JPH01232272A - プリント基板検査装置 - Google Patents
プリント基板検査装置Info
- Publication number
- JPH01232272A JPH01232272A JP63056072A JP5607288A JPH01232272A JP H01232272 A JPH01232272 A JP H01232272A JP 63056072 A JP63056072 A JP 63056072A JP 5607288 A JP5607288 A JP 5607288A JP H01232272 A JPH01232272 A JP H01232272A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- wiring pattern
- inspection
- printed circuit
- solenoid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 39
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、プリント基板の検査装置に係シ、特に、未実
装のプリント基板の配線パターンの検査に好適なプリン
ト基板検査装置に関するものである。
装のプリント基板の配線パターンの検査に好適なプリン
ト基板検査装置に関するものである。
未実装のプリント基板の検査装置として、たとえば、特
開昭５９−１６８３７５号に示されるような検査装置が
ある。そして、このような検査装置では、プリント基板
上に散在する検査点へプローブを移動させるため、特開
昭５８−３１７９９号に示されるよりなＸ−Ｙ移動機構
を用いている。
開昭５９−１６８３７５号に示されるような検査装置が
ある。そして、このような検査装置では、プリント基板
上に散在する検査点へプローブを移動させるため、特開
昭５８−３１７９９号に示されるよりなＸ−Ｙ移動機構
を用いている。
そして、一方のプローブをプリント基板の検査点に当て
ることによシ、検査点に接続された配線パターンとテー
ブルの導電板との間の静電容量を測定し、両方のプロー
ブを配線パターン両端の検査点に当てて電流を流し、配
線パターンの電気抵抗を測定し、プリント基板の配線パ
ターンの良否の検査を行なっている。
ることによシ、検査点に接続された配線パターンとテー
ブルの導電板との間の静電容量を測定し、両方のプロー
ブを配線パターン両端の検査点に当てて電流を流し、配
線パターンの電気抵抗を測定し、プリント基板の配線パ
ターンの良否の検査を行なっている。
このようにして検査されるプリント基板においては、ス
ルーホール部が検査点となることが多い。
ルーホール部が検査点となることが多い。
実際のプリント基板においては、大きさの異なる数種類
のスルーホールが形成され、その各々が検査点に指定さ
れる。
のスルーホールが形成され、その各々が検査点に指定さ
れる。
一方、検査装置のプローブは、プリント基板に形成され
た配線パターンや線間の巾、プローブの強度等の条件を
勘案して決められている。
た配線パターンや線間の巾、プローブの強度等の条件を
勘案して決められている。
このため、プローブを検査点に接触させたとき、プロー
ブの先端が検査点に形成されたスルーホールに嵌合して
抜けにぐぐなり、プリント基板を傷付けることがあった
。
ブの先端が検査点に形成されたスルーホールに嵌合して
抜けにぐぐなり、プリント基板を傷付けることがあった
。
本発明の目的は、検査点あるいは検査点に形成されたス
ルーホールの大きさに合せてプローブを交換し得るよう
にしたプリント基板検査装置を提供するにある。
ルーホールの大きさに合せてプローブを交換し得るよう
にしたプリント基板検査装置を提供するにある。
上記の目的を達成するだめの本発明の手段を、実施例に
対応する第１図に基づいて説明する。
対応する第１図に基づいて説明する。
同図において、１はプリント基板、２は配線パターンで
、プリント基板１に形成されている。
、プリント基板１に形成されている。
３はキャリア。５．６．７はプローブで、キャリア３に
往復移動可能に支持されている。１２．１３．１４はソ
レノイドで、キャリア３にプローブ５．６．７と対応す
るように支持されている。
往復移動可能に支持されている。１２．１３．１４はソ
レノイドで、キャリア３にプローブ５．６．７と対応す
るように支持されている。
そして、キャリア３の移動にょシ、所要のプローブ６を
配線パターン２の上方に位置決めしたのち、ソレノイド
１３を作動させ、プローブ６を配線パターン２に接触さ
せて検査を行なう。
配線パターン２の上方に位置決めしたのち、ソレノイド
１３を作動させ、プローブ６を配線パターン２に接触さ
せて検査を行なう。
検査点の状態によシ適宜プローブ５．６．７を使い分け
ることにより、検査を円滑に行なう。
ることにより、検査を円滑に行なう。
以下、本発明の一実施例を第１図および第２図に基づい
て説明する。
て説明する。
同図において、１はプリント基板。２はブリンント基板
１に形成された配線パターン。
１に形成された配線パターン。
３はプリント基板検査装置のキャリア。４は板ばねで、
一端がキャリア３に１３ｊ定されている。５．６．７は
プローブホルダで、各々板ばね４の自由端に取付られて
いる。８．９．１ｏはプローブでそれぞれ、プローブホ
ルダ５．６．７に取付られている。１１はリード線で、
各プローブ８．９．１０と図示しない検査装置に接続さ
れている。
一端がキャリア３に１３ｊ定されている。５．６．７は
プローブホルダで、各々板ばね４の自由端に取付られて
いる。８．９．１ｏはプローブでそれぞれ、プローブホ
ルダ５．６．７に取付られている。１１はリード線で、
各プローブ８．９．１０と図示しない検査装置に接続さ
れている。
１２．１３，１４はソレノイドで、中ヤリア３にプロー
ブホルダ５．６．７と対向するように支持されている。
ブホルダ５．６．７と対向するように支持されている。
１５は制御回路、１６は選択回路で、制御回路１５から
印加される指令に基づいて、ソレノイド１２．１３．１
４を選択し作動させる。
印加される指令に基づいて、ソレノイド１２．１３．１
４を選択し作動させる。
このようを構成で、キャリア３の移動により、所要のプ
ローブ１２を検査点の上方へ位置決めしたのち、制御回
路１５からの指令に基づいて、選択回路１６がソレノイ
ド１３を作動させる。すると、ソレノイド１３は、プロ
ーブホルダ６を押下げて、プローブ９をプリント基板１
の配線パターン２に押付ける。
ローブ１２を検査点の上方へ位置決めしたのち、制御回
路１５からの指令に基づいて、選択回路１６がソレノイ
ド１３を作動させる。すると、ソレノイド１３は、プロ
ーブホルダ６を押下げて、プローブ９をプリント基板１
の配線パターン２に押付ける。
この状態゛で、所要の特性（静電容量、電気抵抗）を検
査する。
査する。
そして、検査が終ると、選択回路１６からソレノイド１
３への通電が遮断され、ソレノイド１３が復帰する。す
ると、プローブホルダ６も板ばね４の反発力によって復
滞し、プローブ９が配線パターン２から離れる。
３への通電が遮断され、ソレノイド１３が復帰する。す
ると、プローブホルダ６も板ばね４の反発力によって復
滞し、プローブ９が配線パターン２から離れる。
プローブ８．９．１０の形状や大きさを変え、検査点の
配線パターンやスルーホールに応じて適当に使い分ける
ことによシ、検査を円滑に行なうことができる。
配線パターンやスルーホールに応じて適当に使い分ける
ことによシ、検査を円滑に行なうことができる。
なお、プローブホルダ５．６．７を直接ソレノイド１２
．１３．１４に保持させるようにしてもよい。
．１３．１４に保持させるようにしてもよい。
以上述べた如く、本発明によれば、検査点の状態に合せ
てプローブを選択するようにしたので、検査を円滑に行
なうことができる。
てプローブを選択するようにしたので、検査を円滑に行
なうことができる。
第１図は、本発明によるプリント基板検査装置の要部を
示す正面断面図、第２図は、第１図の側面断面図である
。 １・・・プリント基板、 ２・・・配線パターン、３・
・・キャリア、 ５．６．７・・・プローブ、１２．
１３，１４・・・ソレノイド。 代理人弁理士 小 川 勝 −一ゝ
示す正面断面図、第２図は、第１図の側面断面図である
。 １・・・プリント基板、 ２・・・配線パターン、３・
・・キャリア、 ５．６．７・・・プローブ、１２．
１３，１４・・・ソレノイド。 代理人弁理士 小 川 勝 −一ゝ
Claims (1)
- １、プリント基板と平行な面内を移動するキャリアに支
持されたプローブを、プリント基板に形成された配線パ
ターンの検査点に接触させて、配線パターンの検査を行
なうプリント基板検査装置において、キャリアに、配線
パターンに対し接触、離間する方向に往復移動可能に、
所定の間隔で支持された複数のプローブと、これらのプ
ローブに対応して配置され、プローブを配線パターンに
向けて移動させる複数の駆動手段を設けたことを特徴と
するプリント基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63056072A JPH01232272A (ja) | 1988-03-11 | 1988-03-11 | プリント基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63056072A JPH01232272A (ja) | 1988-03-11 | 1988-03-11 | プリント基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01232272A true JPH01232272A (ja) | 1989-09-18 |
Family
ID=13016879
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63056072A Pending JPH01232272A (ja) | 1988-03-11 | 1988-03-11 | プリント基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01232272A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002357630A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-13 | Hioki Ee Corp | プローブ装置および回路基板検査装置 |
| WO2024081107A1 (en) * | 2022-10-12 | 2024-04-18 | Macom Technology Solutions Holdings, Inc. | Voice coil leaf spring prober |
-
1988
- 1988-03-11 JP JP63056072A patent/JPH01232272A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002357630A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-13 | Hioki Ee Corp | プローブ装置および回路基板検査装置 |
| WO2024081107A1 (en) * | 2022-10-12 | 2024-04-18 | Macom Technology Solutions Holdings, Inc. | Voice coil leaf spring prober |
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