JPH01271262A - 熱記録用ヘッドおよびその抵抗値トリミング方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ１発明の目的 （１）産業上の利用分野 本発明は、ワードプロセッサ、パソコン等の出力装置と
してのサーマルプリンタやファクシミリ等に使用される
熱記録装置用の熱記録用ヘッドおよびその抵抗値トリミ
ング方法に関する。

（２）従来の技術 従来、前記熱記録装置は、印刷時の騒音が小さく、また
、現像・定着工程が不要なため取り扱いが容易である等
の利点を存しており、広く使用されている。

このような熱記録装置に使用される熱記録用ヘッドは、
抵抗基板上に対向して列設された複数の個別電極および
共通電極間に発熱抵抗体が配設されている。そして、選
択された個別電極および共通電極間に電力を供給して、
その部分の発熱抵抗体を発熱させ、熱記録を行うように
している。

ところで、前記各個別電極および共通電極間に配設され
た各発熱抵抗体（すなわち、各ドツトに対応する発熱抵
抗体）の抵抗値が均一でないと、発熱した際の発熱抵抗
体の温度に差が生じる。そうすると、熱転写紙等に熱記
録を行った際、記録した「字」または１図」等に濃度ム
ラが発生する。

前記濃度ムラの発生を防止するために、従来、前記各ド
ツトに対応する発熱抵抗体の抵抗値を均一にすることが
行われている。これは、発熱抵抗体に抵抗破壊を生じな
い範囲で所定の電圧を印加すると、その電圧の大きさに
応じて発熱抵抗体の抵抗値が減少するという性質を利用
している。

このような発熱抵抗体の抵抗値を均一化する従来の技術
として、たとえば、特開昭６１−８３０５３号公報が知
られている。

この公報に記載されたものは、発熱抵抗体に幅が一定で
電圧値の異なるトリミングパルス、または、幅および電
圧値一定で数の異なるトリミングパルスを印加するよう
にしている。そして、その公報には実施例として、発熱
抵抗体に幅が一定で電圧値の異なるトリミングパルスを
印加するようにしたものが記載されている。

その実施例に記載されたものは、抵抗基板上の各ドツト
に対応する発熱抵抗体の初期抵抗値を測定し、それらの
初期抵抗値が目標抵抗値Ｒ０よりも大きい場合には、発
熱抵抗体に所定の電圧■。

のトリミングパルスを印加して発熱抵抗体の抵抗値を減
少させる。この減少した抵抗値が、目標抵抗値よりもま
だ大きい場合には、前記所定の電圧■。にΔＶだけプラ
スした電圧■。＋ΔＶのトリミングパルスを印加して発
熱抵抗体の抵抗値をさらに減少させる。この、さらに減
少した抵抗値が目標抵抗値Ｒ０よりもまだ大きい場合に
は、前記所定の電圧ＶＯに２Δ■だけプラスした電圧■
。

＋２Δ■のトリミングパルスを印加して発熱抵抗体の抵
抗値をさらに減少させる。このようにして発熱抵抗体の
抵抗値が目標抵抗値Ｒ０以下に収まるまで、Δ■づつプ
ラスした電圧Ｖ、＋ｎΔ■のトリミングパルスを印加す
るようにしている。

この従来の方法は、初期抵抗値の異なる各発熱抵抗体に
対して、印加する電圧の初期値■。および１ステツプの
電圧の増加分Δ■を小さな値に設定している。その理由
は次の通りである。前記印加電圧の初期値■。を大きな
値に設定すると、発熱抵抗体の抵抗値が最初のトリミン
グパルスで目標抵抗値Ｒ０よりもずっと下の値になる場
合が生じるので都合が悪（、また、前記Δ■を太き（す
ると、あるステップにおいて発熱抵抗体の抵抗値が目標
抵抗値Ｒ０よりもずっと下の値になる場合が生じるので
都合が悪い。このため、前記印加電圧の初期値■。およ
び電圧の増加分Δ■を小さな値に設定せざるを得なかっ
たのである。したがって、従来のトリミング方法では、
発熱抵抗体の抵抗値を目標抵抗値の所定範囲以内に収め
るまでに多くの作業数を必要とするという問題点がある
。

前記事情に鑑み、検討した結果、下記の事実を利用する
トリミング方法を考えた。

すなわち、同一抵抗基板上の各発熱抵抗体、または同一
ロットで製造された抵抗基板上の各発熱抵抗体の印加電
圧に対する抵抗値変化特性は類似しており、初期抵抗値
Ｒ１が異なる各発熱抵抗体は、初期抵抗値Ｒ８を含む所
定の関数Ｇ　（Ｒ，ＲＳ）のＲに目標抵抗値Ｒ０を代入
して定まる値Ｇ、＝Ｇ（Ｒ，、Ｒ，）に応じた所定の電
圧値ｖ３（以下、「目標達成電圧値Ｖｓ　Ｊという）の
パルスＰ、が印加されたとき目標抵抗値Ｒ０に接近する
。

この事実を利用すれば、前記関数Ｇ　（Ｒ，Ｒ。

）を定めることにより、同一ロットで製造された抵抗基
板の初期抵抗値Ｒ５が異なる各発熱抵抗体の抵抗値を、
目標抵抗値Ｒ０に一度に接近させるパルスＰ、の電圧値
すなわち目標達成電圧値Ｖｓの大きさを求めることが可
能である。そして、求まった目標達成電圧値Ｖｓを利用
することにより、各発熱抵抗体の抵抗値を少ない作業数
で目標抵抗値Ｒ０に接近させることが可能となる。

ただし、各発熱抵抗体は、たとえ同一ロットで製造され
た抵抗基板上または同一基板上のものであって前記抵抗
値変化特性が類似しているといっても、その抵抗値変化
特性にはバラツキがあるため、実際に前記発熱抵抗体の
抵抗値のトリミングを行う際、前記関数値Ｇ０に応じて
定まる目標達成電圧値Ｖ５のトリミングパルスＰｓをい
きなり発熱抵抗体に印加すると、その抵抗値が目標抵抗
値Ｒ０よりもかなり下の値に補正されたり、また、発熱
抵抗体（、こ印加した高電圧に起因する抵抗破壊が生し
、る場合もある。

したかつで、たとえ前記目標達成電圧値Ｖｓが求まって
も、実際のトリミング作業では、目標達成電圧値ＶＳよ
りも低い電圧値■１の第１　［−１Ｊ　：Ｅングバルス
Ｐ、を発熱抵抗体に印加し、その抵抗値の変化を見なが
ら、その抵抗値がト１標抵抗値Ｒ０に達するまで、電圧
値Ｖ、（ｉ＝１．２．・・・。

ｎ　：　Ｖ　ｒ　’Ｓ　Ｖ　ｉ＋＋　）を順次増加させ
ながら第ｉトリミングパルスＰ＝　　（ｉ＝ｉ、２．・
・・、ｎ）を印加する。このようなトリミング方法すな
わち目標達成電圧値Ｖｓに応じて第１）リミングパルス
Ｐ１の電圧値Ｖ＋’に定めるトリミング方法は、前記電
圧値■１を発熱抵抗体の初期抵抗値Ｒ３に応（づて適切
に設定することができるため、トリミング作業数を従来
よりも減少させることができる。

ところで、前記目標達成電圧値Ｖｓを求める乙こは前記
関数Ｇ　（Ｒ，Ｒ，）を定める必要があるが、関数Ｇ　
（Ｒ，Ｒｓ　）ば、たとえば次のよう（、こし７て定め
ることができる。ずなわぢ、 （ａ１）　　まず、目標抵抗値Ｒ０を定めるとともに、
変数Ｒおよび定数Ｒ５を含む適当な関数Ｑ　（ＲｓＬ）
を作成する。前記関数Ｑ　（Ｒ，Ｒｓ　）　Ｊ：Ｌでは
、ノ、：とえば次式（３）のようなものが考えられる。

Ｒ−Ｒ。

Ｑ　（Ｒ、Ｒ，）　＝　−−−ｍ−−−〜−−−−−−
（３）Ｒ。

（１１２）　　次に、同一ロットで製造された抵抗基板
の中から任意の抵抗基板をサンプルとＬ”ｉＴ抽出し、
その抵抗基板上の個別電極および共通電極間の発熱抵抗
体の初期抵抗値Ｒ２を測定する。

（ａ３）　　前記発熱抵抗体の初期抵抗値Ｈ６が目標抵
抗値Ｒ，よりも大きい場合、第（３図に示すように、適
当な電圧値■□の第１テストパルスＰＬＩを発熱抵抗体
に印加する。

（ａ４）　　前記第１テスＩ・パルスＰ　１．１を印加
した後の発熱抵抗体の抵抗値ＲｔＩを測定する。

（ａ１）関数Ｑ　（Ｒ，Ｒｓ　）のＲにＲｔ＋を代入し
た値Ｑｗ＝Ｑ　（Ｒ−１，Ｒｓ　）を算出する。

（ａ１）　　前記抵抗値ＲＬ＋が目標抵抗値Ｒ０よりも
大きい場合には、前記電圧値Ｖｉよりも所定値だけ大き
い電圧値Ｌｚの第２テストパルスＰ、２（第６図参照）
を前記発熱抵抗体に印加する。

（ａ１）　　前記第２テストパルスｐｗを印加した後の
発熱抵抗体の抵抗値Ｒ１２を測定する。

（ａｓ）　　関数Ｑ　（Ｒ，Ｒｓ　）のＲにＲＥｔを代
入した値Ｑ＆ｔ＝　Ｑ　（Ｒｔｚ、　Ｒｓ　）を算出す
る。

（ａ１）　　このような作業をＲＬｉ≦Ｒ，（ｉ＝１．
２゜・・・）となるまで繰り返し、得られたデータ■Ｌ
ｉおよびＱ＋、ｉによって定まる座標点Ｐ、ｉ’（第６
図参照）を、直交する■軸およびＱ軸からなる直交座標
軸上にプロットする。

（ａｌ＝）　　前記（ａ１）までの作業を他の発熱抵抗
体に対しても行う。そうすると、前記Ｑ　（Ｒ，Ｒ，）
を前記式（３）のように定めた場合、第７図に示すよう
な多数の点の分布が得られる。

（ａ１）　前記直交座標軸上にプロットされた前記座標
データ（Ｖ＝ｉ、　Ｑｔｉ）の分布を近似する式■＝Ｆ
　（Ｑ）を求める。

この座標データ（Ｖｃｉ、　Ｑｔｉ）の分布を近似する
式Ｖ＝Ｆ　（Ｑ）は、前記関数Ｑ　（Ｒ，Ｒ，）を旧式
（３）のように定めた場合には、次式（４）のような直
線を表す式となり、その直線のグラフは第７図の実線の
ようになる。

Ｒ−Ｒ。

Ｖ−Ｆ　（Ｑ）　＝＝ａ、　　　　　＋　ｂ＋Ｒ１ ＝　Ｆ　　（Ｒ、Ｒ，）　−−−−−−−−−・−−−
−・−・−〜−−・−・−−−一・〜・−・・（４）以
下、前記座標データ（Ｖｗ、Ｑｔ＝）の分布を近似する
式Ｖ＝Ｆ　（Ｑ）＝Ｆ　（Ｒ，Ｒ，）で表されるグラフ
を「校正カーブ」ということにする。

また、前記Ｆ　（Ｑ）またはＦ　（Ｒ，Ｒ，）を「校正
カーブ関数」ということにする。

なお、前記式Ｑ　（Ｒ，Ｒ，）としては、前記式（３）
の代わりにＱ　（Ｒ，Ｒ，）＝Ｒ−Ｒ，またはＱ　（Ｒ
，Ｒ，）＝Ｒ／Ｒ，等、種々考えられるがそれらの場合
、前記座標データ（Ｖｔｚ、　Ｑｔｔ）の分布を近似す
る弐Ｖ＝Ｆ　（Ｒ，Ｒ，）さえ求まれば前記式（４）の
ような直線を表す式でなく、曲線を表す式であっても利
用できる。

（ａ＋２）　　前述のようにして式Ｖ−Ｆ　（Ｒ，Ｒ，
）を定め、その式Ｖ＝Ｆ　（Ｒ，Ｒ，）のＲにＲｏを代
入することにより目標達成電圧値Ｖｓが算出される。た
とえば、関数Ｑ（Ｒ，Ｒｓ）および関数Ｆ　（Ｒ，Ｒｓ
　）が前記式（３）および（４）のようであれば、目標
達成電圧値Ｖｓは次式（５）のようになる。

Ｖ、＝Ｆ　（Ｒ，Ｒ，） Ｒ，−Ｒ。

＝　ａ　＋　　　　　　　＋　ｂ　１−−−−−−−−
・・−一−−−・・−（５）ところで、前述のように電
圧値が順次増加するテストパルスＰ１によって目標達成
電圧値Ｖｓを求めるに際し、テストパルスＰＬｉの電圧
値Ｖ　ｔ　ｉのテストパルスＰ　Ｌｉ−１の電圧値■□
１に対する増加分Ｖ　Ｌ　ｉ　　Ｖ　Ｌ　！　−１が大
きすぎると、ある段階のトリミングパルスＰ　Ｌｉの印
加時に、発熱抵抗体の抵抗値Ｒが目標抵抗値Ｒ０よりも
かなり下の値に補正されたり、発熱抵抗体に抵抗破壊が
生じてその抵抗値Ｒが上昇し、たりする場合がある。し
たがって、テストパルスを印加する発熱抵抗体を後で熱
記録に使用したいならば、その発熱抵抗体に抵抗破壊が
生じないようにする必要がある。その場合には、テスト
パルスの電圧値を少しづつ増加しながら発熱抵抗体の抵
抗値を測定しなければならないので、前記目標達成電圧
値Ｖｓを求めるのに時間がかかる。

（３）発明が解決しようとする課題 本発明は前述の事情に鑑みてなされたもので、抵抗基板
上の発熱抵抗体が抵抗破壊されるようなテストパルスを
印加して目標達成電圧値Ｖｓを速やかに求めることがで
き、しかも、そのテストパルスを印加した発熱抵抗体を
有する抵抗基板を熱記録に使用できるようにすることを
課題とする。

Ｂ１発明の構成 （１）　　課題を解決するための手段 前記課題を解決するために、本発明の熱記録用ヘッドは
、抵抗基板上面に、熱記録に使用される複数の個別電極
および共通電極と、それらの電極と同様に構成されてい
るが熱記録に使用されない個別ダミー電極および共通ダ
ミー電極とが列設され、それらの電極間に発熱抵抗体が
配設されたことを特徴とする。

また、本発明の熱記録用ヘッドの抵抗値トリミング方法
は、抵抗基板上面に、熱記録に使用される複数の個別電
極および共通電極が列設され、それらの電極間に発熱抵
抗体を配設した熱記録用ヘッドにおける前記発熱抵抗体
の初期抵抗値が目標抵抗値よりも大きい場合に前記発熱
抵抗体に第１トリミングパルスを印加し、この第１トリ
ミングパルス印加後の発熱抵抗体の抵抗値が目標抵抗値
よりも大きい場合に前記発熱抵抗体に第２トリミングパ
ルスを印加し、この第２トリミングパルス印加後の発熱
抵抗体の抵抗値が目標抵抗値よりも大きい場合に前記発
熱抵抗体に第３トリミングパルスを印加するという順序
で発熱抵抗体の抵抗値が前記目標抵抗値に蓮するまで１
−リミングパルスの電圧値を堆加さセながら順次印加す
るようにした発熱抵抗体の抵抗値トリミング方法におい
て、抵抗基板上面に、前記熱記録に使用される電極と同
様に構成されているが熱記録に使用されない個別ダミー
電極および共通ダミー電極を列設するとともに、。それ
らの電極間に前記発熱抵抗体を配設し、前記個別タミー
電極および共通ダミー電極間の発熱抵抗体に電圧値が順
次増加するテスト・パルスを順次印加して発熱抵抗体の
抵抗値の変化を調べる試験により、初期抵抗値の発熱抵
抗体の抵抗値を一度に目標抵抗値に接近させるトリミン
グパルスの目標達成電圧値を求め、この求めた目標達成
電圧値よりも所定量小さな値に前記第１トリミングパル
スの電圧値を設定するとともに、発熱抵抗体の抵抗値と
目標抵抗値との差が所定範囲にある間は、発熱抵抗体の
抵抗値が目標抵抗値に近づり（、こつれてその直前のト
リミングパルスの電圧値に対゛するＩ・リミングパルス
の電圧値の増加量を、漸減するように設定し７たことを
特徴とする抵抗値トリミング方法。

（２）作用 前述の構成を備えた本発明の熱記録用−・ラドおよび熱
記録用−＼ラドの抵抗値トリミング方法は、。

前記ダミー電極間の発熱抵抗体の抵抗値の変化をみなが
らダミー電極にテストパルスを印加することにより、初
期抵抗値Ｒ，，の発熱抵抗体の抵抗値を目標抵抗値Ｒ０
に接近させ得る目標達成電圧値Ｖｓが求まる。そして、
この求まった目標達成電圧値Ｖｓを利用して、熱記録に
使用する発熱抵抗体に効率のよいトリミング作業を実施
することができる。

（３）実施例 次に、図面により本発明の一実施例について説明する。

第２図において、プラテンローラＡの外周に沿って搬送
される感熱記録紙Ｂに熱記録を行う熱記録用ヘッドＣは
、アルミまたは鋳鉄等の熱伝導率の高い金属材料から構
成された支持板ｌを備えており、この支持板１の上面に
は、第２図中、左側部分および右側部分に、それぞれ接
着剤２および、３を介してセラミック製の抵抗基板４お
よびブラスチンク製のプリント配線板５が張付けられて
いる。

第２図中、プリント配線板５上面には、前記抵抗基板４
に近い部分にＩＣが配設されており、第２図中、ＩＣの
右側部分に配線５ａが印刷により設けられている。配線
５ａの入力端側（第２図中、右側）はプリント配線板５
を貫通づるリード線６を介して駆動信号入力端子として
のソケット７に接続、されている。プリント配線板５上
に配設された前記ＩＣはワイヤ８．９によってプリント
配線板５の配線５ａおよび抵抗基板４０個別電ｉ４ａと
接続されている。

第１．３図において、前記抵抗基板４には、その上面に
個別電極４ａ、共通電極４ｂおよびそれらの各電極４ａ
、４ｂ間に配置された発熱抵抗体４ｃが、抵抗基板４の
幅方向に沿って列設されている。そして、前記幅方向の
両端部に配設されたそれぞれ５本の個別電極４ａおよび
これらの個別電極４ａに対向する共通電極４ｂはいずれ
も、熱記録に使用されない個別ダミー電極４ａ’および
共通ダミー電極４ｂ“として形成されている（第１図参
照）。したがって、この熱記録に使用されない幅方向両
端部の各ダミー電極４ａ’、４ｂ”（１ｇ方向一端部の
み図示されている）は熱記録時には同電位に保たれるよ
うになっており、各ダミー電極４ａ’、４ｂ’を除く前
記個別電極４ａおよび共通電極４ｂの配設された幅が、
熱記録に使用される幅である。

第２図によく示されているように、前記ＩＣおよびワイ
ヤ８，９は樹脂１０によって封止されるとともに、カバ
ー１１によって保護されている。

前記熱記録用ヘッドＣは、前記符号１〜１１で示された
部材から構成されており、前記発熱抵抗体４ｃは前記ロ
ーラプラテンＡ上の感熱記録紙Ｂに押付けられて熱記録
が行われる。

前述の抵抗基板４の熱記録に使用する個別電極４ａおよ
び共通電極４ｂ間の各発熱抵抗体４ｃの抵抗値Ｒを目標
抵抗値Ｒ０にトリミングするには、適切な電圧値Ｖ１の
第１トリミングパルスＰ１を発熱抵抗体４ｃに印加し、
次に少しづつ電圧値を増加したトリミングパルスＰ＝　
　（ｉ＝１，２゜・・・）を順次印加する必要がある。

そして、前記第１トリミングパルスＰ１の電圧値Ｖ、は
、前記熱記録に使用されない個別ダミー電極４ａ’およ
び共通ダミー電極４ｂ′を利用し、次のようにして求め
る。

（ａ１）　　まず、同一ロットで製造された抵抗基板の
中から任意の抵抗基板をサンプルとして抽出し、その抵
抗基板上の個別ダミー電極４ａ’および共通ダミー電極
４ｂ’間の発熱抵抗体４ｃの初期抵抗値Ｒ１を測定する
。

（Ｒ２）　　前記発熱抵抗体４ｃの初期抵抗値Ｒ３が目
標抵抗値Ｒ０よりも大きい場合、初期設定値をａｌ、ｂ
ｌとして、次式（６）で表される関数Ｆ　（ＲｓＲ，）
のＲにＲｏを代入したときの値Ｆ、。を算出する。なお
、関数Ｆ　（Ｒ，Ｒｓ　）は、初期抵抗値Ｒ１の発熱抵
抗体４ｃにテストパルスＰｔ＋（ｉ＝１．２、…）を）
頓次印加したときの（Ｒ−Ｒ，）／Ｒ，の変化を予想し
た関数であり、その関数によって表されるカーブを第４
図に示す、この第４図において、Ｒは発熱抵抗体４ｃの
抵抗値である、電圧■のテストパルスＰｔｉが印加され
ると変化する値である。また、ａ　Ｉ　＋　　ｂ　ｌ　
は定数であるが、その値はロフト毎または抵抗基板毎に
バラツキがあり、テストパルスの印加後の抵抗値変化を
みて補正される値である。

Ｒ１ ＦＬ、＝Ｆ　（Ｒ，、Ｒ，）−・・・−′・−・・−ｍ
−−−−−・−・・−（Ｐｉ）なお、前記式（６）で表
される関数Ｆ　（Ｒ，Ｒ。

）は、仮に定めた校正カーブ関数であり、その式（６）
中の定数ａｌ＋ｂｌをロット毎に補正して得られる後述
の関数Ｇ　（Ｒ，Ｒ，）が実際のトリミングに利用され
る校正カーブ関数である。そして、熱記録に使用する前
記個別電極４ａおよび共通電極４ｂ間の発熱抵抗体４ｃ
のトリミングは前記校正カーブ関数Ｇ　（Ｒ，Ｒ，）を
利用して行うのであるが、それらについては後で詳述す
る。

（Ｒ３）第１テストパルスＰＬＩの電圧値Ｖｔｌを次式
（８）により求める。

Ｖｔ＋＝　ｂ　＋　＋　（１／　ｎ）（Ｆｔ、−ｂ　ｒ
　）　’−＝（Ｂ）この式（８）中、（１／ｎ）（Ｆｔ
ｏ−ｂｌ　）は第４図に示すように、電圧値Ｆいとｂｌ
との差をｎ等分した値である。

（Ｒ４）　　前記電圧値ＶＬＩの第１テストパルスＰｔ
ｌを前記両ダミー電極４ａ’、４ｂ’間に印加する。

（ａｓ）　　前記第１テストパルスＰＬＩを印加した後
の前記両ダミー電極４ａ’、４ｂ’間の発熱抵抗体４ｃ
の抵抗値Ｒｔｌを測定する。

（ａｂ）　　（Ｒｔ＋　　Ｒ−）　／　Ｒ−＝Ｑ＆ｌの
値、すなわち発熱抵抗体４ｃに前記電圧ＶＬＩを印加し
たときの、発熱抵抗体４ｃの抵抗値の初期抵抗値Ｒ２に
対する変化率を求める。

（ａ７）　　前記抵抗（ＪＲ−が［」標抵抗値Ｒ０より
も大きい場合には、第２テストパルスＰ＝、、２の電圧
値■５．を次式（９）により求める。

Ｖｌ、２＝　ｂ　ｌ　＋（２／ｎ）（Ｆｔ。−ｂ　ｌ　
）−（９）（ａ１）　　前記電圧値Ｖｔｌの第２テスト
パルスＰ！、１を前記両ダミー電極４ａ’、４ｂ’間に
印加する４、（ａ１）　　前記第２テストパルスＰｔｔ
を印加した後の前記両ダミー電極４ａ’、４ｂ’間の発
熱抵抗体４ｃの抵抗（ａ　ＲＬ　ｚを測定する。

（ａｒｅ）　　（Ｒｔｚ　　Ｒ−）　／Ｒ，＝Ｑｗの値
、ずなわぢ発熱抵抗体４ｃに前記電圧ＶｔＺを印加した
ときの、発熱抵抗体４ｃの抵抗値の初期抵抗値Ｒ，に対
する変化率を求める。

（ａｌ１）　　　このような作業をＲｔｉ≦Ｒｔｉ−＋
　Ｈ＝　１゜２、・・・）となるまで、すなわち、発熱
抵抗体４ｃが抵抗破壊を起こすまで繰り返し、得られた
データＶいおよび（Ｒ１＝Ｒ，）／Ｒ，によって定まる
座標点ＰＬ％（第４図参照）を、直交する■軸および（
Ｒ−Ｒ，）／Ｒ，軸からなる直交座標軸−トにプロット
する。

（ａｔ□）　前記（ａ１）までの作業を他のダミー電極
に対しても行う。そ・うすると、第１′４ＵＪに示すよ
・うな多数の点の分布が得られる。

（ａ、＝）　　前記直交座標軸上にプロットされた前記
座標データＶｔ−２（Ｒｔ−Ｒ−）／Ｒ，の分布（第４
図の多数の点の分布）を前記の式（１０）で近似し、こ
の式（１０）が前記分布になるべくよく近似ｒるように
式（１０）のａおよびｂを定める。

Ｒ−Ｒ。

Ｖ＝ａ−−−〜−＋　ｂ−−−−−−−−一−−−−−
−＝（１０）Ｒ８ （ａｈａ）校正カーブ関数（’、（Ｒ，Ｒ，）を次式（
１１）で定義する。

Ｒ−Ｒ。

Ｇ　　（Ｒ，Ｒ，）　　　＝　　ａ　　−−＋　　ｂ　
　−−一　　−−−−−１ｌ１）Ｒ８ この関数校正関数Ｇ　（Ｒ，Ｒ，）は前記仮に定めた校
正カーブ関数Ｆ　（Ｒ，Ｒ，）におけるａ（およびす、
の値をａ、ｂに置換した関数であり、その置換により、
ロフト毎または抵抗基板毎のバラツキが補正される。ま
た、Ｖ＝Ｇ　（ｌマ、Ｒ，）によって表される校正カー
ブは第５図に示す直線となる。

（ａ　、　Ｓ）　　前述のようにダミー電極４ａ’、４
ｂ’を使用して、ａ、ｂの値を定めた後（すなわち、前
記関数Ｆ　（Ｒ，Ｒｓ　）におけるａ、およびす。

の値を補正した校正カーブ関数Ｇ　（Ｒ，Ｒｓ　）を求
めた後、熱記録に使用する個別電極４ａおよび共通電極
４ｂ間の発熱抵抗体４ｃの抵抗値をトリミングするので
あるが、その際、発熱抵抗体４ｃの初期抵抗値Ｒ３、目
標抵抗値Ｒ０とすれば、前記式（１１）のＲにＲ６を代
入した次式（１２）により目標達成電圧値ＶＳが算出さ
れる。

Ｒ１ すなわち、前記式（１２）で算出される目標達成電圧値
Ｖｓを有するトリミングパルスを初期抵抗値Ｒｓの発熱
抵抗体４ｃに印加ずれば目標抵抗値Ｒ０に一度に接近す
るはずである。しかしながら、発熱抵抗体４ｃの特性に
はバラツキがあるので、実際に前記発熱抵抗体の抵抗値
のｆリミングを行う際、前記校正カーブ関数Ｇ（Ｒ，、
Ｒ，）に応じて定まる目標達成電圧値ＶＳのトリミング
パルスをいきなり発熱抵抗体４ｃに印加すると、その抵
抗値が目標抵抗値Ｒ，よりもかなり下の値に補正される
こともあり得る。したがって、実際のトリミングに際し
ては、第１トリミングパルスの電圧値■１は目標達成電
圧値■５よりも低い値たとえば、次式（１３）で定まる
値に設定する。

Ｖｌ　＝　ｂ　＋　（］、　／２）（Ｖｉ　−−ｂ　）
　−−一−−・−（１３）このようにして、ダミー電極
（４ａ“、４ｂ゛）を用いた前記（ａ１）〜（ａｌｓ）
の作業により、熱記録に使用する発熱抵抗体４ｃに印加
する第１トリミングパルスＰ、の電圧値Ｖｉが定まる。

次に、第５図を参照しながら熱記録に使用する発熱抵抗
体４ｃに対する抵抗値トリミング作業について説明する
。

（ｂ１）熱記録に使用する各個別電極４ａおよび共通電
極４ｂ間の発熱抵抗体４ｃの初期抵抗値Ｒ。

を測定し、その初期抵抗値Ｒ１が目標抵抗値Ｒ０よりも
大きい場合には、前記式（１２）および（１３）により
算出される電圧値Ｖｉを有する第１トリミングパルスＰ
１を前記発熱抵抗体４ｃに印加する。

この電圧値ｖＩは前記式（１３）および第５図から分か
るようにｂとＶ、の丁度中間の値である。

（ｂ２）　　前記第１トリミングパルスＰＩ印加後の発
熱抵抗体４ｃの抵抗値Ｒ１を測定し、この抵抗値Ｒ１が
目標抵抗値Ｒ０よりも大きい場合には、下記式（１４）
により算出される電圧値■２を有する第２トリミングパ
ルスＰ！を前記発熱抵抗体４ｃに印加する。この電圧値
Ｖ、は式（１４）および第５図から分かるように前記■
１と■２の丁度中間の値である。

２　２” （ｂ１）　　前記第２トリミングパルスＰ２印加後の発
熱抵抗体４ｃの抵抗値Ｒ１を測定し、この抵抗値　　　
・Ｒ２が目標抵抗値Ｒ０よりも大きい場合には、下記式
（１５）により算出される電圧値Ｖｉを有する第３トリ
ミングパルスＰ、を前記発熱抵抗体４ｃに印加する。こ
の電圧値Ｖｉは式（１５）および第５図から分かるよう
に前記■２とｖｌの丁度中間の値である。

２　２”　　２３ （ｂ４）以下、同様にして、発熱抵抗体４ｃの抵抗値が
目標抵抗値Ｒ０以上のとき下記式（１６）で定まる電圧
値Ｖｉを有するトリミングパルスＰ、（ｉ＝１．２、…
）を順次印加する。

２２２２’２’ （Ｖｉ　−ｂ　）−−−−−−−−−−−一・−・・−
・・−（１６）そして、ｉ＝にのとき（１／２’　）（
Ｖｉ−ｂ）≦Δ■（Δ■は所定の電圧値）となった場合
には、ｉ≧にとなるｉの値に対して（１／２’　）（Ｖ
ｉ−ｂ）づつ電圧を増加すると、その増加量はΔ■以下
となり小さすぎるので、その場合にはΔ■づつ増加する
。すなわち、電圧■盪のトリミングパルスＰ、を印加し
た後の発熱抵抗体４ｃの抵抗値Ｒ１が目標抵抗値Ｒ０以
下になるまで、下記式り１７）で定まる電圧値Ｖ、のト
リミングパルスＰＩを順次印加する。

２２”２’２” （Ｖｉ　−ｂ　）　＋　（ｔ　−ｋ　）Δ■−・−・（
１７）但し、（１／２”　）（Ｖｉ−ｂ）≦ＡＶＳ　ｉ
≧にたとえば、ｋ＝３で（１／２’　）（Ｖｉ−ｂ）≦
Δ■となるような場合、すなわち（１／２３）（Ｖｉ−
ｂ）≦Δ■となるような場合には、各トリミングパルス
Ｐ＝　　（＋＝１．２、…）の電圧値■。

は、次のようになる。

Ｖｌ　＝ｂ＋（１／２）（Ｖ−ｂ） ２　２” ２　２ｔ　　２’ ２　　２Ｋ　　　２３ １Δ■ 」−２ΔＶ ２　　２’　　　２’ ト３ΔＶ このときのＶｉおよび（Ｒ，−Ｒｓ）／Ｒ−によって定
まる座標点Ｐ、′を直交する■軸およびＱ軸（Ｑ＝　（
Ｒ−Ｒ，）／Ｒ，）上にプロ・ントした状態が第５図に
示されている。

発熱抵抗体４ｃの抵抗値Ｒば、電圧値■１のトリミング
パルスが印加されると減少するが、第５図から分かるよ
うに、抵抗値Ｒの滅、少とともに（Ｒ−−Ｒ，）／Ｒ，
の値はＶ＝Ｇ　（Ｒ，Ｒ，”）の直線に沿って減少しな
がら（Ｒ，−Ｒ，）／Ｒ１＝Ｑ。の値に接近する。ぞし
て、第６トリミングパルスｐｈを印加Ｌ７た後に、（Ｒ
−−Ｒ，）／Ｒ。

の（直すなわら（Ｒｉ、　　ｎ−）／Ｒ−の（直は（ｌ
イ１１−Ｙ？ｓ）／Ｒ，の値よりｔ）小さ（なり、この
とき発熱抵抗体４ｃの抵抗値Ｒ７も目標抵抗値Ｒ８以下
になっている。

（ｂ’ｉ）　　前記（ｂ１）〜（ｂ４）の作業を同一ロ
ットで製！造された抵抗基板４上の熱記録に使用する全
−Ｃの発熱抵抗体４ｃに対して行う。そうすると、第Ｆ
）図ニ多数の点テ示すよう４＝、Ｖ＝Ｇ　（Ｒ，Ｒ，）
の直線に沿って（Ｒ−Ｒ％）／Ｒ，の値が変化しながら
、各発熱抵抗体４ｃの抵抗値Ｒは、目標抵抗（！　Ｒｏ
に接近する。

以−ヒ、本発明による熱記録用ヘッドの実施例を詳述し
たが、本発明は、前述の実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載された本発明を逸脱すること
な（、種々の設計変更を行うことが可能である。

たとえば、ダミー電極４ａ’、４ｂ’　は熱記録を行う
個別電極４ａおよび共通型１ｆｉ４ｂの両端列側部に配
設する代わりに一端外側部に配設することも可能である
。また、校正カーブ関数Ｇ　（ＲｓＲ，）は同一ロット
毎に作成するのではなく、各抵抗基板４毎に作成するご
とも可能である。さらに、第１トリミングパルスＰ１は
、Ｖ、＝　（ｉ／２）Ｖ、　、Ｖｌ　＝　（２／３）Ｖ
、のよ・）に設定することも可能である。そして、たと
えば、Ｖｉ−（１／２）Ｖ、とした場合、 Ｖｚ　＝　（１／２＋１／２”　）ｖ。

Ｖ３　＝　（１／２＋１／２”　＋１／２”）Ｖ。

Ｖｉ　−（１／２＋１／２”　（−・・・」・１／２ｋ
）Ｖ。

４−（ｉ−ｋ）Δ■ 伊し、（１／２”　）Ｖ、　≦ΔＶ、ｉ、ａｋとするこ
とも可能である。

さらＣまた、■軸および（Ｒ−Ｒ５）／Ｒ，軸から成る
直交座標軸１６；−おける座標デ・−夕（Ｖい。

（Ｒｉ　Ｒｓ　）／Ｒ−）の分布を近似するする式はコ
ンピュータ処理によって求める、−とが可能である。

Ｃ６発明の効果 前述の本発明の熱記録用ヘッドおよび熱記録用ヘッドの
抵抗値ｌ・リミング方法は、抵抗基板上に設げたダミー
電極間の熱記録に使用しない発熱抵抗体に抵抗破壊をお
それずにテストパルスを印加することにより、前記校正
カーブ関数を速やかに求めることができるので、前記目
標達成電圧Ｗ　ＶＳを速やかに求めることができる。

しかも、そのナス１ペルスを印加したダミー電極間の発
熱抵抗体が破壊されてもその抵抗基板を熱記録に使用す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による熱記録用ヘッドの一実施例の要部
の拡大斜視図で第３図の矢視■の部分の拡大図、第２図
は同実施例の側断面図、第３図は同実施例の要部の斜視
図、第４図は同実施例のテストパルス印加方法の説明図
、第５図は同実施例のトリミングパルスの印加方法の説
明図、第６図および第７図は本発明の前提となる抵抗値
トリミング技術の説明図、である。 ４・・・抵抗基板、４ａ・・・個別電極、４ａ’・・・
個別ダミー電極、４ｂ・・・共通電極、４ｂ’・・・共
通ダミー電極、４ｃ・・・発熱抵抗体、

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ［１］抵抗基板（４）上面に、熱記録に使用される複数
   の個別電極（４ａ）および共通電極（４ｂ）と、それら
   の電極（４ａ、４ｂ）と同様に構成されているが熱記録
   に使用されない個別ダミー電極（４ａ’）および共通ダ
   ミー電極（４ｂ’）とが列設され、それらの電極（４ａ
   、４ｂおよび４ａ’、４ｂ’）間に発熱抵抗体（４ｃ）
   が配設された熱記録用ヘッド。 ［２］抵抗基板（４）上面に、熱記録に使用される複数
   の個別電極（４ａ）および共通電極（４ｂ）が列設され
   、それらの電極（４ａ、４ｂ）間に発熱抵抗体（４ｃ）
   を配設した熱記録用ヘッドにおける前記発熱抵抗体（４
   ｃ）の初期抵抗値（Ｒ＿ｓ）が目標抵抗値（Ｒ＿０）よ
   りも大きい場合に前記発熱抵抗体（４ｃ）に第１トリミ
   ングパルス（Ｐ＿１）を印加し、この第１トリミングパ
   ルス（Ｐ＿１）印加後の発熱抵抗体（４ｃ）の抵抗値（
   Ｒ＿１）が目標抵抗値（Ｒ＿０）よりも大きい場合に前
   記発熱抵抗体（４ｃ）に第２トリミングパルス（Ｐ＿２
   ）を印加し、この第２トリミングパルス（Ｐ＿２）印加
   後の発熱抵抗体（４ｃ）の抵抗値（Ｒ＿２）が目標抵抗
   値（Ｒ＿０）よりも大きい場合に前記発熱抵抗体（４ｃ
   ）に第３トリミングパルス（Ｐ＿３）を印加するという
   順序で発熱抵抗体（４ｃ）の抵抗値が前記目標抵抗値（
   Ｒ＿０）に達するまでトリミングパルス（Ｐ＿ｉ：ｉ＝
   １、２、…）の電圧値（Ｖ＿ｉ：ｉ＝１、２、…）を増
   加させながら順次印加するようにした発熱抵抗体（４ｃ
   ）の抵抗値トリミング方法において、 抵抗基板（４）上面に、前記熱記録に使用される電極（
   ４ａ、４ｂ）と同様に構成されているが熱記録に使用さ
   れない個別ダミー電極（４ａ’）および共通ダミー電極
   （４ｂ’）を列設するとともに、それらの電極（４ａ’
   、４ｂ’）間に前記発熱抵抗体（４ｃ）を配設し、前記
   個別ダミー電極（４ａ’）および共通ダミー電極（４ｂ
   ’）間の発熱抵抗体（４ｃ）に電圧値が順次増加するテ
   ストパルス（Ｐ＿ｔ＿ｉ：ｉ＝１、２、…）を順次印加
   して発熱抵抗体（４ｃ）の抵抗値（Ｒ）の変化を調べる
   試験により、初期抵抗値（Ｒ＿ｓ）の発熱抵抗体（４ｃ
   ）の抵抗値を一度に目標抵抗値（Ｒ＿０）に接近させる
   トリミングパルス（Ｐ＿２）の目標達成電圧値（Ｖ＿ｓ
   ）を求め、この求めた目標達成電圧値（Ｖ＿ｓ）よりも
   所定量小さな値に前記第１トリミングパルス（Ｐ＿１）
   の電圧値（Ｖ＿１）を設定するとともに、発熱抵抗体（
   ４ｃ）の抵抗値（Ｒ）と目標抵抗値（Ｒ＿０）との差が
   所定範囲にある間は、発熱抵抗体（４ｃ）の抵抗値（Ｒ
   ）が目標抵抗値（Ｒ＿０）に近づくにつれてその直前の
   トリミングパルス（Ｐ＿ｉ＿−＿１）の電圧値（Ｖ＿ｉ
   ＿−＿１）に対するトリミングパルス（Ｐ＿ｉ）の電圧
   値（Ｖ＿ｉ）の増加量（Ｖ＿ｉ−Ｖ＿ｉ＿−＿１）を、
   漸減するように設定したことを特徴とする抵抗値トリミ
   ング方法。