JPH01279500A - Sample-and-hold amplifier circuit - Google Patents

Sample-and-hold amplifier circuit

Info

Publication number
JPH01279500A
JPH01279500A JP63109661A JP10966188A JPH01279500A JP H01279500 A JPH01279500 A JP H01279500A JP 63109661 A JP63109661 A JP 63109661A JP 10966188 A JP10966188 A JP 10966188A JP H01279500 A JPH01279500 A JP H01279500A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reference voltage
circuit
current
sampling
input terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63109661A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0721958B2 (en
Inventor
Tadashi Saito
正 斉藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63109661A priority Critical patent/JPH0721958B2/en
Publication of JPH01279500A publication Critical patent/JPH01279500A/en
Publication of JPH0721958B2 publication Critical patent/JPH0721958B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Amplifiers (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

PURPOSE:To suppress the fluctuation of an output voltage of a differential amplifier and to reduce current consumption by increasing a current of a constant current circuit at sampling and decreasing it at holding. CONSTITUTION:A switch circuit 1 is closed by a sampling control pulse VSC to start the sampling of an input signal V1 and the pulse VSC throws a changeover switch circuit 5 to the position of a large current reference voltage generating circuit 6 for the period T1 to apply a reference voltage VR1 to the position of the reference voltage input terminal of the constant current power supply circuit 4 thereby reducing the reply time of a differential amplifier 3. Then the circuit 1 is opened and a hold period T2 is reached, then the pulse VSC thrown the circuit 5 to the position of a small current reference voltage generating circuit 7 to apply the reference voltage VR2 to the reference voltage input terminal of the circuit 4 thereby allowing the amplifier 3 to give a current holding the voltage of a hold capacitor 2. Thus, each signal is made stable within the period T1 and the current in the circuit 4 is decreased during the period T2 to reduce the power consumption.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はサンプル・ホールド増幅回路に関し、特にホー
ルドコンデンサ、差動増幅器及び定電流源回路を備えた
サンプル・ホールド増幅回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a sample-and-hold amplifier circuit, and more particularly to a sample-and-hold amplifier circuit equipped with a hold capacitor, a differential amplifier, and a constant current source circuit.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種のサンプル・ホールド増幅回路は、−例と
して、第4図に示すような回路構成となっている。
Conventionally, this type of sample-and-hold amplifier circuit has a circuit configuration as shown in FIG. 4, for example.

第4図において、1は入力端子T+より入力されるアナ
ログ電圧の入力信号V1をサンプリング制御パルスVS
Cによりサンプリングするサンプリングスイッチ回路、
2はサンプリングスイッチ回路1の出力電圧により充電
されこの電圧をホールドするためのホールドコンデンサ
である。また、ホールドコンデンサ2によりホールドさ
れた電圧はソースを共通にしたNチャネルのトランジス
タQl、Q2及びトランジスタQl、Q4により構成さ
れた帰還量1の差動増幅器3を介して出力される。
In FIG. 4, 1 is a sampling control pulse VS which is an analog voltage input signal V1 inputted from the input terminal T+.
a sampling switch circuit that samples by C;
A hold capacitor 2 is charged by the output voltage of the sampling switch circuit 1 and is used to hold this voltage. Further, the voltage held by the hold capacitor 2 is outputted via a differential amplifier 3 with a feedback amount of 1, which is constituted by N-channel transistors Ql, Q2 and transistors Ql, Q4 having a common source.

差動増幅器3は、ホールドコンデンサ2の電圧をトラン
ジスタQ1のゲートから入力し、トランジスタQ2のゲ
ート及びドレインから出力する。
The differential amplifier 3 inputs the voltage of the hold capacitor 2 from the gate of the transistor Q1, and outputs it from the gate and drain of the transistor Q2.

また、トランジスタQl、Q2のソースは定電流源回路
4と接続されている。
Further, the sources of the transistors Ql and Q2 are connected to a constant current source circuit 4.

したがって、入力された入力信号Vlは、サンプリング
スイッチ回Ii!81が蘭している間はホールドコンデ
ンサ2を充電し、サンプリングスイッチ回路1が開いて
いる間はホールドコンデンサ2に充電された電圧をホー
ルドし、入力信号■1のサンプリング時の電圧とほぼ等
しい電圧を出力端子Toから出力(Vo)する。
Therefore, the input signal Vl is inputted at the sampling switch times Ii! While 81 is on, the hold capacitor 2 is charged, and while the sampling switch circuit 1 is open, the voltage charged in the hold capacitor 2 is held, and the voltage is approximately equal to the voltage at the time of sampling the input signal 1. is output (Vo) from the output terminal To.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来のサンプル・ホールド増幅回路は、ホール
ドコンデンサ2の電圧を差動増幅器3のトランジスタQ
lのゲートで受け、トランジスタQl、Q2のソースは
定電流源回路4と接続する構成となっている。トランジ
スタQ1のゲート・ソース間には容量が存在するなめ、
サンプリングスイッチ回路1が、閉じているサンプリン
グ期間に比べてトランジスタQl、Q2を含む差動増幅
器3の応答時間が長いと、サンプリングスイッチ回路1
が開きホールド期間に入ってもトランジスタQl、Q2
の共通ソースの電圧VBが変動し、最終的な出力電圧V
oが入力信号V、の電圧と大きくずれるという欠点があ
る。
The conventional sample-and-hold amplifier circuit described above converts the voltage of the hold capacitor 2 into the transistor Q of the differential amplifier 3.
The source of the transistors Ql and Q2 is connected to the constant current source circuit 4. Since there is a capacitance between the gate and source of transistor Q1,
If the response time of the differential amplifier 3 including the transistors Ql and Q2 is longer than the sampling period in which the sampling switch circuit 1 is closed, the sampling switch circuit 1
Even if the transistors Ql and Q2 open and enter the hold period,
The voltage VB of the common source of VB fluctuates, and the final output voltage V
There is a drawback that o is largely deviated from the voltage of the input signal V.

例えば、ホールドコンデンサ2の電圧VAがOVの状態
から入力信号Vlの電圧E、をサンプリングし、ホール
ドする場合の各部の波形を第5図(a)、(b)に示す
For example, when the voltage E of the input signal Vl is sampled and held from a state where the voltage VA of the hold capacitor 2 is OV, waveforms at various parts are shown in FIGS. 5(a) and 5(b).

定電流源回路4の電流値が、ホールドコンデンサ5を充
電する時間に比べて差動増幅器3の応答時間の方が短く
なるような大電流の時には、共通ソースの電圧VB、ホ
ールドコンデンサ2電圧VAおよび出力電圧Voの波形
は第5図(a)のようになる。この時、第4図における
各部の電圧はサンプリング期間T1内に安定するので、
ホールド期間T2になってからの出力電圧V。の変動は
無い。
When the current value of the constant current source circuit 4 is such a large current that the response time of the differential amplifier 3 is shorter than the time to charge the hold capacitor 5, the common source voltage VB and the hold capacitor 2 voltage VA The waveform of the output voltage Vo is as shown in FIG. 5(a). At this time, since the voltages at each part in FIG. 4 are stabilized within the sampling period T1,
Output voltage V after the hold period T2 has started. There is no change in .

しかしながら、定電流源回路4の電流値が、ホールドコ
ンデンサ2を充電する時間に比べて差動増幅器3の応答
時間の方が長くなるような小電流の時には、共通ソース
の電圧VB、ホールドコンデンサ2の電圧VAおよび出
力電圧Voの波形は第5図(b)に示されるようになる
However, when the current value of the constant current source circuit 4 is such a small current that the response time of the differential amplifier 3 is longer than the time to charge the hold capacitor 2, the common source voltage VB The waveforms of the voltage VA and the output voltage Vo are as shown in FIG. 5(b).

このように、ホールドコンデンサ2の充電は完了し、サ
ンプリングスイッチ回路1が開き、ホールド状態になっ
ても、共通ソースの電圧V1は上昇し続ける。また、ト
ランジスタQ+にはゲート・ソース間容量が存在するた
め、共通ソースの電圧VBの上昇によりホールドコンデ
ンサ2の容量とトランジスタQ1のゲート・ソース間容
量との比で決まる電圧分が最終的な出力電圧V。の変動
となって現われる。
In this way, even after charging of the hold capacitor 2 is completed and the sampling switch circuit 1 is opened to enter the hold state, the voltage V1 of the common source continues to rise. In addition, since transistor Q+ has a gate-source capacitance, an increase in the common source voltage VB causes the voltage determined by the ratio of the capacitance of hold capacitor 2 and the gate-source capacitance of transistor Q1 to become the final output. Voltage V. It appears as a fluctuation in

特にサンプリングレートが速い場合には、この出力電圧
■oの変動を少なくするため、定電流源回路4の電流値
を非常に大きくする必要があり、消費電極が増大する。
Particularly when the sampling rate is fast, in order to reduce fluctuations in the output voltage (2o), it is necessary to make the current value of the constant current source circuit 4 extremely large, which increases the number of electrodes consumed.

また、サンプリングレートを速くするためには、ホール
ドコンデンサ2の値も小さくする必要があり、定電流源
回路4の電流が少ないと出力電圧VOの変動は更に大き
くなるという欠点がある。
Further, in order to increase the sampling rate, it is necessary to reduce the value of the hold capacitor 2, and there is a drawback that if the current of the constant current source circuit 4 is small, the fluctuation in the output voltage VO becomes even larger.

本発明の目的は、消費電力を増大させることなく出力電
圧の変動を抑えることができるサンプル・ホールド増幅
回路を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a sample-and-hold amplifier circuit that can suppress fluctuations in output voltage without increasing power consumption.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明のサンプル・ホールド増幅回路は、一端を入力端
子に接続し、この入力端子に印加されるアナログ電圧の
入力信号をサンプリング制御パルスにより所定の期間サ
ンプリングして他端へ伝達するサンプリングスイッチ回
路と、一端を前記サンプリングスイッチ回路の他端と接
続し他端を接地電位端子と接続してこのサンプリングス
イッチ回路の出力電圧で充電されるホールドコンデンサ
と、ゲートを前記ホールドコンデンサの一端と接続した
第1のトランジスタとゲート及びドレイン(又はソース
)を出力端子と接続しソース(又はドレイン)を前記第
1のトランジスタのソース(又はドレイン)と共通接続
した第2のトランジスタとを備えた差動増幅器と、一端
を前記第1及び第2のトランジスタのソース(又はドレ
イン)と接続し他端を前記接地電位端子と接続し基準電
圧入力端に印加される第1の基準電圧により所定の値の
第1の電流を流し第2の基準電圧により前記第1の電流
より小さい値の第2の電流を流す定電流源回路と、前記
第1及び第2の基準電圧をそれぞれ発生する第1及び第
2の基準電圧発生回路と、前記サンプリング制御パルス
により前記入力信号のサンプリングの期間中は前記第1
の基準電圧を前記基準電圧入力端へ伝達しその他の期間
は前記第2の基準電圧を前記基準電圧入力端へ伝達する
切換スイッチ回路とを有している。
The sample-and-hold amplifier circuit of the present invention is a sampling switch circuit whose one end is connected to an input terminal, and which samples an analog voltage input signal applied to the input terminal for a predetermined period using a sampling control pulse and transmits the sample to the other end. , a hold capacitor having one end connected to the other end of the sampling switch circuit and the other end connected to a ground potential terminal to be charged by the output voltage of the sampling switch circuit; and a first hold capacitor having a gate connected to the one end of the hold capacitor. and a second transistor whose gate and drain (or source) are connected to an output terminal and whose source (or drain) is commonly connected to the source (or drain) of the first transistor; One end is connected to the sources (or drains) of the first and second transistors, the other end is connected to the ground potential terminal, and a first reference voltage of a predetermined value is applied to the reference voltage input terminal. a constant current source circuit that flows a current and causes a second current having a value smaller than the first current to flow based on a second reference voltage; and first and second standards that generate the first and second reference voltages, respectively. a voltage generating circuit; and the first voltage generating circuit during the sampling period of the input signal by the sampling control pulse.
and a changeover switch circuit that transmits the second reference voltage to the reference voltage input terminal during other periods, and transmits the second reference voltage to the reference voltage input terminal during other periods.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention.

この実施例は、一端を入力端子TIに接続し、この入力
端子TIに印加されるアナログ電圧の入力信号VIをサ
ンプリング制御パルスVSCにより所定の期間サンプリ
ングして他端へ伝達するサンプリングスイッチ回路1と
、一端を前記サンプリングスイッチ回路1の他端と接続
し他端を接地電位端子と接続してこのサンプリングスイ
ッチ回路1の出力電圧で充電されるホールドコンデンサ
2と、ゲートをホールドコンデンサ2の一端と接続した
NチャネルのトランジスタQ1とゲート及びドレインを
出力端子Toと接続しソースをトランジスタQ+のソー
スと共通接続したNチャネルのトランジスタQ2とトラ
ンジスタQ3.Q4とを備えた差動増幅器3と、一端を
トランジスタQ+、Q2のソースと接続し他端を接地電
位端子と接続し基準電圧入力端に印加される第1の基準
電圧VRIにより大きい値の第1の電流を流し第2の基
準電圧VR2により第1の電流より小さい値の第2の電
流を流す定電流源回路4と、第1及び第2の基準電圧V
RI、VR2をそれぞれ発生する第1及び第2の基準電
圧発生回路6.7と、サンプリング制御パルスV5oに
より入力信号V■のサンプリングの期間中は第1の基準
電圧■R1を基準電圧入力端へ伝達しその他の期間は第
2の基準電圧VR2を基準電圧入力端へ伝達する切替ス
イッチ回路5とを有する構成となっている。
This embodiment includes a sampling switch circuit 1 having one end connected to an input terminal TI, sampling an analog voltage input signal VI applied to the input terminal TI for a predetermined period using a sampling control pulse VSC, and transmitting the sampled signal to the other end. , a hold capacitor 2 whose one end is connected to the other end of the sampling switch circuit 1 and the other end is connected to a ground potential terminal to be charged with the output voltage of the sampling switch circuit 1, and whose gate is connected to one end of the hold capacitor 2. N-channel transistor Q1, whose gate and drain are connected to the output terminal To, and whose source is commonly connected to the source of transistor Q+, and N-channel transistor Q2 and transistor Q3. Q4, one end is connected to the sources of transistors Q+ and Q2, the other end is connected to the ground potential terminal, and a first reference voltage VRI of a larger value is applied to the reference voltage input terminal. a constant current source circuit 4 which causes a current of 1 to flow and a second current having a smaller value than the first current by a second reference voltage VR2; and a first and second reference voltage V.
The first and second reference voltage generation circuits 6.7 generate RI and VR2, respectively, and the first reference voltage R1 is applied to the reference voltage input terminal during the sampling period of the input signal V by the sampling control pulse V5o. and a changeover switch circuit 5 that transmits the second reference voltage VR2 to the reference voltage input terminal during other periods.

次に、この実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

第2図はこの実施例の動作を説明するための各部信号の
波形図である。
FIG. 2 is a waveform diagram of various signals for explaining the operation of this embodiment.

サンプリングスイッチ回路1がサンプリング制御パルス
VSCにより閉じ、入力信号Viのサンプリングを開始
する。
The sampling switch circuit 1 is closed by the sampling control pulse VSC and starts sampling the input signal Vi.

このサンプリング期間T、中、サンプリング制御パルス
■scは同時に切換スイッチ回路5を、大電流用の基準
電圧発生回路6側にし、基準電圧VRIを定電流源回路
4の基準電圧入力端に印加し、差動増幅器3の応答時間
が短くなるようにする。
During this sampling period T, the sampling control pulse SC simultaneously switches the changeover switch circuit 5 to the large current reference voltage generation circuit 6 side, applies the reference voltage VRI to the reference voltage input terminal of the constant current source circuit 4, To shorten the response time of the differential amplifier 3.

次にサンプリングスイッチ回路1が開きホールド期間T
2になると、サンプリング制御パルスVscは切替スイ
ッチ回路5を小電流用の基準電圧発生回路7側にし、基
準電圧VR2を定電流源回路4の基準電圧入力端に印加
し差動増幅器3がホールドコンデンサ2の電圧をホール
ドできるだけのわずかな電流を流すようにする。
Next, the sampling switch circuit 1 opens for a hold period T
2, the sampling control pulse Vsc sets the changeover switch circuit 5 to the small current reference voltage generation circuit 7 side, applies the reference voltage VR2 to the reference voltage input terminal of the constant current source circuit 4, and the differential amplifier 3 connects the hold capacitor. A small amount of current is applied to hold the voltage of 2.

このようにして、サンプリング期間T、内に各部信号を
安定させ、かつその他の期間のホールド期間下2中は定
電流源回路4の電流を少なくして消費電力を低減させる
ことができる。
In this way, it is possible to stabilize the signals of each part within the sampling period T, and reduce the current of the constant current source circuit 4 during the hold period 2 of the other periods, thereby reducing power consumption.

第3図はこの本発明をアクティブマトリクス液晶ドライ
バに適用したときの回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram when the present invention is applied to an active matrix liquid crystal driver.

この適用例は、本発明によるサンプル・ホールド増幅回
路を複数設け、これらサンプル・ホールド増幅回路の各
サンプリングスイッチ回路l及び切換スイッチ回路5を
制御するサンプリング制御パルスV SCA〜VSCN
をシフトレジスト10により発生し、入力信号V+をこ
のサンプリング制御パルスVSCA〜V5oNにより順
次サンプリングしてホールドし出力する構成としたもの
で、定電流源回路4の電流を制御する基準電圧V FL
l、 V R2を発生する基準電圧発生回路6A、7A
は共用となっている。
In this application example, a plurality of sample-and-hold amplifier circuits according to the present invention are provided, and sampling control pulses V SCA to VSCN are provided to control each sampling switch circuit l and changeover switch circuit 5 of these sample-and-hold amplifier circuits.
is generated by the shift resist 10, and the input signal V+ is sequentially sampled, held, and output using the sampling control pulses VSCA to V5oN, and the reference voltage VFL for controlling the current of the constant current source circuit 4 is set.
Reference voltage generation circuits 6A and 7A that generate V R2
are shared.

このような適用例においては特にサンプリングレートが
速くなり、多出力化すると、従来の方法では定電流源回
路に非常に大きな電流を流さなければならず、また多出
力であるためにホールドしている時間も長くなるので、
非常に効率が悪くなるが、本発明を適用することにより
大幅に消費電力を低減することができる。
In such applications, especially when the sampling rate becomes faster and the number of outputs increases, the conventional method would require a very large current to flow through the constant current source circuit, and due to the multiple outputs, it would be difficult to hold the current. It will take a long time, so
Although the efficiency is very poor, power consumption can be significantly reduced by applying the present invention.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、定電流回路の電流を、サ
ンプリング時には大きくして差動増幅の応答速度を速く
し、ホールド時には小さくする構成とすることにより、
サンプリング期間内に各部信号の電圧が安定するので、
出力電圧の変動を抑えることができ、かつ消費電力を低
減することができる効果がある。
As explained above, the present invention increases the current of the constant current circuit during sampling to increase the response speed of differential amplification, and reduces the current during hold.
Since the voltage of each part signal is stabilized within the sampling period,
This has the effect of suppressing fluctuations in output voltage and reducing power consumption.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は第1
図に示された実施例の動作を説明するための各部信号の
波形図、第3図は本発明をアクティブマトリクス液晶ド
ライバに適用したときの回路図、第4図は従来のサンプ
ル・ホールド増幅回路の一例を示す回路図、第5図(a
)、(b)はそれぞれ第4図に示されたサンプル・ホー
ルド増幅回路の動作を説明するための各部信号の波形図
である。 1・・・サンプリングスイッチ回路、2・・・ホールド
コンデンサ、3・・・差動増幅器、4・・・定電流源回
路、5・・・切換スイッチ回路、6,6A、7,7^・
・・基準電圧発生回路、10・・・シフトレジスト、Q
1〜Q5・・・トランジスタ。
Fig. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention, and Fig. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention.
Waveform diagrams of various signals to explain the operation of the embodiment shown in the figure, Figure 3 is a circuit diagram when the present invention is applied to an active matrix liquid crystal driver, and Figure 4 is a conventional sample-and-hold amplifier circuit. A circuit diagram showing an example of FIG. 5 (a
) and (b) are waveform diagrams of various signals for explaining the operation of the sample-and-hold amplifier circuit shown in FIG. 4, respectively. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Sampling switch circuit, 2... Hold capacitor, 3... Differential amplifier, 4... Constant current source circuit, 5... Changeover switch circuit, 6, 6A, 7, 7^・
...Reference voltage generation circuit, 10...Shift resist, Q
1 to Q5...transistors.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  一端を入力端子に接続し、この入力端子に印加される
アナログ電圧の入力信号をサンプリング制御パルスによ
り所定の期間サンプリングして他端へ伝達するサンプリ
ングスイッチ回路と、一端を前記サンプリングスイッチ
回路の他端と接続し他端を接地電位端子と接続してこの
サンプリングスイッチ回路の出力電圧で充電されるホー
ルドコンデンサと、ゲートを前記ホールドコンデンサの
一端と接続した第1のトランジスタとゲート及びドレイ
ン(又はソース)を出力端子と接続しソース(又はドレ
イン)を前記第1のトランジスタのソース(又はドレイ
ン)と共通接続した第2のトランジスタとを備えた差動
増幅器と、一端を前記第1及び第2のトランジスタのソ
ース(又はドレイン)と接続し他端を前記接地電位端子
と接続し基準電圧入力端に印加される第1の基準電圧に
より所定の値の第1の電流を流し第2の基準電圧により
前記第1の電流より小さい値の第2の電流を流す定電流
源回路と、前記第1及び第2の基準電圧をそれぞれ発生
する第1及び第2の基準電圧発生回路と、前記サンプリ
ング制御パルスにより前記入力信号のサンプリングの期
間中は前記第1の基準電圧を前記基準電圧入力端へ伝達
しその他の期間は前記第2の基準電圧を前記基準電圧入
力端へ伝達する切換スイッチ回路とを有することを特徴
とするサンプル・ホールド増幅回路。
a sampling switch circuit having one end connected to an input terminal, sampling an input signal of an analog voltage applied to the input terminal for a predetermined period using a sampling control pulse, and transmitting the sample to the other end; a hold capacitor whose other end is connected to a ground potential terminal and which is charged by the output voltage of the sampling switch circuit; and a first transistor whose gate is connected to one end of the hold capacitor, its gate and drain (or source). a second transistor whose source (or drain) is commonly connected to the source (or drain) of the first transistor; and the other end is connected to the ground potential terminal, and a first current of a predetermined value is caused to flow by a first reference voltage applied to the reference voltage input terminal, and a second current is applied to the reference voltage input terminal. a constant current source circuit that flows a second current having a value smaller than the first current; first and second reference voltage generation circuits that generate the first and second reference voltages, respectively; and a changeover switch circuit that transmits the first reference voltage to the reference voltage input terminal during the sampling period of the input signal and transmits the second reference voltage to the reference voltage input terminal during other periods. A sample-and-hold amplifier circuit featuring:
JP63109661A 1988-05-02 1988-05-02 Sample and hold amplifier circuit Expired - Fee Related JPH0721958B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63109661A JPH0721958B2 (en) 1988-05-02 1988-05-02 Sample and hold amplifier circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63109661A JPH0721958B2 (en) 1988-05-02 1988-05-02 Sample and hold amplifier circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01279500A true JPH01279500A (en) 1989-11-09
JPH0721958B2 JPH0721958B2 (en) 1995-03-08

Family

ID=14515954

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63109661A Expired - Fee Related JPH0721958B2 (en) 1988-05-02 1988-05-02 Sample and hold amplifier circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0721958B2 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5227676A (en) * 1991-09-16 1993-07-13 International Business Machines Corporation Current mode sample-and-hold circuit
KR100494273B1 (en) * 2001-11-21 2005-06-13 가부시키가이샤 한도다이 리코가쿠 겐큐 센터 Sampling and hold circuit
JPWO2009078112A1 (en) * 2007-12-19 2011-04-28 パナソニック株式会社 Operational amplifier, pipelined AD converter
JP2011166658A (en) * 2010-02-15 2011-08-25 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Amplitude limiting amplifier circuit, and optical receiver

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5227676A (en) * 1991-09-16 1993-07-13 International Business Machines Corporation Current mode sample-and-hold circuit
KR100494273B1 (en) * 2001-11-21 2005-06-13 가부시키가이샤 한도다이 리코가쿠 겐큐 센터 Sampling and hold circuit
JPWO2009078112A1 (en) * 2007-12-19 2011-04-28 パナソニック株式会社 Operational amplifier, pipelined AD converter
JP2011166658A (en) * 2010-02-15 2011-08-25 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Amplitude limiting amplifier circuit, and optical receiver

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0721958B2 (en) 1995-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6480178B1 (en) Amplifier circuit and liquid-crystal display unit using the same
US7821485B2 (en) Source driver output circuit of thin film transistor liquid crystal display
JPH1173163A (en) Output circuit for liquid crystal display device
JP2005293817A (en) Shift register, its driving method, and driving apparatus for liquid crystal display panel
JPH10301539A (en) Drive circuit of liquid crystal display device
JPH0282713A (en) Switching auxiliary circuit
JPH0210436B2 (en)
JPH06311732A (en) Booster circuit
KR19990078102A (en) Voltage level converters
JP2000134097A (en) Track/hold circuit and buffer circuit for the track/hold circuit
JPH01279500A (en) Sample-and-hold amplifier circuit
JPH0541651A (en) Semiconductor integrated circuit device for capacity load driving
JP2994000B2 (en) Sample and hold amplifier circuit
JP2669591B2 (en) Data line driver
JP3370169B2 (en) Output circuit
JP2000194323A (en) Analog buffer circuit and liquid crystal display device
JPS59154808A (en) Amplifier circuit and semiconductor integrated circuit using it
KR0135951B1 (en) Sample-hold circuit device
JPH09259597A (en) Compensation method for offset voltage and sample and hold circuit and amplifier using this method
JP3979720B2 (en) Sample and hold circuit
JPH04227119A (en) Voltage-current converter
JP2001085988A (en) Signal level convesion circuit and active matrix liquid crystal display device provided with signal level conversion circuit
JP2000132989A (en) Track hold circuit
JPH06195992A (en) Follow-up and holding circuit of signal
JP2605603Y2 (en) Semiconductor integrated circuit

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees