JPH0131130B2

JPH0131130B2 -

Info

Publication number: JPH0131130B2
Application number: JP55009231A
Authority: JP
Inventors: Boode Girubaa; Shebarie Kirubaa; Peazu Jaajaaku
Original assignee: Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Current assignee: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Priority date: 1979-01-30
Filing date: 1980-01-29
Publication date: 1989-06-23
Also published as: EP0015170B1; EP0015170A1; DE3063792D1; ES8103837A1; ES488067A0; FR2448134A1; FR2448134B1; JPS55132923A; CA1136882A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は遠隔測定用分光光度装置に関するもの
である。

更に正確に言えば、本発明は、例えば分光光度
分析によつて溶液のいくつかの物質の含有度を決
定することができる装置であつて、その被分析標
本即ち被分析溶液が分光光度計のサンプル室に入
つていないものに関する。例えば、該装置は、被
分析溶液が放射性であつて、この溶液を入れたセ
ルを肉厚の保護用包囲体の内部に配置しなければ
ならない場合に用いることが出来る。

勿論この様な装置は溶液中のいくつかの物質の
含有度を決定することに限定されるものではな
く、周知の様に分光光度法は赤外分析によつて例
えば温度を決定することもできる。

ベールの法則を応用して溶液中の各種イオンの
濃度を測定するのに色度計や光度計を使用するこ
とはよく知られている。ここでは、溶液中の各種
イオンの含有度を遠隔測定するのにオプチカルフ
アイバーを用いることもよく知られている。更
に、色度計の場合には被分析溶液中にプローブを
沈めて測定するために、光を反射するミラーと連
結したオプチカルフアイバーが用いられているこ
とも周知である。そのプローブは場合によつて
は、計算機で自動的に計算し直される可変光路を
有することができる。オプチカルフアイバーから
送られた光束を集束させるために、或いは反対に
平行光束を得るために、束になつたオプチカルフ
アイバーの出口にレンズを使用することも周知で
ある。

然し、分析したい溶液中の各種イオンが明確に
されていない時には、プリズム、もつと良いのは
ホログラフ網を使用して波長に従つて走査する装
置により分光的に溶液を検査することが、必須条
件ではないが好ましい。それに対応する測定装置
は分光光度計と呼ばれるものである。然し、分光
光度計を使用する場合には、色度計や光度計を使
用する時に用いられ知られている構成は使用でき
ない。実際には分光光度計の感度は従来の色度計
の感度よりも明らかに高く、そのため溶液が入つ
ているセルと色度計とを連結するためのオプチカ
ルフアイバーによる従来の回路は分光光度計によ
る分析の場合には使用できない。

本発明は従来種々のタイプの分光光度計に応用
できる。それらの分光光度計のうち、合衆国でベ
ツクマン社が開発した装置（DK2，Acta ，
52.40，52.70、等）、パーキン＆エルマー社が製
造した装置、ボツシユ＆ロム社が製造した装置、
カーリ社がフランスで製造した装置、ジヨビン・
イブオン社又はS.A.F.A.S.社が製造した装置を挙
げることができる。

更に指摘すべきことは、本出願人はいくつかの
タイプの多数反射型光度測定セルを既に開発して
いることである。即ち、セルの幾何学的サイズが
制限されている場合、上記測定セルでは、溶液中
を通過する光束を適宜反射させて、相当の長さの
光路、例えば、メートル台の光路を形成できる。
このタイプのセルについてもつと正確に知ること
は、本出願人が1977年５月13日に出願した「凹面
鏡と対物レンズを有する光度測定装置」と題する
仏国特許出願第77／14753号（特許公告第2390725
号公報）、及び本出願人が1978年３月30日に出願
した「多数反射型光度測定セル」と題する仏国特
許第78／09256号（特許公告第2421376号公報）を
参照するのが効果的である。それらのセルは特有
の特徴によつてセル中で光路を伸ばすことができ
るので、微量の被検出物質しか含有しない溶液を
分析することができる。実際には、溶液中の物質
の濃度とこの物質の存在によつて生じる光の吸収
との間の関係に関するベールの法則から、その光
の吸収は光束が通つた光路の長さに比例すること
がわかる。従つて適切な光学システムによりその
光路を大きくすることによつて装置の感度が大き
くなり、同様にして濃度が非常に小さな溶液の場
合にも同じく装置の感度が保持される。

従来の分光光度測定における問題点は、次の通
りである。まず第一に、測定セルと光度計との間
をオプチカルフアイバーで連結する従来の光情報
伝達装置は、分光光度測定に不可欠な単色性の被
伝達光束を使用するのに適していないことであ
る。この問題は測定試料が放射性物質である場合
に特に顕著である。なぜならば、発明者の確認し
たところによれば、オプチカルフアイバーが放
射、例えば強度のガンマ放射を受けると、オプチ
カルフアイバーの特性が変化し、特にその吸光係
数が、受けた放射能の線量と上記オプチカルフア
イバーを通過する光束の波長とに応じて変化する
ので、測定セルと連結されたオプチカルフアイバ
ーが試料の放射能を受けることにより測定誤差が
生じたからである。

第二に、従来の分光光度計では遠隔測定が不可
能であることを指摘しなければならない。正確に
言えば、分光光度計はこれと直接対向して配置さ
れたサンプル室を有しており、その中に基準セル
と、被分析溶液を含むセルが配置される。被分析
溶液が例えば放射性のものである場合には測定セ
ルを防護しなければならず、サンプル室にそれを
配置することが不可能であることは容易に理解さ
れる。ところで上述した様に分光光度計と測定セ
ルとの間の光情報の伝達が特に問題となり、本発
明はそれを解決している。

本発明は正確に言うと、被分析溶液を入れた分
析セルと、非常に正確に分析できる分光光度計と
の間で光信号を伝達する特殊な手段を有してい
て、溶液中の各種イオンを遠隔的に分光光度測定
する装置に関するものである。更に、この装置は
測定の精度を乱すことなく、被分析溶液を入れた
セルの位置と分光光度計との間の距離を離すこと
ができる。特に、限定的ではないが、この装置
は、例えばセルが放射線に対抗する保護用包囲体
の中に配置される時、即ち被分析溶液が放射性で
ある時に分光光度計とセルとの間に前述した様な
大きな距離を置くことができる。更に、オプチカ
ルフアイバーで光学情報を伝達する場合、又は、
放射性溶液が入つている測定セルを保護用包囲体
の中に配置する場合、本発明はその特有の特徴に
よつて、光を伝達中のオプチカルフアイバーの吸
収の変化において、放射線、特にガンマ放射線に
よる作用を除去することができる。特に、発明者
はこの吸収の変化が光源の波長に依存することを
明確にしており、本発明はその分光光度計に用い
られる光束の波長に応じて、オプチカルフアイバ
ーの吸光度の変化を補正することができる。

本発明の装置は、少なくとも１つの測定セル１４と、測定ループ
と、基準ループとを有しており、かつ光源１
と、検知器２１と、サンプル室４と、測定光束及
び基準光束を形成する光学システム２２とを備え
る分光光度計に対する取付けにより、遠隔測定を
可能にする、分光光度装置であつて、前記測定セル１４は、被分析溶液を入れるため
のものであつて前記分光光度計から離れて配置さ
れており、前記測定ループは、測定光束を前記サンプル
室４の外へ転向するために前記サンプル室４の中
に収容されている第一光学システム５と、前記測
定光束を、始端部７で受け、かつ該測定光束を末
端部から、少なくとも一つの前記測定セル１４の
入口面に配置させた少なくとも一つのレンズ１３
に送る第一オプチカルフアイバー８と、少なくと
も一つの前記測定セル１４の出口面に配置された
少なくとも一つの第二レンズ１５から発せられた
測定光束を始端部で受け、該測定光束を末端部１
８から前記サンプル室４の入口へと送る少なくと
も１つの第二オプチカルフアイバー１７と、前記
サンプル室４の中に収容されていて、しかも前記
第二オプチカルフアイバー１７の末端部１８から
発せられる測定光束をサンプル室４の外の検知器
２１へ転向する第二光学システム２０とを有し、前記基準ループは、基準光束を前記サンプル
室４の外に転向するために前記サンプル室４の中
に収容されている第三光学システム２４と、始端
部２６で前記基準光束を受け、かつ該光束を末端
部３５から前記サンプル室４の入口へ送る少なく
とも一つの第三オプチカルフアイバー２７と、該
第三オプチカルフアイバー２７の前記末端部３５
から発せられる基準光束を、前記検知器２１の方
へ送る第四光学システム３７と、前記第三オプチ
カルフアイバー２７を構成する二つのオプチカル
フアイバー部分３４，３４′の間に二つのレンズ
３１，３３を前後に介して配置させた、基準溶液
を入れる為の基準セル３２と、測定ループの第
一、第二オプチカルフアイバー８，１７の吸光係
数の変化を補正する為の調節用光学楔体４０とを
有し、前記オプチカルフアイバー８，１７の耐用
期間中前記吸光係数の変化を補正するため、該光
学楔体４０の位置が光源１の波長調節装置２から
の信号により光源の波長に応じて制御されるよう
設けた、遠隔測定用分光光度装置、である。

好適実施例に従つて、前記基準ループは基準溶
液を入れるための基準セルを有しており、又、基
準ループの前記オプチカルフアイバーは２つのオ
プチカルフアイバー部分で構成されており、それ
らの間には２つのレンズを介して前記基準セルが
配置される。

好適実施例に従つて、前記測定セルは保護用包
囲体の中に配置され、測定ループの前記２つのオ
プチカルフアイバーは各々、２つの半オプチカル
フアイバーで構成されていて、それらの間に前記
保護壁の貫通システムが配置される。

とにかく本発明は非限定例として示した本発明
の一実施例についての下記説明文を読むことによ
つてより良く理解されるであろう。

まず、従来の分光光度計の基本的構成について
説明すると、該分光光度計は単色光源１を有して
おり、該光源の波長は波長走査装置２によつて調
節されている。更に単色光源には、発せられた光
エネルギーを制御する幅調節型間隙形成器１′が
連結している。又、この分光光度計には、第１図
に簡略図示したメカニズム３によつて操作される
２つのピボツト回転式ミラー２２と２２′が配設
されている。それら２つのミラー２２と２２′の
間には、分光光度計のサンプル室４が配置されて
いる。勿論サンプル室の外側には平面鏡２３と２
３′が配置されている。

本発明の分光光度装置は、このような従来の分
光光度計に取りつけることにより、遠隔測定を可
能にするものであり、前記分光光度計と測定セル
１４とを連結する符号の測定ループと、好まし
くは分光光度計と基準セル３２とを連結する基準
ループとを備えている。本発明の分光光度装置
により遠隔測定をする場合には、被分析溶液を含
む槽１４を保護用包囲体１０の内部に配置し、し
かも分光光度計とセル１４との間にいくらかの距
離を設ける。

次に測定ループと基準ループとを説明する
と、平面状又は好ましくは球面又は抛物面状のミ
ラー５が測定用光束を外部に送るためにサンプル
室４の中に配置されている。測定光束用の焦点合
せ収束レンズ６によつて、前記測定光束は第一オ
プチカルフアイバー８の始端部に集束し、該始端
部から光束を平行にするレンズ１３を介し、測定
セル１４へ進行する。

前記第一オプチカルフアイバー８は、保護用包
囲体１０の壁を貫通させた貫通部材１１によつて
連結される、二つのオプチカルフアイバー部分１
２，１２′によつて形成される。前記貫通部材１
１は、「自己集束性」オプチカルフアイバーとす
ることが好ましい。換言すれば、上記オプチカル
フアイバーは、光束をその出口で発散又は収束さ
せる特殊タイプのオプチカルフアイバーである。
従つてそれは２つのレンズと連結させた普通のオ
プチカルフアイバーと同様に機能する。もちろ
ん、特殊タイプのオプチカルフアイバー１１の代
りに、２つのレンズと連結している窓体を使用す
ることができる。しかし、「自己集束性」オプチ
カルフアイバーは、包囲体に装着する貫通部材と
して大変多くの利点を有しており、特に光を漏ら
さず伝達する点で優れている。

前記測定セル１４から出る測定光束は、該測定
セルの出口に設けられた収束レンズ１５によつ
て、第２オプチカルフアイバー１７の始端部に入
り、他端部から前記サンプル室４の入口へ送られ
る。前記第二オプチカルフアイバー１７は、前記
貫通部材１１と同じ貫通部材１１′によつて連結
された、オプチカルフアイバー部分１６，１６′
で形成される。上述した様に測定セル１４には被
分析溶液が入つている。本発明の装置はこの溶液
が非常に強い放射能を示す場合に特に利用される
ので、前記測定セルは包囲体１０の内部に置かな
ければならない。測定用光束は第二オプチカルフ
アイバー１７の末端部１８から光学室４の内部に
配置されたレンズ１９を介してサンプル室内の平
面鏡２０に送られ、その時レンズ１９は前記末端
部１８から出た発散光束から平行光束を作る。

その後平面鏡２０によつて光束はサンプル室４
の外の検知器２１へと送られる。更に、オプチカ
ルフアイバー８で構成された測定回路に、平衡シ
ステムを構成する調節自在の光学楔体９を配置す
ることができる。包囲体１０には複数の測定セル
を入れることができる。実際には多数線のオプチ
カルフアイバーを使用することができる。各々の
線は保護用包囲体の中で分離されて１つの測定用
セルに対応する。更に、用いられるオプチカルフ
アイバーは実際の放射線量に耐えられる物質でで
きている。例えばシリカフアイバーを使用するこ
とができる。測定用セルが保護包囲体の中に配置
されていない場合には、壁体貫通の問題はなく、
前記第一オプチカルフアイバー８及び第二オプチ
カルフアイバー１７はそれぞれ単一の同じオプチ
カルフアイバーでよく、半フアイバーで形成する
必要はない。

基準ループは実施例では実質的には測定ルー
プと同じ構造であるが、相異点を強調しながら
基準ループについて簡単に説明する。このループ
は平面鏡、好ましくは球面又は抛物面状鏡２４
と、サンプル室４から基準光束を出す収束レンズ
２５と、オプチカルフアイバー部分３４，３４′
から構成される第三オプチカルフアイバー２７と
を有しており、前記オプチカルフアイバー部分３
４′は、前記基準光束の受光する始端部２６と、
レンズ３１に連結させた末端部とを備える。レン
ズ３１はその出口で基準セル３２の入口に平行光
束を作る。基準セルの出口には収束レンズ３３と
オプチカルフアイバー部分３４の入口端部が配置
され、そのフアイバーの出口面３５は基準光束を
サンプル室４の中に入り込ませる。サンプル室４
の内部にはレンズ３６があり、それは平行光束を
平面鏡３７の方へ送り、その平面鏡は基準光束を
ミラー２３′の方へ送る。この測定回路には更に、
測定ループの楔体９と同じ役割を果たす補正用
光学楔体２８と、放射能によるオプチカルフアイ
バーの前記吸光係数の変化を補正するための第二
の調節用光学楔体４０が設けられている。前記の
ようにオプチカルフアイバーの吸光係数は、受け
た放射能の線量及び被伝達光束の波長に応じて変
化するので、前記光学楔体４０は、オプチカルフ
アイバーの被伝達光束の波長に応じて作動する制
御装置２９に連結されている。もつと詳しくいえ
ば、前記光学楔体４０の動きは制御装置２９によ
つて制御され、該制御装置自体も光源１の波長を
制御する波長調節装置２からの信号で制御される
マイクロプロセツサー３０によつて制御される。
光源の波長は前記測定回路のオプチカルフアイバ
ー８，１７に用いられる測定光束の波長に等しい
から、光学楔体４０の位置は該波長に応じて制御
される。尚、ここで波長に応じてとは波長の関数
としての意味である。

測微機構３８と３９は、ミラー５，２０，２
４，３７及びオプチカルフアイバーの端部７，１
８，２６，３５の位置を正確に調節するものであ
る。実際には、フアイバーの直径が極めて小さい
ことを考慮して、光束全体が適切な効率を得るた
めにフアイバーの入口面に効果的に当たらなけれ
ばならない。

第２図には測定ループに於ける光束の波及を
示した。この様にそれぞれの光学装置の作用がよ
くわかる。この第２図の符号は第１図に用いた符
号が用いられている。

第１図に図示した完成回路に対して、変形実施
例となる下記の摘要を付すことができる。基準ル
ープの一部を放射環境、即ち包囲体１０のセルの
内部に位置させることが考えられる。こうして測
定通路と基準通路との間に放射作用に関しある一
定の補正がなされる。

ある場合には単一光束の装置、即ち測定通路の
みを使用することができる。こうして測定又は基
準装置を分光的に選別することができる。

更に、基準通路をサンプル室４の外部に単一
のオプチカルフアイバーだけで構成することが考
えられる。この様に使用された単一オプチカルフ
アイバーは完全な測定回路と同じ減衰度を示すよ
うに選択される。そのためオプチカルフアイバー
の長さと材質は適切なものが選択される。

更に、測定セル又は基準セルは既に出願された
２つの特許出願に記載されているものの様に従来
の概念のものでも或いは特殊な概念のものでもよ
い。

また、この装置は非放射性元素の測定、即ち保
護用包囲体を除去しても使用することができる。
即ち、オプチカルフアイバーで接続された長い光
路の槽で微量の被検出物質を測定する場合に使用
され、その結果を第５図に図示した。

更に、重要なことは、分光光度計自体は従来の
ままであり、唯一の相違点はサンプル室４内に測
定セルと基準セルを配置する代りにそこに返光用
光学システムを配置することである。

第３図と第４図の曲線を見ると、本発明の目的
の測定装置の効果、特に補正効果がよくわかるだ
ろう。

第３図は補正しない装置に於けるネオジム溶液
（10％のHNO₃100c.c.中ネオジム硝酸塩10.0458ｇ）
の場合の波長λ（単位nm）に関する吸光度（任意
単位）を示している。曲線は10％のHNO₃だけ
を含む溶液に対応するベースラインを示してお
り、曲線はその溶液の分光分析を示している。
ベースラインは完全に水平ではなく、しかも曲線
の直接的な解釈は非常に困難であることがわか
る。

第４図は同じ分析ではあるが基準ループで補正
した曲線を示している。曲線は純粋なHNO₃の
ものであり、曲線，，，は夫々硝酸塩濃
度が1/4，1/2，3/4，１のものである。

ベースラインは波長が470nmから850nmの大
きな範囲に於いて実質的に水平であることがわか
る。特徴的な測定ピークも非常にはつきりしてい
る。更にこの図から、ピークが５２４，５７５，
７４１の場合の濃度（ｃ／４，ｃ／２，3c／４，
ｃ）に関する、吸光度（D.O.）の変化がわかる。
この曲線は、本発明の装置でベールの法則が良く
証明されていることを示している。

第５図は、オプチカルフアイバーで一部を補正
しており、しかもフアイバーで接続された光路の
大きな槽を用いている装置に於いて10％の
HNO₃100c.c.中ネオジム0.05ｇの溶液の場合の波
長λに関する吸光度を示す曲線を図示している。
曲線は純粋なHNO₃のものであり、曲線，
，，は夫々硝酸塩濃度が1/4，1/2，１，及
び3/2のものである。ベースラインは470nmから
580nmの範囲で実質的に水平である。特微的ピー
クは濃度Ｃに関する吸光度（D.O.）を示す曲線
にはつきりと現われている。

更に白色光で作業をすることもできる。測定セ
ルの後にフイルターを配置する。こうしてフイル
ターで限定されるスペクタル帯に於ける反応を調
査することができる。

測定は距離を置いて且活性環境の包囲体の中で
行われるにも拘らず本発明の装置により非常に正
確に溶液の分光測定をすることができるというこ
とが上述の説明からわかる。

（オプチカルフアイバーを使用した）固定補正
システムの使用は容易である。マイクロプロセツ
サーによる制御によつてベースラインはより直線
化され、しかも放射作用状態でのオプチカルフア
イバーの伝達減衰に依るドリフトが補正される。

変形例としては、ミラー５，２０，２４，３７
の代りに、光束を90度で送ることのできる90度に
屈曲しているオプチカルフアイバー部分を用いる
ことができる。勿論、これらのオプチカルフアイ
バー部分には適切なレンズを連結しなければなら
ない。

この装置は特に、赤外線付近でウラニウム、プ
ルトニウム及びネプツニウムの原子価測定がで
き、又光学路の大きな槽を用いて溶液中の微量の
これら被検出物質を分析することができる。その
補正システムによつて、紫外線から赤外線に亘る
波長範囲でそれを利用することができる。

更に、測定ループの完全な可逆性を強調してお
かなければならない。換言すれば、ループを変え
ることなく単色光源１と検知器２１を交換するこ
とができる。この可逆性により、ある種の装置で
は赤外線方式で、即ち、白色光源を用いて作業を
することができ、単色発光は装置の下流で形成さ
れる。

以上詳細に説明したように、本発明の分光光度
装置は、分光光度計とその外部に配置された測定
セル又は基準セルとの間でオプチカルフアイバー
によつて光情報を伝達する、測定ループ及び基準
ループを有するから、測定試料が放射性物質であ
つても、遠隔測定用の光路を有しない既存の分光
光度計に本発明の分光光度装置を取りつけること
により、上記分光光度計を操作する実験者と上記
放射性試料との距離を十分にとることができて安
全であるとともに、かような単独では遠隔測定出
来ない分光光度計を遠隔測定に供することが出
来、コスト面でも大変有利である。更に基準ルー
プに設けた光学楔体の位置が、光源の波長に応じ
て制御されるように設けたから、該楔体による基
準光束の光量の変化分を、上記試料の放射能によ
る測定光束の光量の変化分と等しくさせ、これら
の変化分を相殺させることが出来るから、放射能
による測定誤差を効果的かつ容易に補正出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本願の遠隔測定分光光度装置を取りつ
けた分光光度計の全体図、第２図は本発明の装置
の光学システムと、その装置の異なる部分に於け
る光束の形との簡略図、第３図と第４図は夫々オ
プチカルフアイバーで補正されない装置と本発明
の装置との場合の、波長に応じた吸光度を示す曲
線、第５図はオプチカルフアイバーで一部を補正
した装置で光路の大きなセルを用いた場合の波長
に応じた吸光度を示す曲線である。１……光源、４……サンプル室、５……第１光
学システム、７……始端部、８……第１オプチカ
ルフアイバー、１２，１２′……オプチカルフア
イバー部分、１３……レンズ、１４……測定セ
ル、１６，１６′……オプチカルフアイバー部分、
１７……第２オプチカルフアイバー、１８……末
端部、１９……レンズ、２０……第２光学システ
ム、２１……検知器、２２……光学システム、２
４……第３光学システム、２６……始端部、２７
……第３オプチカルフアイバー、３２……基準セ
ル、３４，３４′……オプチカルフアイバー部分、
３５……末端部、３７……第４光学システム、
……測定ループ、……基準ループ。

Claims

【特許請求の範囲】１少なくとも１つの測定セル１４と、測定ルー
プと、基準ループとを有しており、かつ光源
１と、検知器２１と、サンプル室４と、測定光束
及び基準光束を形成する光学システム２２とを備
える分光光度計に対する取付けにより、遠隔測定
を可能にする、分光光度装置であつて、前記測定セル１４は、被分析溶液を入れるため
のものであつて前記分光光度計から離れて配置さ
れており、前記測定ループは、測定光束を前記サンプル
室４外への転向するために前記サンプル室４の中
に収容されている第一光学システム５と、前記測
定光束を、始端部７で受け、かつ該測定光束を末
端部から、少なくとも一つの前記測定セル１４の
入口面に配置させた少なくとも一つのレンズ１３
に送る第一オプチカルフアイバー８と、少なくと
も一つの前記測定セル１４の出口面に配置された
少なくとも一つの第二レンズ１５から発せられた
測定光束の始端部で受け、該測定光束を末端部１
８から前記サンプル室４の入口へと送る少なくと
も１つの第二オプチカルフアイバー１７と、前記
サンプル室４の中に収容されていて、しかも前記
第二オプチカルフアイバー１７の末端部１８から
発せられる測定光束をサンプル室４の外の検知器
２１へ転向する第二光学システム２０とを有し、前記基準ループは、基準光束を前記サンプル
室４の外に転向するために前記サンプル室４の中
に収容されている第三光学システム２４と、始端
部２６で前記基準光束を受け、かつ該光束を末端
部３５から前記サンプル室４の入口へ送る少なく
とも一つの第三オプチカルフアイバー２７と、該
第三オプチカルフアイバー２７の前記末端部３５
から発せられる基準光束を、前記検知器２１の方
へ送る第四光学システム３７と、前記第三オプチ
カルフアイバー２７を構成する二つのオプチカル
フアイバー部分３４，３４′の間に二つのレンズ
３１，３３を前後に介して配置させた、基準溶液
を入れる為の基準セル３２と、測定ループの第
一、第二オプチカルフアイバー８，１７の吸光係
数の変化を補正する為の調節用光学楔体４０とを
有し、前記オプチカルフアイバー８，１７の耐用
期間中前記吸光係数の変化を補正するため、該光
学楔体４０の位置が光源１の波長調節装置２から
の信号により光源の波長に応じて制御されるよう
設けた、遠隔測定用分光光度装置。２前記少なくとも一つの測定セル１４は保護用
包囲体１０の中に収容されており、又、測定ルー
プの２つのオプチカルフアイバー８，１７は
各々、２つのオプチカルフアイバー部分１２，１
２′，１６，１６′で構成されていて、それらの間
に前記保護用包囲体１０の貫通システム１１，１
１′が挿入されている特許請求の範囲第１項記載
の遠隔測定用分光光度装置。３測定溶液は放射性であり、又、基準ループ
のオプチカルフアイバー２７の一部は前記包囲体
１０の中に収容させた特許請求の範囲第２項に記
載の遠隔測定用分光光度装置。４測定ループに、２つの光束の強度を平衡さ
せる補正用光学楔体９を挿入した特許請求の範囲
第１項に記載の遠隔測定用分光光度装置。５基準ループに、２つの光束の強度を平衡さ
せる補正用光学楔体２８を挿入した特許請求の範
囲第１項に記載の遠隔測定用分光光度装置。６測定ループ及び基準ループに、２つの光
束の強度を平衡させる補正用光学楔体９，２８を
挿入した特許請求の範囲第１項に記載の遠隔測定
用分光光度装置。