JPH01301185A - 電界強度分布測定方法 - Google Patents

電界強度分布測定方法

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JPH01301185A
JPH01301185A JP13236388A JP13236388A JPH01301185A JP H01301185 A JPH01301185 A JP H01301185A JP 13236388 A JP13236388 A JP 13236388A JP 13236388 A JP13236388 A JP 13236388A JP H01301185 A JPH01301185 A JP H01301185A
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JP
Japan
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electric field
distilled water
temp
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detecting
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Application number
JP13236388A
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English (en)
Inventor
Akihiro Mukoda
明博 向田
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Nok Corp
Original Assignee
Nok Corp
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Publication date
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  • Constitution Of High-Frequency Heating (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は電界強度分布測定方法に関し、特に、マイク
ロ波オーブン等における電界強度分布測定方法に関する
ものである。
〔従来の技術〕
一般に、マイクロ波オーブン等による加熱を行う場合、
均一な加熱を行うためには、オーブン内のマイクロ波の
電界強度分布を知る必要があり、また、オーブン内のマ
イクロ波の電界強度分布を知ることによって、効率よく
加熱することができるものである。
このようなマイクロ波の電界強度分布を測定する方法と
して、従来は、マイクロ波環境中の任意の場所に配した
水の昇温を、場所を変えて順次測定することによって求
めている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、このような従来のものにあっては、各場
所における水の昇温がら、マイクロ波の電界強度を分布
としてとらえるためのデータ処理が必要であるうえ、測
定するマイクロ波環境が広くなればなるほど、必要なす
べての場所における水の昇温を検出し終るまでに長時間
を要し、そのためデータの信転性が大幅に低下してしま
うという問題点を有していた。
この発明は前記のような従来のもののもつ問題点を解決
して、測定環、項中のマイクロ波の電界強度分布を簡便
に測定することのできる電界強度分布測定方法を提供す
ることを目的とするものである。
〔課題を解決するだめの手段〕
この発明は前記のような目的を達成するため、底部が熱
伝導率の高い金属製で、底部を除く周囲が誘電体製の容
器内に蒸留水が収容され、かつ前記金属製底部の裏側に
温度検出部材を具えてなるカプセルを、測定環境の広さ
に応じて所要個数配列し、前記各カプセル内の蒸留水の
昇温を当該各カプセルの前記温度検出部材で検出するこ
とによって、前記測定環境中のマイクロ波の電界強度分
布を測定するものである。
C作用〕 この発明は前記のような手段を採用したことにより、測
定環境中のマイクロ波の電界強度は、その分布が一度に
測定されることとなる。
〔実施例〕
以下、図面に示すこの発明の実施例について説明する。
第1図にはこの発明による電界強度分布測定方法に使用
される円筒形のカプセルの一実施例が示されており、こ
のカプセル1内には、蒸留水2がlcc程度収容されて
いる。
カプセル1の底部は、アルミニウム等の熱伝導率の高い
金属3で構成され、また底部を除く周囲は、テフロン、
PEEK等の誘電用失係数の低い誘電体4で構成され、
内部に収容された蒸留水2は底部の金属3に接している
また、金y%3からなる底部の裏側には、怒熱テープ(
サーモテープ)等の測温体、すなわち温度検出部材5が
装着されている。
カプセル1の底部の金属3は、カプセル1がマイクロ波
環境中に置かれたとき、マイクロ波が温度検出部材(た
とえば、サーモテープ)5に直接影舌するのを防げるた
めのものである。
なお、前記温度検出部材5としては、熱電対等を使用す
ることもできるが、その場合には、マイクロ波の影響に
よるスパーク等を引き起こす可能性があるので、埋、込
み等の処置をする必要がある。
第2図にはこの発明による電界強度分布測定方法に使用
される盤板の一実施例が示されており、この盤板6は、
測定環境の広さに適合した大きさのものであり、測定環
境の広さに応じた所要個数(図では縦横4副針16個)
のカプセル1.1、・・・・・・をそれぞれ収容するた
めの凹所7.7、・・・・・・が形成されている。
マイクロ波の電界強度分布を測定するには、つぎのよう
にして行う。
まず、カプセル1を測定環境の広さに応じて所要個数(
たとえば16個)用意し、また測定環境の広さに適合し
た大きさの盤板6を用意する。
つぎに、盤板6の凹所7.7、・・・・・・にそれぞれ
カプセル1、l、・・・・・・を収容して配列し、これ
を電子レンジ等の測定環境中に配置したうえ、電子レン
ジ等のスイッチをオンしてマイクロ波を発生させる。
すると、盤板6に配列されたカプセル1.1、・・・・
・・内の蒸留水2.2、・・・・・・がマイクロ波の作
用により加熱され、この蒸留水2.2、・・・・・・の
熱が熱応答性の高い金属3.3、・・・・・・を温めて
温度検出部材5.5、・・・・・・に伝わり、温度検出
部材5.5、・・・・・・がそれぞれ当該温度を検出す
ることによって、電子レンジ等の測定環境中におけるマ
イクロ波の電界強度分布が一度に測定されることとなる
〔発明の効果〕
この発明は前記のように、底部が熱伝導率の高い金属製
で、底部を除く周囲が誘電体製の容器内に蒸留水が収容
され、かつ前記金属製底部の裏側に温度検出部材を具え
てなるカプセルを、測定環境の広さに応じて所要個数配
列し、前記各カプセル内の蒸留水の昇温を当該各カプセ
ルの前記温度検出部材で検出することによって、前記測
定環境中のマイクロ波の電界強度分布を測定する構成と
したことにより、測定環境中のマイクロ波の電界強度分
布を、筒便に、しかも−度に測定することがで、きるな
どのすぐれた効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による電界強度分布測定方法に使用さ
れるカプセルの一実施例を示す縦断面図、第2図はこの
発明による電界強度分布測定方法に使用される盤板の一
実施例を示す斜視図である。 1・・・・・・カプセル 2・・・・・・蒸留水 3・・・・・・金属 4・・・・・・誘電体 5・・・・・・温度検出部材 6・・・・・・盤板 7・・・・・・凹所 第1図 @−2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)底部が熱伝導率の高い金属(3)製で、底部を除
    く周囲が誘電体(4)製の容器内に蒸留水(2)が収容
    され、かつ前記金属(3)製底部の裏側に温度検出部材
    (5)を具えてなるカプセル(1)を、測定環境の広さ
    に応じて所要個数配列し、前記各カプセル(1)内の蒸
    留水(2)の昇温を当該各カプセル (1)の前記温度検出部材(5)で検出することによっ
    て、前記測定環境中のマイクロ波の電界強度分布を測定
    することを特徴とする電界強度分布測定方法。
JP13236388A 1988-05-30 1988-05-30 電界強度分布測定方法 Pending JPH01301185A (ja)

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