JPH01267416A - Multipoint measuring apparatus - Google Patents

Multipoint measuring apparatus

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JPH01267416A
JPH01267416A JP63095405A JP9540588A JPH01267416A JP H01267416 A JPH01267416 A JP H01267416A JP 63095405 A JP63095405 A JP 63095405A JP 9540588 A JP9540588 A JP 9540588A JP H01267416 A JPH01267416 A JP H01267416A
Authority
JP
Japan
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measurement
measuring
measuring device
pair
point
Prior art date
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Pending
Application number
JP63095405A
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Japanese (ja)
Inventor
Tadashi Kaneko
正 金古
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

PURPOSE:To enable measurement at multiple measuring points with a pair of measuring cables, by addressing the multiple measuring points, for example, at an applied voltage value. CONSTITUTION:A pair of measuring cables 2 is drawn to a measuring device 1 and multiple measuring points 1-n are connected thereto 2. A voltage is applied from the measuring device 1 and values of current flowing at the measuring points are measured with the measuring device 1 addressing the measuring points 1-n to obtain measured values of temperature and the like.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概  要〕 複数の測定点を簡単な構成で測定するマルチポイント測
定装置に関し、 多数の測定ポイントを簡単な構成で測定できるようにす
ることを目的とし、 測定器と、該測定器から引き出される一対の測定用線路
と、該一対の測定用線路に接続され、前記測定器によっ
てアドレッシングされることによりそれぞれ測定値を出
力する複数の測定部を有するように構成する。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding a multi-point measurement device that measures multiple measurement points with a simple configuration, the purpose of this invention is to make it possible to measure a large number of measurement points with a simple configuration. , a pair of measurement lines led out from the measuring device, and a plurality of measurement units connected to the pair of measurement lines and outputting measured values when addressed by the measuring device.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、複数の測定点を簡単な構成で測定するマルチ
ポイント測定装置に関する。
The present invention relates to a multi-point measurement device that measures multiple measurement points with a simple configuration.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来は、第6図に示すように測定器11から測定ポイン
)12,13.14ごとにそれぞれ一対の測定ケーブル
15,16. 11を接続し、各測定ポイント12,1
3.14の測定値を、測定器1工で計測していた。例え
ば、温度測定では、熱電対等を測定ポイント数だけ各測
定ポイントに設置してこの熱電対を測定ポイント数分の
測定ケーブル対によって測定器に接続して測定ポイント
の温度を測定していた。
Conventionally, as shown in FIG. 6, a pair of measurement cables 15, 16, . 11, each measuring point 12,1
The measurement value of 3.14 was measured with one measuring device. For example, in temperature measurement, thermocouples and the like are installed at each measurement point, and the thermocouples are connected to a measuring device by the same number of measurement cable pairs as the number of measurement points, and the temperature at the measurement point is measured.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

このため、測定ケーブル15,16.17の本数あるい
は熱電対との接続等が測定ポイント数に対応した数だけ
必要となり、構成が複雑になっていた。さらに、物理的
な制限から多数の熱電対を取りつけることができないた
め、−度に測定できるポイント数が少ないと問題があっ
た。
For this reason, the number of measurement cables 15, 16, 17 or the number of connections to thermocouples corresponding to the number of measurement points is required, making the configuration complicated. Furthermore, because it is not possible to attach a large number of thermocouples due to physical limitations, there is a problem that the number of points that can be measured per degree is small.

本発明は上記問題点に鑑みて、多数の測定ポイントを簡
単な構成で測定できるようにすることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above-mentioned problems, it is an object of the present invention to make it possible to measure a large number of measurement points with a simple configuration.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第1図ta+に示すように、測定器1に対して一対の測
定ケーブル2を引き出し、この測定ケーブル2に複数の
測定ポイント1.2・・・nを接続するようにしたもの
である。そして第1図fb)に示すように測定器1から
■iの電圧を印加したことにより測定ポイントi内に電
流I□を流す。すなわち、電圧値V、を測定ケーブルに
印加することによって測定ポイントiをアドレッシング
することができる。そして測定ポイントiでは電圧値■
iが印加されたときに電流1.が流れた場合、この電流
I、を測定器1によって計測することにより、測定ポイ
ントiにおける測定値を計測することができる。このと
き、測定ポイントjは、電圧値V。
As shown in FIG. 1 (ta+), a pair of measurement cables 2 are drawn out from a measuring instrument 1, and a plurality of measurement points 1.2...n are connected to the measurement cables 2. Then, as shown in FIG. 1fb), by applying a voltage ■i from the measuring device 1, a current I□ is caused to flow within the measuring point i. That is, a measurement point i can be addressed by applying a voltage value V, to the measurement cable. And at measurement point i, the voltage value ■
When i is applied, the current 1. When the current I flows, the measurement value at the measurement point i can be measured by measuring this current I with the measuring device 1. At this time, the measurement point j has a voltage value V.

に対して電流が流れないように構成しておくので、測定
ポイントjに流れる電流1jはOとなる。
Since the configuration is such that no current flows through the measurement point j, the current 1j flowing through the measurement point j becomes O.

〔作   用〕[For production]

本発明によれば、一対の測定ケーブル2に対して複数の
測定ポイント1〜nを接続し、各測定ポイントを例えば
電圧値によってアドレッシングすることにより、各測定
ポイントを流れる例えば電流値を測定し、この電流値が
例えば温度に対応するものであれば、この測定ポイント
における温度を測定することができるようにした。従っ
て、複数の測定ポイントの温度の測定を一対の測定ケー
ブル2で行うことができる。
According to the present invention, a plurality of measurement points 1 to n are connected to a pair of measurement cables 2, and each measurement point is addressed, for example, by a voltage value, thereby measuring, for example, a current value flowing through each measurement point, If this current value corresponds to temperature, for example, the temperature at this measurement point can be measured. Therefore, the pair of measurement cables 2 can measure the temperature at a plurality of measurement points.

〔実  施  例〕〔Example〕

以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。 Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第2図において、測定器21から一対の測定ケーブル2
2により測定ポイントl、2.3が接続され、測定ポイ
ント1では一対の測定ケーブル22間にサーミスタ1が
接続され、測定ポイント2では、同様にサーミスタlと
ダイオード2の直列回路が接続され、測定ポイント3で
はサーミスタ3とダイオード2.3の直列回路が接続さ
れる。
In FIG. 2, a pair of measurement cables 2 are connected from a measuring device 21
2 connects measurement points l and 2.3, at measurement point 1 the thermistor 1 is connected between a pair of measurement cables 22, and at measurement point 2 a series circuit of thermistor l and diode 2 is similarly connected, and the measurement At point 3, a series circuit of thermistor 3 and diode 2.3 is connected.

サーミスタ1,2.3はそれぞれ抵抗値R3□Rtz+
  Rs3を有し、それらの抵抗値は温度によって変化
する。ダイオード1,2.3の特性は第3図に示すよう
に所定電圧■df(例えば0.7ボルト)までは導通せ
ず、その後は傾きRfを持つ電流電圧特性を有すること
となる。従ってダイオードは第3図の右に示すように前
記所定電圧Vatを発生する電池と抵抗R2との直列接
続によって近似することができる。
Thermistors 1, 2.3 each have a resistance value R3□Rtz+
Rs3, and their resistance changes with temperature. As shown in FIG. 3, the characteristics of the diodes 1, 2.3 are that they do not conduct until a predetermined voltage df (for example, 0.7 volts), and thereafter have current-voltage characteristics having a slope Rf. Therefore, the diode can be approximated by a series connection of a battery that generates the predetermined voltage Vat and a resistor R2, as shown on the right side of FIG.

従って、任意の測定ポイントj(j=i−1、i=0.
 1. 2. 3)ではj−1=i個のダイオードとサ
ーミスタとの直列接続となるので、測定ポイントjでの
電流電圧特性は第4図に示す如く、ixv□の電圧でi
個のダイオードが導通ずることを示し、その後の傾きは
R,+iR,となる。
Therefore, any measurement point j (j=i-1, i=0.
1. 2. In 3), j-1=i diodes and thermistors are connected in series, so the current-voltage characteristics at measurement point j are as shown in Figure 4, with a voltage of ixv□
diodes become conductive, and the slope thereafter becomes R, +iR.

従って、測定器21からみた測定ケーブル22の電流−
電圧特性は第5図のようになり、測定ポイント1では1
対の測定ケーブルに接続されるのはサーミスタ1だけで
あるから、測定器21からの印加電圧が1個ダイオード
1の所定電圧V4(に達する間は傾きはサーミスタ1の
抵抗値R,である。従って、このときは、測定ポイント
1のサーミスタlの抵抗値より、測定ポイント1の温度
を測定できる。次に、測定器22からの印加電圧■。
Therefore, the current of the measurement cable 22 seen from the measuring device 21 -
The voltage characteristics are as shown in Figure 5, and at measurement point 1, 1
Since only the thermistor 1 is connected to the pair of measurement cables, the slope is the resistance value R of the thermistor 1 while the applied voltage from the measuring device 21 reaches the predetermined voltage V4 (of one diode 1). Therefore, at this time, the temperature at the measurement point 1 can be measured from the resistance value of the thermistor l at the measurement point 1. Next, the applied voltage from the measuring device 22 (2).

がダイオードlの所定電圧varを越えると、電流Iは
サーミスタ1及びサーミスタ2に流れるので、電流−電
圧特性の傾きはサーミスタ1の抵抗Ril及びサーミス
タ2の抵抗R0とダイオード1の抵抗R,の直列抵抗の
並列抵抗 1の抵抗値が分かっていれば測定ポイント1を流れる電
流がわかり測定ポイント2を流れる電流が判るのでサー
ミスタR1□の抵抗値が判る。これによって測定ポイン
ト2の温度が測定できる。
When exceeds the predetermined voltage var of diode l, current I flows through thermistor 1 and thermistor 2, so the slope of the current-voltage characteristic is the series of the resistance Ril of thermistor 1, the resistance R0 of thermistor 2, and the resistance R of diode 1. If the resistance value of the parallel resistor 1 is known, the current flowing through the measurement point 1 and the current flowing through the measurement point 2 is known, so the resistance value of the thermistor R1□ can be determined. This allows the temperature at measurement point 2 to be measured.

さらに、測定器21からの印加電圧を2Vat以上に上
昇させると、測定ポイント3においてダイオード2及び
3が導通ずるので、この時の測定ケーブルのIV特性の
傾きはサーミスタ1の抵抗R,い及びサーミスタ2の抵
抗値Rs2とダイオード2の内部抵抗R1との直列抵抗
及びサーミスタ3の抵抗Rs3とダイオード2及び3の
内部抵抗2Rrとの直列抵抗の3つの並列抵抗 従って、測定ポイント3を流れる電流値がすでに測定値
ポイント1の抵抗値R0及び測定ポイント2の抵抗値R
I t +Rfがわかっているので、このときケーブル
に流れる電流値を測定すれば測定ポイント3におけるサ
ーミスタ3の抵抗値Rs3を計測することができる。
Furthermore, when the applied voltage from the measuring device 21 is increased to 2Vat or more, the diodes 2 and 3 become conductive at the measurement point 3, so the slope of the IV characteristic of the measurement cable at this time is the resistance R of thermistor 1 and the thermistor 1. Therefore, the current value flowing through measurement point 3 is The resistance value R0 of measurement point 1 and the resistance value R of measurement point 2 have already been
Since I t +Rf is known, the resistance value Rs3 of the thermistor 3 at the measurement point 3 can be measured by measuring the current value flowing through the cable at this time.

従って、順次印加電圧V、を上昇させていくことにより
測定ポイント1,2.3をアドレッシングし、サーミス
タ1.2.3の抵抗値を測定することができ、従って、
各測定ポイントにおける温度を計測することができる。
Therefore, by sequentially increasing the applied voltage V, it is possible to address the measurement points 1, 2.3 and measure the resistance value of the thermistor 1.2.3.
The temperature at each measurement point can be measured.

また、測定ポイント3の温度を測定するときにはその測
定ポイント3の温度だけではなく測定ポイント1及び2
の温度も同時に検出することができる。
Also, when measuring the temperature at measurement point 3, it is necessary to measure not only the temperature at measurement point 3 but also measurement points 1 and 2.
temperature can also be detected at the same time.

サーミスタ1の代わりに熱電対等の温度によって抵抗値
が変わる素子を用いてもよい。また、ダイオードの代わ
りに所定の電圧までは導通せず所定の電圧以上では抵抗
となる素子になるような他の素子を用いてもよい。
Instead of the thermistor 1, an element whose resistance value changes depending on the temperature, such as a thermocouple, may be used. Furthermore, instead of the diode, other elements may be used that do not conduct up to a predetermined voltage and become resistive above a predetermined voltage.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、複数の測定ポイントを例えば印加を正
値でアドレッシングすることにより一対の測定ケーブル
で簡単に温度等の特性を測定することができる。さらに
測定ポイントが増えても単にケーブルを延長すればよい
ので多数の測定ポイントが計測できる。
According to the present invention, characteristics such as temperature can be easily measured using a pair of measurement cables by addressing a plurality of measurement points, for example, by applying a positive value. Furthermore, even if the number of measurement points increases, the cable can be simply extended, so a large number of measurement points can be measured.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図(a)及び(blはそれぞれ本発明の詳細な説明
するブロック図、 第2図は本発明の一実施例の測定回路図、第3図は上記
実施例に用いられるダイオードのIV特性図、 第4図は上記実施例において複数のダイオードを接続し
た場合の測定ポイントのiv特性図、第5図は複数の測
定ポイントを有する場合の測定器からみた測定ケーブル
のIV特性図、第6図は従来の方式を説明する図である
。 1・・・測定器、 2・・・測定ケーブル、 3・・・測定ポイント、
Figures 1 (a) and (bl) are block diagrams explaining the present invention in detail, Figure 2 is a measurement circuit diagram of an embodiment of the present invention, and Figure 3 is the IV characteristic of the diode used in the above embodiment. Figure 4 is an IV characteristic diagram of the measurement point when multiple diodes are connected in the above embodiment, Figure 5 is an IV characteristic diagram of the measurement cable seen from the measuring instrument when it has multiple measurement points, and Figure 6 The figure is a diagram explaining the conventional method. 1... Measuring device, 2... Measuring cable, 3... Measuring point,

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)測定器(1)と、 該測定器(1)から引き出される一対の測定用線路(2
)と、 該一対の測定用線路に接続され、前記測定器によってア
ドレッシングされることによりそれぞれ測定値を出力す
る複数の測定部(3)を有することを特徴とするマルチ
ポイント測定装置。 2)測定器(1)と、 該測定器(1)から接続された一対の測定用線路(2)
と、 該一対の測定用線路に接続され前記測定器(1)から出
力される電圧値によってアドレッシングが行われる計測
値を電流値として前記測定器(1)に通知する複数個の
測定部を有することを特徴とするマルチポイント測定装
置。
[Claims] 1) A measuring device (1), and a pair of measuring lines (2) drawn out from the measuring device (1).
); and a plurality of measurement units (3) connected to the pair of measurement lines and each outputting a measurement value by being addressed by the measurement device. 2) A measuring device (1) and a pair of measurement lines (2) connected from the measuring device (1)
and a plurality of measuring units that are connected to the pair of measurement lines and notify the measuring device (1) of a measured value addressed by the voltage value output from the measuring device (1) as a current value. A multi-point measurement device characterized by:
JP63095405A 1988-04-20 1988-04-20 Multipoint measuring apparatus Pending JPH01267416A (en)

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