JPH01250870A

JPH01250870A - インサーキットテスト装置

Info

Publication number: JPH01250870A
Application number: JP63079703A
Authority: JP
Inventors: Katsumi Nagano; 克己長野
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1988-03-31
Filing date: 1988-03-31
Publication date: 1989-10-05

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の目的〕〈産業上の利用分野）この発明は、例えばプリント基板上に実装されている回
路の２点間における特性値を測定することにより、回路
部品が正常に実装されているか否か等をテストするイン
サーキットテスト装置に関する。

（従来の技術）近年、インサーキットテスト装置が生産ラインにおける
プリント基板の検査に導入されるに至っている。

このインサーキットテスト装置は、基板上に実装された
抵抗素子などの抵抗値を、そのリードに導通するテスト
ランドにプローブビンを接触させて測定するもので、こ
れにより半田付けが正常に行われているか否か等のテス
トが行われる。

インサーキットテスト装置の内部には、検出された微弱
電流を電圧に変換するオペアンプや、その出力電圧を指
示する電圧計等の測定系が存在し、プローブで検出され
る電流はプローブ用コード。

プローブ極性切換用リレーの接点、テスト装置の内部配
線等の寄生抵抗要素を介して前記測定系に与えられる。

（発明が解決しようとする課題）しかしながら、このような従来のインサーキットテスト
装置にあっては、微少抵抗値を測定しようとすると、前
述のプローブ用コード、プローブ極性切換用リレーの接
点、テスト装置の内部配線等の寄生抵抗要素による抵抗
値が無視できなくなり、その結果低抵抗の測定に関して
測定精度が低下するという問題点があった。

この発明の目的は、この種のインサーキットテスト装置
において、低抵抗を高精度に測定可能とすることにある
。

（発明の構成）（課題を解決するための手段）この発明は、上記の目的を達成するために、基板上に実
装された被測定抵抗の両端テストランドにそれぞれ接触
するように支持された被測定抵抗用のプローブピン対と
、基板上に実装された基準抵抗の両端テストランドにそ
れぞれ接触するように支持された基準抵抗用のプローブ
ビン対と、前記被測定抵抗用のプローブピン対間又は前
記基準抵抗用のプローブピン対間のいずれかに択一的か
つ同一寄生抵抗値を介して基準電圧を印加する切換器と
、前記基準電圧が印加された状態において、各プローブ
対間を流れる電流値に対応した指示を行う測定器とを具
備することを特徴とするものである。

（作用）このような構成によれば、基準抵抗値の指示値から寄生
抵抗値が求まるから、これを利用すれば被測定抵抗値の
校正が゛可能となる。

（実施例）第１図は、本発明に係わるインサーキットテスタの一実
施例を示す図である。

同図において、プリント基板ＰＣＢには被測定用抵抗Ｒ
ｘと基準用抵抗ＲＯとが隣接して実装されている。

すなわち、被測定用抵抗ＲＸはそのリードピンしＰｌ　
、ＬＰ２をプリント基板ＰＣＢの実装穴に挿入した状態
で、基板ＰＣＢの裏面側において半田付は固定されてお
り、更に裏面側のプリントパターンを介してテストラン
ドＴＬ１　、ＴＬ２へと導通している。

同様にして、基準用抵抗ＲＯについても、そのリードピ
ンＬＰ３．ＬＰ４をプリント基板ＰＣＢの実装穴に挿入
した状態で、基板ＰＣＢの裏面側において半田付は固定
されており、更に裏面側のプリントパターンを介してテ
ストランドＴＬ３゜ＴＬ４へと導通している。

プリント基板ＰＣＢの図中下側には、これと平行にプロ
ーブピン固定用プレートＰＬＴが設けられており、この
プレートＰＬＴには被測定抵抗用のプローブビン対ＣＰ
Ｉ　、ＣＲ２及び基準抵抗用のプローブピンＣＰ３．Ｃ
Ｐ４が支持されている。

そして、これらのプローブビンＣＰ１〜ＣＰ４は、周知
のようにプレス方式あるいはバキューム方式等で基板Ｐ
ＣＢのテストランドＴＬＩ〜ＴＬ４に抑圧接触されてい
る。

プローブビンＣＰＩ〜ＣＰ４は、接続コードを介してテ
スト装置内に導入され、そのうちプローブビンＣＰ１　
とＣＲ２とはリレー接点ＲＬＹ１゜ＲＬＹ３を介して測
定用電源Ｖｓの正側に接続されている。

また、プローブビンＣＰ２とＣＲ２とはリレーの接点Ｒ
ＬＹ２　、ＲＬＹ４を介して測定用オペアンプＭＯＡの
反転入力へと接続されている。

測定用オペアンプＭＯＡの非反転入力は測定用電源Ｖｓ
の負側に接続されており、また測定用オペアンプＭＯＡ
の出力側には電圧計■が接続されている。尚、図中Ｒｒ
は帰還抵抗である。

リレー接点ＲＬＹ１とＲＬＹ３とは連動して同時にオン
オフ動作を行い、またリレー接点ＲＬＹ２とＲＬＹ４と
も連動して同時にオンオフ動作を行うもので、これらは
交互にオンオフ動作を行うようになされている。

従って、リレー接点ＲＬＹ１とＲＬＹ２とがオンされる
と、プローブビンＣＰ１とＣＲ２との間に測定用電源ｙ
ｓが印加され、またリレー接点ＲしＹ３とＲＬＹ　４と
がオンされると、プローブピンＣＰ３とＣＲ２との間に
測定用電源Ｖｓが印加される。

そして、この際には同一接点数、すなわちほぼ同一の寄
生抵抗を介して測定電源の印加が行われる。

次に、以上の構成よりなるインサーキットデス１〜装置
の動作を説明する。

被測定用抵抗ＲＸの抵抗値を測定する場合、先ずリレー
接点ＲＬＹ１とＲＬＹ２とを同時にオンさせる。

づ−ると、第２図（Ａ）の等価回路に示されるように、
寄生抵抗Ｒｐ１を介して被測定抵抗ＲＸに対して測定用
電源Ｖｓが印加され、被測定抵抗ＲＸには電流１１が流
れる。

ここで、寄生抵抗Ｒｐ１とは、リレー接点ＲＬ。

Ｙｌ、ＲＬＹ２の接点抵抗、プローブピンＣＰ１゜ＣＲ
２の接触抵抗及びプローブ用コードの配線抵抗等の総和
である。

このとき、電圧計■の指示値ＶＯは次式で表わされる。

尚、■Ｓ：測定用電源ｙｓの値Ｒｒ：帰還抵抗Ｒｒの値Ｒｘ：被測定用抵抗Ｒｘの値ＲＰｌ：寄生抵抗ＲＰ１の値ここで、ＶＳ、Ｒｒ、ＲＰＩの値は一定であるから、Ｒ
ｘの値が小さいとき、すなわち低抵抗の測定に際して、
寄生抵抗ＲＰ１の影響が大きくなることがわかる。

このようにして、指示値ＶＯ１が求められたならば、次
にリレー接点ＲＬＹ１　、ＲＬＹ２をオフし、反対にリ
レー接点ＲＬＹ３　、ＲＬＹ４をオンさせる。

すると、第２図（Ｂ）の等価回路に示されるように、寄
生抵抗Ｒｐ２を介して基準抵抗ＲＯに対して測定用電源
Ｖｓが印加され、基準抵抗ＲＯには電流■２が流れる。

ここで、奇生抵抗Ｒｐ２とは、リレー接点ＲしＹ３．Ｒ
ＬＹ４の接点抵抗、プローブピンＣＰ３゜ＣＲ２の接触
抵抗及びプローブ用コードの配、懐低抗等の総和である
。

このとき、電圧計Ｖの指示値ＶＯ２は次式で表される。

尚、ＶＳ：測定用電源ＶＳの値Ｒｒ：帰還抵抗Ｒｒの値ＲＯ：基準抵抗ＲＯの値ＲＰ２　：寄生抵抗ＲＰ２の値ここで、基準抵抗ＲＯの値としては、被測定抵抗ＲＸよ
りも精度の良い既知のものが使用されている。

従って、Ｖｓ、Ｒｒ、ＲＯは、全て既知の値であるから
、（２）式に基いて寄生抵抗ＲＰ２の値が求まることと
なる。

一方、第１図から明らかなように、被測定抵抗Ｒｘを測
定する場合と基準抵抗ＲＯを測定する場合とでは、通電
経路に介挿されるリレー接点数は同一であるから、次式
に示されるように寄生抵抗の値も同一になるはずである
。

ＲＰ１＝ＲＰ２　　　　　　　　　・・・（３）ゆえに
、（１）〜（３）式より、被測定抵抗の値Ｒｘは、次式
により求めることができる。

・・・（４）さて、第３図は、この発明に係わるインサーキットテス
トＩｆｆの他の実施例を示す図である。

この実施例の装置の特徴は、被測定抵抗Ｒｘと基準抵抗
ＲＯとを別々の基板ＰＣＢ１　、ＰＣＢ２に実装してい
ること、及び内部に信号戦（以下パスラインという）８
ｕｓ１　、Ｂｕｓ２を使用していることにある。

被測定抵抗Ｒｘとしては、通常許容誤差が±１０％の部
品が使用される。

従って、被測定抵抗ＲＸが１ＱＯΩ程度の低抵抗の場合
には、その許容誤差は±１０Ωとなり、これは寄生抵抗
ＲＰＩの値と同程度になる。

基準抵抗ＲＯとして±１０％の許容誤差の高精度抵抗を
使用すると、１００Ωの場合の誤差は０゜１Ωとなり、
この場合測定値の曖昧さは寄生抵抗による影響分だけと
なる。

そこで、校正用専用基板ＰＣＢ２に基準抵抗ＲＯとして
、１Ω、１０Ω、１００Ω、１にΩの如く数種類のもの
を実装しておけば、被測定抵抗ＲＸの値により最適な基
準抵抗ＲＯを選択することが可能となる。

また、インサーキットテスト装置には測定用のパスライ
ンを数本備えているのが普通であり、このパスラインを
利用してプローブビンへのリレー。

測定系へのリレーを適宜に選択することができる。

第３図において、例えば被測定抵抗Ｒｘを測定する場合
には、リレーＲＬＹ１１．ＲＬＹ２２．ＲＬＹ１５．＝
ＲＬＹ２６をオンさせればよく、また基準抵抗ＲＯを測
定する場合には、リレーＲＬＹ１３．ＲＬＹ２４．ＲＬ
Ｙ１５．ＲＬＹ２６をオンさせればよく、このようにす
れば第１図の場合と等価になる。

［光明の効果］以上の説明で明らかなように、この発明によれば、この
種のインサーキットテスト装置において、低抵抗の測定
精度を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係わるインサーキットテスト装置の
一実施例を示す図、第２図は同装置の切換状態を示す等
価回路、第３図は他の実施例を示す図である。ＲＸ・・・被測定抵抗、ＲＯ・・・基準抵抗、ＬＰ１〜
しＰ４・・・リードビン、ＣＰｌ、ＣＰ２・・・被測定
抵抗用プローブビン、ＣＰ　３　、ＣＰ４・・・基準抵
抗用プローブビン、Ｔし１〜ＴＬ４・・・テストランド
、ＲＬＹ？〜ＲＬＹ４・・・リレー接点、ＶＳ・・・測
定用電源、ＭＯＡ・・・測定用オペアンプ、■・・・電
圧計、ＰＣＢ・・・プリント基板、ＰＬＴ・・・プロー
ブビン固定用プレート、Ｒｒ・・・帰還抵抗、ＲＰｌ、
　Ｒｒ２・・・寄生抵抗、ＰＣＢ２・・・校正用専用基
板、Ｂｕｓｌ　、Ｂｕｓ２・・・パスライン。手続ネｍ正書Ｃ自乳〕昭和６３８月２９日事件との関係　　特許出願人（３０７）株式会社　東芝４、代理人（〒１０４）東京都中央区銀座２丁目１１番２号限座大
作ピル６階　電話０３−５４５−３５０８　（代表）７
１０５弁理士　木村高久明細書の特許請求の範囲の欄および発明の詳細な説明の欄６、補正の内容（１）明Ｉｌｌの特許請求の範囲を別紙の通り訂正する
。（２）明細書の第３頁第１７行〜第４頁第９行の記載を
下記の様に訂正する。「この発明は、上記の目的を達成するために、基板上に
実装された被測定抵抗に測定電圧を供給する被測定抵抗
用のプローブ手段と、基板上に実装された基準抵抗に前
記測定電圧を供給する基準抵抗用のプロー１手段と、前
記被測定抵抗用のプローブ手段および前記基準抵抗用の
プローブ手段のうちのいずれかを選択することにより前
記被測定抵抗および前記基準抵抗のうちのいずれかを流
れる電流を検出する選択手段と、この選択手段によって
検出された電流に対応する電圧を出力する測定手段とを
具備することを特徴とする。」（３）同第４頁第１１行
〜第１３行の記載を下記の様に訂正する。［このような構成によれば、測定電圧および基準抵抗を
流れる電流に対応する電圧から寄生抵抗値が求まるから
、これを利用すれば被測定抵抗値の校正が可能となる。」（４）同第１１頁第１行目に「基準抵抗ＲＯとして±１
０％の許容誤差」とあるを［基準抵抗ＲＯとして±０．
１％の許容誤差］に訂正する。特許請求の範囲手段と、を具備することを特徴とするインサーキットテスト装置
。

Claims

【特許請求の範囲】　基板上に実装された被測定抵抗の両端テストランドに
それぞれ接触するように支持された被測定抵抗用のプロ
ーブと、基板上に実装された基準抵抗の両端テストランドにそれ
ぞれ接触するように支持された基準抵抗用のプローブと
、前記被測定抵抗用のプローブ又は前記基準抵抗用のプロ
ーブのいずれかに基準電圧を印加する切換器と、この切換器の切換により前記基準電圧が印加されたプロ
ーブを流れる電流値に対応した指示を行う測定器とを具備することを特徴とするインサーキットテスト装置
。