JPH01232230A - 軸受の異常診断装置 - Google Patents
軸受の異常診断装置Info
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- JPH01232230A JPH01232230A JP63059012A JP5901288A JPH01232230A JP H01232230 A JPH01232230 A JP H01232230A JP 63059012 A JP63059012 A JP 63059012A JP 5901288 A JP5901288 A JP 5901288A JP H01232230 A JPH01232230 A JP H01232230A
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 title claims abstract description 29
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 10
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 9
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 241000242722 Cestoda Species 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明はアコースティックエミッション（ＡＥ）を利
用した軸受の異常診断装置に関する。
用した軸受の異常診断装置に関する。
〈従来の技術〉
従来、ＡＥによる軸受の異常診断装置としては次のよう
なものがある。この軸受の異常診断装置は軸受からのＡ
ＰをＡＥセンサにより検出し、ＡＥセンサからの出力を
比較器で一定のしきい値と比較することによって、ＡＥ
倍信号上記しきい値を超えたときにランプ等を点灯して
軸受の異常を表示するようにしている。
なものがある。この軸受の異常診断装置は軸受からのＡ
ＰをＡＥセンサにより検出し、ＡＥセンサからの出力を
比較器で一定のしきい値と比較することによって、ＡＥ
倍信号上記しきい値を超えたときにランプ等を点灯して
軸受の異常を表示するようにしている。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、上記従来の軸受の異常診断装置では単に
ＡＥ倍信号レベルが一定のしきい値を超えたか否かによ
って、軸受の異常をランプ等で表示しているため、たと
えば装置が誤動作したり他の原因で条虫のＡＥが発生し
た場合においても、表示としては軸受の異常としか表示
されず、軸受が正常であるにもかかわらず装置の停止、
軸受の分解が行われ、膨大な労力、経費の損失を招くと
いう問題があった。
ＡＥ倍信号レベルが一定のしきい値を超えたか否かによ
って、軸受の異常をランプ等で表示しているため、たと
えば装置が誤動作したり他の原因で条虫のＡＥが発生し
た場合においても、表示としては軸受の異常としか表示
されず、軸受が正常であるにもかかわらず装置の停止、
軸受の分解が行われ、膨大な労力、経費の損失を招くと
いう問題があった。
そこで、この発明の目的は、ＡＥの発生の周期性を考慮
し、かっ、それを表示することによって、軸受の異常、
装置の誤動作、あるいは装置の異常を判別できる軸受の
異常診断装置を提供することにある。
し、かっ、それを表示することによって、軸受の異常、
装置の誤動作、あるいは装置の異常を判別できる軸受の
異常診断装置を提供することにある。
く課題を解決するための手段〉
この発明の原理を第４図に基づいて説明する。
第４図（ａ）は、ＡＥ倍信号包絡線検波した後の検波波
形を示すものであり、レベルが急に高くなっている箇所
が異常時に発生するＡＥ倍信号ありレベルの低い箇所は
バックノイズを表わしている。
形を示すものであり、レベルが急に高くなっている箇所
が異常時に発生するＡＥ倍信号ありレベルの低い箇所は
バックノイズを表わしている。
このＡＥ倍信号、軸受の異常部位により特定の周期（特
性周期）をもって発生する。すなわち内輪の場合には内
輪回転周期と内輪の一点を転動体が通過する周期（内輪
転動体通過周期）、外輪の場合には外輪の一点を転動体
が通過する周期（外輪転動体通過周期）、転動体の場合
には転動体自転周期及び保持器公転周期である。
性周期）をもって発生する。すなわち内輪の場合には内
輪回転周期と内輪の一点を転動体が通過する周期（内輪
転動体通過周期）、外輪の場合には外輪の一点を転動体
が通過する周期（外輪転動体通過周期）、転動体の場合
には転動体自転周期及び保持器公転周期である。
第４図（ｂ）は内輪が剥離している場合のＡＥの発生周
期を周期別の発生数で集計したしのであり、これから、
軸受の異常時には特性周期をもったＡＥのみが発生する
ことがわかる。したかって、軸受の異常判断は、特性周
期をもったＡＥの発生がある数以上発生すれば異常と考
えればよい。すなわち、第４図（Ｃ）のようにしきい値
をもうけ、ＡＥの発生数がこのしきい値を超えれば異常
と判断すればよい。第４図（ｄ）は、軸受異常以外、こ
こではセンサの破損時のＡＥ発生周期を示すが、ランダ
ムな周期をもったＡＥが多数発生しており、特性周期を
もったＡＥだけが発生しているとは言えない。しきい値
を超えているのは、特性周期だけでなく他の周期をもっ
たＡＥも超えており、−目で軸受の異常でないことが判
断できる。
期を周期別の発生数で集計したしのであり、これから、
軸受の異常時には特性周期をもったＡＥのみが発生する
ことがわかる。したかって、軸受の異常判断は、特性周
期をもったＡＥの発生がある数以上発生すれば異常と考
えればよい。すなわち、第４図（Ｃ）のようにしきい値
をもうけ、ＡＥの発生数がこのしきい値を超えれば異常
と判断すればよい。第４図（ｄ）は、軸受異常以外、こ
こではセンサの破損時のＡＥ発生周期を示すが、ランダ
ムな周期をもったＡＥが多数発生しており、特性周期を
もったＡＥだけが発生しているとは言えない。しきい値
を超えているのは、特性周期だけでなく他の周期をもっ
たＡＥも超えており、−目で軸受の異常でないことが判
断できる。
第４図（ｅ）は、ＡＥの発生数がしきい値を超えていな
い。この状態で装置が異常と表示した場合に見、明らか
に誤動作であることがわかる。
い。この状態で装置が異常と表示した場合に見、明らか
に誤動作であることがわかる。
本発明は、この点に着目してなされたものであり、軸受
からのアコースティックエミッションを検出してＡＥ倍
信号出力するＡＥセンサと、上記ＡＥセンサからのＡＥ
倍信号しきい値とを比較する比較手段と、上記比較手段
から、上記ＡＥ倍信号上記しきい値を超えたことを表わ
す信号を受けて、上記しきい値を超えるＡＥ倍信号発生
周期を算出する周期算出手段と、上記周期算出手段で算
出された発生周期毎の上記しきい値を超えるＡＥ倍信号
発生数を集計する集計手段と、上記集計手段で集計され
た周期阿の上記しきい値を超えるＡＥ倍信号発生数を表
示する表示装置とを備えたことを特徴としている。
からのアコースティックエミッションを検出してＡＥ倍
信号出力するＡＥセンサと、上記ＡＥセンサからのＡＥ
倍信号しきい値とを比較する比較手段と、上記比較手段
から、上記ＡＥ倍信号上記しきい値を超えたことを表わ
す信号を受けて、上記しきい値を超えるＡＥ倍信号発生
周期を算出する周期算出手段と、上記周期算出手段で算
出された発生周期毎の上記しきい値を超えるＡＥ倍信号
発生数を集計する集計手段と、上記集計手段で集計され
た周期阿の上記しきい値を超えるＡＥ倍信号発生数を表
示する表示装置とを備えたことを特徴としている。
〈作用〉
軸受などからのＡＥはＡＥセンサによって検出され、Ａ
Ｅ倍信号出力される。このＡＥ倍信号適宜処理された後
、比較手段で所定のしきい値と比較され、上記ＡＥ倍信
号上記しきい値を超えた時にそれを表わす信号が出力さ
れる。この比較手段の信号を受けて周期算出手段はＡＥ
倍信号周期を算出する。集計手段は上記周期算出手段で
算出された発生周期毎のＡＥ倍信号発生数を集計する。
Ｅ倍信号出力される。このＡＥ倍信号適宜処理された後
、比較手段で所定のしきい値と比較され、上記ＡＥ倍信
号上記しきい値を超えた時にそれを表わす信号が出力さ
れる。この比較手段の信号を受けて周期算出手段はＡＥ
倍信号周期を算出する。集計手段は上記周期算出手段で
算出された発生周期毎のＡＥ倍信号発生数を集計する。
上記集計手段で集計された各発生周期毎の発生数は表示
装置に表示される。この表示装置に表示された内容より
、特性周期におけろＡＥの発生数がしきい値を超えない
場合には誤動作と判断し、しきい値を超えた場合の発生
周期か特性周期である場合には軸受が異常と判断し、ま
たしきい値を超えた発生周期が特性周期でない場合には
例えばセンサなど軸受以外が異常だと判断できる。
装置に表示される。この表示装置に表示された内容より
、特性周期におけろＡＥの発生数がしきい値を超えない
場合には誤動作と判断し、しきい値を超えた場合の発生
周期か特性周期である場合には軸受が異常と判断し、ま
たしきい値を超えた発生周期が特性周期でない場合には
例えばセンサなど軸受以外が異常だと判断できる。
〈実施例〉
以下、この発明を図示の実施例により詳細に説明する。
第１図において、ｌは軸受などからのＡＥを検出するＡ
Ｅセンサである。このＡＥセンサｌから出力されるＡＥ
の大きさを表わすＡＥ倍信号プリアンプ２で増幅された
後、バンドパスフィルター３で例えば１００ＫＨｚから
５００ＫＨｚの帯域のＡＥ倍信号通過させられ、ノイズ
が除去されろ。
Ｅセンサである。このＡＥセンサｌから出力されるＡＥ
の大きさを表わすＡＥ倍信号プリアンプ２で増幅された
後、バンドパスフィルター３で例えば１００ＫＨｚから
５００ＫＨｚの帯域のＡＥ倍信号通過させられ、ノイズ
が除去されろ。
上記バンドパスフィルター３でノイズが除去されたＡＥ
倍信号メインアンプ４でさらに増幅され、包絡線検波回
路５に入力され、包絡線検波される。
倍信号メインアンプ４でさらに増幅され、包絡線検波回
路５に入力され、包絡線検波される。
包絡線検波された後のＡＥ倍信号比較器６においてしき
い値と比較され、ＡＥ倍信号しきい値を超えたときにパ
ルスをコンピュータ７に出力する。
い値と比較され、ＡＥ倍信号しきい値を超えたときにパ
ルスをコンピュータ７に出力する。
また、コンピュータ７には回転センサ８より単位時間あ
たりの軸受の回転数が人力される。そして、コンピュー
タ７における演算結果が表示装置としてのＣＲＴ９に表
示される。
たりの軸受の回転数が人力される。そして、コンピュー
タ７における演算結果が表示装置としてのＣＲＴ９に表
示される。
上記コンピュータ７においては第２図のフローチャート
に示す処理が行なわれる。
に示す処理が行なわれる。
まず、第２図のステップＳＩで初期設定がなされ、ステ
ップＳ２に進んで、予め定められた規定時間が経過した
か否かが判断される。ここで、規定時間が経過していな
いと判断されたときはステップＳ３に進み、比較器６か
らのパルスを受けたか否かによって、ＡＥが発生したか
否かが判別され、ＡＥが発生していないと判別した時は
ステップＳ２に戻り、ＡＥが発生したと判別した時はス
テップＳ４に進み、このＡＥを検出した時間をメモリに
記憶し、ステップＳ、に戻る。このステップＳ、。
ップＳ２に進んで、予め定められた規定時間が経過した
か否かが判断される。ここで、規定時間が経過していな
いと判断されたときはステップＳ３に進み、比較器６か
らのパルスを受けたか否かによって、ＡＥが発生したか
否かが判別され、ＡＥが発生していないと判別した時は
ステップＳ２に戻り、ＡＥが発生したと判別した時はス
テップＳ４に進み、このＡＥを検出した時間をメモリに
記憶し、ステップＳ、に戻る。このステップＳ、。
Ｓ９．Ｓ−を繰り返した後、ステップＳ、で規定時間が
経過したと判断すると、ステップＳ、に進んで、ステッ
プＳ４で記憶したＡＥの発生時間相互間の周期を算出す
る。次いで、ステップＳｌｌに進み、回転センサ８から
受けた規定時間経過中の軸受の単位時間当たりの回転数
変化を基準回転数に換算して、基準回転数における周期
にステップＳ５で算出した周期を補正する。すなわち、
ステップＳ５て算出した周期に対して、回転センサ８で
検出した軸受の単位時間当たりの回転数を掛け、基学回
転数で割る処理を行なう。次いで、ステップＳ７に進ん
で、各ＡＥ倍信号発生周期毎に集計を行なう。すなわち
、第５図（ａ）に示すように、ＡＥの発生周期毎の発生
数の頻度を算出する。次いで、ステップＳ８に進んで、
ＡＥのいずれかの発生周期の頻度が第５図（ａ）に示す
ようにある一定のしきい値を超えたか否かを判別して、
発生数がしきい値を超えた時には何らかの異常と判定し
、ステップＳ９に進んで警報を出力する。次いで、ステ
ップ８１０に進んで集計された周期毎の発生数と、しき
い値と、特性周期をＣＲＴ９に表示する。そして、この
表示内容は周期毎のＡＥの発生回数を表わし、例えば第
５図（ａ）に示すように表示される。
経過したと判断すると、ステップＳ、に進んで、ステッ
プＳ４で記憶したＡＥの発生時間相互間の周期を算出す
る。次いで、ステップＳｌｌに進み、回転センサ８から
受けた規定時間経過中の軸受の単位時間当たりの回転数
変化を基準回転数に換算して、基準回転数における周期
にステップＳ５で算出した周期を補正する。すなわち、
ステップＳ５て算出した周期に対して、回転センサ８で
検出した軸受の単位時間当たりの回転数を掛け、基学回
転数で割る処理を行なう。次いで、ステップＳ７に進ん
で、各ＡＥ倍信号発生周期毎に集計を行なう。すなわち
、第５図（ａ）に示すように、ＡＥの発生周期毎の発生
数の頻度を算出する。次いで、ステップＳ８に進んで、
ＡＥのいずれかの発生周期の頻度が第５図（ａ）に示す
ようにある一定のしきい値を超えたか否かを判別して、
発生数がしきい値を超えた時には何らかの異常と判定し
、ステップＳ９に進んで警報を出力する。次いで、ステ
ップ８１０に進んで集計された周期毎の発生数と、しき
い値と、特性周期をＣＲＴ９に表示する。そして、この
表示内容は周期毎のＡＥの発生回数を表わし、例えば第
５図（ａ）に示すように表示される。
作業者はこのＣＲＴ９の表示内容より軸受の異常か否か
を判断する。その作業者の判断処理の内容は第３図のフ
ローチャートに示す。まず、ステップＳ１１に示すよう
にＡＥの発生数がしきい値を超えたか否かを判断する。
を判断する。その作業者の判断処理の内容は第３図のフ
ローチャートに示す。まず、ステップＳ１１に示すよう
にＡＥの発生数がしきい値を超えたか否かを判断する。
そして、ＡＥの発生数がしきい値を超えた場合（第５図
（ｂ）、（ｄ））にはステップＳ１３に進んで、発生周
期が特性周期であるか否かを判断する。ＡＥの発生周期
が特性周期である場合（第５図（ｂ））、軸受の異常と
正確に判断される。一方、ＡＥの発生回数がしきい値を
超える周期が特性周期以外の他の周期にも存する場合（
第５図（ｄ））、例えば軸受以外のセンサあるいは他の
装置に異常があるとわかる。一方、ステップＳ ＩＩで
ＡＥ発生数かしきい値を超えていないと判断した場合（
第５図（Ｃ））、何らかの誤動作だと判断される。
（ｂ）、（ｄ））にはステップＳ１３に進んで、発生周
期が特性周期であるか否かを判断する。ＡＥの発生周期
が特性周期である場合（第５図（ｂ））、軸受の異常と
正確に判断される。一方、ＡＥの発生回数がしきい値を
超える周期が特性周期以外の他の周期にも存する場合（
第５図（ｄ））、例えば軸受以外のセンサあるいは他の
装置に異常があるとわかる。一方、ステップＳ ＩＩで
ＡＥ発生数かしきい値を超えていないと判断した場合（
第５図（Ｃ））、何らかの誤動作だと判断される。
なお、ステップＳ８で、どの周期においても発生数がし
きい値を超えないと判断した時はステップＳ、に戻る。
きい値を超えないと判断した時はステップＳ、に戻る。
上記実施例では作業者がＣＩ”（Ｔ ９の表示内容より
第３図の判断処理を行なうようにしたが、コンピュータ
７に第３図のステップＳ １３に示すしきい値を超えた
周期が特性周期であるか否かを判断するプログラムを記
憶させて、第３図に示す処理を自動的に行なうようにし
てもよい。さらに、ステップＳＩ３でＡＥの発生回数が
しきい値を超える特性周期が、内輪の回転周期、内輪の
一点を転動体が通過する周期か、あるいは外輪の一点を
転動体が通過する周期かによって、内輪の損傷か外輪の
損傷かが判断される。また上記特性周期が転動体の自転
周期あるいは保持器の公転周期である場合には転動体の
損傷と判断される。
第３図の判断処理を行なうようにしたが、コンピュータ
７に第３図のステップＳ １３に示すしきい値を超えた
周期が特性周期であるか否かを判断するプログラムを記
憶させて、第３図に示す処理を自動的に行なうようにし
てもよい。さらに、ステップＳＩ３でＡＥの発生回数が
しきい値を超える特性周期が、内輪の回転周期、内輪の
一点を転動体が通過する周期か、あるいは外輪の一点を
転動体が通過する周期かによって、内輪の損傷か外輪の
損傷かが判断される。また上記特性周期が転動体の自転
周期あるいは保持器の公転周期である場合には転動体の
損傷と判断される。
〈発明の効果〉
以上より明らかなように、この発明の軸受の異常診断装
置は、ＡＥセンサからのＡＥ倍信号しきい値を比較する
比較手段と、しきい値を超えたＡＥ倍信号発生周期を算
出する周期算出手段と、ＡＥ倍信号発生周期毎の発生数
を集計する集計手段と、上記周期算出手段で算出された
発生周期毎の上記しきい値を超えるＡＥ倍信号発生数を
集計する集計手段と、上記集計手段で集計された発生周
期毎の上記しきい値を超えるＡＥ倍信号発生数を表示す
る表示装置とを備えたので、単なる軸受の異常診断だけ
でなく、その根拠となるＡＥの発生の周期性を確認でき
、軸受の診断が正確に行なわれたかどうかを識別でき、
誤診断による装置の停止、軸受の分解などを防止できる
。
置は、ＡＥセンサからのＡＥ倍信号しきい値を比較する
比較手段と、しきい値を超えたＡＥ倍信号発生周期を算
出する周期算出手段と、ＡＥ倍信号発生周期毎の発生数
を集計する集計手段と、上記周期算出手段で算出された
発生周期毎の上記しきい値を超えるＡＥ倍信号発生数を
集計する集計手段と、上記集計手段で集計された発生周
期毎の上記しきい値を超えるＡＥ倍信号発生数を表示す
る表示装置とを備えたので、単なる軸受の異常診断だけ
でなく、その根拠となるＡＥの発生の周期性を確認でき
、軸受の診断が正確に行なわれたかどうかを識別でき、
誤診断による装置の停止、軸受の分解などを防止できる
。
第１図はこの発明の軸受の異常診断装置のブロック図、
第２図、第３図は上記実施例のフローチャート、第４図
は包絡線検波波形およびＡＥの発生周期と発生回数の関
係を示す図、第５図はＣＲＴの表示内容を示す図である
。 １・・・ＡＥセンサ、 ３・・・バンドパスフィルタ
ー、５・・包絡線検波回路、６・・比較器、７・・・コ
ンピュータ、 ８・・・回転センサ、９・・・ＣＲＴ
ｏ 特許出願 人 光洋精工株式会社 ほか１８代理人 弁
理士 青 山 葆 ほか１名第２図 第３図 第４閏 （ｂｌ 発主周ス月 の１子羊石某と内輪１；く高’ｑ
） （ｃ） 異常０ 判６丁ピ ２】 旧知１ ｍ５ｅｃ＋ ＋ｂｌ軸層異常 Ｌｄｌ◆！瞥以外の異常 旧知（０，。） ５図 Ｔｅｌ 吉興動イノ目 月Ｉ 其宕 ＋ ｎｎ ｓａｃ １
第２図、第３図は上記実施例のフローチャート、第４図
は包絡線検波波形およびＡＥの発生周期と発生回数の関
係を示す図、第５図はＣＲＴの表示内容を示す図である
。 １・・・ＡＥセンサ、 ３・・・バンドパスフィルタ
ー、５・・包絡線検波回路、６・・比較器、７・・・コ
ンピュータ、 ８・・・回転センサ、９・・・ＣＲＴ
ｏ 特許出願 人 光洋精工株式会社 ほか１８代理人 弁
理士 青 山 葆 ほか１名第２図 第３図 第４閏 （ｂｌ 発主周ス月 の１子羊石某と内輪１；く高’ｑ
） （ｃ） 異常０ 判６丁ピ ２】 旧知１ ｍ５ｅｃ＋ ＋ｂｌ軸層異常 Ｌｄｌ◆！瞥以外の異常 旧知（０，。） ５図 Ｔｅｌ 吉興動イノ目 月Ｉ 其宕 ＋ ｎｎ ｓａｃ １
Claims (1)
- （１）軸受からのアコースティックエミッションを検出
してＡＥ信号を出力するＡＥセンサと、上記ＡＥセンサ
からのＡＥ信号としきい値とを比較する比較手段と、 上記比較手段から、上記ＡＥ信号が上記しきい値を超え
たことを表わす信号を受けて、上記しきい値を超えるＡ
Ｅ信号の発生周期を算出する周期算出手段と、 上記周期算出手段で算出された発生周期毎の上記しきい
値を超えるＡＥ信号の発生数を集計する集計手段と、 上記集計手段で集計された発生周期毎の上記しきい値を
超えるＡＥ信号の発生数を表示する表示装置とを備えた
ことを特徴とする軸受の異常診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63059012A JPH0658298B2 (ja) | 1988-03-10 | 1988-03-10 | 軸受の異常診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63059012A JPH0658298B2 (ja) | 1988-03-10 | 1988-03-10 | 軸受の異常診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01232230A true JPH01232230A (ja) | 1989-09-18 |
| JPH0658298B2 JPH0658298B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=13100953
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63059012A Expired - Lifetime JPH0658298B2 (ja) | 1988-03-10 | 1988-03-10 | 軸受の異常診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0658298B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006234785A (ja) * | 2005-01-26 | 2006-09-07 | Nsk Ltd | 機械設備の異常診断装置及び異常診断方法 |
| US7860663B2 (en) | 2004-09-13 | 2010-12-28 | Nsk Ltd. | Abnormality diagnosing apparatus and abnormality diagnosing method |
| JP2015517113A (ja) * | 2012-05-02 | 2015-06-18 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフトＳｉｅｍｅｎｓ Ａｋｔｉｅｎｇｅｓｅｌｌｓｃｈａｆｔ | 軸の損傷を監視するための方法 |
| CN106124212A (zh) * | 2016-06-16 | 2016-11-16 | 燕山大学 | 基于稀疏编码器和支持向量机的滚动轴承故障诊断方法 |
| CN113776828A (zh) * | 2021-07-30 | 2021-12-10 | 贵州西电电力股份有限公司黔北发电厂 | 轴承温度测量异常的智能判断方法及*** |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63304128A (ja) * | 1987-06-03 | 1988-12-12 | Koyo Seiko Co Ltd | 軸受の異常検出装置 |
-
1988
- 1988-03-10 JP JP63059012A patent/JPH0658298B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0658298B2 (ja) | 1994-08-03 |
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