JPH01236563A - 電子顕微鏡における多目的開き角制御装置 - Google Patents

電子顕微鏡における多目的開き角制御装置

Info

Publication number
JPH01236563A
JPH01236563A JP6447288A JP6447288A JPH01236563A JP H01236563 A JPH01236563 A JP H01236563A JP 6447288 A JP6447288 A JP 6447288A JP 6447288 A JP6447288 A JP 6447288A JP H01236563 A JPH01236563 A JP H01236563A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
aperture angle
objective
probe
aperture
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6447288A
Other languages
English (en)
Inventor
Miyuki Matsutani
幸 松谷
Toshiaki Miyokawa
御代川 俊明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP6447288A priority Critical patent/JPH01236563A/ja
Publication of JPH01236563A publication Critical patent/JPH01236563A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野〕 本発明は、最大の焦点深度の観察モードや最小のプロー
ブ径の観察モードに応じた開き角を設定することができ
る電子顕微鏡における多目的開き角制御装置に関する。
〔従来の技術〕
電子プローブを試料に照射して試料の観察、分析を行う
電子顕微鏡では、使用する任意のプローブ電流■、に対
して試料面上のプローブ径dpを最小にする開き角α。
、t(IP)や、与えられた観察倍率Mに対し焦点深度
lを最大にする開き角αt(IP)に近付けるため開き
角制御が行われている。例えば従来は、1段または2段
の集束レンズと対物レンズの間の対物絞り径を変えたり
、一定の対物絞り径に対して集束レンズの結像位置を集
束レンズと対物絞りとの間で変えて粗い近似的な開き月
利?11を行っていた。
〔発明が解決しようとするi!!!題)しかしながら、
前者の対物絞り径を変えろ方式では、目的に応じてその
都度絞り径を変える必要があるため面倒であり、また、
後者の2段集束レンズ系において対物絞り、径を一定に
しておく方式では、全プローブ電流域(例えば10−”
 A〜10−’A)に対して、開き角を理想的な値にす
るのは実現が困難であるという問題がある。
第3図はビームの開き角と試料表面の凹凸との関係を説
明するための図であり、4は対物レンズ、5は試料面を
示す。
第3図のPlに示すように試料面においてビームの焦点
を合わせても、試料5面に凹凸があるとビームが拡がっ
てP2に示すようにボケが生じる。
このとき、小さい開き角のビームBlの場合には大きい
開き角のビームB2よりボケの幅は小さくなる。このよ
うに特に焦点深度が浅い場合には、照射ビームが試料表
面の凹凸によって大きく変化するため、横型の波長分散
型分光器やエネルギー分散型分光器(EDS)のように
、試料表面の凹凸に強い(検出されるX線強度の変化が
少ない)分光器の特徴を十分に発揮できないという問題
がある。
本発明は、上記の問題点を解決するものであって、開き
角を目的に応じて任意に変えることができる電子顕微鏡
における多目的開き角制御装置を提供することを目的と
するものである。
〔課題を解決するための手段〕 そのために本発明は、2段の集束レンズと対物レンズと
を有する電子顕微鏡において、2段の集束レンズと対物
レンズとの間に開き角制御レンズを配置し、各レンズを
制御して任意のプローブ電流に対し対物絞り径を変える
ことな(観察するモードに応じた開き角を設定するよう
に構成したことを特徴とするものである。
〔作用〕
本発明の電子顕微鏡における多目的開き角制御装置では
、2段の集束レンズと対物レンズとの間に開き角を目的
に応じて任意に変えることができる開き角制御レンズを
配置したので、任意のプローブ電流に対し対物絞り径と
プローブ電流を変えることなく、最小プローブ径となる
tjQ察モードや最大の焦点深度となる観察モードを自
由に選択することができる。
〔実施例〕
以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
第1図は本発明の電子顕微鏡における多目的開き角制御
装置の1実施例を示す図、第2図は焦点深度を説明する
ための図である。図中、1は第1集束レンズ、2は第2
集束レンズ、3は開き角制御レンズ、4は対物レンズ、
5は試料、6は対物絞り、7は電子銃、8は制御部、9
は走査表示部、11〜14はレンズ電源を示す。
第1図において、電子銃7から電子ビームが放出される
と、このビームが第1集束レンズ1及び第2集束レンズ
2によって集束され、試料5に照射される。この試料5
に照射されるプローブ電流IPは半径r、の対物絞り6
と第1集束レンズl及び第2集束レンズ2によって決め
られている。
開き角制御レンズSは、プローブ電流Ipを変えずに対
物レンズ4に入射するビームの角度を変え、結果的に試
料面に入射するビームの開き角αを変える。ここで、電
子銃7、第1集束レンズ1、第2集束レンズ2、開き角
制御レンズ3、対物レンズ4、試料5の間の各点、各主
面間の距離は図示のように順に P、Q、T、V、W とする。これらの値は各レンズの励磁を大幅に変えた時
に生ずるレンズ主面位置のわずかなずれを除けば常に一
定とみなすことができるものである。
また、対物絞り6は開き角制御レンズ3の主面付近に配
置されている。レンズ電源11〜14は夫々第11束レ
ンズl、第2集束レンズ2、開き角制御レンズ3、対物
レンズ4を駆動するための電源であり、後述するように
、制御部8によって各レンズに必要な焦点距離を与える
ように制御される。繰作表示部9は、電子プローブの加
速電圧やプローブ電流、また観察倍率や動作モードの選
択などを制御部8に与える。また、図示のハ、ZZ、Z
lは第1集束レンズ1、第2集束レンズ2、開き角制御
レンズ3の主面から結像点までの距離である。
次に動作原理を説明する。
第2図に示すように開き角αのビームが試料面上で合焦
している時、観察倍率Mに対して像のぼけが無視できる
ような試料面の上下方向への許容範囲l、つまり焦点深
度は 2α    − ・・・・・・(2,1) で与えられる。ここでd、は合焦時のプローブ径で、r
は人間の目の通常の分解能か又は無視できる像のボケの
量である。
なお、焦点深度Pやプローブ径d、が開き角αの関数で
あることを強調するときは、それぞれを1(α)、L(
α)などと表記する。2<0の時は、焦点深度Pは定義
されず1&察倍率Mに制限が加わる。
次にプローブ径dp (α)を求めるために、先ず β:電子銃の輝度 d9 :TL電子銃仮想光源の大きさ ■1 :加速電圧 ΔV1 ;電子ビームのエネルギー幅に相当する電圧又
は加速電圧の変動分 y %加速電圧の相対論補正値 [〜V(1+0.978 Xl0−6V) (ポル))
)λ:電子線の波長 (〜12.267r〔入〕) ΔI/I n対物レンズ4の励磁電流のゆらぎC3+球
面収差係数 Cc+色収差係数 α:試料5に入射する電子プローブの開き角(半頂角) とおく。β−β(vm )、d、=a*  (v−)で
あるが、加速電圧V、および対物レンズ4と試料5との
距離Wを一定として考え、電子銃の種類を特定ずれ′ば
、β、d9、λ、ΔI/L Cs、C6は一定の値とみ
なすことができる。与えられたプローブ電流■、に対し
、その大部分(例えば70%以上)が入るようなプロー
ブ径d、はd、! (α)±Aα−”+Bα:+Cαb
・・・・・・(2,2) で表される。ここで である。
そこで、このようなap”(α)、αに対して、l(α
)を最大にするようなαの満たすべき条件を求める。簡
単のため、L=22、h = r / Mとおけば、(
2,1)式は L−< h−dp )/α となる。従って aα          3α aα   dp 故に3L/aα−〇とおけば f (α)=2Cα6−2Aα−”十hdp =0αく
α、でf(α)<0 α〉α、でf(α)〉0 ただし、αはα、の近傍 ・・・・・・(2,3) を満たすようなα−αLは2の極大値を与えることがわ
かる。なお、f(α)はf9L1つαとは逆の符号であ
る。実際の装置で必要な現実的なα。
の値は数値計算によって容易に求めることができる。ま
たα、=αL  (Ip 9M’)である。
次に、aap/aα=0とおけば、公知のように C α〉0          ・旧・・(2,4)を満た
すようなα=αo1は、プローブ径dpの最小値を与え
ることがわかる。
以上のように、与えられたプローブ電流Ipに対し、焦
点深度2を最大にするか又はプローブ径d、を最小にす
るかの選択は、αLかα。□かの選択に帰着される。
次にこれらの開き角α(■、)を得るための各レンズの
焦点距寵を求める。
先ず、αを試料に入射するビームの任意の開き角とする
。対物レンズ4の主面上でのビーl、の拡がりの半径R
4は R4(α)−w・α   ・・・・・・(2,5)であ
る。開き角制御レンズ3の主面上でのビームの拡がりは
、任意のプローブ電流IPに対して半径r、の対物絞り
内に限られるので rs      R。
Z、     V−Z。
となる。従って、対物レンズ4の焦点距Mr4及倍率M
4は (V  Zs  (α))+W ・・・・・・(2,7) MI  (α)=□ VZs(α) ・・・・・・(2,8) となる。    − また、開き角制御レンズ3の焦点距Mr 3及び倍率M
、は、プローブ電流値■、と第1集束レンズ1、第2集
束レンズ2の連動比kによって決まる未知のZよ(L)
から (T  Zz)+Zs  (α) ・・・・・・(2、9) と表すことができる。ここで、輝度保存則から・・・・
・・(2,11) として得られる対物レンズ4のプローブ径d4に対して
開き角制御レンズ3の倍率M3は次の条件を満足させる
必要がある。
M、MtM、M、=□ ・・・・・・(2,12)MI
 、Mzは第1集束レンズ1、第24i束レンズ2の倍
イシである。ここで式(2,10)、(2,12)より
MI MI = (T  Zz)・E ただし ・・・・・・(2,13) であるから、一定のMI−MI 、2gに対してEは開
き角αに依存せず、プローブTi’ll T pにのみ
依存する値にできる。つまりα=α、とα=α。。
、に対して同じEにできる。従って M、M、= (T−Z、(IP))El(1p)・・・
・・・(2,14) と表せる。
次に公知の手法によって、第1集束レンズ1と第24!
S束レンズ2の焦点距離をf、、f、とするとき、M、
M、 、Z、は (P  fl) (Q  fz)  P r+・・・・
・・(2,15) ・・・・・・(2,16) と表せるので、式(2,14)に代入し、第1集束レン
ズ1、第2集束レンズ2の連動比kを fl /rz =k      ・・・・・・(2,1
7)とおけば k  (P+Q+T−−)f、” −(k (P十Q)T+P (Q+T)1 rz+PQ
T=0          ・・・・・・(2,18)
の形に整理される0式(2,16)は第2集束レンズ2
の焦点距離f2についての2次方程式なので、節単のた
めに ■ a =−k (P+Q+T −−) bミ□ (k (P+Q)T+P (Q+T))c =
 P QT         = (2、19)とおけ
ば a Ex ” +2 b fg +c=o+++・・(
2,20)従って、fz>0Sa(IP)>0の条件か
らa(Ir) ・・・・・・(2,21) また式(2,15)により fl (b )=k fl (b )  ・・・・・・
(2,22)となる。この連動比にの値は、電子光学系
に都合、敷く定められているもので、一定の値でも良く
プローブ電i1r又は目的に応じて変更しても良い。
弐(2,21)と式(2,22)を弐(2,16)に代
入すればZ2(IP)が求まり、これを弐(2,9)に
代入するとfi(α、IP)が求められる。
従って任意のプローブ電流1pに対し、最も焦点深度を
深くするモードでは、式(2,3)から得られる開き角
αt(rp、M)を用いて、制御部8は f、  (IP)         see  (2,
22)f2(lp)         see  (2
,21)f3 (a、  (Ip 、M)lsee  
(2,9)fa  [αt  (Tp 、  M) 1
see  (2,7)・・・・・・ (2,23) のように各レンズの焦点距離を変えれば良い。
次に任意のプローブ電流I2に対し、最もプローブ径を
小さくするモードでは、式(2,4)から得られるα。
pc(Ip)を用いて、制御部8はfr  (Ip) 
      see  (2,22)fz  (rp)
         see  (2,21)fr  (
α。pt  (IP) l   see  (2,9)
f<  (cropt  (IP) )  see  
(2,7)・・・・・・ (2,24) のように各レンズの焦点距離を変えればよい。
次に、実際の動作を説明する。
制御部8は、電子銃の種類、加速電圧■、作動路MWな
どが与えられると、必要とするプローブ7S、凍1pに
対し、これらのパラメータを参照し、レンズ電源11.
12にデータを送って第1集束レンズ11第2集束レン
ズ2の焦点距離f、、f2を式(2,23)、(2,2
4)で計算されるような値とする。
ここで、概作表示部9において焦点深度が深くなるよう
なモードが選択されていれば、観察倍率Mも参照して制
御部8はレンズ電源13.14にデータを送り、開き角
制御レンズ3、対物レンズ4の焦点距離fs、f4を式
(2,23)で計算されるような値とする。。
もし、艮作表示部9においてプローブ径が最小になるよ
うなモードが選択されていれば、制御部8はレンズ電源
13.14にデータを送り、開き角制御レンズ3、対物
レンズ4の焦点距離f3、f4を式(2,24)で計算
されるような値とする。
以上により、任意のプローブ電流に対し、対物絞りを変
更することなく目的に応じた開き角の自動設定が可能に
なる。
また、集束レンズは2段であるため、十分な縮小率を短
い鏡筒で得ることができ、ライナーチューブもポールピ
ース内に容易に入れることができる。そして、開き角制
御レンズ3はもっばら開き角を目的に応じて変更するた
めに動作させることが可能になった。
なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものではな
く、種々の変形が可能である。例えば上記の実施例では
、開き角制御レンズ3の結像点が開き角制御レンズ3と
対物レンズ4の間にある場合について説明したが、対物
レンズ4または試料5の後方に結像される場合でも全く
同様の手法で各レンズを連動させることができる。また
、本発明において説明した目的とするモードの選択(最
大焦点深度か最小プローブ径かの選択)は、夫々α1、
α。、tとなるようにすれば、3段の集束レンズと対物
レンズで構成した電子顕微鏡等において、その3段目の
集束レンズを開き角制御レンズとし、レンズ系を上記の
ように連動制御するように構成してもよい。さらに、実
施例においては1個の対物絞り径に対して説明したが、
必要に応じて複数個の絞りを用いてもよい。
(発明の効果〕 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、2段
の集束レンズと対物レンズの間に開き角を目的に応じて
任意に変えることのできる開き角制御レンズを配置した
ので、任意のプローブ電流I、に対し、対物絞り径とプ
ローブ電流I、を変えることなく与えられた観察倍率M
で最大の焦点深度を得ることができる。また、任意のプ
ローブ電流rrに対し、最小のプローブ径となる観察モ
ードと、最大の焦点深度となる観察モードが、プローブ
電流rPを変えることなくボタン又はキ−操作で選択で
きる。さらに、2段の集束レンズは鏡筒の長さを短かく
かつライナーチューブの使用を可能にすると共に、開き
角制御レンズはプローブ電流■、を変えることなく開き
角の制御にLI/念できる。
また、各レンズは連動装置によって制御されるため、開
き角又はプローブ電流■、を変えても合焦状態は変化し
ない。
しかも、上記のように最大の焦点深度を得ることができ
るので、横型の波長分散型分光器やエネルギー分tit
型分光器(EDS)のような試料の凹凸に強い分光器の
特徴を発揮できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の電子顕微鏡における多目的開き角制御
装置の1実施例を示す図、第2図は焦+−+。 深度を説明するための図、第3図はビームの開き角と試
料表面の凹凸との関係を説明するための図である。 1・・・第1集束レンズ、2・・・第2集束レンズ、3
・・・開き角制御レンズ、4・・・対物レンズ、5・・
・試料、6・・・対物絞り、7・・・電子銃、8・・・
制御部、9・・・走査表示部、11〜14・・・レンズ
電源。 出 馴 入  日本電子株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)2段の集束レンズと対物レンズとを有する電子顕
    微鏡において、2段の集束レンズと対物レンズとの間に
    開き角制御レンズを配置し、各レンズを制御して任意の
    プローブ電流に対し対物絞り径を変えることなく観察す
    るモードに応じた開き角に設定するように構成したこと
    を特徴とする電子顕微鏡における多目的開き角制御装置
JP6447288A 1988-03-17 1988-03-17 電子顕微鏡における多目的開き角制御装置 Pending JPH01236563A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6447288A JPH01236563A (ja) 1988-03-17 1988-03-17 電子顕微鏡における多目的開き角制御装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6447288A JPH01236563A (ja) 1988-03-17 1988-03-17 電子顕微鏡における多目的開き角制御装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01236563A true JPH01236563A (ja) 1989-09-21

Family

ID=13259205

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6447288A Pending JPH01236563A (ja) 1988-03-17 1988-03-17 電子顕微鏡における多目的開き角制御装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01236563A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03110742A (ja) * 1989-09-25 1991-05-10 Jeol Ltd 電子顕微鏡
EP1313125A1 (en) * 2001-11-20 2003-05-21 Jeol Ltd. Charged-particle beam apparatus equipped with aberration corrector
US7442929B2 (en) 2005-04-06 2008-10-28 Hitachi High-Technologies Corporation Scanning electron microscope
US7888640B2 (en) 2007-06-18 2011-02-15 Hitachi High-Technologies Corporation Scanning electron microscope and method of imaging an object by using the scanning electron microscope

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03110742A (ja) * 1989-09-25 1991-05-10 Jeol Ltd 電子顕微鏡
EP1313125A1 (en) * 2001-11-20 2003-05-21 Jeol Ltd. Charged-particle beam apparatus equipped with aberration corrector
US6852983B2 (en) 2001-11-20 2005-02-08 Jeol Ltd. Charged-particle beam apparatus equipped with aberration corrector
US7442929B2 (en) 2005-04-06 2008-10-28 Hitachi High-Technologies Corporation Scanning electron microscope
US7807966B2 (en) 2005-04-06 2010-10-05 Hitachi High-Technologies Corporation Scanning electron microscope
US8153970B2 (en) 2005-04-06 2012-04-10 Hitachi High-Technologies Corporation Scanning electron microscope
US7888640B2 (en) 2007-06-18 2011-02-15 Hitachi High-Technologies Corporation Scanning electron microscope and method of imaging an object by using the scanning electron microscope
US8222601B2 (en) 2007-06-18 2012-07-17 Hitachi High Technologies Corporation Scanning electron microscope and method of imaging an object by using the scanning electron microscope

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4351108B2 (ja) Semの収差自動補正方法及び収差自動補正装置
WO2020066042A1 (ja) 顕微鏡システム、投影ユニット、及び、画像投影方法
JP4563733B2 (ja) 走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法
JP2004227942A (ja) 電子分光系を有した電子線装置
JP2009525571A (ja) 粒子光学式走査顕微鏡のための焦点合わせおよび位置決め補助装置
JPH01236563A (ja) 電子顕微鏡における多目的開き角制御装置
JPH0122705B2 (ja)
JPH0785831A (ja) 調整可能な素子を有する電子光学結像系
US20100134511A1 (en) Process for Generating Display Images from Acquired Recorded Images, and Means for Carrying out the Process
JPS614142A (ja) 電子顕微鏡
US6720558B2 (en) Transmission electron microscope equipped with energy filter
US5134289A (en) Field emission electron device which produces a constant beam current
JPH11135046A (ja) 電子顕微鏡
US10379330B2 (en) Scanning microscope apparatus for generating super-resolution image based on set zoom magnification or set number of pixels
JPS63202834A (ja) 電子顕微鏡のドリフト補正装置
JP2003092078A (ja) 電子顕微鏡の球面収差補正装置
Granstedt et al. Calibration and applications of visible imaging cameras on the C-2U advanced beam-driven field-reversed configuration device
JPH10214587A (ja) 立体観察用走査透過電子顕微鏡及び立体画像形成システム
JP2015022073A (ja) 顕微鏡と収差補正方法
JP2005310699A (ja) 電子顕微鏡の絞り補正方法及び装置
JP5438982B2 (ja) 走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法
JP3234373B2 (ja) 磁界形電子レンズおよびこれを用いた電子線装置
JPS5914222B2 (ja) 走査電子顕微鏡等用倍率制御装置
JP3717202B2 (ja) 電子顕微鏡及びその軸合わせ方法
WO2020217456A1 (ja) 透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡を用いた検査方法