JPH01245174A - 測距機能試験装置 - Google Patents
測距機能試験装置Info
- Publication number
- JPH01245174A JPH01245174A JP7501388A JP7501388A JPH01245174A JP H01245174 A JPH01245174 A JP H01245174A JP 7501388 A JP7501388 A JP 7501388A JP 7501388 A JP7501388 A JP 7501388A JP H01245174 A JPH01245174 A JP H01245174A
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- JP
- Japan
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- lens
- light
- distance measuring
- distance
- laser pulse
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- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は測距機能試験装置に関し、特に、レーザパルス
を利用する測距装置の測距機能試験装置に関する。
を利用する測距装置の測距機能試験装置に関する。
従来、この種の測距機能試験装置は存在しなかったので
、レーザパルス測距装置の測距機能試験は、数１００ｍ
＜乃至数１００１００Ｏれた目標を実際に測距すること
によって行なわれていた。
、レーザパルス測距装置の測距機能試験は、数１００ｍ
＜乃至数１００１００Ｏれた目標を実際に測距すること
によって行なわれていた。
上述したように、従来は測距機能試験装置がなかったの
で、パルスレーザ光を用いた測距装置の測距機能試験は
、実際に数１００ｍ離れた目標を測距していた。そのな
め、次のような２つの問題点がある。
で、パルスレーザ光を用いた測距装置の測距機能試験は
、実際に数１００ｍ離れた目標を測距していた。そのな
め、次のような２つの問題点がある。
すなわち、その１つは目標までの距離が数１００ｍ〜数
１０００ｍ程度必要であるため、目標の設定が困難であ
るということである。
１０００ｍ程度必要であるため、目標の設定が困難であ
るということである。
また、他の１つは、レーザ光の目に対する安全性を考慮
して目標を設定する必要があるということである。また
、この件に関して万が−の事故の可能性も皆無とするた
めには、野外でのレーザ発射は極力避けねばならないと
いうことである。
して目標を設定する必要があるということである。また
、この件に関して万が−の事故の可能性も皆無とするた
めには、野外でのレーザ発射は極力避けねばならないと
いうことである。
本発明の目的は上述した欠点を除去し、試験のための長
い圧路設定を要せず、また人間の目に対する安全性も確
実に保証しうる測距機能試験装置を提供することにある
。
い圧路設定を要せず、また人間の目に対する安全性も確
実に保証しうる測距機能試験装置を提供することにある
。
本発明の測距機能試験装置は、レーザパルスを使用する
測距装置の受光系レンズの直径と同等もしくはそれ以上
の直径を有するレンズと、前記レンズの焦点に中心を持
ち前記レンズの光軸に対して垂直な面内にあるアパーチ
ャ（ａｐｅｒｔｕｒｅ）と、前記レンズの光軸上にあり
前記アパーチャに対し前記レンズとは反対側に位置し拡
散光を前記レンズに向けて発光する発光体と、前記発光
体を駆動する発光体駆動回路と、前記レンズど前記アパ
ーチャ間に位置し前記発光体が前記レンズに向けて発光
した光を減衰する光減衰器と、前記測距装置の発射する
レーザパルスの一部を反射するビームスプリッタ−と、
前記ビームスプリッタ−によって反射された前記測距装
置の発射したレーザパルスの一部を受光して電気パルス
に変換し前記発光体駆動回路に送る受光機とを備えて構
成される。
測距装置の受光系レンズの直径と同等もしくはそれ以上
の直径を有するレンズと、前記レンズの焦点に中心を持
ち前記レンズの光軸に対して垂直な面内にあるアパーチ
ャ（ａｐｅｒｔｕｒｅ）と、前記レンズの光軸上にあり
前記アパーチャに対し前記レンズとは反対側に位置し拡
散光を前記レンズに向けて発光する発光体と、前記発光
体を駆動する発光体駆動回路と、前記レンズど前記アパ
ーチャ間に位置し前記発光体が前記レンズに向けて発光
した光を減衰する光減衰器と、前記測距装置の発射する
レーザパルスの一部を反射するビームスプリッタ−と、
前記ビームスプリッタ−によって反射された前記測距装
置の発射したレーザパルスの一部を受光して電気パルス
に変換し前記発光体駆動回路に送る受光機とを備えて構
成される。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例の構成図である。本実施例は
照準軸、送光軸、受光軸の３軸が同軸となっている測距
装置の測距機能試験装置を例としている。
照準軸、送光軸、受光軸の３軸が同軸となっている測距
装置の測距機能試験装置を例としている。
まず構成について述べる。
第１図の実施例は、機能試験を行なう測距装置１０の発
するレーザパルスの一部を受光器７に反射するビームス
プリッタ−１２発光体５の発した光のうちアパーチャ４
を通過した光をほぼ平行な光にするレンズ２２発光体５
の発した光を減衰する光減衰器３．アパーチャ４．測距
装置の発するレーザパルスと同波長、同パルス幅の拡散
光を発する発光体５．受光器７の発生ずる電気パルスを
トリガーとし、任意の設定されたデイレイ（ｄｅｌａｙ
）時間後に発光体５を駆動する発光体駆動回路６．受光
したレーザパルスを電気パルスに変換する受光器７を備
えてなる。
するレーザパルスの一部を受光器７に反射するビームス
プリッタ−１２発光体５の発した光のうちアパーチャ４
を通過した光をほぼ平行な光にするレンズ２２発光体５
の発した光を減衰する光減衰器３．アパーチャ４．測距
装置の発するレーザパルスと同波長、同パルス幅の拡散
光を発する発光体５．受光器７の発生ずる電気パルスを
トリガーとし、任意の設定されたデイレイ（ｄｅｌａｙ
）時間後に発光体５を駆動する発光体駆動回路６．受光
したレーザパルスを電気パルスに変換する受光器７を備
えてなる。
次に、本実施例における測距機能試験の動作について述
べる。まず、測距装置１０の照準軸と、レンズ２の光軸
とを一致させる。つまり、測距装置１０によってレンズ
２を通してアパーチャ４の中心を照準する。
べる。まず、測距装置１０の照準軸と、レンズ２の光軸
とを一致させる。つまり、測距装置１０によってレンズ
２を通してアパーチャ４の中心を照準する。
次に、実際の測距を模擬するため、受光器７の発生する
電気パルスに対し、適当なデイレイ時間を発光体駆動回
路６において付与する。このデイレイ時間をｔとし、光
速をＣとすれば、デイレイ時間ｔを付与することは、ｃ
ｔ ／ ２の距離を測距するのに等しい、また、距離
ｃ ｔ ／ ２にある物体からの実際の測距時の反射光
のパワーを模擬するため、光減衰器３により減衰量を適
当に設定する。
電気パルスに対し、適当なデイレイ時間を発光体駆動回
路６において付与する。このデイレイ時間をｔとし、光
速をＣとすれば、デイレイ時間ｔを付与することは、ｃ
ｔ ／ ２の距離を測距するのに等しい、また、距離
ｃ ｔ ／ ２にある物体からの実際の測距時の反射光
のパワーを模擬するため、光減衰器３により減衰量を適
当に設定する。
また、アパーチャ４は、測距装置１０の発するレーザ光
のビーム広がり角θＢ （ｒａｄ）または受光視野角θ
ｒ ［ｒａｄ〕とレンズ２の焦点距１ｔ９ ｆ（ｍｍ）
とによって決まる直径ｄ （ｍｍ）ｄ＝ｆθＢまたはｆ
θｒ に設定しておくことによって光軸ずれを碑認できる。
のビーム広がり角θＢ （ｒａｄ）または受光視野角θ
ｒ ［ｒａｄ〕とレンズ２の焦点距１ｔ９ ｆ（ｍｍ）
とによって決まる直径ｄ （ｍｍ）ｄ＝ｆθＢまたはｆ
θｒ に設定しておくことによって光軸ずれを碑認できる。
以上の設定によって、距Ｐ１． ｃ ｔ ／ ２の目標
を測距することを模擬できる。つまり、測距装置１゜か
らレーザパルスが出射したタイミングを受光器７によっ
て得、デイレイ時間を後に発光体５を発光させる０発光
体５は拡散光を発光するので、これにより、あたかも測
距装置１０の発射したレーザパルスが目標にあたって拡
散反射し、測距装置１０にもどってくる反射光を模擬し
ていることとなる。かつ、その反射光をレベルは、光減
衰器３によって実際のレベルまで減衰される。以上のよ
うにして、実熱の野外における測距機能試験と等価な模
擬試験が実施できる。
を測距することを模擬できる。つまり、測距装置１゜か
らレーザパルスが出射したタイミングを受光器７によっ
て得、デイレイ時間を後に発光体５を発光させる０発光
体５は拡散光を発光するので、これにより、あたかも測
距装置１０の発射したレーザパルスが目標にあたって拡
散反射し、測距装置１０にもどってくる反射光を模擬し
ていることとなる。かつ、その反射光をレベルは、光減
衰器３によって実際のレベルまで減衰される。以上のよ
うにして、実熱の野外における測距機能試験と等価な模
擬試験が実施できる。
以上説明したように本発明は、レーザパルスを用いた測
距装置の実際の測距機能試験と等価な模擬試験を行なう
ことにより実際に数１００ｍ〜数１０００ｍ離れた目標
を対象として測距試験を行なう代りに測距試験が安全か
つ確実に実施できるという効果がある。
距装置の実際の測距機能試験と等価な模擬試験を行なう
ことにより実際に数１００ｍ〜数１０００ｍ離れた目標
を対象として測距試験を行なう代りに測距試験が安全か
つ確実に実施できるという効果がある。
第１図は、本発明の一実施例の構成図である。
１・・・ビームスプリッタ−１２・・・レンズ、３・・
・光減衰器、４・・・アパーチャ、５・・・発光体、６
・・・発光体駆動回路、７・・・受光器、１０・・・測
距装置。
・光減衰器、４・・・アパーチャ、５・・・発光体、６
・・・発光体駆動回路、７・・・受光器、１０・・・測
距装置。
Claims (1)
- レーザパルスを使用する測距装置の受光系レンズの直
径と同等もしくはそれ以上の直径を有するレンズと、前
記レンズの焦点に中心を持ち前記レンズの光軸に対して
垂直な面内にあるアパーチャ（ａｐｅｒｔｕｒｅ）と、
前記レンズの光軸上にあり前記アパーチャに対し前記レ
ンズとは反対側に位置し拡散光を前記レンズに向けて発
光する発光体と、前記発光体を駆動する発光体駆動回路
と、前記レンズと前記アパーチャ間に位置し前記発光体
が前記レンズに向けて発光した光を減衰する光減衰器と
、前記測距装置の発射するレーザパルスの一部を反射す
るビームスプリッターと、前記ビームスプリッターによ
って反射された前記測距装置の発射したレーザパルスの
一部を受光して電気パルスに変換し前記発光体駆動回路
に送る受光機とを備えて前記測距装置の測距機を試験す
ることを特徴とする測距機能試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7501388A JPH01245174A (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 測距機能試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7501388A JPH01245174A (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 測距機能試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01245174A true JPH01245174A (ja) | 1989-09-29 |
Family
ID=13563876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7501388A Pending JPH01245174A (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 測距機能試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01245174A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ITTO20100954A1 (it) * | 2010-12-01 | 2012-06-02 | Selex Communications Spa | Sistema di simulazione di un ostacolo per un sistema laser di telemetria |
| CN112198495A (zh) * | 2020-09-04 | 2021-01-08 | 腾讯科技（深圳）有限公司 | 激光雷达仿真及其参数标定方法、装置和设备 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5929781B2 (ja) * | 1978-05-12 | 1984-07-23 | 日立プラント建設株式会社 | 排気フ−ド装置 |
-
1988
- 1988-03-28 JP JP7501388A patent/JPH01245174A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5929781B2 (ja) * | 1978-05-12 | 1984-07-23 | 日立プラント建設株式会社 | 排気フ−ド装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ITTO20100954A1 (it) * | 2010-12-01 | 2012-06-02 | Selex Communications Spa | Sistema di simulazione di un ostacolo per un sistema laser di telemetria |
| CN112198495A (zh) * | 2020-09-04 | 2021-01-08 | 腾讯科技（深圳）有限公司 | 激光雷达仿真及其参数标定方法、装置和设备 |
| CN112198495B (zh) * | 2020-09-04 | 2022-03-08 | 腾讯科技（深圳）有限公司 | 激光雷达仿真及其参数标定方法、装置和设备 |
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