出される。超音波発振器１１もそ
の超音波放射面が被測定液体を向くように設けられる。
図示の如く、ケース１０は被測定液体６中に浸漬状態に
て据付けられる。なお、超音波発振器１１もその超音波
放射面がプリズム１のヘッド面を向くようにケース１０
外に露出させて設置するのが好ましい。
この様な使用状態で超音波発振器１１を定期的に駆動す
ることにより、プリズム１のヘッド面は超音波洗浄され
る。超音波発振器１１の駆動は遠隔で操作でき、しかも
機械的な作業を伴わないので平易で確実な洗浄が実現で
きる。
〔発明の効果〕
以上説明してきたように２本発明によれば液体に接して
測定を行う光学測定器の光学センサに隣接させて超音波
発振器を並設したことにより、設置状態のままで光学セ
ンサのヘッド面の洗浄が可能となり、常に高精度の測定
を行うことができる。
それ故１本発明による測定器はプラント等に据付状態で
設置されるタイプに最適である。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例の構造を示す図、第２図は従
来の光学測定器の一例を説明するだめの図。 図中、１はプリズム、２は光源、３は検出器。 ４は光ファイバ、５はレンズ、６は被測定液体。 １０はケース、１１は超音波発振器。 第１図 第２図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １、液体に接した状態でその屈折率等の光学特性を測定
    する光学センサと、該光学センサと前記液体との接触面
    に隣接した位置に配置された超音波発振部とを含む光学
    測定器。
JP63152235A 1988-06-22 1988-06-22 光学測定器 Pending JPH01320449A (ja)

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