JPH01259849A - Ｎｍｒシステム - Google Patents
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- JPH01259849A JPH01259849A JP63164085A JP16408588A JPH01259849A JP H01259849 A JPH01259849 A JP H01259849A JP 63164085 A JP63164085 A JP 63164085A JP 16408588 A JP16408588 A JP 16408588A JP H01259849 A JPH01259849 A JP H01259849A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/446—Multifrequency selective RF pulses, e.g. multinuclear acquisition mode
-
- G—PHYSICS
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- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、特に、膨大量のサンプルから少量物を選択す
るＮＭＲ分光学（核磁気共鳴スペクトロスコープ）及び
ＮＭＲ画像装置、即ちＮＭＲシステムの不要信号除去方
法に関する。
るＮＭＲ分光学（核磁気共鳴スペクトロスコープ）及び
ＮＭＲ画像装置、即ちＮＭＲシステムの不要信号除去方
法に関する。
「従来の技術およびその問題点Ｊ
膨大量のサンプルから少量を選択するためには、連続空
間局在技術が回りの物質の多くの量から不要信号を除去
できなければならない。三軸線全部に沿って１０倍大き
い見本内で組織の単位立方体（正６面体）を選択するこ
とは、立方体外部の物質からの信号分布が少なくとも１
００００の７アクタで減少できることが必要である。こ
の抑制比は、立方体内からの測定信号が誤差信号より１
０倍以上であることを保証している。実際、少なくとも
２０θ００の抑制比は、生体内燐分光学に通常見いだせ
る雑音レベル以下に誤差信号を減少させるために望まし
い。
間局在技術が回りの物質の多くの量から不要信号を除去
できなければならない。三軸線全部に沿って１０倍大き
い見本内で組織の単位立方体（正６面体）を選択するこ
とは、立方体外部の物質からの信号分布が少なくとも１
００００の７アクタで減少できることが必要である。こ
の抑制比は、立方体内からの測定信号が誤差信号より１
０倍以上であることを保証している。実際、少なくとも
２０θ００の抑制比は、生体内燐分光学に通常見いだせ
る雑音レベル以下に誤差信号を減少させるために望まし
い。
信号抑制用の公知の機構が技術で変化してる。
しかし、種々の方法は、一連の実験の応用に追従した信
号消去原理に頼ってでいる。ｌ５ＩＳ技術（Ｒ，Ｊ、０
ｒｄｉｄｌｅ、 Ａ、Ｃｏｎｎｅｌｙ及びＪ、Ａ、Ｂ、
Ｌｏｈｉａｅ氏のＪ、 Ｍａｃ、 Ｒｅ５ｏ＊、 ６ｆ
ｔ巻２８３号！９８６年参照）及びＶＳＥ技術（Ｗ、
Ｐ、 Ａ＋＋ｅ、 Ｓ、 Ｍ＋＋ｅｌｌｅｒ、 Ｔ、
Ａ、 Ｃｒｏｓｓ及びＪ、 ５ｅｃｌｉ（氏のＪ、 Ｍ
ａｇｍ、 Ｒｅ５ｏｎ、 ５６巻３５１１号１９８４年
参照）は、この原理に頼り、目的の量に基づくかなり小
さい信号を検知するために、大きい信号振幅の正確な消
去が要求される。この消去は、主磁場、磁場勾配、核磁
気共鳴（ＮＭＲ）分光計システム及びサンプルの動きを
不安定にさせがちである。
号消去原理に頼ってでいる。ｌ５ＩＳ技術（Ｒ，Ｊ、０
ｒｄｉｄｌｅ、 Ａ、Ｃｏｎｎｅｌｙ及びＪ、Ａ、Ｂ、
Ｌｏｈｉａｅ氏のＪ、 Ｍａｃ、 Ｒｅ５ｏ＊、 ６ｆ
ｔ巻２８３号！９８６年参照）及びＶＳＥ技術（Ｗ、
Ｐ、 Ａ＋＋ｅ、 Ｓ、 Ｍ＋＋ｅｌｌｅｒ、 Ｔ、
Ａ、 Ｃｒｏｓｓ及びＪ、 ５ｅｃｌｉ（氏のＪ、 Ｍ
ａｇｍ、 Ｒｅ５ｏｎ、 ５６巻３５１１号１９８４年
参照）は、この原理に頼り、目的の量に基づくかなり小
さい信号を検知するために、大きい信号振幅の正確な消
去が要求される。この消去は、主磁場、磁場勾配、核磁
気共鳴（ＮＭＲ）分光計システム及びサンプルの動きを
不安定にさせがちである。
Ｄ、 Ｄ、 Ｄｏｄｄｒｅｌｌ、 Ｇ、 Ｇ、 Ｇ１１
１ｏｖｘｙ、 Ｗ、 Ｍ、 Ｂｒａｎｃｋｓ、 Ｊ、
Ｍ、 Ｒａ１ｓｉｎ（、Ｊ、 Ｃ，Ｆｉｅｌｄ、 Ｍ、
Ｇ、 Ｉｒｖｉｎπ及びＴｉ、 Ｂｉｄｄｃｌｅｙ氏
のＭａ（ｎ、 Ｒｅ５ｏｎ、 １Ｊｅｄ、 ３巻９７０
号１９８６年（以下、文献と言う）は、選択的π／２ス
ピン章動の応用によってサンプルの不要領域におけるス
ピン縦磁化を破壊する無線（ＲＦ）ブリパルスを記載し
た。従って、横磁化が好適な空間局在技術の適応前に減
衰することを許容する。この方法は、均一な送信コイル
を用いＩ；高電力選択ＲＦパルスの印加に頼っている。
１ｏｖｘｙ、 Ｗ、 Ｍ、 Ｂｒａｎｃｋｓ、 Ｊ、
Ｍ、 Ｒａ１ｓｉｎ（、Ｊ、 Ｃ，Ｆｉｅｌｄ、 Ｍ、
Ｇ、 Ｉｒｖｉｎπ及びＴｉ、 Ｂｉｄｄｃｌｅｙ氏
のＭａ（ｎ、 Ｒｅ５ｏｎ、 １Ｊｅｄ、 ３巻９７０
号１９８６年（以下、文献と言う）は、選択的π／２ス
ピン章動の応用によってサンプルの不要領域におけるス
ピン縦磁化を破壊する無線（ＲＦ）ブリパルスを記載し
た。従って、横磁化が好適な空間局在技術の適応前に減
衰することを許容する。この方法は、均一な送信コイル
を用いＩ；高電力選択ＲＦパルスの印加に頼っている。
これは、不要スピン磁化の殆どが正確°に決定されたｒ
／ ２単動を受けることを保証する。実際、サングル
を完全に囲んだ高ＲＦ電力及び均−ＲＦコイルの合同は
、生体内分光計システムに支持された小形の媒体にのみ
発見された。全身体体内分光学研究にとっては、ＲＦ電
力の要求が考慮でき、このような装置にとって電流安全
手引を越えてしまう。
／ ２単動を受けることを保証する。実際、サングル
を完全に囲んだ高ＲＦ電力及び均−ＲＦコイルの合同は
、生体内分光計システムに支持された小形の媒体にのみ
発見された。全身体体内分光学研究にとっては、ＲＦ電
力の要求が考慮でき、このような装置にとって電流安全
手引を越えてしまう。
ＬＯＧＵＳ分光学と呼ばれる類似の技術は、Ａ。
Ｈａａｓｅ氏のＭＢ＋＋、 Ｒｅ５ｅｔ、 Ｍｅｄ、
３巻９６３号１９Ｂ６年で提案された。この方法におい
ては、不要磁化が選択π／２パルスの序列によって効果
的に除去される。このＬｏｃｕｓ技術には、高度に均一
なＲＦコイルが要求され、第２の実験がスピン格子緩和
法の影響を除去するために必要である。
３巻９６３号１９Ｂ６年で提案された。この方法におい
ては、不要磁化が選択π／２パルスの序列によって効果
的に除去される。このＬｏｃｕｓ技術には、高度に均一
なＲＦコイルが要求され、第２の実験がスピン格子緩和
法の影響を除去するために必要である。
本発明の目的は、必要な信号の向上を補助するために不
要信号を除去する方法を提供することである。
要信号を除去する方法を提供することである。
ｒ問題点を解決するための手段」
本発明によれば、任意の周波数成分の少なくとも二領域
を備え、これら領域間にゼロ成分の少なくとも一領域が
配置された成型ＲＦパルスを用いたＮＭＲシステムにお
ける不要周波数帯域から信号を除去する方法が提供され
る。
を備え、これら領域間にゼロ成分の少なくとも一領域が
配置された成型ＲＦパルスを用いたＮＭＲシステムにお
ける不要周波数帯域から信号を除去する方法が提供され
る。
本発明の更なる目的は、ＲＦ電力の使用に非常に有効で
、良好な選択性を形成する大規模サンプル内から少量の
物質を選択する方法を提供することを目的としている。
、良好な選択性を形成する大規模サンプル内から少量の
物質を選択する方法を提供することを目的としている。
本発明によれば、勿論、選択量外部の全量における正味
スピン縦磁化を効果的に任意化する線形磁場勾配と結合
した成型ＲＦパルスを適用した不要信号の除去によって
、ＮＭＲシステムにおける膨大量のサンプル内で少量物
質をより正確に定義する方法を提供することである。
スピン縦磁化を効果的に任意化する線形磁場勾配と結合
した成型ＲＦパルスを適用した不要信号の除去によって
、ＮＭＲシステムにおける膨大量のサンプル内で少量物
質をより正確に定義する方法を提供することである。
選択ブリパルスは、ｌ５ＩＳ或はＶＳＥのような好適空
間局在技術によって追従される。
間局在技術によって追従される。
「実施例」
本発明の実施例は、以下に添付図面を参照して説明され
る。
る。
選択ＲＦプリパルスは、雑音から構成される。
任意雑音発生ルーチンは、所定の範囲に互って等しい発
生率を持つ任意数の序列を通常発生する殆どのコンピュ
ータにとって見いだせる。この論議を考慮する場合にと
って、５１２個の複合点からなる雑音序列は、実数部及
び虚数部を持って、ゼロの回りに集中する分布を持つよ
うに任意に選択される。この序列は、初期選択放射スペ
クトルを示すように使用された。もし、目標の中央スラ
イスにおけるＮＭＲスピンが摂動されない状態にあるな
らば、放射スペクトルの対応の周波数成分が除去されな
ければならない。これは、放射スペクトルの中央におい
て、連続点にゼロを各々設定して達成される。従って、
対応の周波数帯域幅の非選択スライスは、パルスが磁場
勾配と関連して印加された時に摂動しない。好適な雑音
分布は、第１Ａ図に示されるように、実数部及び虚数部
の周波数ドメインにゼロを設定した中央の２０点を持っ
ている。
生率を持つ任意数の序列を通常発生する殆どのコンピュ
ータにとって見いだせる。この論議を考慮する場合にと
って、５１２個の複合点からなる雑音序列は、実数部及
び虚数部を持って、ゼロの回りに集中する分布を持つよ
うに任意に選択される。この序列は、初期選択放射スペ
クトルを示すように使用された。もし、目標の中央スラ
イスにおけるＮＭＲスピンが摂動されない状態にあるな
らば、放射スペクトルの対応の周波数成分が除去されな
ければならない。これは、放射スペクトルの中央におい
て、連続点にゼロを各々設定して達成される。従って、
対応の周波数帯域幅の非選択スライスは、パルスが磁場
勾配と関連して印加された時に摂動しない。好適な雑音
分布は、第１Ａ図に示されるように、実数部及び虚数部
の周波数ドメインにゼロを設定した中央の２０点を持っ
ている。
選択成型ＲＦパルスは、放射スペクトルのフーリエ変換
によって発生され、第１Ｂ図に示される。
によって発生され、第１Ｂ図に示される。
磁場勾配に関連した成型ＲＦパルスの印加後、スピン磁
化が選択軸に沿った位置の関数として単動の変化度を実
施する。最小値より大きいＲＦ電力レベルにとって、未
摂動スライスの外側の縦磁化が寸法及び極性で任意化さ
れ、共鳴空間同質性を持つ目標にとってゼロに平均化し
ている。その後、このパルスによって励起された横磁化
が次の実験の応用前に減衰することを許容する。目標の
ＮＭＲスピンが摂動しないので、好適な空間局在技術で
測定されたＮＭＲ信号は、選択スピンからの全信号分布
と、これら外側の領域から発生した非常に減少した誤差
信号とを含んでいる。
化が選択軸に沿った位置の関数として単動の変化度を実
施する。最小値より大きいＲＦ電力レベルにとって、未
摂動スライスの外側の縦磁化が寸法及び極性で任意化さ
れ、共鳴空間同質性を持つ目標にとってゼロに平均化し
ている。その後、このパルスによって励起された横磁化
が次の実験の応用前に減衰することを許容する。目標の
ＮＭＲスピンが摂動しないので、好適な空間局在技術で
測定されたＮＭＲ信号は、選択スピンからの全信号分布
と、これら外側の領域から発生した非常に減少した誤差
信号とを含んでいる。
第１Ｃ図は、パルス期間に直に追従する縦磁化における
選択雑音パルスのコンピュータシュミレーションを示し
ている。選択軸に沿った均一スピン分布が仮定される。
選択雑音パルスのコンピュータシュミレーションを示し
ている。選択軸に沿った均一スピン分布が仮定される。
パルスを印加中のＮＭＲスピンの単動は、ブロッホ（Ｂ
ｌｏｃ＆）式で特定された境界条件に従って連続マトリ
ックス操作子の適用によって計算された。Ｒ，Ｊ、 Ｏ
ｒｄｉｄｇｅ氏、Ｄ、 Ｔｈｅｓｉｓ博士、ノッチンガ
ム大学、英国１９８１年参照。
ｌｏｃ＆）式で特定された境界条件に従って連続マトリ
ックス操作子の適用によって計算された。Ｒ，Ｊ、 Ｏ
ｒｄｉｄｇｅ氏、Ｄ、 Ｔｈｅｓｉｓ博士、ノッチンガ
ム大学、英国１９８１年参照。
非均−サンプルにとっては、残差の正味縦磁化が雑音励
起スペクトルの高度の周波数成分の故にゼロに平均化さ
れるべきである。印加されたＲＦパルス電力の僅かな変
動は、この状態がたどり着いたことを効果的に保証する
ために使用できる。ｌＯミリ秒の選択パルスにとって、
未摂動スライスの周波数帯域幅は、残差の磁化が任意化
される５１．２ｋＨｚの合計の周波数帯域幅と比較して
２ｋＨｚである。
起スペクトルの高度の周波数成分の故にゼロに平均化さ
れるべきである。印加されたＲＦパルス電力の僅かな変
動は、この状態がたどり着いたことを効果的に保証する
ために使用できる。ｌＯミリ秒の選択パルスにとって、
未摂動スライスの周波数帯域幅は、残差の磁化が任意化
される５１．２ｋＨｚの合計の周波数帯域幅と比較して
２ｋＨｚである。
全３個の空間軸に沿って縦磁化の完全任意化を達成する
ためには、３個の選択プリパルスが要求される。しかし
、これらパルスが第４図に示すように連続的に印加され
てもよい。
ためには、３個の選択プリパルスが要求される。しかし
、これらパルスが第４図に示すように連続的に印加され
てもよい。
選択雑音パルスの影響が同じ帯域幅の選択π／２パルス
と比較できる。選択π／２パルスが全磁化を横断面に単
動（首振運動）し、その後前述の文献によって、磁場勾
配の影響下で脱位相化を許容する。この任意化工程は、
残差の縦磁化が任意化された選択雑音パルスの作用から
異なっている。
と比較できる。選択π／２パルスが全磁化を横断面に単
動（首振運動）し、その後前述の文献によって、磁場勾
配の影響下で脱位相化を許容する。この任意化工程は、
残差の縦磁化が任意化された選択雑音パルスの作用から
異なっている。
しかし、両者の場合において、正味の効果が次の収集期
間中にサンプルの不要領域から信号分布を除去すること
である。等周波数帯域幅のπ／２選択パルスと比較した
雑音パルスの利点は、現在少なくとも５０の７アクタに
上るＲＦ電力の考慮すべき節約である。雑音パルスが放
射スペクトルの故に非常に効率的である。これは、周波
数成分間で非常に僅かなコーヒレンスを持つ選択パルス
を発生する。従って、結果のＲＦ変調関数は、個別の周
波数成分がコーヒレンスな位相にならないので、大形Ｒ
Ｆ振輻が要求される間中にどの間隔も含まない。
間中にサンプルの不要領域から信号分布を除去すること
である。等周波数帯域幅のπ／２選択パルスと比較した
雑音パルスの利点は、現在少なくとも５０の７アクタに
上るＲＦ電力の考慮すべき節約である。雑音パルスが放
射スペクトルの故に非常に効率的である。これは、周波
数成分間で非常に僅かなコーヒレンスを持つ選択パルス
を発生する。従って、結果のＲＦ変調関数は、個別の周
波数成分がコーヒレンスな位相にならないので、大形Ｒ
Ｆ振輻が要求される間中にどの間隔も含まない。
非選択ＲＦ方形パルスは、章動ＮＭＲ磁化の最も効率的
な手段であり、他の全パルスが判定される標準として使
用でき、通常、時間の関数として印加されたＲＦ振幅変
動の任意化序列として選択雑音パルスを考慮できる。こ
の波形の印加は、ＮＭＲスピンを任意符号及び寸法のＮ
種のＲＦパルスの正味効果を経験させる。但し、Ｎは、
選択バルス波形を示すのに使用された時間間隔の数であ
る。どの任意化平均雑音レベルが平均数の平方根で増加
するので、パルスの平均効果がパルス波形の単一時間間
隔中に発生するものより５倍単動をさせる。しかし、雑
音パルスは、等間隔のＲＦ方形パルスと比較すると、７
１倍効率が落ちている。これは、雑音パルスが方形パル
スよりＮ倍大きい励起周波数帯域幅を持つ事実によって
補償される。同じ励起帯域幅を持つｒ ／ ２方形パル
スが雑音パルスよりより大きいＲＦ電力を要求する。
な手段であり、他の全パルスが判定される標準として使
用でき、通常、時間の関数として印加されたＲＦ振幅変
動の任意化序列として選択雑音パルスを考慮できる。こ
の波形の印加は、ＮＭＲスピンを任意符号及び寸法のＮ
種のＲＦパルスの正味効果を経験させる。但し、Ｎは、
選択バルス波形を示すのに使用された時間間隔の数であ
る。どの任意化平均雑音レベルが平均数の平方根で増加
するので、パルスの平均効果がパルス波形の単一時間間
隔中に発生するものより５倍単動をさせる。しかし、雑
音パルスは、等間隔のＲＦ方形パルスと比較すると、７
１倍効率が落ちている。これは、雑音パルスが方形パル
スよりＮ倍大きい励起周波数帯域幅を持つ事実によって
補償される。同じ励起帯域幅を持つｒ ／ ２方形パル
スが雑音パルスよりより大きいＲＦ電力を要求する。
しかし、雑音パルスは、±πまでのスピン単動を発生し
なければならず、従って、等価の周波数選択ｒ／２パル
スよりＲＦ振幅が、ｒ玉；７１倍効率的で、ＲＦ電力で
Ｎ／４倍以上効率的である。
なければならず、従って、等価の周波数選択ｒ／２パル
スよりＲＦ振幅が、ｒ玉；７１倍効率的で、ＲＦ電力で
Ｎ／４倍以上効率的である。
雑音パルスの効率を表現する最も適宜方法は、非選択ｒ
／ ２方形パルスの性能を比較することである。もし
、そのユニットが一定の持続期間の非選択π／２方形パ
ルスの振幅を示したならば、この場合ここで考慮すると
、４９２のＲＦ振輻が要求されて、前述の文献に記載６
れたように単一選択パルスを用いて所望の効果を達成す
る。
／ ２方形パルスの性能を比較することである。もし
、そのユニットが一定の持続期間の非選択π／２方形パ
ルスの振幅を示したならば、この場合ここで考慮すると
、４９２のＲＦ振輻が要求されて、前述の文献に記載６
れたように単一選択パルスを用いて所望の効果を達成す
る。
第２図のグラフは、印加雑音パルスのＲＦ振幅の関数と
して未摂動スライスの外側での残差の縦磁化の変動を示
している。第２のゼロクロスは６９点の正規化振幅で発
生する。前述の理論は、雑音パルスが等持続期間及び励
起帯域幅の選択パルスより、／７’；”！−倍効率的で
あると予言している。
して未摂動スライスの外側での残差の縦磁化の変動を示
している。第２のゼロクロスは６９点の正規化振幅で発
生する。前述の理論は、雑音パルスが等持続期間及び励
起帯域幅の選択パルスより、／７’；”！−倍効率的で
あると予言している。
５１２回の間隔のパルスにとっては、これが４５の相対
ＲＦ振輻でゼロ正味縦磁化を予言している。
ＲＦ振輻でゼロ正味縦磁化を予言している。
従って、雑音発生の特定方法では、選択パルスがスピン
システムの任意化に相当貧弱な効率を発生する。より高
いＲＦ振幅では、残差の縦磁化が減衰振幅を持つ極性で
発振するが、未摂動縦磁化の外郭が非選択スライスの端
部で悪化し始める。これら発振は、非均−サンプルによ
る不要信号の最大消去のためのＲＦ＠幅の最適化に有用
と検証された。正味残差の磁化のＲＦｍ幅の依存度はＲ
Ｆ振幅のより高いレベルで殆ど減少される。
システムの任意化に相当貧弱な効率を発生する。より高
いＲＦ振幅では、残差の縦磁化が減衰振幅を持つ極性で
発振するが、未摂動縦磁化の外郭が非選択スライスの端
部で悪化し始める。これら発振は、非均−サンプルによ
る不要信号の最大消去のためのＲＦ＠幅の最適化に有用
と検証された。正味残差の磁化のＲＦｍ幅の依存度はＲ
Ｆ振幅のより高いレベルで殆ど減少される。
不幸にして、雑音パルスがパルスの完全励起スペクトル
を交差したスピン単動角の等しい範囲に起因しない。こ
の特徴は、全選択パルスに普通であるが、連続関数より
むしろ離散成型ＲＦパルスの応用に起因している。ＲＦ
波形の離散性の効果は、波形の個別の間隔に等しい持続
時間を持つに／２ＲＦパルスの励起スペクトルを考慮し
て計算できる。従って、オフ共振スピンの摂動角は計算
されて、選択パルスにおける対応の周波数成分が調整さ
れてこの効果を補償する。要求された修正は、ラディア
ンの計算単動角によって割算された１ｒ／２に等しいフ
ァクタによって関連の周波数成分を乗算する必要がある
。この修正関数Ｃ（ω）は、次の式で示される。
を交差したスピン単動角の等しい範囲に起因しない。こ
の特徴は、全選択パルスに普通であるが、連続関数より
むしろ離散成型ＲＦパルスの応用に起因している。ＲＦ
波形の離散性の効果は、波形の個別の間隔に等しい持続
時間を持つに／２ＲＦパルスの励起スペクトルを考慮し
て計算できる。従って、オフ共振スピンの摂動角は計算
されて、選択パルスにおける対応の周波数成分が調整さ
れてこの効果を補償する。要求された修正は、ラディア
ンの計算単動角によって割算された１ｒ／２に等しいフ
ァクタによって関連の周波数成分を乗算する必要がある
。この修正関数Ｃ（ω）は、次の式で示される。
Ｃ（ω） ＝ ｗ ／ ２θ ［１１但
し、 ω＋（ｙｒ ／ ２τ）２ ωは初期放射スペクトル用の角度周波数オフセットであ
り、τが選択成をパルスにおける離散間隔の持続期間で
ある。
し、 ω＋（ｙｒ ／ ２τ）２ ωは初期放射スペクトル用の角度周波数オフセットであ
り、τが選択成をパルスにおける離散間隔の持続期間で
ある。
雑音スペクトルは、それ故、励起された帯域幅のパルス
に互って等しい周波数応答を維持するために大きい周波
数オフセットのために振幅がかなり増加しなければなら
ない。この変形は既に述べた結果の計算を含んでいる。
に互って等しい周波数応答を維持するために大きい周波
数オフセットのために振幅がかなり増加しなければなら
ない。この変形は既に述べた結果の計算を含んでいる。
更に、選択パルスの精製は放射スペクトルにおける雑音
特性の変形によって達成できる。放射スペクトルの求積
成分を示すためには、２個の独立の雑音振幅を利用する
代わりに、任意雑音が任意位相角を持つ一定振幅を用い
て極座標システムで発生できる。結果の励起パルスが正
味の残差の磁化におけるゼロを達成するためにより少な
いＲＦ電力が要求されるが、より高いＲＦ振幅での残差
の磁化の発振がより大きくなる。第３図は、均一のサン
プル毎にＲＦ振輻に対してプロットされた正味の残差の
縦磁化を示している。第１のセロクロスが４５の理論値
と殆ど近い約５０のＲＦ振輻で発生している。等しい持
続期間及び同様の効果の−ｘ ／ ２選択パルスに比較
してＲＦ電力の節約は今約９５の７アクタである。
特性の変形によって達成できる。放射スペクトルの求積
成分を示すためには、２個の独立の雑音振幅を利用する
代わりに、任意雑音が任意位相角を持つ一定振幅を用い
て極座標システムで発生できる。結果の励起パルスが正
味の残差の磁化におけるゼロを達成するためにより少な
いＲＦ電力が要求されるが、より高いＲＦ振幅での残差
の磁化の発振がより大きくなる。第３図は、均一のサン
プル毎にＲＦ振輻に対してプロットされた正味の残差の
縦磁化を示している。第１のセロクロスが４５の理論値
と殆ど近い約５０のＲＦ振輻で発生している。等しい持
続期間及び同様の効果の−ｘ ／ ２選択パルスに比較
してＲＦ電力の節約は今約９５の７アクタである。
雑音変調の他の形態が使用できる。ＲＦ振幅時の正味の
縦磁化の依存性は雑音特性を変化させることによって変
化できる。
縦磁化の依存性は雑音特性を変化させることによって変
化できる。
選択ブリパルスは、選択されたスライスの外側の領域か
ら不要のスピン磁化を消去し、破壊させて記載される。
ら不要のスピン磁化を消去し、破壊させて記載される。
このような３個のパルスは、第４図に示す■ＳＩＳのよ
うな空間局在技術を用いて次に検査できる物質量を摂動
させないために連続的に印加されてもよい。第４図を参
照すると、各勾配パルス毎に示された成型ＲＦパルスを
持つ勾配Ｇｘ、Ｇｙ、Ｇｚ毎にパルス序列が示されてい
る。勾配及びＲＦパルスは、公知の方法の空間局在実験
或はＮＭＲイメージング実験によって追従される。これ
らブリパルスの印加は、組織の不要量から誤差信号を膨
大に減少させて、ｌ５ＩＳ技術の有用性を拡張する。
うな空間局在技術を用いて次に検査できる物質量を摂動
させないために連続的に印加されてもよい。第４図を参
照すると、各勾配パルス毎に示された成型ＲＦパルスを
持つ勾配Ｇｘ、Ｇｙ、Ｇｚ毎にパルス序列が示されてい
る。勾配及びＲＦパルスは、公知の方法の空間局在実験
或はＮＭＲイメージング実験によって追従される。これ
らブリパルスの印加は、組織の不要量から誤差信号を膨
大に減少させて、ｌ５ＩＳ技術の有用性を拡張する。
類似のパルスが標準８Ｍ１分光学における広い共鳴ライ
ンの除去に使用でき、勿論ＮＭＲイメージングにおける
ズーム像の発生に有用である。勿論、この技術は、ＮＭ
Ｒ研究中に動きを受ける感度を最小にする空間局在手順
を形成する。
ンの除去に使用でき、勿論ＮＭＲイメージングにおける
ズーム像の発生に有用である。勿論、この技術は、ＮＭ
Ｒ研究中に動きを受ける感度を最小にする空間局在手順
を形成する。
誤差気味の信号は、実験手順中に移動する組織からの生
の信号応答によって起因できる。雑音パルスは、より効
果的な信号消去を形成する移動有機体内で縦磁化を任意
化させがちである。
の信号応答によって起因できる。雑音パルスは、より効
果的な信号消去を形成する移動有機体内で縦磁化を任意
化させがちである。
この技術は、目標の領域の外側の組織の量から信号応答
を最小にさせるためにＮＭＲ序列に追加できる。これの
代わりに、信号周波数成分、例えば化学シフトスペクト
ルにおけるラインは、第５図に示すように選択雑音パル
スを持つブリ励起によって除去してもよい。ＳＰＩ及び
ＳＦ３で識別されるスペクトルの雑音帯域を持つ一成型
パルスの印加によって第５図を参照して、スペクトルの
主要ピークＰ１及びＰ２は、本発明の技術を使用して除
去され、従って受信器の利得を増加でき、従って第５Ｃ
図のＡＤ変換器の良好な使用によって主要ビークＰ３を
向上できる。
を最小にさせるためにＮＭＲ序列に追加できる。これの
代わりに、信号周波数成分、例えば化学シフトスペクト
ルにおけるラインは、第５図に示すように選択雑音パル
スを持つブリ励起によって除去してもよい。ＳＰＩ及び
ＳＦ３で識別されるスペクトルの雑音帯域を持つ一成型
パルスの印加によって第５図を参照して、スペクトルの
主要ピークＰ１及びＰ２は、本発明の技術を使用して除
去され、従って受信器の利得を増加でき、従って第５Ｃ
図のＡＤ変換器の良好な使用によって主要ビークＰ３を
向上できる。
雑音パルスの形状は、２Ｎの実数点及び２Ｎの虚数点の
配列からなる初期放射スペクトルから発生され、但しＮ
が整数である。これら点のどの数或は分布はゼロに設定
され、残りが任意化雑音模様で満配になる。従って、雑
音スペクトルにおけるギャップの分布が発生し、選択Ｒ
Ｆパルスが放射スペクトルのフーリエ変換によって形成
される。
配列からなる初期放射スペクトルから発生され、但しＮ
が整数である。これら点のどの数或は分布はゼロに設定
され、残りが任意化雑音模様で満配になる。従って、雑
音スペクトルにおけるギャップの分布が発生し、選択Ｒ
Ｆパルスが放射スペクトルのフーリエ変換によって形成
される。
従って、これら周波数ギャップ内の信号は、このパルス
の印加後、未摂動となり、一方雑音パルスの影響を経験
しＩ；サンプルの部分が縦磁化の任意化を通してかなり
減少した信号を形成する。
の印加後、未摂動となり、一方雑音パルスの影響を経験
しＩ；サンプルの部分が縦磁化の任意化を通してかなり
減少した信号を形成する。
サンプルのズームされた領域の像を形成するためには、
この技術がＮＭＲイメージングに合同できる。勿論、こ
の技術は化学シフトイメージングと合同して、サンプル
内の内部容量の化学シフトイメージを作ることができる
。最終的に、方法は存在する空間局在手順に応用できる
。
この技術がＮＭＲイメージングに合同できる。勿論、こ
の技術は化学シフトイメージングと合同して、サンプル
内の内部容量の化学シフトイメージを作ることができる
。最終的に、方法は存在する空間局在手順に応用できる
。
第１Ａ図は選択雑音パルス用の放射スペクトルを形成す
る実周波数ドメインの分布成分を示し、５１２点スペク
トルの中央の２０点が実数及び虚数部ドメインにおいて
ゼロに設定されたグラフ図、第１Ｂ図は第１Ａ図のデー
タのフーリエ変換によって得られた選択成ＷＲＦパルス
を示し、類似の関数が虚数時間ドメインで得られるグラ
フ図、第１Ｃ図は均一なスピン分布時の磁場勾配と協働
して印加された第１Ｂ図に示す選択パルスの効果のコン
ピュータシュミレー２３７図で、垂直軸カハルスに追従
する残差の縦磁化を示し、線形磁場勾配の位置関数とし
てプロットされ、ＲＦ振幅が未摂動スライスの外側で最
小の正味縦磁化が得られるように選択された図、第２図
は２個の独立の任意周波数成分を持つ求積選択パルスの
正規化ＲＦ振幅の関数としてプロットされた、未摂動ス
ライスの外側での正味残差の縦磁化の百分率を示すプロ
ット図で、ＲＦ振輻が等持続期間の非選択π／２ＲＦパ
ルスに対応する図、第３図は極共座標で定義された周波
数成分を持つ求積選択パルスの正規化ＲＦ振幅の関数と
してプロットされた、未摂動スライスの外側での正味残
差の縦磁化の百分率を示すプロット図で、周波数成分が
一定の振幅及び±に間で変化できる任意位相角で特定さ
れ、ＲＦｔｉ幅が等持続期間の非選択ｒ ／ ２ ＲＦ
パルスに対応する図、第４図は三次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）に
おける空間局在及び除去用の本発明による原理を示す序
列タイミング図、第５図は少数ピークのより正確な評価
用のドメインピークを除去するために除去技術を適用し
た本発明による原理図である。 出願人 ナショナル リサーチ テヘロップメント コーポレーション Ｆｉｇ、 ３ 時間 Ｆｉｇ、 ５ 手続補正書（自発）
る実周波数ドメインの分布成分を示し、５１２点スペク
トルの中央の２０点が実数及び虚数部ドメインにおいて
ゼロに設定されたグラフ図、第１Ｂ図は第１Ａ図のデー
タのフーリエ変換によって得られた選択成ＷＲＦパルス
を示し、類似の関数が虚数時間ドメインで得られるグラ
フ図、第１Ｃ図は均一なスピン分布時の磁場勾配と協働
して印加された第１Ｂ図に示す選択パルスの効果のコン
ピュータシュミレー２３７図で、垂直軸カハルスに追従
する残差の縦磁化を示し、線形磁場勾配の位置関数とし
てプロットされ、ＲＦ振幅が未摂動スライスの外側で最
小の正味縦磁化が得られるように選択された図、第２図
は２個の独立の任意周波数成分を持つ求積選択パルスの
正規化ＲＦ振幅の関数としてプロットされた、未摂動ス
ライスの外側での正味残差の縦磁化の百分率を示すプロ
ット図で、ＲＦ振輻が等持続期間の非選択π／２ＲＦパ
ルスに対応する図、第３図は極共座標で定義された周波
数成分を持つ求積選択パルスの正規化ＲＦ振幅の関数と
してプロットされた、未摂動スライスの外側での正味残
差の縦磁化の百分率を示すプロット図で、周波数成分が
一定の振幅及び±に間で変化できる任意位相角で特定さ
れ、ＲＦｔｉ幅が等持続期間の非選択ｒ ／ ２ ＲＦ
パルスに対応する図、第４図は三次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）に
おける空間局在及び除去用の本発明による原理を示す序
列タイミング図、第５図は少数ピークのより正確な評価
用のドメインピークを除去するために除去技術を適用し
た本発明による原理図である。 出願人 ナショナル リサーチ テヘロップメント コーポレーション Ｆｉｇ、 ３ 時間 Ｆｉｇ、 ５ 手続補正書（自発）
Claims (10)
- （１）任意の周波数成分の少なくとも二領域を備え、こ
れら領域間にゼロ成分の少なくとも一領域が配置された
ことを特徴とする成型ＲＦパルスを用いて不要周波数帯
域からの信号を除去するＮＭＲシステムの不要信号除去
方法。 - （２）選択量外部の全量における正味スピン縦磁化を効
果的に任意化する線形磁場勾配と結合した成型ＲＦパル
スを適用した不要信号の除去によって、ＮＭＲシステム
における膨大量のサンプル内で少量物質をより正確に定
義する方法。 - （３）１個の成型ＲＦパルス及び勾配は、スライスを摂
動させないように使用される特許請求の範囲第２項記載
の方法。 - （４）２個のづつの成型ＲＦパルス及び勾配は、カラム
を摂動させないように使用される特許請求の範囲第２項
記載の方法。 - （５）３個のづつの成型ＲＦパルス及び勾配は、正６面
体を摂動させないように使用される特許請求の範囲第２
項記載の方法。 - （６）各成型ＲＦパルスが定義期間に亙って任意である
スペクトル成分を持ち、特定の周波数帯域にスペクトル
成分を持たない特許請求の範囲第２項、第３項、第４項
或は第５項記載の方法。 - （７）前記ＲＦパルス及び勾配がＮＭＲ或は化学シフト
イメージングを形成する特許請求の範囲第６項記載の方
法。 - （８）各成型ＲＦパルスは位相のみが任意であるスペク
トル成分を持っている特許請求の範囲第２項から第７項
までのいずれかに記載の方法。 - （９）どの特性の雑音信号も成型ＲＦパルスの任意スペ
クトル成分を発生する特許請求の範囲第２項から第７項
までのいずれかに記載の方法。 - （１０）前記成型ＲＦパルスの印加が局所化空間技術と
協働して、正確に定義された量を形成する特許請求の範
囲第２項から第９項までのいずれかに記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8715302 | 1987-06-30 | ||
| GB878715302A GB8715302D0 (en) | 1987-06-30 | 1987-06-30 | Nmr spectroscopy |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01259849A true JPH01259849A (ja) | 1989-10-17 |
| JP2677386B2 JP2677386B2 (ja) | 1997-11-17 |
Family
ID=10619804
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63164085A Expired - Lifetime JP2677386B2 (ja) | 1987-06-30 | 1988-06-30 | Ｎｍｒシステム |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4906932A (ja) |
| EP (1) | EP0297832B1 (ja) |
| JP (1) | JP2677386B2 (ja) |
| DE (1) | DE3855320T2 (ja) |
| GB (2) | GB8715302D0 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8907493D0 (en) * | 1989-04-03 | 1989-05-17 | Crespigny Alexander J D | Region selection in nuclear magnetic resonance inspection |
| DE68914440T2 (de) * | 1989-04-22 | 1994-07-28 | Spectrospin Ag | Verfahren zur Anregung der transversalen Magnetisierung bei magnetischen Kernresonanz-Impuls-Experimenten. |
| US5199435A (en) * | 1989-06-13 | 1993-04-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance imaging system |
| US5262724A (en) * | 1990-05-29 | 1993-11-16 | Instrumentarium Corp. | Examination method and apparatus |
| US5221899A (en) * | 1991-04-29 | 1993-06-22 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Signal acquisition in magnetic resonance analysis |
| DE4205780C2 (de) * | 1992-02-26 | 1995-02-16 | Spectrospin Ag | Verfahren zur Erzeugung von NMR-Signalen mit kohärentem Phasenprofil durch Kombination von Hochfrequenzimpulsen mit inkohärentem Phasenprofil |
| GB9319875D0 (en) * | 1993-09-27 | 1994-03-09 | British Tech Group | Apparatus for and methods of nuclear resonance testing |
| US5709208A (en) * | 1994-04-08 | 1998-01-20 | The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services | Method and system for multidimensional localization and for rapid magnetic resonance spectroscopic imaging |
| US5657758A (en) * | 1994-04-08 | 1997-08-19 | The United States Of America As Represented By The Secretary, Department Of Health And Human Services | Method and system for multidimensional localization and for rapid magnetic resonance spectroscopic imaging |
| JP3828573B2 (ja) * | 1994-09-29 | 2006-10-04 | ビーティージー・インターナショナル・リミテッド | 核四極子共鳴テスト法および核四極子共鳴テスト装置を構成する方法 |
| US6541971B1 (en) | 2001-06-28 | 2003-04-01 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Multi-dimensional spatial NMR excitation |
| WO2004021028A1 (en) * | 2002-08-27 | 2004-03-11 | Kennedy Krieger Institute | Microvascular blood volume magnetic resonance imaging |
| WO2005086932A2 (en) * | 2004-03-10 | 2005-09-22 | University Of Virginia Patent Foundation | Exchange-weighted xenon-129 nuclear magnetic resonance system and related method |
| US20070197903A1 (en) * | 2004-03-10 | 2007-08-23 | Mugler John P Iii | System and method for improved detection and assessment of changes in lung-tissue structure |
Citations (4)
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|---|---|---|---|---|
| JPS5153888A (ja) * | 1974-09-11 | 1976-05-12 | Nat Res Dev | |
| JPS6346146A (ja) * | 1986-08-13 | 1988-02-27 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴測定装置 |
| JPS63143043A (ja) * | 1986-12-05 | 1988-06-15 | 旭化成株式会社 | 領域選択核磁気共鳴情報導出方法 |
| JPS63206231A (ja) * | 1987-02-23 | 1988-08-25 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメ−ジング方法 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NZ191320A (en) * | 1978-09-07 | 1982-09-14 | Beecham Group Ltd | In vivo fibrinolytic enzyme having active site blocked by hydrolytically removable group pharmaceutical compositions |
| GB2105853B (en) * | 1981-09-09 | 1985-08-21 | Nat Res Dev | Spatially selective nmr |
| GB2114756B (en) * | 1982-02-09 | 1986-11-26 | Oxford Res Syst | Method and apparatus for obtaining nmr spectra |
| DE3209263A1 (de) * | 1982-03-13 | 1983-09-22 | Bruker Medizintechnik Gmbh, 7512 Rheinstetten | Verfahren zum messen der magnetischen kernresonanz |
| US4563647A (en) * | 1982-06-09 | 1986-01-07 | Picker International Limited | Nuclear magnetic resonance methods and apparatus |
| GB8609948D0 (en) * | 1986-04-23 | 1986-05-29 | Beecham Group Plc | Compounds |
| GB8334498D0 (en) * | 1983-12-24 | 1984-02-01 | Beecham Group Plc | Compounds |
| GB8400653D0 (en) * | 1984-01-11 | 1984-02-15 | Beecham Group Plc | Conjugates |
| US4703267A (en) * | 1985-07-17 | 1987-10-27 | Advanced Nmr Systems, Inc. | High dynamic range in NMR data acquisition |
| US4771242A (en) * | 1986-02-27 | 1988-09-13 | Picker International, Inc. | In-vivo spatially encoded magnetic resonance spectroscopy with solvent suppression |
| ZA872921B (ja) * | 1986-04-24 | 1987-10-15 |
-
1987
- 1987-06-30 GB GB878715302A patent/GB8715302D0/en active Pending
-
1988
- 1988-06-27 GB GB8815278A patent/GB2206970B/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-06-27 DE DE3855320T patent/DE3855320T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-06-27 EP EP88305873A patent/EP0297832B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-06-30 US US07/213,809 patent/US4906932A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-06-30 JP JP63164085A patent/JP2677386B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5153888A (ja) * | 1974-09-11 | 1976-05-12 | Nat Res Dev | |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2206970A (en) | 1989-01-18 |
| GB8815278D0 (en) | 1988-08-03 |
| EP0297832A3 (en) | 1990-07-25 |
| EP0297832A2 (en) | 1989-01-04 |
| EP0297832B1 (en) | 1996-05-29 |
| GB8715302D0 (en) | 1987-08-05 |
| GB2206970B (en) | 1992-02-05 |
| JP2677386B2 (ja) | 1997-11-17 |
| DE3855320T2 (de) | 1996-10-02 |
| DE3855320D1 (de) | 1996-07-04 |
| US4906932A (en) | 1990-03-06 |
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