JPH01296617A - 石英ランプ加熱装置 - Google Patents
石英ランプ加熱装置Info
- Publication number
- JPH01296617A JPH01296617A JP63125846A JP12584688A JPH01296617A JP H01296617 A JPH01296617 A JP H01296617A JP 63125846 A JP63125846 A JP 63125846A JP 12584688 A JP12584688 A JP 12584688A JP H01296617 A JPH01296617 A JP H01296617A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filter
- quartz
- light
- temperature
- heated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010453 quartz Substances 0.000 title claims abstract description 67
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 67
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims description 19
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 9
- 230000036760 body temperature Effects 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L barium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ba+2] OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 229910001632 barium fluoride Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Control Of Resistance Heating (AREA)
- Resistance Heating (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
被加熱体の温度検出を正確になしうるようにする石英ラ
ンプ加熱装置の改良に関し、 半導体ウェーへ等被加熱体の温度を正確に検知すること
ができる石英ランプ加熱装置を提供することを目的とし
、 石英ランプと、この石英ランプに対向して配設され、石
英ランプの放射する光のうち長波長帯の光を吸収し、冷
却手段をもって冷却されている第1の石英フィルタと、
この第1の石英フィルタに対向して配設され、第1の石
英フィルタを透過した光を透過する第2の石英フィルタ
と、この第2の石英フィルタに対向して配設され、被加
熱体を支持する被加熱体支持手段と、前記の被加熱体に
対接して配置される被加熱体温度検出手段とを具備して
いる石英ランプ加熱装置をもって構成される。
ンプ加熱装置の改良に関し、 半導体ウェーへ等被加熱体の温度を正確に検知すること
ができる石英ランプ加熱装置を提供することを目的とし
、 石英ランプと、この石英ランプに対向して配設され、石
英ランプの放射する光のうち長波長帯の光を吸収し、冷
却手段をもって冷却されている第1の石英フィルタと、
この第1の石英フィルタに対向して配設され、第1の石
英フィルタを透過した光を透過する第2の石英フィルタ
と、この第2の石英フィルタに対向して配設され、被加
熱体を支持する被加熱体支持手段と、前記の被加熱体に
対接して配置される被加熱体温度検出手段とを具備して
いる石英ランプ加熱装置をもって構成される。
〔産業上の利用分野]
本発明は、石英ランプ加熱装置の改良に関する。
特に、被加熱体の温度検出を正確になしうるようにする
改良に関する。
改良に関する。
従来技術に係る石英ランプ加熱装置について、図を参照
して略述する。
して略述する。
第2図参照
図において、1は石英ランプであり、発光波長帯は0.
5〜10n程度である。11は抛物面鏡であり、点光源
である石英ランプ1の光を平行光に転換する。2は石英
板よりなるフィルタであり、4n以上の波長帯の光を吸
収し、4p以下の波長帯の光Aのみを透過する。3は半
導体ウェーハ等の被加熱体であり、被加熱体支持手段5
によって支持される。7はフッ化バリウム等B〜13n
の波長帯の光を透過する反射光窓である。4は、加熱さ
れた被加熱体例えば半導体ウェーハ3の放射する赤外線
Bを検出する被加熱体温度検出手段であり、被加熱体3
の温度を検出する。6は被加熱体3を収納するチャンバ
ーである。
5〜10n程度である。11は抛物面鏡であり、点光源
である石英ランプ1の光を平行光に転換する。2は石英
板よりなるフィルタであり、4n以上の波長帯の光を吸
収し、4p以下の波長帯の光Aのみを透過する。3は半
導体ウェーハ等の被加熱体であり、被加熱体支持手段5
によって支持される。7はフッ化バリウム等B〜13n
の波長帯の光を透過する反射光窓である。4は、加熱さ
れた被加熱体例えば半導体ウェーハ3の放射する赤外線
Bを検出する被加熱体温度検出手段であり、被加熱体3
の温度を検出する。6は被加熱体3を収納するチャンバ
ーである。
上記の石英ランプ加熱装置においては、フィルタ2は4
n以上の波長の光をすべて吸収せねばならないから、温
度が上昇して、フィルタ2自身が赤外線を放出し、この
赤外線が外乱となり、半導体ウェーハ等被加熱体の温度
を正確に検知する妨げになると云う欠点があった。
n以上の波長の光をすべて吸収せねばならないから、温
度が上昇して、フィルタ2自身が赤外線を放出し、この
赤外線が外乱となり、半導体ウェーハ等被加熱体の温度
を正確に検知する妨げになると云う欠点があった。
本発明の目的は、この欠点を解消することにあり、半導
体ウェーハ等被加熱体の温度を正確に検知することがで
きる石英ランプ加熱装置を提供することにある。
体ウェーハ等被加熱体の温度を正確に検知することがで
きる石英ランプ加熱装置を提供することにある。
上記の目的は、石英ランプ(1)と、この石英ランプ(
1)に対向して配設され、石英ランプ(1)の放射する
光のうち長波長帯の光を吸収し、冷却手段(23)をも
って冷却されている第1の石英フィルタ(21)と、こ
の第1の石英フィルタ(21)に対向して配設され、第
1の石英フィルタ(21)を透過した光を透過する第2
の石英フィルタ(22)と、この第2の石英フィルタ(
22)に対向して配設され、被加熱体を支持する被加熱
体支持手段(5)と、前記の被加熱体に対接して配置さ
れる被加熱体温度検出手段(4)とを具備している石英
ランプ加熱装置によって達成される。
1)に対向して配設され、石英ランプ(1)の放射する
光のうち長波長帯の光を吸収し、冷却手段(23)をも
って冷却されている第1の石英フィルタ(21)と、こ
の第1の石英フィルタ(21)に対向して配設され、第
1の石英フィルタ(21)を透過した光を透過する第2
の石英フィルタ(22)と、この第2の石英フィルタ(
22)に対向して配設され、被加熱体を支持する被加熱
体支持手段(5)と、前記の被加熱体に対接して配置さ
れる被加熱体温度検出手段(4)とを具備している石英
ランプ加熱装置によって達成される。
本発明にあっては、石英ランプ1の放出する光のうち長
波長帯を吸収するフィルタが二重にされており、石英ラ
ンプ1に近く大部分の長波長帯を吸収するため温度が上
昇しやすい第1のフィルタ21には冷却手段が付加され
ているので、特に石英ランプ1から離れており、そのた
め、長波長帯がすでに第1のフィルタ21によって排除
された光のみが入射する第2のフィルタ22の温度は上
昇せ゛ず、事実上外乱がないので、被加熱体3の温度は
正確に検出されることができる。
波長帯を吸収するフィルタが二重にされており、石英ラ
ンプ1に近く大部分の長波長帯を吸収するため温度が上
昇しやすい第1のフィルタ21には冷却手段が付加され
ているので、特に石英ランプ1から離れており、そのた
め、長波長帯がすでに第1のフィルタ21によって排除
された光のみが入射する第2のフィルタ22の温度は上
昇せ゛ず、事実上外乱がないので、被加熱体3の温度は
正確に検出されることができる。
以下、図面を参照して、本発明の二つの実施例に係る石
英ランプ加熱装置について説明する。
英ランプ加熱装置について説明する。
茅上班
第1a図参照
図において、1は石英ランプであり、発光波長帯は0.
5〜10.n程度である。11は抛物面鏡であり、点光
源である石英ランプ1の光を平行光に転換する。2蹟石
英板よりなる第1のフィルタであり、冷却手段23によ
って冷却されながら、4n以上の波長帯の光を吸収し、
4n以下の波長帯の光Aのみを透過する。22は第1の
フィルタに対向して配置される第2のフィルタであり、
第1のフィルタ21と同様石英板よりなる。この第2の
フィルタ22に入射する光Aは4n以上の波長の光を含
まないから、殆ど温度上昇しない。また、この第2のフ
ィルタ22も4n以下の波長帯の光A°を透過する。3
は半導体ウェーハ等の被加熱体であり、被加熱体支持手
段5によって支持される。7はフノ化バリウム等8〜1
3nの波長帯の光も透過する反射光窓である。4は、加
熱された被加熱体例えば半導体ウェーハ3の放射する赤
外線Bを検出する被加熱体温度検出手段であり、被加熱
体3の温度を検出する。6は被加熱体3を収納するチャ
ンバーである。
5〜10.n程度である。11は抛物面鏡であり、点光
源である石英ランプ1の光を平行光に転換する。2蹟石
英板よりなる第1のフィルタであり、冷却手段23によ
って冷却されながら、4n以上の波長帯の光を吸収し、
4n以下の波長帯の光Aのみを透過する。22は第1の
フィルタに対向して配置される第2のフィルタであり、
第1のフィルタ21と同様石英板よりなる。この第2の
フィルタ22に入射する光Aは4n以上の波長の光を含
まないから、殆ど温度上昇しない。また、この第2のフ
ィルタ22も4n以下の波長帯の光A°を透過する。3
は半導体ウェーハ等の被加熱体であり、被加熱体支持手
段5によって支持される。7はフノ化バリウム等8〜1
3nの波長帯の光も透過する反射光窓である。4は、加
熱された被加熱体例えば半導体ウェーハ3の放射する赤
外線Bを検出する被加熱体温度検出手段であり、被加熱
体3の温度を検出する。6は被加熱体3を収納するチャ
ンバーである。
以上の構造を有する石英ランプ加熱装置にあっては、第
2のフィルタ22の温度が低く保持されるので、被加熱
体温度検出手段4には外乱が入らず、正確に被加熱体3
の温度を検出しうる。
2のフィルタ22の温度が低く保持されるので、被加熱
体温度検出手段4には外乱が入らず、正確に被加熱体3
の温度を検出しうる。
員l拠
第1b図参照
図において、1はいずれも石英ランプであり、発光波長
帯は0.5〜IOQ程度である。11は抛物面鏡であり
、それぞれの石英ランプ1に付属し、点光源である石英
ランプ1の光を平行光に転換する。
帯は0.5〜IOQ程度である。11は抛物面鏡であり
、それぞれの石英ランプ1に付属し、点光源である石英
ランプ1の光を平行光に転換する。
21はいずれも石英板よりなる第1のフィルタであり、
冷却手段23によって冷却されながら、4n以上の波長
帯の光を吸収し、41!N以下の波長帯の光Aのみを透
過する。22は第1のフィルタに対向して配置される第
2のフィルタであり、第1のフィルタ21と同様石英板
よりなる。この第2のフィルタ22も4n以下の波長帯
の光A°を透過するとともに、その透過光A゛の方向を
いくらか変更して、後述する被加熱体3の方向に向ける
。この第2のフィルタ22に入射する光Aは4n以上の
波長の光を含まないから、殆ど温度上昇しない。3は半
導体ウェーハ等の被加熱体であり、被加熱体支持手段5
によって支持される。7はフッ化バリウム等8〜13n
の波長帯の光も透過する反射光窓である。
冷却手段23によって冷却されながら、4n以上の波長
帯の光を吸収し、41!N以下の波長帯の光Aのみを透
過する。22は第1のフィルタに対向して配置される第
2のフィルタであり、第1のフィルタ21と同様石英板
よりなる。この第2のフィルタ22も4n以下の波長帯
の光A°を透過するとともに、その透過光A゛の方向を
いくらか変更して、後述する被加熱体3の方向に向ける
。この第2のフィルタ22に入射する光Aは4n以上の
波長の光を含まないから、殆ど温度上昇しない。3は半
導体ウェーハ等の被加熱体であり、被加熱体支持手段5
によって支持される。7はフッ化バリウム等8〜13n
の波長帯の光も透過する反射光窓である。
4は、加熱された被加熱体例えば半導体ウェーハ3の放
射する赤外線Bを検出する被加熱体温度検出手段であり
、被加熱体3の温度を検出する。6は被加熱体3を収納
するチャンバーである。
射する赤外線Bを検出する被加熱体温度検出手段であり
、被加熱体3の温度を検出する。6は被加熱体3を収納
するチャンバーである。
以上の構造を有する石英ランプ加熱装置にあっても、第
2のフィルタ22の温度が低く保持されるので、被加熱
体温度検出手段4には外乱が入らず、正確に被加熱体3
の温度を検出しうる。
2のフィルタ22の温度が低く保持されるので、被加熱
体温度検出手段4には外乱が入らず、正確に被加熱体3
の温度を検出しうる。
〔発明の効果]
本発明に係る石英ランプ加熱装置においては、石英ラン
プの放出する光のうち長波長帯を吸収するフィルタが二
重にされており、石英ランプに近く大部分の長波長帯を
吸収するため温度が上昇しやすい第1のフィルタには冷
却手段が付加されているので、特に石英ランプから離れ
ており、そのため、長波長帯がすでに第1のフィルタに
よって排除された光のみが入射する第2のフィルタの温
度は上昇せず、事実上外乱がないので、被加熱体の温度
は正確に検出されることができる。
プの放出する光のうち長波長帯を吸収するフィルタが二
重にされており、石英ランプに近く大部分の長波長帯を
吸収するため温度が上昇しやすい第1のフィルタには冷
却手段が付加されているので、特に石英ランプから離れ
ており、そのため、長波長帯がすでに第1のフィルタに
よって排除された光のみが入射する第2のフィルタの温
度は上昇せず、事実上外乱がないので、被加熱体の温度
は正確に検出されることができる。
第1a図は、本発明の一実施例に係る石英ランプ加熱装
置の構成図である。 第1b図は、本発明の他の実施例に係る石英ランプ加熱
装置の構成図である。 第2図は、従来技術に係る石英ランプ加熱装置の構成図
である。 1・・・石英ランプ、 11・・・抛物面鏡、 2・・・従来技術に係るフィルタ、 21・・・本発明に係る第1のフィルタ、22・・・本
発明に係る第2のフィルタ、23・・・冷却手段、 3・・・被加熱体(半導体ウェーハ)、4・・・被加熱
体温度検出手段、 5・・・被加熱体支持手段、 6・・・チャンバー、 7・・・反射光窓。
置の構成図である。 第1b図は、本発明の他の実施例に係る石英ランプ加熱
装置の構成図である。 第2図は、従来技術に係る石英ランプ加熱装置の構成図
である。 1・・・石英ランプ、 11・・・抛物面鏡、 2・・・従来技術に係るフィルタ、 21・・・本発明に係る第1のフィルタ、22・・・本
発明に係る第2のフィルタ、23・・・冷却手段、 3・・・被加熱体(半導体ウェーハ)、4・・・被加熱
体温度検出手段、 5・・・被加熱体支持手段、 6・・・チャンバー、 7・・・反射光窓。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 石英ランプ(1)と、 該石英ランプ(1)に対向して配設され、該石英ランプ
(1)の放射する光のうち長波長帯の光を吸収し、冷却
手段(23)をもって冷却されてなる第1の石英フィル
タ(21)と、 該第1の石英フィルタ(21)に対向して配設され、該
第1の石英フィルタ(21)を透過した光を透過する第
2の石英フィルタ(22)と、 該第2の石英フィルタ(22)に対向して配設され、被
加熱体を支持する被加熱体支持手段(5)と、 前記被加熱体に対接して配置される被加熱体温度検出手
段(4)と を有することを特徴とする石英ランプ加熱装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63125846A JP2640968B2 (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | 石英ランプ加熱装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63125846A JP2640968B2 (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | 石英ランプ加熱装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01296617A true JPH01296617A (ja) | 1989-11-30 |
JP2640968B2 JP2640968B2 (ja) | 1997-08-13 |
Family
ID=14920389
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63125846A Expired - Lifetime JP2640968B2 (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | 石英ランプ加熱装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2640968B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012155966A (ja) * | 2011-01-25 | 2012-08-16 | Koyo Thermo System Kk | ヒータユニットおよび熱処理装置 |
CN103313446A (zh) * | 2012-03-16 | 2013-09-18 | 光洋热***株式会社 | 加热器单元和热处理装置 |
CN103546996A (zh) * | 2012-07-12 | 2014-01-29 | 光洋热***株式会社 | 加热器单元和热处理装置 |
TWI577957B (zh) * | 2012-02-13 | 2017-04-11 | 光洋熱系統股份有限公司 | 加熱器單元及熱處理裝置 |
CN112524882A (zh) * | 2020-12-17 | 2021-03-19 | 西安交通大学 | 一种主动冷却棱镜折射式石英灯高温加热装置及方法 |
-
1988
- 1988-05-25 JP JP63125846A patent/JP2640968B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012155966A (ja) * | 2011-01-25 | 2012-08-16 | Koyo Thermo System Kk | ヒータユニットおよび熱処理装置 |
TWI577957B (zh) * | 2012-02-13 | 2017-04-11 | 光洋熱系統股份有限公司 | 加熱器單元及熱處理裝置 |
CN103313446A (zh) * | 2012-03-16 | 2013-09-18 | 光洋热***株式会社 | 加热器单元和热处理装置 |
CN103546996A (zh) * | 2012-07-12 | 2014-01-29 | 光洋热***株式会社 | 加热器单元和热处理装置 |
CN103546996B (zh) * | 2012-07-12 | 2016-08-10 | 光洋热***株式会社 | 加热器单元和热处理装置 |
CN106102189A (zh) * | 2012-07-12 | 2016-11-09 | 光洋热***株式会社 | 加热器单元和热处理装置 |
CN106102189B (zh) * | 2012-07-12 | 2019-09-03 | 光洋热***株式会社 | 加热器单元和热处理装置 |
CN112524882A (zh) * | 2020-12-17 | 2021-03-19 | 西安交通大学 | 一种主动冷却棱镜折射式石英灯高温加热装置及方法 |
CN112524882B (zh) * | 2020-12-17 | 2024-05-24 | 西安交通大学 | 一种主动冷却棱镜折射式石英灯高温加热装置及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2640968B2 (ja) | 1997-08-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0325348A (ja) | 気体成分測定用のセンサ装置 | |
JP2004522152A (ja) | ガスセンサ | |
ATE112852T1 (de) | Kalibriereinrichtung für ein nichtdispersives infrarot-fotometer. | |
JPH01296617A (ja) | 石英ランプ加熱装置 | |
US3822097A (en) | Optical system | |
TWM572464U (zh) | 用於低溫透射測溫的偵測器 | |
JP2732320B2 (ja) | 液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置 | |
JPH09236539A (ja) | 赤外線ガス分析計 | |
KR100857318B1 (ko) | 기판 검출을 위해 각을 이루는 센서들 | |
JPH09229853A (ja) | 赤外線ガス分析計用検出器 | |
NO300346B1 (no) | Foto-akustisk måleanordning | |
JPH0442025A (ja) | ウェハー温度測定方法とその装置 | |
JPH0594753U (ja) | 液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置 | |
JPS6366930A (ja) | 光照射装置 | |
US3989948A (en) | Dual beam optical system | |
US3527945A (en) | Mounting structure for a liquid crystal thermal imaging device | |
JP2002071460A (ja) | フーリエ変換赤外分光光度計 | |
JPS62501933A (ja) | 螢光分析配置 | |
SU1281947A1 (ru) | Устройство дл контрол герметичности заполн емых контрольным газом изделий | |
KR200295251Y1 (ko) | 스트립의 핀홀 검출장치 | |
JP2003098102A (ja) | 表面検査方法および装置 | |
GUPTA et al. | Broadband optical radiation detector[Patent] | |
JPS60238746A (ja) | 炭化水素ガス濃度検知装置 | |
JPH0961358A (ja) | 炎光光度検出器 | |
JPH07218427A (ja) | ガス濃度測定装置 |